本公開涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域，尤其涉及一種測試電路和存儲器。

背景技術(shù)：

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展，人們在制造和使用計算機(jī)等設(shè)備時，對數(shù)據(jù)的傳輸速度提出了越來越高的要求。以動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dynamic?random?access?memory，dram)為例，為了保證其存儲功能的正確性，需要對存儲器進(jìn)行測試，例如進(jìn)行存儲器內(nèi)建自測試(memory?build?in?self?test，mbist)。mbist電路需要支持各種測試模式且其中的各類命令需要滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，因此其具體的電路設(shè)計成為一種難題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本公開提供了一種測試電路和存儲器。

2、本公開的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的：

3、第一方面，本公開實施例提供了一種測試電路，應(yīng)用于存儲器，所述測試電路包括：

4、第一命令電路，配置為基于接收到的測試時鐘信號，產(chǎn)生初始刷新命令，且相鄰2個所述初始刷新命令之間的時間間隔為第一時長；

5、選擇電路，與所述第一命令電路連接，配置為接收測試預(yù)充命令、所述初始刷新命令和所述測試時鐘信號；在老化測試模式下，將測試預(yù)充命令或所述初始刷新命令輸出為中間信號；在正常模式下，將所述測試時鐘信號輸出為所述中間信號；

6、第一計數(shù)器，與所述選擇電路連接，配置為對所述中間信號進(jìn)行計數(shù)，產(chǎn)生第一計數(shù)值；

7、第二命令電路，與所述第一命令電路和所述第一計數(shù)器均連接，配置為接收所述第一計數(shù)值和所述初始刷新命令，在老化測試模式下，若所述第一計數(shù)值表征所述存儲器在集中刷新階段產(chǎn)生的所述初始刷新命令的數(shù)值，則基于接收到的每一所述初始刷新命令產(chǎn)生1個測試刷新命令；在正常模式下，在每一次所述第一計數(shù)值表征經(jīng)過預(yù)設(shè)時長后，利用接收到的第1個所述初始刷新命令產(chǎn)生1個所述測試刷新命令。

8、在一些實施例中，所述第一時長為固定值；所述第一命令電路包括：

9、第二計數(shù)器，配置為對接收到的所述測試時鐘信號進(jìn)行計數(shù)，輸出第二計數(shù)值；

10、第一譯碼單元，與所述第二計數(shù)器連接，配置為在所述第二計數(shù)值達(dá)到第一閾值時，輸出1個第一刷新命令；

11、第二譯碼單元，與所述第二計數(shù)器連接，配置為若所述第二計數(shù)值首次達(dá)到第二閾值，則輸出1個第二刷新命令；以及，在所述第二計數(shù)值首次達(dá)到所述第二閾值之后，若所述第二計數(shù)值達(dá)到所述第二閾值的次數(shù)為預(yù)設(shè)數(shù)量，則輸出1個第二刷新命令；

12、第一選擇器，與所述第一譯碼單元和所述第二譯碼單元連接，配置為接收頻率指示信號，在所述頻率指示信號表征所述測試時鐘信號的頻率為第一頻率時，將所述第一刷新命令輸出為所述初始刷新命令；在所述頻率指示信號表征測試時鐘信號的頻率為第二頻率時，將所述第二刷新命令輸出為所述初始刷新命令。

13、在一些實施例中，所述存儲器在老化測試模式中交替處于所述集中刷新階段和工作階段，所述選擇電路包括：

14、第二選擇器，配置為若所述存儲器處于所述集中刷新階段，則將接收到的所述初始刷新命令輸出為預(yù)選信號；若所述存儲器處于所述工作階段，則將接收到的所述測試預(yù)充命令輸出為所述預(yù)選信號；

15、第三選擇器，與所述第二選擇器連接配置為接收所述預(yù)選信號和所述測試時鐘信號，在老化測試模式下，將所述預(yù)選信號輸出為所述中間信號；在正常模式下，將所述測試時鐘信號輸出為中間信號。

16、在一些實施例中，所述第二命令電路，還配置為在老化測試模式下，若所述第一計數(shù)值表征所述集中刷新階段結(jié)束后，基于接收到的第1個所述初始刷新命令產(chǎn)生1個測試激活命令；或者，在正常模式下，在每一次所述第一計數(shù)值表征經(jīng)過預(yù)設(shè)時長后，基于接收到的第2個所述初始刷新命令產(chǎn)生1個所述測試激活命令。

