本技術(shù)涉及集成電路，特別涉及一種冗余電路、冗余地址訪問(wèn)電路及訪問(wèn)方法。

背景技術(shù)：

1、一個(gè)dram（dynamic?random?access?memory，動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器）存儲(chǔ)陣列的配置是：包括多條沿存儲(chǔ)陣列的行列連接布置的字線和位線，以及于字線和位線相交節(jié)點(diǎn)上逐個(gè)配置的存儲(chǔ)電容在內(nèi)的陣列結(jié)構(gòu)。而隨著dram制作工藝的不斷縮小以及存儲(chǔ)容量的不斷增加，量產(chǎn)的dram芯片中存在失效單元。為使dram能夠正常使用，芯片設(shè)計(jì)中包含了冗余單元，冗余單元用于失效的單元的修復(fù)，以達(dá)到量產(chǎn)合格dram的目的。

2、dram芯片訪問(wèn)過(guò)程中可能錯(cuò)誤的冗余地址。如圖1和2所示，芯片測(cè)試工程師對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試，以位線冗余為例，假設(shè)芯片制成良好，測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有位線失效，則不會(huì)修改熔斷設(shè)置，此時(shí)，保險(xiǎn)絲會(huì)有一個(gè)默認(rèn)熔斷地址，芯片開(kāi)機(jī)時(shí)會(huì)加載默認(rèn)熔斷地址為熔斷地址2，在進(jìn)行寫(xiě)/讀操作時(shí)，列地址可能正好會(huì)和熔斷地址2匹配上從而產(chǎn)生錯(cuò)誤的冗余地址，而實(shí)際上該列地址并沒(méi)有失效。為避免上述情況發(fā)生，通常需要通過(guò)從外部加載熔斷使能信號(hào)來(lái)控制，其過(guò)程如圖3所示。如果測(cè)試過(guò)程沒(méi)有失效位線，則通過(guò)修改使能信號(hào)熔斷設(shè)置的方式將保險(xiǎn)絲置于對(duì)應(yīng)的值，使熔斷使能信號(hào)1無(wú)效，在芯片上電開(kāi)機(jī)的過(guò)程中，將此熔斷使能信號(hào)1加載到冗余電路中，該值稱(chēng)為熔斷使能信號(hào)2，即使列地址和熔斷地址2匹配上，熔斷使能信號(hào)2無(wú)效，也不會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤冗余地址，從而避免上述情況發(fā)生。然而，該方法不僅需要專(zhuān)門(mén)設(shè)置熔斷使能信號(hào)1的產(chǎn)生加載模塊，還會(huì)增加開(kāi)機(jī)時(shí)熔斷加載的時(shí)間和測(cè)試工程燒斷保險(xiǎn)絲的工作量。

3、為此，本技術(shù)中提出了一種冗余電路、冗余地址訪問(wèn)電路及訪問(wèn)方法，能夠減少dram保險(xiǎn)絲數(shù)量的方法，不需要從外部加載熔斷使能信號(hào)也可以避免上述沒(méi)有熔斷使能信號(hào)會(huì)錯(cuò)誤匹配的情況發(fā)生，起到減少保險(xiǎn)絲數(shù)量的作用，也可減少開(kāi)機(jī)時(shí)熔斷加載的時(shí)間，還能減少測(cè)試工程燒斷保險(xiǎn)絲的工作量。

4、應(yīng)該注意，上面對(duì)技術(shù)背景的介紹只是為了方便對(duì)本技術(shù)的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整的說(shuō)明，并方便本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解而闡述的。不能僅僅因?yàn)檫@些方案在本技術(shù)的背景技術(shù)部分進(jìn)行了闡述而認(rèn)為上述技術(shù)方案為本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種冗余電路、冗余地址訪問(wèn)電路及訪問(wèn)方法。

