粉塵檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及粉塵檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種粉塵檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，市面上大多數(shù)空氣微小顆粒物的檢測(cè)設(shè)備采用光散射原理，通過光照射空氣顆粒物，收集反射后的光信號(hào)，利用統(tǒng)計(jì)學(xué)原理來計(jì)算空氣中顆粒物的數(shù)量或濃度，此種方法均要求帶有引入微小顆粒物空氣的氣流通道。而氣流通道易聚集灰塵，直接影響了設(shè)備的檢測(cè)精度和降低了設(shè)備的使用壽命。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種粉塵檢測(cè)裝置，能夠提高設(shè)備的檢測(cè)精度，延長(zhǎng)使用壽命。
[0004]為實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的目的，采取的技術(shù)方案是:
[0005]—種粉塵檢測(cè)裝置，包括依次層疊設(shè)置的屏蔽罩、上殼和底殼，及位于底殼內(nèi)的光檢測(cè)組件，底殼設(shè)有檢測(cè)腔、與檢測(cè)腔連通的第一通氣孔，上殼設(shè)有與檢測(cè)腔連通的第二通氣孔，屏蔽罩設(shè)有與第二通氣孔連通的第三通氣孔，第一通氣孔、檢測(cè)腔、第二通氣孔和第三通氣孔配合形成氣流通道，第一通氣孔、第二通氣孔和第三通氣孔中至少有兩種孔的直徑不同，且第一通氣孔的直徑最大。
[0006]氣流依次通過第三通氣孔和第二通氣孔進(jìn)入檢測(cè)腔后，光檢測(cè)組件對(duì)氣流的顆粒物進(jìn)行檢測(cè)，最后氣流從第一通氣孔流出。由于第一通氣孔、第二通氣孔和第三通氣孔中至少有兩個(gè)孔的直徑不同，且第一通氣孔的直徑最大，氣流以一定速度引入靜止的氣流通道時(shí)，氣流與氣流通道內(nèi)的靜止流體之間存在速度不等區(qū)域，從而產(chǎn)生渦旋，卷吸周圍流體進(jìn)入射流，從而將氣流通道內(nèi)聚集的顆粒物帶走，減少顆粒物的聚集，提高設(shè)備的檢測(cè)精度，延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
[0007]下面對(duì)技術(shù)方案進(jìn)一步說明:
[0008]進(jìn)一步的是，第一通氣孔的直徑SDi，第二通氣孔的直徑為隊(duì)，第三通氣孔的直徑為 D3，其中，Di> D 2> D 3o
[0009]進(jìn)一步的是，第一通氣孔的直徑為D1，第二通氣孔的直徑為D2，第三通氣孔的直徑為 D3，其中，Di> D2，D2= D3o
[0010]進(jìn)一步的是，第一通氣孔的直徑為Dl，第二通氣孔的直徑為D2，第三通氣孔的直徑為 D3，其中，Di= D2，D2> D3o
[0011 ] 進(jìn)一步的是，第一通氣孔的直徑為D1，第二通氣孔的直徑為D2，第三通氣孔的直徑為 D3，其中，Di= D3，D3> D2o
[0012]進(jìn)一步的是，光檢測(cè)組件包括發(fā)光組件和接光組件，發(fā)光組件設(shè)有發(fā)射管以及設(shè)于發(fā)射管出光側(cè)的第一透鏡，接光組件包括第二透鏡以及位于第二透鏡焦距處的接收管，第一透鏡和第二透鏡圍繞檢測(cè)腔布置，且第一透鏡的光軸與第二透鏡的光軸交叉布置。發(fā)射管發(fā)出檢測(cè)光線，第一透鏡將發(fā)射管發(fā)出的光線轉(zhuǎn)換為平行光，檢測(cè)光線轉(zhuǎn)換為平行線后進(jìn)入檢測(cè)腔，并經(jīng)由空氣顆粒物后射出散射光線，散射光線進(jìn)入第二透鏡，第二透鏡將散射光線在焦距處匯聚，并通過接收管接收匯聚的光線，實(shí)現(xiàn)對(duì)粉塵的檢測(cè)。
[0013]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果:
