專利名稱:測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種測試治具。
背景技術(shù):
在測試治具設計中,通常連接元件的一端為測試端,另一端為被測試端,設置在該測試 端的連接器連接檢測裝置(Testing Unit, TU),設置在該被測試端的連接器連接被測裝置 (Object Under Test, 0DT)。接檢測裝置的連接器通常不需要經(jīng)常插拔,但是接被測裝置的 連接器隨著被測裝置的更換需要不停的插拔,很容易使被測試端的連接器受到損壞,從而需 要經(jīng)常更換該測試治具。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,有必要提供一種能有效減少更換頻率的測試治具。
一種測試治具,其包括一個連接元件、 一個第一連接器及多個第二連接器。該連接元件 具有一個測試端及一個被測試端,該測試端上設置有所述第一連接器,該被測試端上設置有 多個所述第二連接器。該第一連接器用于連接一檢測裝置,每個第二連接器用于連接一被測 裝置。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,所述測試治具,通過在連接元件的被測試端上設置多個第二連接器, 使該測試治具可測試更多的被測裝置,從而有效減少該測試治具的更換頻率。
圖l為本發(fā)明實施方式提供的測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖2為圖1中的測試治具的被測試端的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖3為圖l中的測試治具的被測試端的電路示意圖。
具體實施例方式
下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步的詳細說明。
請一并參閱圖1至圖3,本發(fā)明實施方式提供的測試治具100包括一個連接元件10、 一個 第一連接器20、多個第二連接器30及多個電阻32。該連接元件10具有一個測試端11及一個被 測試端12,該測試端11上設置有所述第一連接器20,該被測試端12上設置有多個第二連接器 30。該第一連接器20用于連接一檢測裝置40,每個第二連接器30用于連接一被測裝置(圖未 示)。在本實施方式中,該連接元件10為電纜(Cable),可以理解,該連接元件10也可以為軟
4性線路板(FPC Cable)。
該第一連接器20具有一個第一插槽26,每個第二連接器30具有一個第二插槽31。該第一 插槽26及每個第二插槽31均具有至少一個相對應的接地端310及多個相對應的連接端320???以理解,該接地端310及該連接端320可以設置在該第一插槽26及該第二插槽31的兩側(cè),在本 實施方式中,該接地端310及該連接端320均設置在該第一插槽26及該第二插槽31的其中一側(cè) ,該第二連接器30的數(shù)量為4個,該接地端310的數(shù)量為6個,該連接端320的數(shù)量為14個。被 測裝置決定該第二連接器30的連接端320的數(shù)量,需要說明的是,該第一連接器20上的連接 端320的數(shù)量不能少于該第二連接器30上的連接端320的數(shù)量,從而與該第二連接器30連接的 被測裝置可將信號經(jīng)由該第一連接器20傳送至檢測裝置40,而第一連接器20的剩余的連接端 320不與任何電路連接。
每個第二插槽31的相對應的連接端320經(jīng)由一個電阻32依次電性串聯(lián),第二連接器20的 連接端320與第一連接器30相對應的連接端320經(jīng)由一個電阻32電性串聯(lián)。該第一插槽26及每 個第二插槽31的相對應的接地端310電性接地,使該測試治具100起防電磁干擾(EMI)的作用 ,進一步說明,該測試治具100的地端可以接入檢測裝置40的地端也可以接入被測裝置的地 端。
在本實施方式中,該第一插槽26與其連接的第二插槽31之間的多個電阻32組成一個電阻 排322,每個第二插槽31之間的多個電阻32分別組成多個電阻排322。
在使用過程中,4個第二插槽31中只能選擇一個與被測裝置電性連接,這是因為,如果 4個第二插槽31分別同時電性連接至被測裝置,將導致檢測裝置40接收到的輸入信號是4個被 測裝置的輸出信號的疊加。
進一步說明,測試治具100的每個電阻32在測試過程中,很多時候要求電阻值為OQ (歐 姆),相當于不接電阻32,因此為了方便測試的需要,在設計過程中,每個電阻32的電阻值 為OQ。當要求電阻值不為零時,為了方便對電阻32進行更換,該14個電阻32可分別通過安 插在14個電阻底座(圖未示)上,從而設置在該測試治具100上。在本實施方式中,該由電阻 32形成的該電阻排322通過安插在一個電阻排底座(圖未示)上,從而設置在該測試治具100上 ,當然,電阻排322可直接焊接設置在該測試治具100上,因為被測裝置一般是成批量的,往 往第二插槽31壞了,而電阻排322卻完好無損,因此電阻排322的阻值一旦設置好了之后,一 般不需要更換。當所有的電阻32的阻值為0Q時,每個第二連接器30的連接端320均與該第一 連接器20的連接端320電性連接,使每個第二連接器30并聯(lián)設置在該連接元件10的被測試端 12上。當被測裝置發(fā)送的信號波段為低頻信號時, 一般不需要阻抗匹配,因此每個電阻32無需 置換,其電阻值為初始電阻值OQ,且可以在4個第二插槽31中任意選擇一個與被測裝置電性 連接。有時為了提高帶負載能力,也可以根據(jù)需要適當更換部分或所有電阻32的電阻值。阻 抗匹配(Impedance matching)是微波電子學里的一部分,主要用于傳輸線上,來達至所有 高頻的微波信號皆能傳至負載點的目的,不會有信號反射回來源點,從而提升能源效益。當 4個第二插槽31中有一個損壞時,即相應的第二連接器30受到損壞,如果損壞的第二插槽31 由于斷路而受損,則可在無受損的3個第二連接器30之間任選一個與被測裝置電性連接;如 果損壞的第二插槽31由于短路而受損,則選擇該損壞的第二連接器30與該第一連接器20之間 的第二連接器30與被測裝置連接,因為損壞的第二插槽31可能會因為短路使得連接端320經(jīng) 由接地端310電性接地,從而影響被測裝置的信號傳輸。
