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高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法

文檔序號(hào):6031045閱讀:208來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及檢測(cè)技術(shù),尤其涉及一種鏡頭模組的高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
隨著光學(xué)成像技術(shù)的發(fā)展,鏡頭模組在各種成像裝置如數(shù)碼相機(jī)、攝像機(jī)中得到廣泛應(yīng) 用(請(qǐng)參見(jiàn)Capturing mages with digital still cameras, Micro, IEEE Volume:18, issue:6,Nov.-Dec. 1998 Page (s) : 14-19),而整合有鏡頭模組的手機(jī)、筆記本電腦等電子 裝置,更得到眾多消費(fèi)者的青睞。
鏡頭模組通常包括鏡座、鏡筒以及多個(gè)光學(xué)元件。所述多個(gè)光學(xué)組件包括鏡片、濾光片 及間隔環(huán)等。所述鏡筒具有外螺紋。所述鏡座具有與鏡筒的外螺紋相對(duì)應(yīng)的內(nèi)螺紋。組裝鏡 頭模組時(shí),通常先將多個(gè)光學(xué)元件沿光軸方向依次組裝于鏡筒內(nèi),再將組裝有光學(xué)元件的鏡 筒組入通過(guò)外螺紋與內(nèi)螺紋的配合旋入鏡座,從而形成鏡頭模組。
鏡頭模組的高度一般具有規(guī)范要求,即鏡筒應(yīng)當(dāng)旋入鏡座內(nèi)合適深度。若鏡筒旋入鏡座 內(nèi)過(guò)深,可能造成鏡筒與鏡座間的配合過(guò)緊,并造成鏡頭模組的高度過(guò)?。蝗翮R筒旋入鏡座 內(nèi)過(guò)淺,可能造成鏡筒與鏡座間的配合過(guò)松,并造成鏡頭模組的高度過(guò)大?,F(xiàn)有技術(shù)中,為 使得鏡頭模組的高度達(dá)到規(guī)范要求,通常在操作人員將鏡筒旋入鏡座內(nèi)一定深度后,采用游 標(biāo)卡尺測(cè)量鏡頭模組的高度,如此反復(fù)旋合測(cè)量,直至得到具有規(guī)范高度的鏡頭模組。然而 ,在以游標(biāo)卡尺多次測(cè)量鏡頭模組的高度的過(guò)程中,可能會(huì)磕碰鏡頭模組造成鏡頭模組損傷 ,并造成組裝良率的降低。
因此,有必要提供一種可避免損傷鏡頭模組的高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法。

發(fā)明內(nèi)容
以下將以實(shí)施例說(shuō)明一種高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法。
一種高度檢測(cè)裝置,包括承載基座、頂板、活動(dòng)件以及測(cè)距儀,所述承載基座具有相對(duì) 的第一表面和第二表面,承載基座自第一表面向內(nèi)開(kāi)設(shè)有收容孔,自第二表面向內(nèi)開(kāi)設(shè)有與 收容孔相連通的測(cè)距孔,所述收容孔用于收容頂板和活動(dòng)件,所述頂板用于承載待檢測(cè)元件 ,所述活動(dòng)件設(shè)置于頂板和承載基座之間,用于調(diào)整頂板相對(duì)于第一表面的距離,所述測(cè)距 儀用于通過(guò)測(cè)距孔測(cè)量頂板與測(cè)距儀之間的距離,從而根據(jù)承載基座的高度、頂板的高度以 及所測(cè)距離獲得待檢測(cè)元件的高度。一種高度檢測(cè)方法,包括以下步驟提供待檢測(cè)元件以及如上所述的高度檢測(cè)裝置,所 述待檢測(cè)元件具有相對(duì)的頂面和底面;將待檢測(cè)元件放置于收容孔,使待檢測(cè)元件的底面與 頂板相接觸,并使待檢測(cè)元件的頂面與承載基座的第一表面相齊平;測(cè)距儀通過(guò)測(cè)距孔測(cè)量 頂板與測(cè)距儀之間的距離,從而根據(jù)承載基座的高度、頂板的高度以及所測(cè)距離獲得待檢測(cè) 元件的高度。