2、為了解決上述問(wèn)題，第一方面，以下提供一種冗余電路，包括熔斷使能產(chǎn)生模塊和地址熔斷模塊；

3、所述熔斷使能產(chǎn)生模塊基于輸入地址，產(chǎn)生熔斷使能信號(hào)并輸入所述地址熔斷模塊，所述地址熔斷模塊包括多個(gè)單元；

4、所述熔斷使能產(chǎn)生模塊被配置為：在所述輸入地址不屬于特征地址時(shí)，所述熔斷使能信號(hào)均為有效信號(hào)；在所述輸入地址屬于特征地址時(shí)，輸入特定單元的熔斷使能信號(hào)為無(wú)效信號(hào)，輸入其余單元的熔斷使能信號(hào)為有效信號(hào)。

5、本技術(shù)通過(guò)設(shè)計(jì)熔斷使能產(chǎn)生模塊，可以不需要從外部加載熔斷使能信號(hào)也可以避免沒(méi)有熔斷使能信號(hào)的錯(cuò)誤匹配發(fā)生，相比于現(xiàn)有技術(shù)，不僅省去了熔斷使能信號(hào)的加載模塊，也可減少開(kāi)機(jī)時(shí)熔斷加載的時(shí)間，還能減少測(cè)試工程燒斷保險(xiǎn)絲的工作量。

6、所述地址熔斷模塊包括多個(gè)地址熔斷加載與地址比較單元；所述地址熔斷加載與地址比較單元被配置為：加載熔斷地址并存儲(chǔ)在所述單元中，將所述輸入地址與存儲(chǔ)的所述熔斷地址相比較；若地址匹配且所述熔斷使能信號(hào)為有效信號(hào)，所述地址熔斷加載與地址比較單元產(chǎn)生表示有效信號(hào)的所述標(biāo)志信號(hào)和對(duì)應(yīng)的冗余地址；若不匹配或所述熔斷使能信號(hào)為無(wú)效信號(hào)，所述地址熔斷加載與地址比較單元產(chǎn)生表示無(wú)效信號(hào)的所述標(biāo)志信號(hào)和和無(wú)效的冗余地址。通過(guò)對(duì)輸入地址和單元中存儲(chǔ)的每個(gè)熔斷地址進(jìn)行比較以確認(rèn)是否匹配，再結(jié)合熔斷使能信號(hào)綜合判斷是否為冗余地址，即只有既與熔斷地址匹配且熔斷使能信號(hào)為有效是，才認(rèn)定為冗余地址，以防止錯(cuò)誤匹配。

7、所述地址熔斷加載與地址比較單元的數(shù)量與所具有的所述冗余地址的數(shù)量相同；所述熔斷使能產(chǎn)生模塊能夠產(chǎn)生多位獨(dú)立的所述熔斷使能信號(hào)，并分別輸入至每個(gè)所述地址熔斷加載與地址比較單元中。確?？梢詫?duì)每個(gè)冗余地址均可進(jìn)行判斷，避免錯(cuò)誤。

8、以第一電平表示所述熔斷使能信號(hào)為有效信號(hào)，以第二電平表示所述熔斷使能信號(hào)為無(wú)效信號(hào)；以第一電平表示所述標(biāo)志信號(hào)為有效信號(hào)，以第二電平表示所述標(biāo)志信號(hào)為無(wú)效信號(hào)；所述第一電平和所述第二電平分別為高電平和低電平之一。通過(guò)高低電平分別表示有效與無(wú)效，即第一電平和第二電平設(shè)定為低或高都是可以的，例如以低電平表示無(wú)效，高電平表示有效，也可以反之。

9、第二方面，本發(fā)明還提供一種冗余地址訪問(wèn)電路，包括第一方面所述的冗余電路、選擇器以及正常與冗余解碼電路；

10、所述選擇器基于所述輸入地址、所述冗余地址和所述標(biāo)志信號(hào)選擇輸出所述輸入地址或所述冗余地址到所述正常與冗余解碼電路；

11、所述正常與冗余解碼電路對(duì)接收到的地址進(jìn)行解碼，輸出對(duì)應(yīng)的字線地址或位線地址。

12、采用了本發(fā)明的冗余電路后，冗余地址訪問(wèn)電路的結(jié)構(gòu)大大簡(jiǎn)化了，能夠有效減少開(kāi)機(jī)時(shí)熔斷加載的時(shí)間。

