專(zhuān)利名稱：一種印刷電路板pcb阻抗測(cè)試板以及pcb在制板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及印刷電路板技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種印刷電路板PCB阻抗測(cè)試板以及PCB在制板。
背景技術(shù)：
客戶設(shè)計(jì)有阻抗(在具有電阻、電感和電容的電路里，對(duì)交流電所起的阻礙作用) 控制的電路板，在生產(chǎn)過(guò)程中需要管控電路板阻抗值是否符合客戶要求。為達(dá)到這一目的， 電路板生產(chǎn)廠家會(huì)按照客戶的阻抗設(shè)計(jì)在客戶需要的線路板外制作一塊阻抗測(cè)試板，在生產(chǎn)過(guò)程中通過(guò)測(cè)量阻抗測(cè)試板的阻抗值來(lái)判斷板內(nèi)的阻抗值是否達(dá)到客戶的管控要求。傳統(tǒng)的PCB阻抗測(cè)試板相鄰的信號(hào)孔不能同時(shí)進(jìn)行高頻阻抗的測(cè)試，需要較多的孔才能完成全部的測(cè)試，使得所需阻抗測(cè)試板尺寸大，造成PCB生產(chǎn)原材料損耗大，導(dǎo)致制造成本上升。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供了一種印刷電路板(PCB)阻抗測(cè)試板，可以減少阻抗測(cè)試板的尺寸，節(jié)約PCB生產(chǎn)原材料，降低制造成本。本實(shí)用新型為一種PCB阻抗測(cè)試板，所述阻抗測(cè)試板中的兩相鄰信號(hào)孔中心之間的距離不小于3mm。所述阻抗測(cè)試板中的兩相鄰接地孔中心之間的距離不小于3mm。所述阻抗測(cè)試板為用于進(jìn)行高頻阻抗測(cè)試的測(cè)試板。接地孔中心與相鄰信號(hào)孔中心的距離大于所述接地孔與所述相鄰信號(hào)孔的半徑總禾口。所述阻抗測(cè)試板包括定位孔，用于測(cè)試時(shí)通過(guò)夾具上的定位孔固定阻抗測(cè)試板。所述信號(hào)孔的孔徑根據(jù)所述夾具上的探針尺寸相適應(yīng)。 本實(shí)用新型提供了一種PCB在制板，包含阻抗測(cè)試板，其中阻抗測(cè)試板中的兩相鄰信號(hào)孔中心之間的距離不小于3mm ；阻抗測(cè)試板中的兩相鄰接地孔中心之間的距離不小于3mm ；阻抗測(cè)試板為用于進(jìn)行高頻阻抗測(cè)試的測(cè)試板；接地孔中心與相鄰信號(hào)孔中心的距離大于所述接地孔與所述相鄰信號(hào)孔的半徑總和；阻抗測(cè)試板包括定位孔，用于測(cè)試時(shí)通過(guò)夾具上的定位孔固定阻抗測(cè)試板；信號(hào)孔的孔徑根據(jù)所述夾具上的探針尺寸相適應(yīng)中任意一特征的PCB阻抗測(cè)試板。 本實(shí)用新型通過(guò)增大了相鄰信號(hào)孔間的距離。當(dāng)對(duì)阻抗測(cè)試板進(jìn)行高頻測(cè)試時(shí)， 不會(huì)因?yàn)閮上噜徯盘?hào)孔間距過(guò)小導(dǎo)致同時(shí)接通高頻信號(hào)時(shí)發(fā)生短路，而可以同時(shí)測(cè)試相鄰的兩信號(hào)孔。因?yàn)橄噜彽男盘?hào)孔可以同時(shí)測(cè)量時(shí)，無(wú)需隔孔測(cè)試，則可以相應(yīng)減少信號(hào)孔的數(shù)量，縮減阻抗測(cè)試板的尺寸，節(jié)約了阻抗測(cè)試板的原材料，降低了成本。


3[0013]圖1為本實(shí)用新型的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實(shí)用新型的實(shí)施例的具體結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型增大了相鄰信號(hào)孔間的距離，當(dāng)阻抗板進(jìn)行高頻測(cè)試時(shí)，不會(huì)因?yàn)橄噜徯盘?hào)孔間距過(guò)小導(dǎo)致同時(shí)接通高頻信號(hào)時(shí)發(fā)生短路。下面結(jié)合圖1對(duì)本實(shí)施例說(shuō)明。如圖1所示，阻抗測(cè)試板1的兩相鄰信號(hào)孔2中心的距離為3mm。相鄰信號(hào)孔之間的距離足夠大，才能避免在相鄰信號(hào)孔同時(shí)接通高頻信號(hào)時(shí)，兩相鄰信號(hào)孔之間發(fā)生短路。較優(yōu)的，阻抗測(cè)試板1上的兩相鄰接地孔3中心的距離相應(yīng)的也調(diào)整為3mm，使得信號(hào)孔相對(duì)接地孔排布的較為整齊。阻抗測(cè)試板1上用于測(cè)試時(shí)通過(guò)夾具上的定位孔固定該阻抗測(cè)試板的定位孔4， 避免測(cè)試時(shí)阻抗測(cè)試板發(fā)生移動(dòng)。測(cè)試時(shí)，將阻抗測(cè)試板上的定位孔與用于固定阻抗測(cè)試板的夾具上的定位孔配合對(duì)齊后，插入探針用以將所述阻抗測(cè)試板固定在夾具上。如圖2所示為本實(shí)用新型具體實(shí)施例阻抗測(cè)試板的結(jié)構(gòu)圖。本實(shí)施例根據(jù)需要確定信號(hào)孔數(shù)量為12個(gè)，并進(jìn)行成排分布，且相鄰兩信號(hào)孔中心之間的距離為3mm。不小于3mm的距離可避免相鄰信號(hào)孔之間在同時(shí)進(jìn)行高頻測(cè)試時(shí)發(fā)生短路。