原理的前提下，還可以設(shè)計出若干改進(jìn)，這些改進(jìn)也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0071]本說明書未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)。
【主權(quán)項】
1.一種MIPI信號自動測試方法，其特征在于:包括如下步驟: 1)從上層接收MIPI信號的配置參數(shù)、HS電平基準(zhǔn)參數(shù)、LP電平基準(zhǔn)參數(shù)、MIPILPDT傳輸基準(zhǔn)參數(shù)、MIPI DSI傳輸時序基準(zhǔn)參數(shù)； 2)接收MIPI信號，將MIPI信號分解為HS信號和LP信號； 3)對所述LP信號進(jìn)行采樣，將LP信號進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換為數(shù)字的采樣數(shù)據(jù)，并與所述LP電平基準(zhǔn)參數(shù)相比較，判斷是否符合MIPI DPHY協(xié)議要求，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層顯不； 4)對LP信號進(jìn)行恢復(fù)操作，產(chǎn)生LPDT數(shù)據(jù)和時鐘，并與所述MIPILPDT傳輸基準(zhǔn)參數(shù)相比較，判斷是否符合MIPI DPHY協(xié)議要求，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層顯示； 5)對所述HS信號進(jìn)行采樣，將HS信號中的時鐘LANE信號和各個數(shù)據(jù)LANE信號進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換為數(shù)字的采樣數(shù)據(jù)，并與所述HS電平基準(zhǔn)參數(shù)相比較，判斷是否符合MIPI DPHY協(xié)議要求，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層顯示； 6)將所述LP信號和HS信號重建為本地MIPI信號，并根據(jù)所述MIPI信號的配置參數(shù)對本地MIPI信號進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，對數(shù)據(jù)進(jìn)行還原和解包，恢復(fù)出MIPI工作時鐘和MIPI解包數(shù)據(jù)； 7)用所述MIPI工作時鐘接收和采集MIPI解包數(shù)據(jù)，將傳輸時序信息和包頭數(shù)據(jù)與所述MIPI DSI傳輸時序基準(zhǔn)參數(shù)相比較，判斷是否符合MIPI DSI協(xié)議要求，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層顯示。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MIPI信號自動測試方法，其特征在于:所述步驟6)中將所述LP信號和HS信號重建為本地MIPI信號之前還包括分別將HS信號、LP信號進(jìn)行整形的步驟。3.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的MIPI信號自動測試方法，其特征在于:所述MIPI信號的配置參數(shù)包括MIPI傳輸方式為BURST模式或者NONBURST模式、數(shù)據(jù)RGB位寬。4.一種實現(xiàn)權(quán)利要求1所述的MIPI信號自動測試方法的裝置，其特征在于:包括上層接口模塊(I)、輸入MIPI電平轉(zhuǎn)換模塊(2) ,MIPI HS電平采樣模塊(3) ,MIPI HS時鐘電平AD轉(zhuǎn)換模塊(4), MIPI HS數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(5),MIPI HS電平測試模塊(6), MIPI LP電平采樣模塊(7) ,MIPI LPDT時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)模塊(8) ,MIPI LP數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(9)、MIPI LP電平測試模塊(10) ,MIPI信號重建模塊(13) ,MIPI信號接收模塊(14)和MIPI數(shù)據(jù)時序解析模塊(15); 所述上層接口模塊(I)用于從上層接收MIPI信號的配置參數(shù)、HS電平基準(zhǔn)參數(shù)、LP電平基準(zhǔn)參數(shù)、MIPI LPDT傳輸基準(zhǔn)參數(shù)、MIPI DSI傳輸時序基準(zhǔn)參數(shù)并分別傳輸至MIPI HS電平測試模塊(6)、MIPI