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印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號:6154974閱讀:225來源:國知局
專利名稱:印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及印刷電路板測試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu),其具有在不改變原測試針間距下,可以增加測試針布設(shè)密度。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,印刷電路板測試治具通常都具有數(shù)片測試板,各片測試板則視實際需要以數(shù)組固定桿組結(jié)合成一體,以實現(xiàn)測針斜率,參見圖1所示,該治具(1)包括有數(shù)片測試板(10),各片測試板(10)中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點設(shè)置的測試針(11),各測試針(11)二端凸伸出治具(1),其于待測電路板端(X),做為與待測電路板(3)待測接點(30)接觸,而于針床端(Y),則做為與針床(2)的彈簧針(20)接觸,各測試針(11)并依據(jù)待測電路接點具有適當(dāng)?shù)男甭剩挂罁?jù)待測接點(30)原密度布設(shè)的待測電路板端(X)測的測試針(11),經(jīng)適當(dāng)?shù)男甭收{(diào)整,使針床端(Y)放大測試針(11)間距?,F(xiàn)有技術(shù)中針床端(Y)的測試針布設(shè)為等矩陣布設(shè),參見圖2所示,各相鄰測試針(11)的間距均為A,但對角間距則為C(且C必然大于A)。此種測試針的布設(shè)在印刷電路板電路布局越來越精密的現(xiàn)代,已漸不敷所求,越是精密的電路布局需要越是精密的測試針布設(shè),現(xiàn)行解決的方式是縮減測試針與測試針之間的間距,來達成增加單位面積測試針的數(shù)量,如圖所示,原測試針(11)對角間設(shè)置另組測試針(11’),但此組增設(shè)的測試針(11’)與原測試針(11)的間距為B,且B必然小於A(亦有直接在各相鄰測試針間增設(shè)一組測試針,其間距僅有A/2,須使用小型測試針方能實施),雖然此種結(jié)構(gòu)增加了單位面積測試針的設(shè)置數(shù)量,但縮小的間距使得制作須較嚴謹?shù)木芏纫?,且間距越小、針型越小其制作費用越高,間距小亦會產(chǎn)生相鄰測試針電氣接觸的缺點。此即為現(xiàn)有技術(shù)存有最大之缺失,此缺失乃成為該業(yè)界亟待克服的難題。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu),以彌補現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足。
本實用新型是按如下的方式來實現(xiàn)的一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu),主要包括有數(shù)片測試板,各片測試板中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點設(shè)置日測試針,各測試針二端凸伸出治具,其于待測電路板端,做為與待測電路板待測接點接觸,而于針床端,則做為與針床的彈簧針接觸,各測試針并依據(jù)待測電路接點具有道當(dāng)?shù)男甭?,該治具針床端上測試針與測試針之間為等距布設(shè),具有在不改變原測試針間距下,增加單位面積測試針布設(shè)密度。
本實用新型印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)積極效果是由于采用了本設(shè)計方案,該治具針床端(Y)上測試針(11)與測試針(11)間為等距布設(shè),其具有在不改變原測試針(11)間距下,增加單位面積測試針(11)布設(shè)密度,解決了該業(yè)界亟待克服的難題,其結(jié)構(gòu)簡單,成本低廉,便于推廣和應(yīng)用。



圖1為印刷電路板測試治具組立剖面圖。
圖2為現(xiàn)有技術(shù)中治具針床端測試針布設(shè)圖。
圖3為本實用新型治具針床端測試針布設(shè)圖。
圖中,(1)治具(10)測試板(11)(11’)測試針(2)針床(20)彈簧針(3)待測電路板(30)待測接點(X)待測電路板端(Y)針床端(A)(B)(C)間距
以下結(jié)合附圖對本實用新型做進一步說明。
具體實施方式
如圖1、圖3所示,本實用新型印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的實施例中,治具(1)包括有數(shù)片測試板(10),各片測試板(10)中具有依據(jù)待測印刷電路板測試點設(shè)置的測試針(11),各測試針(11)二端凸伸出治具(1),其于待測電路板端(X),作為與待測電路板(3)的待測接點(30)接觸,而于治具針床端(Y),則做為與針床(2)的彈簧針(20)接觸,各測試針(11)并依據(jù)待測接點(30)具有適當(dāng)?shù)男甭?,使依?jù)待測接點(30)原密度布設(shè)的待測電路板端(X)測試針(11),經(jīng)適當(dāng)斜率調(diào)整,而能在針床端(Y)放大測試針(11)間距。
如圖2、圖3所示,各測試針(11)間距為A,但是由于圖2中的現(xiàn)有技術(shù)中,對角測試針間距為C,且C大于A,故整體單位面積在本實施例中測試針密度(圖3所示)明顯較現(xiàn)有技術(shù)中(圖2所示)測試針為大,且在相同間距布設(shè)情況下,故本實施例具有在不改變原測試針(11)間距下,增加單位面積測試針(11)布設(shè)密度,對于布局較精密的印刷電路板特別具有其實用性。
如此而達到本實用新型印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu)的目的。
權(quán)利要求1.一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu),其主要包括有數(shù)片測試板,各片測試板中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點設(shè)置的測試針,各測試針二端凸伸出治具,其于待測電路板端,做為與待測電路板待測接點接觸,而于針床端,則做為與針床的彈簧針接觸,各測試針并依據(jù)待測接點具有適當(dāng)?shù)男甭?,其特征在于該治具針床端上各相鄰測試針與測試針間為等距布設(shè)。
專利摘要本實用新型涉及的一種印刷電路板測試治具改造結(jié)構(gòu),其主要包括有數(shù)片測試板,各片測試板中具有依據(jù)待測印刷電路板測試接點設(shè)置的測試針,各測試針二端凸伸出治具。其于待測電路板端,做為與待測電路板待測接點接觸,而于針床端,則作為與針床的彈簧針接觸,各測試針并依據(jù)待測電路接點具有適當(dāng)?shù)男甭剩撫槾捕松蠝y試針與測試針之間為等距布設(shè),具有在不改變原測試針間距下,增加測試針布設(shè)密度。本實用新型解決了該業(yè)界亟待克服的難題,其結(jié)構(gòu)簡單,成本低廉,便于推廣和應(yīng)用。
文檔編號G01R31/28GK2735347SQ20042008489
公開日2005年10月19日 申請日期2004年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月9日
發(fā)明者林東熙, 張信榮 申請人:自然興電通科技股份有限公司
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