本技術(shù)方案的高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法中,不需要采用測(cè)距儀器接觸待檢測(cè)元件 例如鏡頭模組,即可獲得待檢測(cè)元件的高度,從而避免了多次測(cè)量待檢測(cè)元件可能對(duì)待檢測(cè) 元件造成的損傷,提高了待檢測(cè)元件的生產(chǎn)良率。


圖l為本技術(shù)方案第一實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置的示意圖。
圖2為本技術(shù)方案第一實(shí)施例提供的待檢測(cè)高度的鏡頭模組的示意圖。
圖3為本技術(shù)方案第一實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置檢測(cè)鏡頭模組的高度時(shí)的示意圖。
圖4為本技術(shù)方案第二實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置的示意圖。
圖5為本技術(shù)方案第三實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置的示意圖。
圖6為本技術(shù)方案第三實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置的承載基座的俯視圖。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖及多個(gè)實(shí)施例,對(duì)本技術(shù)方案提供的高度檢測(cè)裝置以及高度檢測(cè)方法作 進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
請(qǐng)參閱圖l,本技術(shù)方案第一實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置10包括承載基座11、頂板12、 活動(dòng)件13以及測(cè)距儀14。
所述承載基座ll的形狀不限,其可以為長(zhǎng)方體、圓柱、圓臺(tái)或其它形狀。本實(shí)施例中, 承載基座ll為長(zhǎng)方體形,具有相對(duì)的第一表面1101和第二表面1102,其自第一表面1101向內(nèi) 開(kāi)設(shè)有收容孔l 11 。所述收容孔l 1 l具有第一底壁l 111以及與第一底壁l 11 l相連接的第一側(cè)壁 1112。所述第一底壁1111與第一表面1101、第二表面1102平行,所述第一側(cè)壁1112則與第一 表面IIOI、第二表面1102垂直。g卩,收容孔111的中心軸線垂直于第一表面1101、第二表面 1102。收容孔lll用于放置待檢測(cè)元件例如鏡頭模組,其形狀與待檢測(cè)元件的形狀相近。本 實(shí)施例中,收容孔lll為長(zhǎng)方體形嵌槽。承載基座ll還具有貫穿第一底壁llll與第二表面 1102的測(cè)距孔112。所述測(cè)距孔112用于供測(cè)距儀14的測(cè)距信號(hào)通過(guò),其孔徑小于收容孔lll 的孔徑。測(cè)距孔112的中心軸線也垂直于第一表面1101和第二表面1102。
所述頂板12和活動(dòng)件13設(shè)置于收容孔111內(nèi)。所述頂板12為與收容孔111的形狀相對(duì)應(yīng)的
5板體,其與第一表面1101、第二表面1102相平行。本實(shí)施例中,頂板12為長(zhǎng)方體形板體,具 有相對(duì)的上表面121和下表面122。所述上表面121用于與待檢測(cè)元件接觸以承載待檢測(cè)元件 ,所述下表面122與活動(dòng)件13相連接。