當被測裝置發(fā)送的信號波段為高頻信號時,需要阻抗匹配,適當更換部分或所有電阻 32的電阻值。當4個第二插槽31均無損壞時,可以在4個第二插槽31中任意選擇一個與被測裝 置電性連接。當4個第二插槽31中有一個損壞時,即相應的第二連接器30受到損壞,如果損 壞的第二插槽31由于斷路而受損,則可在無受損的3個第二連接器30之間任選一個與被測裝 置電性連接;如果損壞的第二插槽31由于短路而受損,則損壞的第二連接器30與第一連接器 20之間的第二連接器30保留,其余的第二連接器30(包括損壞的第二連接器30)必須剪切廢除 ,因為損壞的第二插槽31可能會因為短路存在阻抗,造成整個測試治具100的阻抗不匹配。 在剪切廢除損壞的第二插槽31的過程中,為了避免兩個相鄰第二插槽31之間的電路走線遭到 破壞,須先將損壞的第二連接器30的電阻排322拔下,然后在拔下的電阻排322處進行剪切, 從而廢除該損壞的第二連接器30。
綜上所述,使用過程中, 一般優(yōu)先使用距離該第一連接器20最遠的第二連接器30的第二 插槽31,以免造成不必要的浪費。當其中一個第二插槽31已處理過高頻信號的情況時,且需 要處理低頻信號的情況時,可在該已使用過的第二插槽31與第一插槽26之間的第二插槽31中 選擇一個與被測裝置電性連接;也可以在其他第二插槽31中選擇一個與被測裝置電性連接,
即除了該已使用過的第二插槽31與第一插槽26之間的第二插槽31,但是,需要將該已使用過 的第二插槽31對應的電阻32進行匹配變更。因此,優(yōu)先使用距離該第一連接器20最遠的第二 連接器30的第二插槽31還可以省去變更電阻32的麻煩。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,所述測試治具IOO,通過在連接元件10的被測試端12上設置多個第二 連接器30,使該測試治具100可測試更多的被測裝置,從而有效減少該測試治具100的更換頻
沖< 。
6雖然本發(fā)明已以較佳實施方式披露如上,但是,其并非用以限定本發(fā)明,另外,本領(lǐng)域 技術(shù)人員還可以在本發(fā)明精神內(nèi)做其它變化等。當然,這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的變化,都 應包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測試治具,其包括一個連接元件及一個第一連接器,該連接元件具有一個測試端及一個被測試端,該測試端上設置有所述第一連接器,該第一連接器用于連接一檢測裝置,其特征在于,該被測試端上設置有多個第二連接器,每個第二連接器用于連接一被測裝置。
2.如權(quán)利要求l所述的測試治具,其特征在于,該連接元件為電纜
3.如權(quán)利要求l所述的測試治具,其特征在于,該連接元件為軟性線路板。
4.如權(quán)利要求l所述的測試治具,其特征在于,該第一連接器具有 一個第一插槽,每個第二連接器具有一個第二插槽,該第一插槽及每個第二插槽均具有至少 一個相對應的接地端及多個相對應的連接端,每個第二插槽的相對應的連接端經(jīng)由一個電阻 依次電性串聯(lián),該第二連接器的連接端與該第一連接器相對應的連接端經(jīng)由一個電阻電性串 聯(lián),該第一插槽及每個第二插槽的相對應的接地端電性接地。
5.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,第一插槽與其連接 的第二插槽之間的多個電阻組成一個電阻排,每個第二插槽之間的多個電阻分別組成多個電 阻排。
6.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,該電阻的阻值為零歐姆。
7.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,當該被測裝置為高 頻信號的被測裝置時,需要更換不同阻值的電阻來匹配。
8.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,當其中一個第二連 接器由于斷路而損壞時,選擇無損壞的第二連接器與被測裝置連接。
9.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,當其中一個第二連 接器由于短路而損壞時,且當該被測裝置為高頻信號的被測裝置時,保留該損壞的第二連接器與該第一連接器之間的第二連接器,其余的第二連接器包括該損壞的第二連接器必須清除
10.如權(quán)利要求9所述的測試治具,其特征在于,清除第二連接器時 ,將該損壞的第二連接器對應的電阻拔下,在該電阻拔下的位置進行剪切。
11.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,當其中一個第二連 接器由于短路而損壞時,且當該被測裝置為低頻信號的被測裝置時,選擇該損壞的第二連接 器與該第一連接器之間的第二連接器與被測裝置連接。
12.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,每個電阻分別通過 安插在一個電阻底座上,從而設置在該測試治具上。
13.如權(quán)利要求5所述的測試治具,其特征在于,每個電阻排分別通 過安插在一個電阻排底座上,從而設置在該測試治具上。
14.如權(quán)利要求4所述的測試治具,其特征在于,該第一連接器上的 連接端的數(shù)量不能少于該第二連接器上的連接端的數(shù)量。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種測試治具,其包括一個連接元件、一個第一連接器及多個第二連接器。該連接元件具有一個測試端及一個被測試端,該測試端上設置有所述第一連接器,該被測試端上設置有多個所述第二連接器。該第一連接器用于連接一檢測裝置,每個第二連接器用于連接一被測裝置。所述測試治具,通過在連接元件的被測試端上設置多個第二連接器,使該測試治具可測試更多的被測裝置,從而有效減少該測試治具的更換頻率。
文檔編號G01R31/00GK101650396SQ200810303720
公開日2010年2月17日 申請日期2008年8月13日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月13日
發(fā)明者聶劍揚 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司