專利名稱：連接器測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試治具，尤其是一種連接器測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
目前大家公知的應(yīng)用的連接器測(cè)試治具是采用與待測(cè)線路板上連接器相對(duì)的測(cè) 試連接器(待測(cè)連接器為公端則采用母端作為其測(cè)試連接器，待測(cè)連接器為母端則采用公 端作為其測(cè)試連接器)，通過(guò)測(cè)試連接器轉(zhuǎn)接焊接在待測(cè)線路板上的連接器，測(cè)試其導(dǎo)通狀 態(tài)。此種測(cè)試方法因連接器的插接次數(shù)限制即插接過(guò)程中所引起的連接器損壞而導(dǎo)致測(cè)試 壽命短，一個(gè)連接器能夠測(cè)試的次數(shù)在200-400次之間，其成本高，且待測(cè)線路板上連接器 與測(cè)試連接器的對(duì)位插接需消耗一定時(shí)間，相對(duì)的效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供一種連接器測(cè)試治具，該測(cè)試治具測(cè)試壽命長(zhǎng)、測(cè) 試時(shí)間短，因此相對(duì)成本較低、效率較高。 本發(fā)明為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是 —種連接器測(cè)試治具，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括治具上支架和與治具上支架配合 的治具下支架，所述治具下支架上端面固設(shè)一治具下支架探針護(hù)板，所述治具下支架上形 成有至少一個(gè)連接器定位槽，治具下支架探針護(hù)板上形成有與連接器定位槽對(duì)應(yīng)的連接器 定位開(kāi)口 ，所述治具下支架上設(shè)有若干組探針容納孔，所述探針容納孔的數(shù)量組與連接器 定位槽的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)相同，所述治具下支架探針護(hù)板上設(shè)有與所述探針容納孔相對(duì)應(yīng)的探針 保護(hù)孔，所述的每組探針容納孔與線路板上連接器焊接線路所引出的待測(cè)焊盤相對(duì)應(yīng)，所 述探針容納孔內(nèi)固設(shè)有探針，探針上部伸出探針容納孔且容置于探針保護(hù)孔中，所述探針 與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述治具上支架上形成有與連接器定位槽相同數(shù)量的感應(yīng)片定位 槽，感應(yīng)片定位于感應(yīng)片定位槽靠近治具下支架的一側(cè)，所述感應(yīng)片與外界電測(cè)機(jī)電連接； 所述感應(yīng)片定位槽與連接器定位槽配合對(duì)位。 還包括有上支架連接接口 、下支架連接接口和導(dǎo)線，所述探針與外界電測(cè)機(jī)電連 接的結(jié)構(gòu)是所述治具下支架上固定定位有下支架連接接口 ，所述探針通過(guò)導(dǎo)線和下支架 連接接口相連接，下支架連接接口與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述感應(yīng)片與外界電測(cè)機(jī)電連接 的結(jié)構(gòu)是所述治具上支架上固定定位有上支架連接接口，所述感應(yīng)片通過(guò)導(dǎo)線和上支架 連接接口相連接，上支架連接接口與外界電測(cè)機(jī)電連接。
所述感應(yīng)片上設(shè)有同步檢波放大器。 本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明通過(guò)探針與待測(cè)焊盤的連接而通電于待測(cè)線路板上 的連接器，又通過(guò)導(dǎo)電的感應(yīng)片緊密接觸待測(cè)線路板的連接器使待測(cè)線路板的連接器與感 應(yīng)片之間形成感應(yīng)電場(chǎng)，即可通過(guò)感應(yīng)電場(chǎng)的電場(chǎng)強(qiáng)度值放大處理后得到的測(cè)試值判斷連 接器的焊接導(dǎo)通狀態(tài)，有效避免了原有的測(cè)試治具測(cè)試時(shí)連接器間的插接耗損以及減短了 測(cè)試時(shí)間，因此相對(duì)成本較低、效率較高。


圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為本發(fā)明所述治具上支架的示意圖；
圖3為本發(fā)明所述治具下支架的示意圖；
圖4為本發(fā)明所述感應(yīng)片的放大示意圖。
具體實(shí)施例方式
實(shí)施例一種連接器測(cè)試治具，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括治具上支架1和與治具上 支架1配合的治具下支架2，所述治具下支架2上端面固設(shè)一治具下支架探針護(hù)板3，所述 治具下支架2上形成有至少一個(gè)連接器定位槽4，治具下支架探針護(hù)板3上形成有與連接器 定位槽4對(duì)應(yīng)的連接器定位開(kāi)口 ，所述治具下支架2上設(shè)有若干組探針容納孔，所述探針容 納孔的數(shù)量組與連接器定位槽4的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)相同，所述治具下支架探針護(hù)板上設(shè)有與所述 探針容納孔相對(duì)應(yīng)的探針保護(hù)孔，所述的每組探針容納孔與線路板上連接器焊接線路所引 出的待測(cè)焊盤相對(duì)應(yīng)，所述探針容納孔內(nèi)固設(shè)有探針5，探針5上部伸出探針容納孔且容置 于探針保護(hù)孔中，所述探針5與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述治具上支架l上形成有與連接器定 位槽4相同數(shù)量的感應(yīng)片定位槽6，感應(yīng)片7定位于感應(yīng)片定位槽6靠近治具下支架2的一 側(cè)，所述感應(yīng)片7與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述感應(yīng)片定位槽6與連接器定位槽4配合對(duì)位。
