一種用于測試顯示面板的電路及液晶顯示面板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體地說，涉及一種用于測試顯示面板的電路及液晶顯不面板。
【背景技術(shù)】
[0002]中小尺寸顯示面板在良率的爬坡初期，在設(shè)計上都會預(yù)留Array (陣列)測試。Array測試的方法就是在顯示面板的Source end(源端)側(cè)擺放一排測試焊盤Pd，然后將面板正常顯示時所需要的測試信號從焊盤Pd處通過外接的方式給到面板內(nèi)。
[0003]外接的測試信號在導(dǎo)通的瞬間就會有ESD (靜電釋放)產(chǎn)生的可能，因此，在設(shè)計時都會在Array測試的焊盤Pd旁邊用金屬進(jìn)行繞線。這樣做的目的就是為了增加測試信號線的電阻值，可一定程度上降低ESD發(fā)生的幾率。
[0004]但是，在顯示面板正常顯示時，Array測試的金屬繞線存在RC Loading (RC負(fù)載)，會造成顯示驅(qū)動信號的RC負(fù)載過大，從而影響顯示面板的正常顯示。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為解決以上問題，本發(fā)明提供了一種用于測試顯示面板的電路及液晶顯示面板，一定程度上產(chǎn)生ESD防護(hù)效果，還可以有效地降低驅(qū)動信號對應(yīng)的RC負(fù)載問題。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種用于測試顯示面板的電路，包括:
[0007]金屬繞線，其用于將測試信號引入驅(qū)動信號線，
[0008]其中，在所述金屬繞線與所述驅(qū)動信號線之間設(shè)置一傳輸門，用以在對顯示面板進(jìn)行測試時，將所述測試信號傳輸至所述驅(qū)動信號線，以及在顯示面板正常工作時，斷開所述金屬繞線與所述驅(qū)動信號線的連接。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述傳輸門由一 N型晶體管或一 P型晶體管構(gòu)成。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，在對顯示面板進(jìn)行測試及在顯示面板正常工作時，向所述傳輸門中的晶體管提供不同的開啟電壓，其中:
[0011]在對顯示面板進(jìn)行測試時，當(dāng)采用所述N型晶體管時，向所述N型晶體管提供第一電壓，當(dāng)采用所述P型晶體管時，向所述P型晶體管提供第二電壓，以使所述測試信號通過所述傳輸門到達(dá)所述驅(qū)動信號線；
[0012]在顯示面板正常工作時，當(dāng)采用所述N型晶體管時，向所述N型晶體管提供所述第二電壓，當(dāng)采用所述P型晶體管時，向所述P型晶體管提供所述第一電壓，以斷開所述金屬繞線與所述驅(qū)動信號線的連接。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述傳輸門由一對N型晶體管和P型晶體管并聯(lián)構(gòu)成。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，在對顯示面板進(jìn)行測試及在顯示面板正常工作時，向所述傳輸門中的一對晶體管提供不同的開啟電壓，其中:
[0015]在對顯示面板進(jìn)行測試時，向所述N型晶體管提供第一電壓，向所述P型晶體管提供第二電壓，以使所述測試信號通過所述傳輸門到達(dá)所述驅(qū)動信號線；
[0016]在顯示面板正常工作時，向所述N型晶體管提供第二電壓，向所述P型晶體管提供第一電壓，以斷開所述金屬繞線與所述驅(qū)動信號線的連接。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述第一電壓和所述第二電壓由顯示面板正常工作時全部驅(qū)動信號線上的驅(qū)動電壓范圍確定，所述第一電壓大于所述驅(qū)動電壓范圍中的驅(qū)動電壓最大值，所述第二電壓小于所述驅(qū)動電壓范圍中的驅(qū)動電壓最小值。
[0018]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述第一電壓與所述驅(qū)動電壓最大值的差值等于所述N型晶體管的開啟電壓，所述第二電壓與所述驅(qū)動電壓最小值的差值等于所述P型晶體管的開啟電壓。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述第一電壓和所述第二電壓由顯示面板正常工作時全部驅(qū)動信號線上的驅(qū)動電壓范圍確定，所述第一電壓等于所述驅(qū)動電壓范圍中的驅(qū)動電壓最大值，所述第二電壓等于所述驅(qū)動電壓范圍中的驅(qū)動電壓最小值。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述傳輸門由一對N型TFT薄膜晶體管和P型TFT薄膜晶體管并聯(lián)構(gòu)成或由一對N型MOSFET管和P型MOSFET管并聯(lián)構(gòu)成。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，還提供了一種采用以上任一項所述電路的液晶顯示面板。