13、還包括地址鎖存電路；所述地址鎖存電路用于接收所述輸入地址并在鎖存后輸出鎖存地址，所述鎖存地址分別輸入所述冗余電路和所述選擇器中。將所述輸入地址進(jìn)行鎖存，當(dāng)進(jìn)行激活操作時(shí)，維持輸入地址不變，并過(guò)濾掉非當(dāng)前bank激活的地址信息。

14、還包括預(yù)解碼電路；所述預(yù)解碼電路設(shè)置于所述地址鎖存電路和所述選擇器之間，所述預(yù)解碼電路用于對(duì)輸入的所述鎖存地址進(jìn)行預(yù)解碼后輸入到所述選擇器中。通過(guò)所述預(yù)解碼電路進(jìn)行預(yù)解碼，能夠?qū)⒖蓪ぶ贩秶冗M(jìn)行劃分，能夠更快地定位目標(biāo)字線/位線，提高了整體工作效率。

15、第三方面，本發(fā)明還提供一種冗余地址訪問(wèn)方法，采用第二方面所述的一種冗余地址訪問(wèn)電路進(jìn)行，包括如下步驟：

16、分別加載所述輸入地址和所述熔斷地址至所述冗余電路，產(chǎn)生標(biāo)志信號(hào)和冗余地址；

17、基于所述標(biāo)志信號(hào)，通過(guò)所述選擇器選擇輸出所述輸入地址或所述冗余地址；

18、將所述選擇器輸出的地址傳輸至所述正常與冗余解碼電路，解碼得到對(duì)應(yīng)的字線地址或位線地址。

19、包括如下步驟：當(dāng)不存在失效單元時(shí)，將每個(gè)冗余地址對(duì)應(yīng)的默認(rèn)熔斷地址分別設(shè)置為一個(gè)特征地址；加載所述輸入地址至所述冗余電路，將所述特征地址作為熔斷地址加載并分別對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)于一個(gè)所述單元中，基于所述熔斷使能信號(hào)、所述輸入地址和所述熔斷地址，產(chǎn)生標(biāo)志信號(hào)和冗余地址。

20、當(dāng)存在失效單元時(shí)，記錄失效地址，并修改所述冗余地址對(duì)應(yīng)的默認(rèn)熔斷地址為所述失效地址，將其余的所述冗余地址對(duì)應(yīng)的默認(rèn)熔斷地址分別設(shè)置為一個(gè)特征地址；當(dāng)所述失效地址不屬于所述特征地址時(shí)，加載所述輸入地址至所述冗余電路，將所述失效地址和/或所述特征地址作為熔斷地址加載并分別對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)于一個(gè)所述單元中，基于所述熔斷使能信號(hào)、所述輸入地址和所述熔斷地址，產(chǎn)生標(biāo)志信號(hào)和冗余地址；當(dāng)所述失效地址屬于所述特征地址時(shí)，加載所述輸入地址至所述冗余電路，將所述失效地址和/或所述特征地址作為熔斷地址加載并分別對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)于一個(gè)所述單元中，其中，將所述失效地址加載到所接收的所述熔斷使能信號(hào)為有效信號(hào)的所述單元中，基于所述熔斷使能信號(hào)、所述輸入地址和所述熔斷地址，產(chǎn)生標(biāo)志信號(hào)和冗余地址。

21、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果主要包括如下：本技術(shù)通過(guò)設(shè)計(jì)熔斷使能產(chǎn)生模塊，可以不需要從外部加載熔斷使能信號(hào)也可以避免沒(méi)有熔斷使能信號(hào)的錯(cuò)誤匹配發(fā)生，相比于現(xiàn)有技術(shù)，不僅省去了熔斷使能信號(hào)的加載模塊，也可減少開(kāi)機(jī)時(shí)熔斷加載的時(shí)間，還能減少測(cè)試工程燒斷保險(xiǎn)絲的工作量。