還包括有上支架連接接口 11、下支架連接接口 12和導(dǎo)線，所述探針5與外界電測(cè) 機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是所述治具下支架2上固定定位有下支架連接接口 12，所述探針5通過(guò) 導(dǎo)線和下支架連接接口 12相連接，下支架連接接口 12與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述感應(yīng)片7
與外界電測(cè)機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是所述治具上支架1上固定定位有上支架連接接口 ll，所述
感應(yīng)片7通過(guò)導(dǎo)線和上支架連接接口 ll相連接，上支架連接接口 ll與外界電測(cè)機(jī)電連接。
所述感應(yīng)片上設(shè)有同步檢波放大器17。 本發(fā)明的測(cè)試原理是探針5和感應(yīng)片7與外界電測(cè)機(jī)電連接，將待測(cè)線路板上的 連接器定位放置于治具下支架探針護(hù)板3的連接器定位槽4上，將線路板上連接器焊接線 路所引出的待測(cè)焊盤對(duì)位置于連接器探針保護(hù)孔上使各待測(cè)焊盤與對(duì)應(yīng)探針5連接，治具 下支架2下移至感應(yīng)片7緊密接觸待測(cè)線路板的連接器，待測(cè)線路板的連接器與感應(yīng)片7 之間形成感應(yīng)電場(chǎng)，通過(guò)該感應(yīng)電場(chǎng)的電場(chǎng)強(qiáng)度值放大處理后得到的測(cè)試值判斷連接器的 焊接導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)正常測(cè)試時(shí)，如果被測(cè)線路板上的連接器的引腳有與其它焊點(diǎn)短路，則測(cè) 試到的值會(huì)偏高；如果被測(cè)引腳有空焊，則測(cè)試到的值會(huì)偏小。
權(quán)利要求
一種連接器測(cè)試治具，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括治具上支架(1)和與治具上支架(1)配合的治具下支架(2)，所述治具下支架(2)上端面固設(shè)一治具下支架探針護(hù)板(3)，所述治具下支架(2)上形成有至少一個(gè)連接器定位槽(4)，治具下支架探針護(hù)板(3)上形成有與連接器定位槽(4)對(duì)應(yīng)的連接器定位開(kāi)口，其特征是所述治具下支架(2)上設(shè)有若干組探針容納孔，所述探針容納孔的數(shù)量組與連接器定位槽(4)的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)相同，所述治具下支架探針護(hù)板上設(shè)有與所述探針容納孔相對(duì)應(yīng)的探針保護(hù)孔，所述的每組探針容納孔與線路板上連接器焊接線路所引出的待測(cè)焊盤相對(duì)應(yīng)，所述探針容納孔內(nèi)固設(shè)有探針(5)，探針(5)上部伸出探針容納孔且容置于探針保護(hù)孔中，所述探針(5)與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述治具上支架(1)上形成有與連接器定位槽(4)相同數(shù)量的感應(yīng)片定位槽(6)，感應(yīng)片(7)定位于感應(yīng)片定位槽(6)靠近治具下支架(2)的一側(cè)，所述感應(yīng)片(7)與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述感應(yīng)片定位槽(6)與連接器定位槽(4)配合對(duì)位。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的連接器測(cè)試治具，其特征是還包括有上支架連接接口 (11)、 下支架連接接口 (12)和導(dǎo)線，所述探針(5)與外界電測(cè)機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是所述治具下支 架(2)上固定定位有下支架連接接口 (12)，所述探針(5)通過(guò)導(dǎo)線和下支架連接接口 (12) 相連接，下支架連接接口 (12)與外界電測(cè)機(jī)電連接；所述感應(yīng)片(7)與外界電測(cè)機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是所述治具上支架(1)上固定定位有上支架連接接口 (ll)，所述感應(yīng)片(7)通過(guò)導(dǎo)線和上支架連接接口 (11)相連接，上支架連接接口 (11)與外界電測(cè)機(jī)電連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的連接器測(cè)試治具，其特征是所述感應(yīng)片上設(shè)有同步檢波放大器(17)。
全文摘要
一種連接器測(cè)試治具，治具下支架上設(shè)有若干組探針容納孔，探針容納孔的數(shù)量組與連接器定位槽的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)相同，治具下支架探針護(hù)板上設(shè)有與探針容納孔相對(duì)應(yīng)的探針保護(hù)孔，每組探針容納孔與線路板上連接器焊接線路所引出的待測(cè)焊盤相對(duì)應(yīng)，探針容納孔內(nèi)固設(shè)有探針，探針上部伸出探針容納孔且容置于探針保護(hù)孔中，探針與外界電測(cè)機(jī)電連接；治具上支架上形成有與連接器定位槽相同數(shù)量的感應(yīng)片定位槽，感應(yīng)片定位于感應(yīng)片定位槽靠近治具下支架的一側(cè)，感應(yīng)片與外界電測(cè)機(jī)電連接；感應(yīng)片定位槽與連接器定位槽配合對(duì)位。導(dǎo)電的感應(yīng)片和待測(cè)連接器緊密接觸而形成感應(yīng)電場(chǎng)，通過(guò)感應(yīng)電場(chǎng)的電場(chǎng)強(qiáng)度值放大處理后得到的測(cè)試值判斷連接器的焊接導(dǎo)通狀態(tài)。
文檔編號(hào)G01R31/04GK101769979SQ200910028769
公開(kāi)日2010年7月7日 申請(qǐng)日期2009年1月5日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月5日
發(fā)明者黃柏翰 申請(qǐng)人:昆山意力電路世界有限公司