17、在一些實施例中，所述第二命令電路包括：

18、主控電路，配置為接收所述初始刷新命令、所述測試預(yù)充命令和所述第一計數(shù)值，產(chǎn)生并輸出第一窗口信號和激活指示信號；其中，在所述存儲器允許執(zhí)行刷新操作的階段，所述第一窗口信號處于有效狀態(tài)；在所述存儲器允許執(zhí)行激活操作的階段，所述激活指示信號處于有效狀態(tài)；

19、采樣電路，配置為基于所述測試時鐘信號對所述初始刷新命令進(jìn)行連續(xù)兩次采樣，產(chǎn)生延遲刷新命令；

20、第一門控單元，與所述主控電路和所述采樣電路均連接，配置為僅在所述第一窗口信號處于有效狀態(tài)，利用1個所述延遲刷新命令產(chǎn)生1個所述測試刷新命令；

21、第二門控單元，與所述主控電路和所述采樣電路均連接，配置為僅在激活指示信號處于有效狀態(tài)時，利用1個所述延遲刷新命令產(chǎn)生1個測試刷新命令。

22、在一些實施例中，所述主控電路包括：

23、第一控制電路，與所述第一計數(shù)器連接，配置為在老化測試模式下，對所述第一計數(shù)值進(jìn)行譯碼，當(dāng)譯碼結(jié)果表征所述集中刷新階段結(jié)束或所述工作階段結(jié)束時，均產(chǎn)生1個第一切換脈沖；

24、信號產(chǎn)生電路，與所述第一控制電路連接，配置為產(chǎn)生所述第一窗口信號；在老化測試模式下，每接收到1個所述第一切換脈沖，將第一窗口信號的狀態(tài)改變一次。

25、在一些實施例中，所述第一控制電路，具體配置為接收所述第一窗口信號；在所述第一窗口信號為有效狀態(tài)的情況下，若所述第一計數(shù)值達(dá)到第三閾值，則產(chǎn)生1個所述第一切換脈沖；或者，在所述第一窗口信號為無效狀態(tài)的情況下，若所述第一計數(shù)值達(dá)到第四閾值，則產(chǎn)生1個所述第一切換脈沖；

26、其中，在老化測試模式下，所述第一窗口信號為有效時，表征所述存儲器處于集中刷新階段，所述第一窗口信號為無效時，表征所述存儲器處于工作階段。

27、在一些實施例中，所述主控電路還包括：

28、第二控制電路，與所述第一計數(shù)器連接，配置為在正常模式下對所述第一計數(shù)值進(jìn)行譯碼；在譯碼結(jié)果表征經(jīng)過所述預(yù)設(shè)時長的情況下，當(dāng)接收到1個所述測試預(yù)充命令或接收到2個所述初始刷新命令時，均產(chǎn)生1個第二切換脈沖；

29、所述信號產(chǎn)生電路，還與所述第二控制電路連接，配置為在正常模式下，每接收到1個所述第二切換脈沖，將所述第一窗口信號的狀態(tài)改變一次。

30、在一些實施例中，所述第二控制電路包括：

31、第三譯碼單元，配置為對所述第一計數(shù)值進(jìn)行譯碼，若譯碼結(jié)果表征經(jīng)過所述預(yù)設(shè)時長，則產(chǎn)生1個譯碼脈沖；

32、鎖存單元，與所述第三譯碼單元連接，配置為接收所述譯碼脈沖和所述測試激活命令，產(chǎn)生并輸出第二窗口信號；其中，每接收到1個所述譯碼脈沖，控制所述第二窗口信號由無效狀態(tài)變?yōu)橛行顟B(tài)，以及每接收到1個所述測試激活命令，控制所述第二窗口信號由有效狀態(tài)變?yōu)闊o效狀態(tài)；

33、第一邏輯單元，與所述鎖存單元連接，配置為若所述第二窗口信號處于有效狀態(tài)，則利用接收到第1個所述測試預(yù)充命令產(chǎn)生1個第二結(jié)束脈沖；

34、刷新計數(shù)單元，與所述鎖存單元和所述第一命令產(chǎn)生電路連接，配置為在所述第二窗口信號處于有效狀態(tài)的情況下，若接收到2個所述初始刷新命令，則產(chǎn)生1個第三結(jié)束脈沖；