[0022]本發(fā)明的有益效果:
[0023]本發(fā)明通過在金屬繞線和驅(qū)動信號線之間設(shè)置一傳輸門，來對金屬繞線和驅(qū)動信號線之間的連接進(jìn)行控制，一定程度上可以產(chǎn)生ESD防護(hù)效果，同時可以有效的降低驅(qū)動信號對應(yīng)的RC負(fù)載效應(yīng)。
[0024]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和獲得。
【附圖說明】
[0025]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要的附圖做簡單的介紹:
[0026]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中Array測試時的GOA走線示意圖；
[0027]圖2是現(xiàn)有技術(shù)中Array測試時為改善ESD而設(shè)計的金屬繞線結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖3是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的用于Array測試的電路連接示意圖；
[0029]圖4是進(jìn)行Array測試時圖3中電路的AT-EN對應(yīng)時序示意圖；
[0030]圖5是不進(jìn)行Array測試時圖3中電路的AT-EN對應(yīng)時序示意圖；以及
[0031]圖6是根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的用于Array測試的電路連接示意圖。
【具體實施方式】
[0032]以下將結(jié)合附圖及實施例來詳細(xì)說明本發(fā)明的實施方式，借此對本發(fā)明如何應(yīng)用技術(shù)手段來解決技術(shù)問題，并達(dá)成技術(shù)效果的實現(xiàn)過程能充分理解并據(jù)以實施。需要說明的是，只要不構(gòu)成沖突，本發(fā)明中的各個實施例以及各實施例中的各個特征可以相互結(jié)合，所形成的技術(shù)方案均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0033]如圖1所示為現(xiàn)有技術(shù)中對顯示面板進(jìn)行Array測試時，將顯示面板正常顯示時所需要的測試信號從焊盤Pd處通過外接的方式引入到顯示面板內(nèi)的走線示意圖。此處以將測試信號引入顯示面板中的GOA(Gate Drive On Array，柵極驅(qū)動器陣列)走線為例進(jìn)行說明。
[0034]在該顯示面板的頂部源端側(cè)擺放一排測試焊盤Pd，如圖1中的陣列測試焊盤組。然后將測試信號(即面板正常顯示時所需要的信號)通過測試焊盤Pd引入顯示面板內(nèi)。每個焊盤Pd在顯示面板中都有對應(yīng)連通的驅(qū)動信號線，并向?qū)?yīng)連通的驅(qū)動信號線提供測試信號。
[0035]由于GOA方式的門電路驅(qū)動能力有限，因此，該顯示面板采用雙邊門電路驅(qū)動，即在顯示面板兩側(cè)均設(shè)置有GOA走線(即左GOA走線和右GOA走線，左GOA走線和右GOA走線在顯示面板正常工作時提供驅(qū)動信號的IC模塊處匯合)，以改善柵極線延遲問題。
[0036]如圖1所示，當(dāng)通過Pd將測試信號引入GOA走線時，測試信號導(dǎo)通的瞬間就會有ESD產(chǎn)生的可能。由ESD導(dǎo)致的瞬間大電流流過ITO電極，使ITO電極中的氧原子逸失，留下銦錫而變成不透明。由ESD導(dǎo)致的瞬間大電壓在絕緣層留下缺陷，導(dǎo)致電極間產(chǎn)生漏電。ESD甚至在較小的情況下，也會對TFT元件產(chǎn)生破壞。
[0037]因此，在設(shè)計時，一般都會在Array測試的焊盤Pd旁邊用金屬進(jìn)行繞線。如圖2所示為Array測試時為改善ESD而設(shè)計的金屬繞線。該金屬繞線的一端焊接到焊盤Pd上，另一端與驅(qū)動信號線連接，以將測試信號從焊盤Pd引入到驅(qū)動信號線上。該金屬繞線可以增加引入測試信號的信號線的電阻值，一定程度上降低ESD發(fā)生的幾率。
[0038]但是