一種具有阻抗測試電路的pcb板的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種具有阻抗測試電路的PCB板,包括邊板和至少一個子板,所述子板和邊板由同一塊PCB板分割而成;所述邊板設(shè)置于PCB板的上邊緣或下邊緣,所述子板與邊板的邊界設(shè)置有凹槽;所述子板上設(shè)置有測試電路,所述測試電路包括預(yù)設(shè)寬度和預(yù)設(shè)長度的覆銅導(dǎo)線、正極測試點和負(fù)極測試點;所述正極測試點和負(fù)極測試點為金屬化通孔,所述正極測試點設(shè)置于所述覆銅導(dǎo)線的一端,所述負(fù)極測試點與正極測試點間隔一預(yù)設(shè)距離設(shè)置。本實用新型具有阻抗測試電路的PCB板阻抗檢測方便。
【專利說明】—種具有阻抗測試電路的PCB板
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及PCB板領(lǐng)域,特別是涉及一種具有阻抗測試電路的PCB板。
【背景技術(shù)】
[0002]在PCB板技術(shù)參數(shù)中,PCB板的阻抗是一個很重要的參數(shù),因此,在PCB板生產(chǎn)檢驗中,PCB板的阻抗是一個不可少的檢測參數(shù),但因成品的PCB板的覆銅線路表面都覆蓋有漆層或膠層,漆層和膠層都是不導(dǎo)電的,因此,不便于測試PCB板的阻抗。另一個方面,不同PCB板的覆銅線路布線各不相同,因此,在測量PCB板的阻抗時還要測量覆銅線路的長度和寬度,通過測量的數(shù)據(jù)計算出PCB板的阻抗,測量的步驟繁瑣、精度低。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是:提供一種方便檢測PCB板阻抗的具有阻抗測試電路的PCB板。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題,本實用新型采用的技術(shù)方案為:
[0005]一種具有阻抗測試電路的PCB板,包括邊板和至少一個子板,所述子板和邊板由同一塊PCB板分割而成;所述邊板設(shè)置于PCB板的上邊緣或下邊緣,所述子板與邊板的邊界設(shè)置有凹槽;所述子板上設(shè)置有測試電路,所述測試電路包括預(yù)設(shè)寬度和預(yù)設(shè)長度的覆銅導(dǎo)線、正極測試點和負(fù)極測試點;所述正極測試點和負(fù)極測試點為金屬化通孔,所述正極測試點設(shè)置于所述覆銅導(dǎo)線的一端,所述負(fù)極測試點與正極測試點間隔一預(yù)設(shè)距離設(shè)置。
[0006]進一步地,所述覆銅導(dǎo)線預(yù)設(shè)的長度為7.5inch,所述金屬化通孔的孔徑為
1.0mm0
[0007]進一步地,所述負(fù)極測試點與正極測試點間隔為2.54inch。
[0008]進一步地,所述覆銅導(dǎo)線的寬度與子板的阻抗線寬一致。
[0009]本實用新型的有益效果為:區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)中,無法測量PCB板的阻抗,本實用新型在PCB板的邊板上設(shè)置測試電路,通過測試電路上的正極測試點和負(fù)極測試點可以直接測試PCB板的阻抗,大大方便了 PCB板的阻抗檢測。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]圖1為本實用新型一實施方式具有阻抗測試電路的PCB板的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0011]圖2為本實用新型一實施方式中邊板的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0012]主要標(biāo)號說明:
[0013]1-子板;2_邊板;3_凹槽;21_覆銅導(dǎo)線;22_正極測試點;23_負(fù)極測試點。
【具體實施方式】
[0014]為詳細(xì)說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)目的及效果,以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳予說明。
[0015]本實用新型最關(guān)鍵的構(gòu)思在于:在PCB板的邊板2上設(shè)置測試電路,通過測量測試電路即可得到PCB板的阻抗,大大方便了阻抗的測量。
