Pcb板阻抗測試治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及阻抗測試領(lǐng)域，尤其涉及一種PCB板阻抗測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]在PCB板生產(chǎn)過程中，通常需要對導(dǎo)體的阻抗變化進(jìn)行測試，以確保PCB板的性能。目前，PCB板阻抗測試治具如圖1所示，包括固定板1，所述固定板I內(nèi)固定有探針2，探針2的底部與高頻線線芯3相連以進(jìn)行阻抗測試，但是為了對固定板I進(jìn)行保護(hù)，避免高頻線對操作人員造成傷害，所述固定板I與探針2之間需要依次設(shè)置屏蔽層4和絕緣層5，這就導(dǎo)致每個探針2需要占用較大的空間，請重點(diǎn)參考圖1，每個探針2所占用的空間的直徑a至少為2.5mm以上，這樣，對于兩個測試點(diǎn)之間的距離較小時，現(xiàn)有的PCB板阻抗測試治具并不適用。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型提供一種PCB板阻抗測試治具，以解決現(xiàn)有的PCB板阻抗測試治具每個探針占用空間過大的技術(shù)問題。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種PCB板阻抗測試治具，包括固定板，以及設(shè)置于固定板內(nèi)的探針和高頻線線芯，所述探針與所述高頻線線芯平行且不共線，所述探針的底部通過連接條與所述高頻線線芯的頂部相連，所述高頻線線芯的外側(cè)依次包覆有絕緣層和屏蔽層。
[0005]較佳地，所述固定板與所述探針之間設(shè)有探針套，所述探針限位于所述探針套內(nèi)，并能夠在所述探針套內(nèi)上下移動。
[0006]較佳地，所述探針的底部設(shè)有彈簧，所述彈簧的一端與所述探針固定連接，另一端固定于所述探針套上。
[0007]較佳地，所述連接條焊接于所述探針套上。
[0008]較佳地，所述探針包括桿部和固定于所述桿部頂端的尖端部。
[0009]較佳地，所述尖端部的底部直徑與所述桿部的直徑相同。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的一種PCB板阻抗測試治具，包括固定板，以及設(shè)置于固定板內(nèi)的探針和高頻線線芯，所述探針與所述高頻線線芯平行且不共線，所述探針的底部通過連接條與所述高頻線線芯的頂部相連，所述高頻線線芯的外側(cè)依次包覆有絕緣層和屏蔽層。本實(shí)用新型中，所述探針與所述高頻線線芯錯開設(shè)置，則在探針外無需套設(shè)絕緣層和屏蔽層，從而減小探針?biāo)加玫目臻g，使該阻抗測試治具可以應(yīng)用于兩個測試點(diǎn)之間的距離較小的情況。
【附圖說明】
[0011]圖1為現(xiàn)有的PCB板阻抗測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖2為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例方式的PCB板阻抗測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖1中:1-固定板、2_探針、3_尚頻線線芯、4_屏蔽層、5_絕緣層；
[0014]圖2中:10-固定板、20-探針、21-桿部、22-尖端部、30-高頻線線芯、31-絕緣層、32-屏蔽層、40-連接條、50-探針套、51-彈簧。
【具體實(shí)施方式】
[0015]為了更詳盡的表述上述實(shí)用新型的技術(shù)方案，以下列舉出具體的實(shí)施例來證明技術(shù)效果；需要強(qiáng)調(diào)的是，這些實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型而不限于限制本實(shí)用新型的范圍。
[0016]本實(shí)用新型提供的一種PCB板阻抗測試治具，請參考圖2，包括固定板10，以及設(shè)置于固定板10內(nèi)的探針20和高頻線線芯30，所述探針20與所述高頻線線芯30平行且不共線，所述探針20的底部通過連接條40與所述高頻線線芯30的頂部相連，所述高頻線線芯30的外側(cè)依次包覆有絕緣層31和屏蔽層32。本實(shí)用新型中，所述探針20與所述高頻線線芯30錯開設(shè)置，則在探針20外無需套設(shè)絕緣層31和屏蔽層32，從而減小探針20所占用的空間，具體地，本實(shí)用新型中，每個探針20所占用的空間的直徑b能夠達(dá)到0.7mm以上，使該阻抗測試治具可以應(yīng)用于兩個測試點(diǎn)之間的距離較小的情況。
