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單端靈敏放大器電路、存儲(chǔ)器讀電路和存儲(chǔ)器的制作方法

文檔序號(hào):40600921發(fā)布日期:2025-01-07 20:41閱讀:10來源:國知局
單端靈敏放大器電路、存儲(chǔ)器讀電路和存儲(chǔ)器的制作方法

本公開涉及集成電路,特別是涉及一種單端靈敏放大器電路、存儲(chǔ)器讀電路和存儲(chǔ)器。


背景技術(shù):

1、靈敏放大器是nor?flash(一種非易失性閃存)中讀操作的關(guān)鍵電路,它判斷norflash?cell(閃存單元)的電流,決定數(shù)據(jù)是0還是1。一般而言,靈敏放大器有差分和單端兩種結(jié)構(gòu)。

2、傳統(tǒng)的單端靈敏放大器具有電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,控制邏輯簡(jiǎn)單,低功耗,更小的面積等優(yōu)點(diǎn),但是相較于差分靈敏放大器,其抗共模噪聲的能力較弱,因此在較大的電源噪聲(例如,power?noise>0.7v(電源噪聲>0.7伏))環(huán)境中,容易造成誤判,導(dǎo)致nor?flash?的讀操作錯(cuò)誤或是達(dá)不到高速(例如,quad?i/o?data?transfer?up?to?532mbits/s(四輸入輸出數(shù)據(jù)傳輸速率為532兆比特每秒))讀取的要求。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本公開要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中用于nor?flash的單端靈敏放大器在電源噪聲環(huán)境中容易造成誤判,無法準(zhǔn)確讀取nor?flash中數(shù)據(jù)的缺陷,提供一種單端靈敏放大器電路、存儲(chǔ)器讀電路和存儲(chǔ)器。

2、本公開是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題:

3、根據(jù)本公開的第一方面,提供了一種單端靈敏放大器電路,所述單端靈敏放大器電路包括帶預(yù)充電控制的鉗位電路和基準(zhǔn)電流比較電路;

4、所述帶預(yù)充電控制的鉗位電路包括降噪單元,所述降噪單元與所述基準(zhǔn)電流比較電路連接;

5、所述帶預(yù)充電控制的鉗位電路與存儲(chǔ)單元連接,所述帶預(yù)充電控制的鉗位電路用于讀取操作信號(hào);

6、其中,所述降噪單元用于在所述單端靈敏放大器產(chǎn)生電源噪聲波動(dòng)時(shí),減小所述操作信號(hào)的波動(dòng)量;

7、所述基準(zhǔn)電流比較電路用于將經(jīng)過所述降噪單元處理后的所述操作信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較,輸出目標(biāo)數(shù)據(jù)。

8、較佳地,所述降噪單元包括第一晶體管和第二晶體管;

9、所述第一晶體管與所述第二晶體管連接;

10、所述第一晶體管和所述第二晶體管均為雙阱(triple?well)nmos(n-metal-oxide-semiconductor,?n型金屬-氧化物-半導(dǎo)體)晶體管;

11、所述第二晶體管與所述基準(zhǔn)電流比較電路連接。

12、較佳地,所述帶預(yù)充電控制的鉗位電路還包括預(yù)充電開關(guān)和電容單元;

13、所述基準(zhǔn)電流比較電路包括第一電流鏡、第二電流鏡和緩沖器;

14、所述第一晶體管包括第一體極、第一襯底極、第一源極、第一柵極和第一漏極;

15、所述第二晶體管包括第二體極、第二襯底極、第二源極、第二柵極和第二漏極;

16、所述第一源極、所述第一襯底極、所述第二源極、所述第二襯底極與所述存儲(chǔ)單元連接,所述第一體極、所述第二體極接入電源端;

17、所述第一漏極經(jīng)所述預(yù)充電開關(guān)與所述電源端連接,所述第一柵極、所述第二柵極與所述電容單元連接;

18、所述第二源極、所述第二漏極分別與所述基準(zhǔn)電流比較電路連接;

19、所述第二源極用于讀取存儲(chǔ)單元電流,存儲(chǔ)單元電流和基準(zhǔn)電流形成流經(jīng)所述第二漏極的鉗位電流;

20、所述第一電流鏡用于以1:1電流比輸出所述鉗位電流;

21、所述第二電流鏡用于以1:2電流比輸出所述基準(zhǔn)電流;

22、所述緩沖器用于將比較電流轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)輸出,所述比較電流為經(jīng)由所述第一電流鏡輸出的所述鉗位電流與經(jīng)由所述第二電流鏡輸出的所述基準(zhǔn)電流的差值。

23、較佳地,所述第一電流鏡包括第一pmos(p-channel-oxide-semiconductor,?p溝道金屬-氧化物-半導(dǎo)體)管和第二pmos管,所述第二電流鏡包括第一nmos管和第二nmos管;

24、所述第一pmos管包括第四源極、第四柵極和第四漏極;

25、所述第二pmos管包括第五源極、第五柵極和第五漏極;

26、所述第一nmos管包括第六源極、第六柵極和第六漏極;

27、所述第二nmos管包括第七源極、第七柵極和第七漏極;

28、所述第四源極和所述第五源極與所述電源端連接,所述第四柵極、所述第四漏極、所述第五柵極與所述第二漏極連接;