所述活動(dòng)件13設(shè)置于頂板12和承載底座11之間,用于調(diào)整頂板12以及其所承載的待檢測(cè) 元件相對(duì)于第一表面1101的距離?;顒?dòng)件13可以為具有滑動(dòng)和止滑功能的滑動(dòng)元件,例如滑 軌或滑槽,設(shè)置于收容孔111的第一側(cè)壁1112與頂板12之間;活動(dòng)件13也可以為彈簧、彈性 樹(shù)脂塊或者其它具有彈性變形能力以及回復(fù)能力的彈性元件,設(shè)置于連接于頂板12和收容孔 111的第一底壁l 11 l之間?;顒?dòng)件13的移動(dòng)方向平行于收容孔l 11的中心軸線和測(cè)距孔l 12的 中心軸線,從而待檢測(cè)元件與頂板12接觸后,可與頂板12—起沿平行于收容孔111的中心軸 線的上下移動(dòng)。
本實(shí)施例中,活動(dòng)件13為彈簧。彈簧的數(shù)量可以為一個(gè),也可以為多個(gè)。當(dāng)然,為穩(wěn)定 承載頂板12,當(dāng)彈簧的數(shù)量為多個(gè)時(shí),多個(gè)彈簧可均勻分布于頂板12和第一底壁1111之間; 當(dāng)彈簧的數(shù)量為一個(gè)時(shí), 一個(gè)彈簧可連接于頂板12的中央部位和第一底壁1111的中央部位。 本實(shí)施例中,彈簧的數(shù)量為一個(gè)。
所述測(cè)距儀14包括測(cè)距頭141和顯示器142。所述測(cè)距頭141設(shè)置于第二表面1102,用于 發(fā)射測(cè)距信號(hào)并接收經(jīng)過(guò)測(cè)距孔112傳輸至頂板12、被頂板12的下表面122反射回的測(cè)距信號(hào) ,從而根據(jù)反射回的測(cè)距信號(hào)與發(fā)射的測(cè)距信號(hào)的相位變化以及測(cè)距信號(hào)的傳輸時(shí)間獲得第 二表面1102與頂板12之間的距離。測(cè)距頭141的測(cè)距信號(hào)可以為激光、紅外線、超聲波或其 它信號(hào)。所述顯示器142通過(guò)信號(hào)連接線或直接與測(cè)距頭141連接,用于根據(jù)承載基座ll的高 度H1、頂板12的高度H2以及測(cè)距頭141所測(cè)距離D獲得并顯示待檢測(cè)元件的高度。所述承載基 座11的高度H1是指承載基座11第一表面1101與第二表面1102之間的距離,所述頂板12的高度 H2是指頂板12的上表面121與下表面122之間的距離。
從而,當(dāng)待檢測(cè)元件放置與收容孔lll內(nèi),待檢測(cè)元件的底面與頂板12相接觸,并移動(dòng) 活動(dòng)件13以使待檢測(cè)元件的頂面與第一表面1101相齊平時(shí),顯示器142即可得出待檢測(cè)元件 的高度H3^1-H2-D。
當(dāng)然,所述顯示器142也可僅用于顯示測(cè)距頭141所測(cè)的距離值,操作人員根據(jù)顯示器 142所顯示的距離值、承載基座11的高度以及頂板12的高度同樣可以獲得待檢測(cè)元件的高度
使用本技術(shù)方案第一實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置10檢測(cè)待檢測(cè)元件例如鏡頭模組的高度 時(shí),可采用如下步驟進(jìn)行第一步,提供如圖1所示的高度檢測(cè)裝置10以及如圖2所示的待檢測(cè)高度的鏡頭模組20。 所述待檢測(cè)高度的鏡頭模組20為已組裝的鏡頭模組,包括鏡座21以及組裝于鏡座21的鏡筒 22。鏡頭模組20具有頂面201、與頂面201相對(duì)的底面202以及與底面202相鄰接的外壁203。
第二步,請(qǐng)參閱圖3,將鏡頭模組20放置于收容孔111內(nèi),使鏡頭模組20的底面202與頂 板12的上表面121接觸,外壁203與第一側(cè)壁1112相接觸。并且,按壓鏡頭模組20以移動(dòng)活動(dòng) 件13,使得鏡頭模組20與頂板12—起沿收容孔111的中心軸線往靠近底壁l 111的方向移動(dòng), 直至使得鏡頭模組20的頂面201與承載基座11的第一表面1101相齊平,g卩,使得頂面201與第 一表面1101位于同一平面。
本實(shí)施例中,由于彈簧可以發(fā)生彈性變形,因此,按壓彈簧時(shí)彈簧即可收縮從而使得鏡 頭模組20以及頂板12沿收容孔111的中心軸線往下移動(dòng)。