[0014]本實(shí)用新型由于第一通氣孔、第二通氣孔和第三通氣孔中至少有兩個(gè)孔的直徑不同，且第一通氣孔的直徑最大，氣流以一定速度引入靜止的氣流通道時(shí)，氣流與氣流通道內(nèi)的靜止流體之間存在速度不等區(qū)域，從而產(chǎn)生渦旋，卷吸周圍流體進(jìn)入射流，從而將氣流通道內(nèi)聚集的顆粒物帶走，減少顆粒物的聚集，提高設(shè)備的檢測(cè)精度，延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
【附圖說明】
[0015]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例粉塵檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例底殼和光檢測(cè)組件的安裝示意圖。
[0017]附圖標(biāo)記說明:
[0018]10.屏蔽罩，110.第三通氣孔，20.上殼，210.第二通氣孔，30.底殼，310.檢測(cè)腔，
320.第一通氣孔，40.光檢測(cè)組件，410.發(fā)光組件，411.發(fā)射管，412.第一透鏡，420.接光組件，421.第二透鏡，422.接收管。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0020]如圖1所示，一種粉塵檢測(cè)裝置，包括依次層疊設(shè)置的屏蔽罩10、上殼20和底殼30，及位于底殼30內(nèi)的光檢測(cè)組件40，底殼30設(shè)有檢測(cè)腔310、與檢測(cè)腔310連通的第一通氣孔320，上殼20設(shè)有與檢測(cè)腔310連通的第二通氣孔210，屏蔽罩10設(shè)有與第二通氣孔210連通的第三通氣孔110，第一通氣孔320、檢測(cè)腔310、第二通氣孔210和第三通氣孔110配合形成氣流通道，第一通氣孔320、第二通氣孔210和第三通氣孔110中至少有兩種孔的直徑不同，且第一通氣孔320的直徑最大。
[0021]氣流依次通過第三通氣孔110和第二通氣孔210進(jìn)入檢測(cè)腔310后，光檢測(cè)組件40對(duì)氣流的顆粒物進(jìn)行檢測(cè)，最后氣流從第一通氣孔320流出。由于第一通氣孔320、第二通氣孔210和第三通氣孔110中至少有兩個(gè)孔的直徑不同，且第一通氣孔320的直徑最大，氣流以一定速度引入靜止的氣流通道時(shí)，氣流與氣流通道內(nèi)的靜止流體之間存在速度不等區(qū)域，從而產(chǎn)生渦旋，卷吸周圍流體進(jìn)入射流，從而將氣流通道內(nèi)聚集的顆粒物帶走，減少顆粒物的聚集，提高設(shè)備的檢測(cè)精度，延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
[0022]在本實(shí)施例中，如圖1所示，第一通氣孔320的直徑為Di，第二通氣孔210的直徑為02，第三通氣孔110的直徑為D3，其中，D1= 9mm,D2= D3= 8mm。第一通氣孔320、第二通氣孔210和第三通氣孔110的直徑還可以根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置為Di〉D 2> D 3、D1= D 2>D3、Di= D3> D2這三種關(guān)系。
[0023]如圖2所示，光檢測(cè)組件40包括發(fā)光組件410和接光組件420，發(fā)光組件410設(shè)有發(fā)射管411以及設(shè)于發(fā)射管411出光側(cè)的第一透鏡412，接光組件包括第二透鏡421以及位于第二透鏡421焦距處的接收管422，第一透鏡412和第二透鏡421圍繞檢測(cè)腔310布置，且第一透鏡412的光軸與第二透鏡421的光軸交叉布置。發(fā)射管411發(fā)出檢測(cè)光線，第一透鏡412將發(fā)射管411發(fā)出的光線轉(zhuǎn)換為平行光，檢測(cè)光線轉(zhuǎn)換為平行線后進(jìn)入檢測(cè)腔310，并經(jīng)由空氣顆粒物后射出散射光線，散射光線進(jìn)入第二透鏡421，第二透鏡421將散射光線在焦距處匯聚，并通過接收管422接收匯聚的光線，實(shí)現(xiàn)對(duì)粉塵的檢測(cè)。
[0024]以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。