[0017]較佳地，請繼續(xù)參考圖2，所述固定板10與所述探針20之間設(shè)有探針套50，所述探針20限位于所述探針套50內(nèi)，并能夠在所述探針套50內(nèi)上下移動；較佳地，所述探針20的底部設(shè)有彈簧51，所述彈簧51的一端與所述探針20固定連接，另一端固定于所述探針套50上。當(dāng)探針20與探測點(diǎn)接觸時，彈簧51的彈力使二者緊密接觸，避免二者脫離導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。
[0018]較佳地，請繼續(xù)參考圖2，所述連接條40焊接于所述探針套50上，使二者緊固連接，同時確保高頻線線芯30與探針20的信號連通。
[0019]較佳地，請繼續(xù)參考圖2，所述探針20包括桿部21和固定于所述桿部21頂端的尖端部22，較佳地，所述尖端部22的底部直徑與所述桿部21的直徑相同。一方面，該結(jié)構(gòu)使得整個探針20都可以縮回到探針套50內(nèi)部，進(jìn)一步縮小對探針20間距的要求；另一方面，所述探針20的結(jié)構(gòu)不僅適用于孔型測試點(diǎn)，且同時適用于pad式測試點(diǎn)，進(jìn)一步提高治具的適用范圍。
[0020]綜上所述，本實(shí)用新型提供的一種PCB板阻抗測試治具，包括固定板10，以及設(shè)置于固定板10內(nèi)的探針20和高頻線線芯30，所述探針20與所述高頻線線芯30平行且不共線，所述探針20的底部通過連接條40與所述高頻線線芯30的頂部相連，所述高頻線線芯30的外側(cè)依次包覆有絕緣層31和屏蔽層32。本實(shí)用新型中，所述探針20與所述高頻線線芯30錯開設(shè)置，則在探針20外無需套設(shè)絕緣層31和屏蔽層32，從而減小探針20所占用的空間，使該阻抗測試治具可以應(yīng)用于兩個測試點(diǎn)之間的距離較小的情況。
[0021]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對實(shí)用新型進(jìn)行各種改動和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實(shí)用新型也意圖包括這些改動和變型在內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種PCB板阻抗測試治具，包括固定板，以及設(shè)置于固定板內(nèi)的探針和高頻線線芯，其特征在于，所述探針與所述高頻線線芯平行且不共線，所述探針的底部通過連接條與所述高頻線線芯的頂部相連，所述高頻線線芯的外側(cè)依次包覆有絕緣層和屏蔽層。2.如權(quán)利要求1所述的PCB板阻抗測試治具，其特征在于，所述固定板與所述探針之間設(shè)有探針套，所述探針限位于所述探針套內(nèi)，并能夠在所述探針套內(nèi)上下移動。3.如權(quán)利要求2所述的PCB板阻抗測試治具，其特征在于，所述探針的底部設(shè)有彈簧，所述彈簧的一端與所述探針固定連接，另一端固定于所述探針套上。4.如權(quán)利要求3所述的PCB板阻抗測試治具，其特征在于，所述連接條焊接于所述探針套上。5.如權(quán)利要求1所述的PCB板阻抗測試治具，其特征在于，所述探針包括桿部和固定于所述桿部頂端的尖端部。6.如權(quán)利要求5所述的PCB板阻抗測試治具，其特征在于，所述尖端部的底部直徑與所述桿部的直徑相同。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及PCB板阻抗測試治具，包括固定板，以及設(shè)置于固定板內(nèi)的探針和高頻線線芯，所述探針與所述高頻線線芯平行且不共線，所述探針的底部通過連接條與所述高頻線線芯的頂部相連，所述高頻線線芯的外側(cè)依次包覆有絕緣層和屏蔽層。本實(shí)用新型中，所述探針與所述高頻線線芯錯開設(shè)置，則在探針外無需套設(shè)絕緣層和屏蔽層，從而減小探針?biāo)加玫目臻g，使該阻抗測試治具可以應(yīng)用于兩個測試點(diǎn)之間的距離較小的情況。
【IPC分類】G01R27/02
【公開號】CN204789758
【申請?zhí)枴緾N201520474519
【發(fā)明人】薛春高, 文明, 譚俊
【申請人】昆山鼎鑫電子有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年7月3日