第三步,觀鵬儀14通過(guò)測(cè)距?L112測(cè)量頂板12與測(cè)距儀14之間的距離D,從而根據(jù)承載基 座l 1的高度H1 、頂板12的高度H2以及所測(cè)距離D獲得鏡頭模組20的高度H3。
具體地,測(cè)距儀14的測(cè)距頭141發(fā)射測(cè)距信號(hào),測(cè)距信號(hào)通過(guò)測(cè)距孔112傳輸至頂板12, 并被頂板12的下表面122反射后被測(cè)距頭141接收,測(cè)距頭141根據(jù)測(cè)距信號(hào)的相位變化以及 傳輸時(shí)間獲得測(cè)距頭141與頂板12之間的距離D。所測(cè)距離D通過(guò)信號(hào)連接線傳輸至顯示器 142。由于承載基座11的高度H1、頂板12的高度H2均為事先已知的數(shù)值,可預(yù)先輸入于顯示 器142中,而鏡頭模組20的高度H3、頂板12的高度H2以及所測(cè)距離D的加和等于承載基座11的 高度H1,因此,顯示器142將承載基座11的高度H1減去頂板12的高度H2和測(cè)距頭141所測(cè)距離 D即可獲得鏡頭模組20的高度H3,并顯示出所述高度H3。
另外,當(dāng)所述顯示器142僅顯示測(cè)距頭141所測(cè)的距離值D時(shí),操作人員將承載基座ll的 高度H1減去頂板12的高度H2以及顯示器142所顯示的距離值D同樣可以快速得出鏡頭模組20的 高度H3。
檢測(cè)鏡頭模組20的高度后,放開(kāi)鏡頭模組20,在活動(dòng)件13即彈簧的回復(fù)力的作用下,鏡 頭模組20可與頂板12—起上移,從而突出于收容孔lll,即使得頂面201不與第一表面1101共 面而高于第一表面1101,如此操作人員可方便地自承載基座11移取出鏡頭模組20。
如上所述,使用本技術(shù)方案的高度檢測(cè)裝置10檢測(cè)鏡頭模組20的高度時(shí),并不會(huì)對(duì)鏡頭 模組20過(guò)多接觸,從而可盡量避免磕碰鏡頭模組20,避免對(duì)鏡頭模組20造成損傷,提高鏡頭 模組20的組裝良率。
請(qǐng)參閱圖4,本技術(shù)方案第二實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置30與本技術(shù)方案第一實(shí)施例所 示的高度檢測(cè)裝置10大致相同,其不同之處在于承載基座31還具有第一收容槽313,所述
7第一收容槽313為自第一底壁3111向第二表面3102方向開(kāi)設(shè)的盲孔,具有與第一表面3101平 行的第二底壁3131。第一收容槽313用于收容部分活動(dòng)件33,也就是說(shuō),活動(dòng)件33連接于第 二底壁3131和頂板32之間。第一收容槽313的中心軸線平行于測(cè)距孔312的中心軸線,從而可 以確?;顒?dòng)件33的移動(dòng)方向平行于測(cè)距孔312的中心軸線。
請(qǐng)一并參閱圖5及圖6,本技術(shù)方案第三實(shí)施例提供的高度檢測(cè)裝置40與本技術(shù)方案第一 實(shí)施例所示的高度檢測(cè)裝置10大致相同,其不同之處在于高度檢測(cè)裝置40還包括頂出桿 45以及頂出轉(zhuǎn)軸46,所述承載基座41開(kāi)設(shè)有用于收容頂出桿45的第二收容槽415和用于收容 頂出轉(zhuǎn)軸46的第三收容槽416。
具體地,所述承載基座41還具有垂直連接第一表面4101和第二表面4102的第三表面 4103、第四表面4104、第五表面4105以及第六表面4106。所述第三表面4103和第四表面4104 相對(duì),所述第五表面4105和第六表面4106相對(duì),且均與第三表面4103、第四表面4104垂直。 所述第二收容槽415垂直貫穿第三表面4103和收容孔411的側(cè)壁4112, g卩,第二收容槽415的 中心軸線垂直于收容孔411的中心軸線。第二收容槽415的形狀不限,本實(shí)施例中為近似于梯 形棱臺(tái)的形狀。所述第三收容槽416垂直貫穿第五表面4105和第六表面4106, g卩,第三收容 槽416的中心軸線垂直于收容孔411的中心軸線和第二收容槽415的中心軸線。第三收容槽416 與第二收容槽415相連通,且不與收容孔411相連通。第三收容槽416的形狀不限,僅需其形 狀與頂出轉(zhuǎn)軸46的形狀相對(duì)應(yīng)即可,本實(shí)施例中第三收容槽416為圓柱形槽。