[0025]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種粉塵檢測(cè)裝置，其特征在于，包括依次層疊設(shè)置的屏蔽罩、上殼和底殼、及位于所述底殼內(nèi)的光檢測(cè)組件，所述底殼設(shè)有檢測(cè)腔以及與所述檢測(cè)腔連通的第一通氣孔，所述上殼設(shè)有與所述檢測(cè)腔連通的第二通氣孔，所述屏蔽罩設(shè)有與所述第二通氣孔連通的第三通氣孔，所述第一通氣孔、所述檢測(cè)腔、所述第二通氣孔和所述第三通氣孔配合形成氣流通道，所述第一通氣孔、所述第二通氣孔和所述第三通氣孔中至少有兩種孔的直徑不同，且所述第一通氣孔的直徑最大。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉塵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一通氣孔的直徑為Di，所述第二通氣孔的直徑為D2，所述第三通氣孔的直徑為D3，其中，D:> D 2> D 3。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉塵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一通氣孔的直徑為Di，所述第二通氣孔的直徑為D2，所述第三通氣孔的直徑為D3，其中，Di> D 2，D2= D 3。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉塵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一通氣孔的直徑為Di，所述第二通氣孔的直徑為D2，所述第三通氣孔的直徑為D3，其中，D: = D 2，D2> D 3。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的粉塵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一通氣孔的直徑為Di，所述第二通氣孔的直徑為D2，所述第三通氣孔的直徑為D3，其中，Di = D 3，D3> D 2。6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的粉塵檢測(cè)裝置，其特征在于，所述光檢測(cè)組件包括發(fā)光組件和接光組件，所述發(fā)光組件設(shè)有發(fā)射管以及設(shè)于所述發(fā)射管出光側(cè)的第一透鏡，所述接光組件包括第二透鏡以及位于所述第二透鏡焦距處的接收管，所述第一透鏡和所述第二透鏡圍繞所述檢測(cè)腔布置，且所述第一透鏡的光軸與所述第二透鏡的光軸交叉布置。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種粉塵檢測(cè)裝置，包括依次層疊設(shè)置的屏蔽罩、上殼和底殼，及位于底殼內(nèi)的光檢測(cè)組件，底殼設(shè)有檢測(cè)腔、與檢測(cè)腔連通的第一通氣孔，上殼設(shè)有與檢測(cè)腔連通的第二通氣孔，屏蔽罩設(shè)有與第二通氣孔連通的第三通氣孔，第一通氣孔、檢測(cè)腔、第二通氣孔和第三通氣孔配合形成氣流通道，第一通氣孔、第二通氣孔和第三通氣孔中至少有兩個(gè)孔的直徑不同，且第一通氣孔的直徑最大。氣流以一定速度引入靜止的氣流通道時(shí)，氣流與氣流通道內(nèi)的靜止流體之間存在速度不等區(qū)域，從而產(chǎn)生渦旋，卷吸周圍流體進(jìn)入射流，從而將氣流通道內(nèi)聚集的顆粒物帶走，減少顆粒物的聚集，提高設(shè)備的檢測(cè)精度，延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
【IPC分類】G01N15/06
【公開號(hào)】CN205049452
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520806929
【發(fā)明人】謝鋒, 田佳琦, 付浩
【申請(qǐng)人】廣東奧迪威傳感科技股份有限公司
【公開日】2016年2月24日
【申請(qǐng)日】2015年10月16日