35、第二邏輯單元，配置為每接收到1個第二結(jié)束脈沖或1個第三結(jié)束脈沖，產(chǎn)生并輸出1個所述第二切換脈沖。

36、在一些實施例中，所述預(yù)設(shè)時長具有多個取值；所述第三譯碼單元包括：

37、第二譯碼器，配置為接收所述第一計數(shù)值，在所述第一計數(shù)值達(dá)到第五閾值時，產(chǎn)生1個第一脈沖；

38、第三譯碼器，配置為接收所述第一計數(shù)值，在所述第一計數(shù)值達(dá)到第六閾值時，產(chǎn)生1個第二脈沖；

39、第四選擇器，配置為接收間隔選擇信號，基于所述間隔選擇信號，利用所述第一脈沖或所述第二脈沖產(chǎn)生所述譯碼脈沖；

40、其中，所述間隔選擇信號和所述測試時鐘信號的頻率共同確定所述預(yù)設(shè)時長的取值。

41、在一些實施例中，所述刷新計數(shù)單元包括：

42、第三計數(shù)器，配置為對接收到的所述初始刷新命令進(jìn)行計數(shù)，產(chǎn)生第三計數(shù)值；

43、第一譯碼器，與所述第三計數(shù)器連接，配置為在所述第三計數(shù)值為2時，產(chǎn)生1個所述第三結(jié)束脈沖。

44、在一些實施例中，所述存儲器還包括第一控制輸門，所述第一控制傳輸門的輸出端與所述第三計數(shù)器的輸入端連接；其中，所述第一控制傳輸門，配置為接收所述第二窗口信號和所述初始刷新命令；在所述第二窗口信號處于有效狀態(tài)的情況下，將所述初始刷新命令傳輸至所述第三計數(shù)器；在所述第二窗口信號處于無效狀態(tài)的情況下，屏蔽所述初始刷新命令以使所述第三計數(shù)值不變。

45、在一些實施例中，所述信號產(chǎn)生電路包括第五選擇器和第一觸發(fā)器；

46、第五選擇器，配置為接收模式標(biāo)志信號，在所述模式標(biāo)志信號表征老化測試模式時，利用1個所述第一切換脈沖產(chǎn)生1個復(fù)位命令；在所述模式標(biāo)志信號表征正常模式時，利用1個所述第二切換脈沖產(chǎn)生1個所述復(fù)位命令；

47、所述第一觸發(fā)器的時鐘端接收所述復(fù)位命令，所述第一觸發(fā)器的輸入端與所述第一觸發(fā)器的時鐘端與自身的反相輸出端連接，所述第一觸發(fā)器的輸出端輸出所述第一窗口信號。

48、在一些實施例中，所述復(fù)位命令還用于將所述第一計數(shù)值重置為第一默認(rèn)值，所述復(fù)位命令還用于將所述第三計數(shù)值重置為第三默認(rèn)值；

49、所述第一控制電路，還配置為接收所述第一窗口信號，在所述第一窗口信號為無效狀態(tài)且所述第一計數(shù)值為第一默認(rèn)值時，輸出有效狀態(tài)的第一激活信號；

50、所述刷新計數(shù)單元，還配置為在所述第三計數(shù)值為第三默認(rèn)值時，輸出有效狀態(tài)的第二激活信號；

51、所述主控電路還包括第三選擇器，所述第三選擇器，與所述第一控制電路和所述刷新計數(shù)單元均連接，配置為接收所述模式標(biāo)志信號，在所述模式標(biāo)志信號表征老化測試模式時，將第一激活信號輸出為所述激活指示信號；在所述模式標(biāo)志信號表征正常模式時，將所述第二激活信號輸出為所述激活指示信號。

52、在一些實施例中，在所述第一窗口信號和所述激活指示信號的有效狀態(tài)均為高電平的情況下，所述第一門控單元包括第一與門，所述第二門控單元包括第二與門；所述第一控制傳輸門為第八與門；

53、在所述第二窗口信號的有效狀態(tài)為高電平的情況下，所述第一邏輯單元包括第三與門；

54、在所述第二結(jié)束脈沖和所述第三結(jié)束脈沖均為正脈沖的情況下，所述第二邏輯單元包括第一或門。

55、在一些實施例中，第二選擇器的選擇端接收所述第一窗口信號，所述第二選擇器的兩輸入端分別接收所述初始刷新命令和所述測試預(yù)充命令，所述第二選擇器的輸出端輸出所述預(yù)選信號；

56、第三選擇器的選擇端接收模式標(biāo)志信號，所述第三選擇器的兩輸入端分別接收所述預(yù)選信號和所述測試時鐘信號，所述第三選擇器的輸出端輸出所述中間信號。