所述頂出轉(zhuǎn)軸46為圓柱形桿,穿設(shè)于第三收容槽416且與承載基座41相對(duì)固定。頂出轉(zhuǎn) 軸46固定于承載基座41的方式不限,可以通過(guò)過(guò)盈配合、螺釘連接、焊接、鉚釘連接或其它 固定方式。
所述頂出桿45包括依次連接的按壓部451、樞接部452以及抵靠部453,其長(zhǎng)度方向垂直 于頂出轉(zhuǎn)軸46的長(zhǎng)度方向,并基本垂直于收容孔411的中心軸線方向。所述按壓部451位于承 載基座41外部,用于供操作人員按壓。所述樞接部452位于第二收容槽415,其具有一個(gè)沿頂 出轉(zhuǎn)軸46長(zhǎng)度方向開(kāi)設(shè)的樞接孔4521。頂出轉(zhuǎn)軸46穿過(guò)所述樞接孔4521,以使頂出桿45可以 圍繞頂出轉(zhuǎn)軸46轉(zhuǎn)動(dòng)。所述抵靠部453位于收容孔411,具有用于與頂板42相接觸的抵靠爪 4531。從而,由于頂出桿45可圍繞頂出轉(zhuǎn)軸46轉(zhuǎn)動(dòng),因此,當(dāng)操作人員沿平行于收容孔411 中心軸線的方向往下按壓按壓部451時(shí),抵靠部453將沿平行于收容孔411中心軸線的方向往 上移動(dòng),使得抵靠爪4531與頂板42相接觸并往上頂出頂板42以及頂板42承載的待檢測(cè)元件。
從而,本技術(shù)方案第三實(shí)施例所示的高度檢測(cè)裝置40在檢測(cè)完待檢測(cè)元件的高度后,還 可以通過(guò)頂出桿45和頂出轉(zhuǎn)軸46進(jìn)一步頂出待檢測(cè)元件,以便工作人員移取待檢測(cè)元件。可以理解的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做出其它 各種相應(yīng)的改變與變形,而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種高度檢測(cè)裝置,包括承載基座、頂板、活動(dòng)件以及測(cè)距儀,所述承載基座具有相對(duì)的第一表面和第二表面,承載基座自第一表面向內(nèi)開(kāi)設(shè)有收容孔,自第二表面向內(nèi)開(kāi)設(shè)有與收容孔相連通的測(cè)距孔,所述收容孔用于收容頂板和活動(dòng)件,所述頂板用于承載待檢測(cè)元件,所述活動(dòng)件設(shè)置于頂板和承載基座之間,用于調(diào)整頂板相對(duì)于第一表面的距離,所述測(cè)距儀設(shè)置于第二表面,用于通過(guò)測(cè)距孔測(cè)量頂板與測(cè)距儀之間的距離,從而根據(jù)承載基座的高度、頂板的高度以及所測(cè)距離獲得待檢測(cè)元件的高度。
2.如權(quán)利要求l所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述活動(dòng)件的 移動(dòng)方向平行于測(cè)距孔的中心軸線,所述收容孔的中心軸線平行于測(cè)距孔的中心軸線。
3.如權(quán)利要求l所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述測(cè)距儀包 括測(cè)距頭和顯示器,所述測(cè)距頭設(shè)置于第二表面,用于發(fā)射測(cè)距信號(hào)和接收被頂板反射回的 測(cè)距信號(hào),從而獲得第二表面與頂板之間的距離,所述顯示器與測(cè)距頭相連接,用于獲得并 顯示待檢測(cè)元件的高度。
4.如權(quán)利要求l所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述收容孔具 有相連接的第一底壁和第一側(cè)壁,所述頂板與第一底壁平行,所述第一底壁與第一表面平行 ,所述第一側(cè)壁與第一表面垂直。