在本例中，確定接地孔數(shù)量為14個(gè)，并進(jìn)行成排分布，且相鄰接地孔中心之間的距離為3mm。接地孔中心和與其相鄰的信號(hào)孔中心的距離大于該接地孔與該信號(hào)孔的半徑總和，可以防止接地孔與信號(hào)孔之間發(fā)生短路。本例中，信號(hào)孔的與接地孔的尺寸根據(jù)夾具上的探針尺寸設(shè)定為直徑1mm，所以成排的信號(hào)孔和成排的接地孔的排與排之間的距離為2. 54mm(如圖所示以孔中心為計(jì)算起點(diǎn)和終點(diǎn))，可以避免信號(hào)孔與接地孔發(fā)生短路。這個(gè)距離維持了現(xiàn)有阻抗測(cè)試板上信號(hào)孔排與接地孔排的排間距，而其他的實(shí)施例中，只需使得接地孔中心與相鄰信號(hào)孔中心的距離大于接地孔與相鄰信號(hào)孔的半徑總和即可。本例中，定位孔的尺寸為直徑2mm，仍與現(xiàn)有阻抗測(cè)試板的定位孔尺寸相一致。依據(jù)夾具上的定位孔的固定位置確定定孔位的位置和大小，可以直接和夾具套合。在對(duì)阻抗測(cè)試板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，將阻抗測(cè)試板上的定位孔與用于固定阻抗測(cè)試板的夾具上的定位孔配合對(duì)齊后，插入探針用以將所述阻抗測(cè)試板固定在夾具上。對(duì)該阻抗測(cè)試板測(cè)試時(shí)，只需將探針插入各信號(hào)孔和接地孔中，通過(guò)探針向阻抗測(cè)試板的信號(hào)孔輸出高頻信號(hào)，即可測(cè)試出該阻抗測(cè)試板各信號(hào)孔的阻抗值。在增大了信號(hào)孔中心之間的距離后，使得相鄰的兩信號(hào)孔可以同時(shí)進(jìn)行高頻測(cè)試，而無(wú)需隔孔測(cè)試，可以相應(yīng)的減少信號(hào)孔的數(shù)量，縮短阻抗測(cè)試板的尺寸?，F(xiàn)有阻抗測(cè)試板一般為0. 3X8. OInch，而經(jīng)過(guò)信號(hào)孔孔間距增大為3mm后，阻抗測(cè)試板尺寸可縮小為 0.3X5. 5inch(7. 62X 139. 7mm)，節(jié)約了阻抗測(cè)試板的原材料，降低了生產(chǎn)成本。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實(shí)用新型也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種印刷電路板PCB阻抗測(cè)試板，其特征在于，所述阻抗測(cè)試板中的兩相鄰信號(hào)孔中心之間的距離不小于3mm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測(cè)試板，其特征在于，所述阻抗測(cè)試板中的兩相鄰接地孔中心之間的距離不小于3mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測(cè)試板，其特征在于，所述阻抗測(cè)試板為用于進(jìn)行高頻阻抗測(cè)試的測(cè)試板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測(cè)試板，其特征在于，接地孔中心與相鄰信號(hào)孔中心的距離大于所述接地孔與所述相鄰信號(hào)孔的半徑總和。
5.根據(jù)權(quán)利要求1 4中任一項(xiàng)所述的阻抗測(cè)試板，其特征在于，所述阻抗測(cè)試板包括定位孔，用于測(cè)試時(shí)通過(guò)夾具上的定位孔固定阻抗測(cè)試板。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的阻抗測(cè)試板，其特征在于，所述信號(hào)孔的孔徑根據(jù)所述夾具上的探針尺寸相適應(yīng)。
7.一種印刷電路板PCB在制板，其特征在于，包含如權(quán)利要求1 6所述任一 PCB阻抗測(cè)試板。
專(zhuān)利摘要傳統(tǒng)的PCB阻抗測(cè)試板相鄰的信號(hào)孔不能同時(shí)進(jìn)行高頻阻抗的測(cè)試，需要較多的孔才能完成全部的測(cè)試，使得所需阻抗測(cè)試板尺寸大，造成PCB生產(chǎn)原材料損耗大，導(dǎo)致制造成本上升。本實(shí)用新型提供了一種印刷電路板PCB阻抗測(cè)試板，可以縮小阻抗測(cè)試板的尺寸，節(jié)約PCB生產(chǎn)原材料，降低制造成本。本實(shí)用新型為一種印刷電路板PCB阻抗測(cè)試板，其特征在于，所述阻抗測(cè)試板中的兩相鄰信號(hào)孔中心之間的距離不小于3mm。通過(guò)將阻抗測(cè)試板上的信號(hào)孔之間的距離擴(kuò)大，使得相鄰的信號(hào)孔可以同時(shí)進(jìn)行高頻阻抗測(cè)試，減少相應(yīng)的信號(hào)孔，來(lái)達(dá)到縮小阻抗測(cè)試板尺寸。本實(shí)用新型還提供一種PCB在制板。
文檔編號(hào)H05K1/02GK202230136SQ20112037262
公開(kāi)日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2011年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月28日
發(fā)明者張千木, 鄭文浩 申請(qǐng)人:北大方正集團(tuán)有限公司, 珠海方正印刷電路板發(fā)展有限公司