57、在一些實施例中，所述第二計數(shù)值包括a位計數(shù)子信號，所述第二計數(shù)器包括a個第二觸發(fā)器和第一異或門；

58、第1個所述第二觸發(fā)器的輸入端與第a個所述第二觸發(fā)器的輸出端連接；對于第2～a-1個觸發(fā)器，每一所述第二觸發(fā)器的輸入端均與前一所述第二觸發(fā)器的正相輸出端連接；所述第一異或門的第一輸入端與第a-1個觸發(fā)器的輸出端連接，所述第一異或門的第二輸入端與第a個所述觸發(fā)器的輸出端連接，所述第一異或門的輸出端與第a個所述第二觸發(fā)器的輸入端連接；

59、每一所述第二觸發(fā)器的時鐘端均接收所述測試時鐘信號，第i個所述第二觸發(fā)器的輸出端輸出第i位所述計數(shù)子信號，i為小于等于a的正整數(shù)；其中，所述復(fù)位命令還用于將所述第二計數(shù)值重置為第二默認(rèn)值，且所述第二默認(rèn)值為全1狀態(tài)。

60、在一些實施例中，所述第二頻率為所述第一頻率的整倍數(shù)；所述第二譯碼單元包括：

61、第四譯碼器，配置為在所述第二計數(shù)值達(dá)到第二閾值時，輸出1個待選命令；

62、抽選電路，配置為對所述待選命令進(jìn)行循環(huán)計數(shù)；基于首個所述待選命令產(chǎn)生1個所述第二刷新命令，以及，從第2個所述待選命令開始，每間隔預(yù)設(shè)數(shù)量的所述待選命令，輸出1個第二刷新命令；

63、其中，對于所述第一頻率的所述測試時鐘信號，所述第二計數(shù)值從第二默認(rèn)值達(dá)到第一閾值的計時時長為第一計時時長；對于所述第二頻率的所述測試時鐘信號，所述第二計數(shù)值從第二默認(rèn)值達(dá)到第二閾值的計時時長為第二計時時長；所述延遲刷新命令相較于所述初始刷新命令延遲2個時鐘周期，且所述時鐘周期是指所述測試時鐘信號的時鐘周期；所述第一計時時長+2/第一頻率＝所述第二計時時長+2/第二頻率。

64、在一些實施例中，在a＝6，預(yù)設(shè)數(shù)量為2的情況下，所述第一譯碼單元包括第一與非門、第二與非門、第一或非門、第二或非門、第四與門；所述第一與非門的兩輸入端分別接收第4位計數(shù)子信號和第3位計數(shù)子信號，所述第二與非門的兩輸入端分別接收第2位計數(shù)子信號和第0位計數(shù)子信號，所述第一或非門的第一輸入端接收第5位計數(shù)子信號，所述第一或非門的第二輸入端接收第1位計數(shù)子信號，所述第二或非門的第一輸入端與所述第一與非門的輸出端連接，所述第二或非門的第二輸入端與所述第二與非門的輸出端連接，所述第四與門的第一輸入端與所述第一或非門的輸出端連接，所述第四與門的第二輸入端與所述第二或非門的輸出端連接，所述第四與門的輸出端輸出所述第一刷新命令；

65、所述第四譯碼器包括第五與門、第三或非門、第六與門，所述第五與門的三輸入端分別接收第0位計數(shù)子信號、第1位計數(shù)子信號和第3位計數(shù)子信號，所述第三或非門的三輸入端分別接收第5位計數(shù)子信號、第4位計數(shù)子信號和第2位計數(shù)子信號，所述第六與門的第一輸入端與所述第五與門的輸出端連接，所述第六與門的第二輸入端與所述第三或非門的輸出端連接，所述第六與門的輸出端輸出所述待選命令；

66、所述抽選電路包括第三觸發(fā)器、延遲單元、第七與門，所述第三觸發(fā)器的時鐘端和所述延遲單元的輸入端均接收所述待選命令，所述第三觸發(fā)器的輸入端與自身的反相輸出端連接，所述第七與門的第一輸入端與所述第三觸發(fā)器的輸出端連接，所述第七與門的第二輸入端與所述延遲單元的輸出端連接，所述第七與門的輸出端輸出所述第二刷新命令。

67、第二方面，本公開實施例提供了一種存儲器，該存儲器包括如第一方面所述的存儲器。

68、本公開實施例提供了一種測試電路和存儲器，能夠產(chǎn)生不同測試需求下的測試刷新命令，而且電路面積小，成本較低。