5.如權(quán)利要求4所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述活動(dòng)件為 滑動(dòng)元件,設(shè)置于第一側(cè)壁與頂板之間。
6.如權(quán)利要求4所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述活動(dòng)件為 彈性元件,連接于第一底壁和頂板之間。
7.如權(quán)利要求4所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述承載基座 還具有自第一底壁向第二表面方向開(kāi)設(shè)的第一收容槽,所述第一收容槽具有與第一表面平行 的第二底壁,所述活動(dòng)件為彈性元件,連接于第二底壁和頂板之間。
8.如權(quán)利要求l所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述高度檢測(cè) 裝置還包括頂出桿以及與頂出桿樞接的頂出轉(zhuǎn)軸,所述承載基座還開(kāi)設(shè)有用于收容頂出桿的第二收容槽和用于收容頂出轉(zhuǎn)軸的第三收容槽,所述頂出轉(zhuǎn)軸的長(zhǎng)度方向垂直于收容孔的中 心軸線方向和頂出桿的長(zhǎng)度方向,所述頂出桿的長(zhǎng)度方向垂直于收容孔的中心軸線方向。
9 如權(quán)利要求8所述的高度檢測(cè)裝置,其特征在于,所述頂出轉(zhuǎn)軸 相對(duì)固定于承載基座,所述頂出桿包括依次連接的按壓部、樞接部以及抵靠部,所述按壓部 用于供操作人員按壓,所述樞接部與頂出轉(zhuǎn)軸樞接,所述抵靠部用于在操作人員按壓按壓部 時(shí)頂出頂板。
10一種高度檢測(cè)方法,包括步驟提供待檢測(cè)元件以及如權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的高度檢測(cè)裝置,所述待檢測(cè)元件具 有相對(duì)的頂面和底面;將待檢測(cè)元件放置于收容孔,使待檢測(cè)元件的底面與頂板相接觸,并使待檢測(cè)元件的 頂面與承載基座的第一表面相齊平;測(cè)距儀通過(guò)測(cè)距孔測(cè)量頂板與測(cè)距儀之間的距離,從而根據(jù)承載基座的高度、頂板的 高度以及所測(cè)距離獲得待檢測(cè)元件的高度。
11 如權(quán)利要求10所述的高度檢測(cè)方法,其特征在于,所述待檢測(cè) 元件的高度等于承載基座的高度減去頂板的高度以及測(cè)距儀所測(cè)距離。
全文摘要
本發(fā)明提供一種高度檢測(cè)裝置,包括承載基座、頂板、活動(dòng)件以及測(cè)距儀。所述承載基座具有相對(duì)的第一表面和第二表面,承載基座自第一表面向內(nèi)開(kāi)設(shè)有收容孔,自第二表面向內(nèi)開(kāi)設(shè)有與收容孔相連通的測(cè)距孔。所述收容孔用于收容頂板和活動(dòng)件。所述頂板用于承載待檢測(cè)元件。所述活動(dòng)件連接于頂板和承載基座之間,用于調(diào)整頂板相對(duì)于承載基座的第一表面的距離。所述測(cè)距儀用于通過(guò)測(cè)距孔測(cè)量頂板與測(cè)距儀之間的距離,從而根據(jù)承載基座的高度、頂板的高度以及所測(cè)距離獲得待檢測(cè)元件的高度。本技術(shù)方案還提供一種高度檢測(cè)方法。
文檔編號(hào)G01B11/02GK101644564SQ200810303589
公開(kāi)日2010年2月10日 申請(qǐng)日期2008年8月8日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月8日
發(fā)明者林奕村 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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