LP電平測試模塊(10)和MIPI信號接收模塊(14)； 所述輸入MIPI電平轉(zhuǎn)換模塊(2)用于將接收的MIPI信號分解為HS信號和LP信號，分別發(fā)送至MIPI HS電平采樣模塊(3)、MIPI LP電平采樣模塊(7)和MIPI信號重建模塊(13)； 所述MIPI HS電平采樣模塊(3)用于對接收的HS信號采樣，并分別將時鐘LANE信號和數(shù)據(jù)LANE信號發(fā)送至MIPI HS時鐘電平AD轉(zhuǎn)換模塊(4)和MIPI HS數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(5)； 所述MIPI HS時鐘電平AD轉(zhuǎn)換模塊(4)用于產(chǎn)生時鐘LANE信號的數(shù)字采樣數(shù)據(jù)； 所述MIPI HS數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(5)用于產(chǎn)生數(shù)據(jù)LANE信號的數(shù)字采樣數(shù)據(jù)；所述MIPI HS電平測試模塊(6)用于根據(jù)時鐘LANE信號和數(shù)據(jù)LANE信號的數(shù)字采樣數(shù)據(jù)與所述HS電平基準(zhǔn)參數(shù)相比較，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層接口模塊(I); 所述MIPI LP電平采樣模塊(7)用于對接收的LP信號采樣，并將LP采樣信號分別發(fā)送至MIPI LPDT時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)模塊(8)和MIPI LP數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(9)； 所述MIPI LPDT時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)模塊(8)用于從接收的LP信號中恢復(fù)出LPDT的數(shù)據(jù)和時鐘并發(fā)送至MIPI LP電平測試模塊(10)； 所述MIPI LP數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(9)用于產(chǎn)生LP信號的數(shù)字采樣數(shù)據(jù)； 所述MIPI LP電平測試模塊(10)用于根據(jù)LP信號的數(shù)字采樣數(shù)據(jù)與所述LP電平基準(zhǔn)參數(shù)相比較，并根據(jù)LPDT的數(shù)據(jù)和時鐘與所述MIPI LPDT傳輸基準(zhǔn)參數(shù)相比較，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層接口模塊(I); 所述MIPI信號重建模塊(13)將LP信號和HS信號重建為本地MIPI信號； 所述MIPI信號接收模塊(14)用于根據(jù)所述MIPI配置參數(shù)對本地MIPI信號進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，恢復(fù)出MIPI工作時鐘和MIPI解包數(shù)據(jù)； 所述MIPI數(shù)據(jù)時序解析模塊(15)用于用所述MIPI工作時鐘接收和采集MIPI解包數(shù)據(jù)，將傳輸時序信息和包頭數(shù)據(jù)與所述MIPI DSI傳輸時序基準(zhǔn)參數(shù)相比較，再將比較結(jié)果產(chǎn)生報告發(fā)送至上層接口模塊(I)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的MIPI信號自動測試裝置，其特征在于:還包括與所述輸入MIPI電平轉(zhuǎn)換模塊(2)連接的MIPI HS信號整形模塊(11)和MIPI LP信號整形模塊(12)，所述MIPI HS信號整形模塊(11)和MIPI LP信號整形模塊(12)均與MIPI信號重建模塊(13)連接，所述MIPI HS信號整形模塊(11)用于對MIPI信號中的HS信號整形，所述MIPILP信號整形模塊(12)用于對MIPI信號中的LP信號整形。6.根據(jù)權(quán)利要求4或者5所述的MIPI信號自動測試裝置，其特征在于:所述上層接口模塊(I)分別與MIPI HS電平測試模塊^)、MIPI LP電平測試模塊(10)、MIPI信號接收模塊(14)和MIPI數(shù)據(jù)時序解析模塊(15)連接，用于實現(xiàn)上層接口模塊(I)將從上層接收的MIPI信號的配置參數(shù)、HS電平基準(zhǔn)參數(shù)、LP電平基準(zhǔn)參數(shù)、MIPI LPDT傳輸基準(zhǔn)參數(shù)、MIPIDSI傳輸時序基準(zhǔn)參數(shù)分別傳輸至MIPI HS電平測試模塊^)、MIPI LP電平測試模塊(10)和MIPI信號接收模塊(14)的功能以及上層接口模塊(I)分別從MIPI HS電平測試模塊(6)、MIPI LP電平測試模塊(10)和MIPI數(shù)據(jù)時序解析模塊(15)接收報告的功能。