[0016]請參閱圖1以及圖2,本實施方式一種具有阻抗測試電路的PCB板,包括邊板2和至少一個子板1,所述子板I和邊板2由同一塊PCB板分割而成;所述子板I上印制有覆銅線路,用于進一步加工成具有一定功能的電路板;所述邊板2為PCB板的邊角料,一般分布于整塊PCB板上邊緣和下邊邊緣,有些邊板2也有分布于PCB板的左邊緣和右邊緣,所述子板I與邊板2的邊界設(shè)置有凹槽3,沿著凹槽3可以將子板I與邊板2扳開。
[0017]在PCB板加工過程中,一般情況下,是以整塊完整的PCB板為單位進行加工,如電子元件插裝置,芯片及其他元件焊接,在此過程中,邊板2可以被用于固定整個PCB板。當(dāng)PCB板加工完成后再將各子板I和邊板2扳開,形成各個具有一定功能的電路板。因此,正常情況下,邊板2上是不會設(shè)置有任何電路。
[0018]在本實施方式,所述測試電路包括預(yù)設(shè)寬度和預(yù)設(shè)長度的覆銅導(dǎo)線21、正極測試點22和負(fù)極測試點23 ;其中,覆銅導(dǎo)線21的寬度根據(jù)子板I中阻抗線寬而定;
[0019]所述正極測試點22和負(fù)極測試點23為金屬化通孔,所述正極測試點22設(shè)置于所述覆銅導(dǎo)線21的一端,所述負(fù)極測試點23與正極測試點22間隔一預(yù)設(shè)距離設(shè)置。
[0020]在本實施方式中,所述正極測試點22和負(fù)極測試點23的間隔為2.54inch,在其他實施方式中,所述正極測試點22和負(fù)極測試點23的間隔可以根據(jù)實際需要設(shè)置成其他值。
[0021]所述因邊板2是單純用于測量阻抗的,所述,其覆銅導(dǎo)線21上可以不用設(shè)置漆層或膠層。測量阻抗時,只需將阻抗測試儀的探針分別連接于所述正極測試點22和負(fù)極測試點23,即可測量測試電路的阻抗,因測試電路和子板I是從同一塊PCB板分割出來的,并且測試電路的覆銅導(dǎo)線21的寬度與子板I中阻抗線寬相同,所以測試電路的阻抗即為PCB板及子板I的阻抗。
[0022]在一實施方式中,為了進一步簡化測量阻抗的步驟,將所述覆銅導(dǎo)線21的長度設(shè)置成7.5inch,因此,阻抗測試儀測量出來的電阻值即為子板I的阻抗值,從而省去了阻抗換算的步驟。
[0023]同時,為了更好的使阻抗測試儀的探針與所述覆銅導(dǎo)線21連接,提高探針與正極測試點22和負(fù)極測試點23的接觸,將所述金屬化通孔的孔徑設(shè)置成1.0mm0因探針的觸點大小不一,因此,在其他實施方式中,所述金屬化通孔的孔徑可以根據(jù)測量儀器的探測設(shè)置成不同孔徑。
[0024]綜上所述,本實用新型具有阻抗測試電路的PCB板即方便測量PCB板的阻抗,同時也大大提高了阻抗的測量精度。
[0025]以上所述僅為本實用新型的實施例,并非因此限制本實用新型的專利范圍,凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】,均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種具有阻抗測試電路的PCB板,其特征在于,包括邊板和至少一個子板,所述子板和邊板由同一塊PCB板分割而成; 所述邊板設(shè)置于PCB板的上邊緣或下邊緣,所述子板與邊板的邊界設(shè)置有凹槽; 所述子板上設(shè)置有測試電路,所述測試電路包括預(yù)設(shè)寬度和預(yù)設(shè)長度的覆銅導(dǎo)線、正極測試點和負(fù)極測試點; 所述正極測試點和負(fù)極測試點為金屬化通孔,所述正極測試點設(shè)置于所述覆銅導(dǎo)線的一端,所述負(fù)極測試點與正極測試點間隔一預(yù)設(shè)距離設(shè)置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有阻抗測試電路的PCB板,其特征在于,所述覆銅導(dǎo)線預(yù)設(shè)的長度為7.5inch,所述金屬化通孔的孔徑為1.0_。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有阻抗測試電路的PCB板,其特征在于,所述負(fù)極測試點與正極測試點間隔為2.54inch。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有阻抗測試電路的PCB板,其特征在于,所述覆銅導(dǎo)線的寬度與子板的阻抗線寬一致。
【文檔編號】G01N27/02GK203859930SQ201420249675
【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年5月15日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月15日
【發(fā)明者】祝曉林 申請人:深圳市華嚴(yán)慧海電子有限公司