29、所述第六漏極與所述第二源極連接,所述第六柵極、所述第七柵極接入基準(zhǔn)電壓,所述第六源極和所述第七源極接地;

30、所述第五漏極、所述第七漏極與所述緩沖器連接;

31、和/或,

32、所述電容單元包括第三柵極、第三源極和第三漏極,所述電容單元的電容值滿足預(yù)設(shè)條件,所述電容單元用于穩(wěn)壓和降噪;

33、所述第三柵極與所述第一柵極、所述第二柵極連接,所述第三漏極與第三源極連接后接入使能信號(hào);

34、和/或,

35、所述電容單元的電容值小于所述第二晶體管的mos(金氧半場(chǎng)效晶體管)電容值。

36、較佳地,所述降噪單元包括第一晶體管和第二晶體管;

37、所述第一晶體管和所述第二晶體管連接;

38、所述第一晶體管和所述第二晶體管均為nmos晶體管,且所述第一晶體管和所述第二晶體管的寬長比小于預(yù)設(shè)閾值;

39、所述第二晶體管與所述基準(zhǔn)電流比較電路連接。

40、較佳地,所述帶預(yù)充電控制的鉗位電路還包括預(yù)充電開關(guān)和電容單元;

41、所述基準(zhǔn)電流比較電路包括第一電流鏡、第二電流鏡和緩沖器;

42、所述第一晶體管包括第八柵極、第八源極和第八漏極;

43、所述第二晶體管包括第九柵極、第九源極和第九漏極;

44、所述第八源極、所述第九源極與所述存儲(chǔ)單元連接;

45、所述第八漏極經(jīng)所述預(yù)充電開關(guān)與電源端連接,所述第八柵極、所述第九柵極與所述電容單元連接;

46、所述第九源極、所述第九漏極分別與所述基準(zhǔn)電流比較電路連接;

47、所述第九源極用于讀取存儲(chǔ)單元電流,所述存儲(chǔ)單元電流和基準(zhǔn)電流形成流經(jīng)所述第九漏極的鉗位電流;

48、所述第一電流鏡用于以1:1電流比輸出所述鉗位電流;

49、所述第二電流鏡用于以1:2電流比輸出所述基準(zhǔn)電流;

50、所述緩沖器用于將比較電流轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)輸出,所述比較電流為經(jīng)由所述第一電流鏡輸出的所述鉗位電流與經(jīng)由所述第二電流鏡輸出的所述基準(zhǔn)電流的差值。

51、較佳地,所述第一電流鏡包括第一pmos管和第二pmos管,所述第二電流鏡包括第一nmos管和第二nmos管;

52、所述第一pmos管包括第四源極、第四柵極和第四漏極;

53、所述第二pmos管包括第五源極、第五柵極和第五漏極;

54、所述第一nmos管包括第六源極、第六柵極和第六漏極;

55、所述第二nmos管包括第七源極、第七柵極和第七漏極;

56、所述第四源極和所述第五源極與所述電源端連接,所述第四柵極、所述第四漏極、所述第五柵極與所述第九漏極連接;

57、所述第六漏極與所述第九源極連接,所述第六柵極、所述第七柵極與基準(zhǔn)單元連接,所述第六源極和所述第七源極接地;

58、所述第五漏極、所述第七漏極與所述緩沖器連接;

59、和/或,

60、所述電容單元包括第三柵極、第三源極和第三漏極,所述電容單元的電容值滿足預(yù)設(shè)條件,所述電容單元用于穩(wěn)壓和降噪;

61、所述第三柵極與所述第八柵極、所述第九柵極連接,所述第三漏極與第三源極連接后接入使能信號(hào);

62、和/或,

63、所述電容單元的電容值小于所述第二晶體管的mos電容值。

64、較佳地,所述降噪單元包括第一晶體管、第二晶體管和降噪電容;

65、所述降噪電容包括電容柵極、電容源極和電容漏極,所述降噪電容的電容量滿足預(yù)設(shè)條件,所述降噪電容用于穩(wěn)壓和降噪;

66、所述電容柵極與所述第一晶體管連接,所述電容漏極與所述電容源極連接后接入使能信號(hào);

67、所述第一晶體管和所述第二晶體管連接;

68、所述第二晶體管與所述基準(zhǔn)電流比較電路連接。

69、根據(jù)本公開的第二方面,提供了一種存儲(chǔ)器讀電路,所述存儲(chǔ)器讀電路包括本公開第一方面所述的單端靈敏放大器電路。

70、根據(jù)本公開的第三方面,提供了一種存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器包括本公開第二方面所述的存儲(chǔ)器讀電路。

71、在符合本領(lǐng)域常識(shí)的基礎(chǔ)上,上述各優(yōu)選條件,可任意組合,即得本公開各較佳實(shí)例。

72、本公開的積極進(jìn)步效果在于:針對(duì)nor?flash中傳統(tǒng)單端靈敏放大器在電源噪聲環(huán)境下被干擾的根本原因,在單端靈敏放大器電路中設(shè)置降噪單元,通過控制其柵端的電容大小、消除襯底偏置效應(yīng)以及減小正向電流和反向恢復(fù)時(shí)間,顯著減小了電源噪聲環(huán)境里操作信號(hào)的波動(dòng)量,使得靈敏放大器的抗噪聲能力提高,確保了nor?flash讀出數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,滿足nor?flash高速讀操作的需求。

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