7.根據(jù)權(quán)利要求4或者5所述的MIPI信號自動測試裝置，其特征在于:所述輸入MIPI電平轉(zhuǎn)換模塊(2)分別與MIPI HS電平采樣模塊(3)、MIPI LP電平采樣模塊(7)和MIPI信號重建模塊(13)連接，用于實現(xiàn)將接收的MIPI信號分解為HS信號和LP信號，分別發(fā)送至MIPI HS電平采樣模塊(3)、MIPI LP電平采樣模塊(7)和MIPI信號重建模塊(13)的功會K。8.根據(jù)權(quán)利要求4或者5所述的MIPI信號自動測試裝置，其特征在于:所述MIPIHS電平采樣模塊⑶分別與MIPI HS時鐘電平AD轉(zhuǎn)換模塊(4)和MIPI HS數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(5)連接，用于實現(xiàn)MIPI HS電平采樣模塊(3)對接收的HS信號采樣，并分別將時鐘LANE信號和數(shù)據(jù)LANE信號發(fā)送至MIPI HS時鐘電平AD轉(zhuǎn)換模塊(4)和MIPI HS數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(5)的功能。9.根據(jù)權(quán)利要求4或者5所述的MIPI信號自動測試裝置，其特征在于:所述MIPILP電平采樣模塊(7)分別與MIPI LPDT時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)模塊(8)和MIPI LP數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(9)連接，用于實現(xiàn)MIPI LP電平采樣模塊(7)對接收的LP信號采樣，并將LP采樣信號分別發(fā)送至MIPI LPDT時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)模塊(8)和MIPI LP數(shù)據(jù)電平AD轉(zhuǎn)換模塊(9)的功能。10.根據(jù)權(quán)利要求4或者5所述的MIPI信號自動測試裝置，其特征在于:所述MIPI信號重建模塊(13)通過MIPI信號接收模塊(14)和MIPI數(shù)據(jù)時序解析模塊(15)連接，用于實現(xiàn)所述MIPI信號重建模塊(13)將LP信號和HS信號重建為本地MIPI信號發(fā)送至MIPI信號接收模塊(14)，所述MIPI信號接收模塊(14)根據(jù)所述MIPI配置參數(shù)對本地MIPI信號進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，恢復(fù)出MIPI工作時鐘和MIPI解包數(shù)據(jù)并發(fā)送至MIPI數(shù)據(jù)時序解析模塊(15)的功能。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種MIPI信號自動測試方法和裝置，其方法包括1)從上層接收MIPI信號的各個參數(shù)；2)接收MIPI信號，將MIPI信號分解為HS信號和LP信號；3)將LP信號進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換并與LP電平基準(zhǔn)參數(shù)相比較，將比較結(jié)果產(chǎn)生報告；4)根據(jù)LP信號產(chǎn)生LPDT數(shù)據(jù)和時鐘，與LPDT傳輸基準(zhǔn)參數(shù)相比較，將比較結(jié)果產(chǎn)生報告；5)將HS信號進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換為數(shù)字的采樣數(shù)據(jù)，并與HS電平基準(zhǔn)參數(shù)，將比較結(jié)果產(chǎn)生報告；6)根據(jù)MIPI信號的配置參數(shù)對本地MIPI信號進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，恢復(fù)出MIPI工作時鐘和MIPI解包數(shù)據(jù)；7)用MIPI工作時鐘接收和采集MIPI解包數(shù)據(jù)，將傳輸時序信息和包頭數(shù)據(jù)與MIPI DSI傳輸時序基準(zhǔn)參數(shù)相比較，將比較結(jié)果產(chǎn)生報告。
【IPC分類】G02F1/13, G09G3/00
【公開號】CN104992650
【申請?zhí)枴緾N201510426637
【發(fā)明人】徐夢銀, 胡磊, 肖家波, 朱亞凡
【申請人】武漢精測電子技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年10月21日
【申請日】2015年7月20日