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一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)

文檔序號(hào):40614448發(fā)布日期:2025-01-07 21:02閱讀:23來(lái)源:國(guó)知局
一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)

本發(fā)明涉及電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè),具體涉及一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)。


背景技術(shù):

1、電機(jī)是電力系統(tǒng)、新能源發(fā)電、運(yùn)動(dòng)控制等領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備或部件,電機(jī)絕緣可靠性直接影響著電力或運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。在運(yùn)行過(guò)程中,由于熱、電、機(jī)械應(yīng)力的長(zhǎng)期作用,電機(jī)絕緣材料逐漸老化并可能發(fā)生絕緣擊穿,進(jìn)而影響電機(jī)正常工作?,F(xiàn)有的絕緣壽命預(yù)測(cè)方法主要基于產(chǎn)品失效時(shí)間統(tǒng)計(jì)模型和性能退化模型。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,電機(jī)運(yùn)行環(huán)境復(fù)雜多變,溫度的變化對(duì)絕緣壽命有重要影響,且同一類型的電機(jī)個(gè)體間存在工藝、制造等因素導(dǎo)致的差異。因此,有必要研究一種在時(shí)變溫度下考慮個(gè)體差異性的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法,以提高預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的是:提供一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng),基于wiener過(guò)程和arrhenius公式建立電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型,用等效溫度替代之后未知的溫度變化,利用全概率公式更新電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型,實(shí)現(xiàn)更符合個(gè)體特性的高精度剩余壽命預(yù)測(cè)。

2、為了解決以上技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:

3、一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法,包括以下步驟:

4、以剩余擊穿電壓為退化量,根據(jù)arrhenius(阿倫尼烏斯)公式反應(yīng)的退化速率與溫度之間的指數(shù)關(guān)系,在首達(dá)時(shí)的概念下構(gòu)建基于wiener(維納)過(guò)程和arrhenius公式的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型;模型中包含a、b、c三個(gè)參數(shù)。

5、收集電機(jī)的溫度,并計(jì)算對(duì)應(yīng)的等效溫度。

6、針對(duì)電機(jī)繞組的個(gè)體差異性,即每個(gè)電機(jī)繞組的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型中的參數(shù)是不一致的,將電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型中的參數(shù)設(shè)定為正態(tài)分布且相互獨(dú)立的隨機(jī)變量。

7、在不同溫度應(yīng)力下對(duì)設(shè)定數(shù)量個(gè)電機(jī)繞組進(jìn)行加速老化試驗(yàn),獲得每個(gè)電機(jī)繞組的電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)包括剩余擊穿電壓和時(shí)間。

8、基于電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù)利用極大似然估計(jì)的方法對(duì)電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型進(jìn)行處理,得到每個(gè)電機(jī)繞組對(duì)應(yīng)的模型參數(shù)值,利用極大似然估計(jì)的方法對(duì)得到的模型參數(shù)值再次進(jìn)行處理,得到模型參數(shù)的聯(lián)合先驗(yàn)分布。

9、基于等效溫度,得到時(shí)變溫度應(yīng)力下電機(jī)繞組運(yùn)行過(guò)程中的剩余擊穿電壓數(shù)據(jù),結(jié)合該數(shù)據(jù),利用貝葉斯估計(jì)和馬爾科夫鏈蒙特卡洛方法,對(duì)模型參數(shù)的聯(lián)合先驗(yàn)分布進(jìn)行更新,得到模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解。

10、結(jié)合模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解,利用全概率公式,得到最終的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型,將時(shí)變溫度應(yīng)力下電機(jī)繞組運(yùn)行過(guò)程中的剩余擊穿電壓數(shù)據(jù)輸入到該模型中,得到預(yù)測(cè)的電機(jī)絕緣剩余壽命。

11、進(jìn)一步的,構(gòu)建電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型包括以下內(nèi)容:

12、退化模型的具體表達(dá)式為:

13、

14、其中,u(t)表示第t個(gè)運(yùn)行時(shí)間的剩余擊穿電壓值,u(0)表示剩余擊穿電壓的初始值,b(t)表示退化過(guò)程中隨機(jī)性的標(biāo)準(zhǔn)布朗運(yùn)動(dòng),t表示絕對(duì)溫度。

15、電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型的表達(dá)式為:

16、

17、其中,d表示剩余擊穿電壓的失效閾值,l表示剩余壽命的值,f(l|t)表示第t個(gè)運(yùn)行時(shí)間下剩余壽命為l的概率值。

18、進(jìn)一步的,基于退化量一致的原則,對(duì)實(shí)際運(yùn)行中的時(shí)變溫度進(jìn)行離散化處理,得到等效溫度,具體表達(dá)式為:

19、

20、其中,t0表示等效溫度,tu表示第u個(gè)時(shí)間段的運(yùn)行時(shí)間,u=1,2,…v,v表示時(shí)間段的總數(shù),taclu表示tu的絕對(duì)溫度,tx表示v個(gè)時(shí)間段的運(yùn)行時(shí)間之和。

21、進(jìn)一步的,將模型中的參數(shù)視為服從正態(tài)分布且相互獨(dú)立的隨機(jī)變量,具體表達(dá)式為:

22、

23、其中,pa、pb、pc分別表示模型參數(shù)a、b、c的均值,qa、qb、qc分別表示模型參數(shù)a、b、c的標(biāo)準(zhǔn)差,表示均值為pa、標(biāo)準(zhǔn)差為的正態(tài)分布。

24、進(jìn)一步的,獲得電機(jī)繞組的電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù)包括以下內(nèi)容:

25、在加速老化試驗(yàn)下,測(cè)量電機(jī)繞組的絕緣電阻、絕緣電容、介質(zhì)損耗因數(shù)和最大局部放電量四個(gè)絕緣參數(shù),根據(jù)四個(gè)絕緣參數(shù)得到電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù)。

26、進(jìn)一步的,得到模型參數(shù)的先驗(yàn)分布包括以下內(nèi)容:

27、剩余擊穿電壓變化量的似然函數(shù)為:

28、

29、利用似然函數(shù)分別對(duì)三個(gè)模型參數(shù)求偏導(dǎo),得到每個(gè)電機(jī)繞組對(duì)應(yīng)的模型參數(shù)值,具體公式為:

30、

31、其中,l()表示剩余擊穿電壓變化量的似然函數(shù),aij表示第i個(gè)溫度下的第j個(gè)電機(jī)繞組的模型參數(shù)a的值,bij表示第i個(gè)溫度下的第j個(gè)電機(jī)繞組的模型參數(shù)b的值,cij表示第i個(gè)溫度下的第j個(gè)電機(jī)繞組的模型參數(shù)c的值,i=1,2…n1,n1表示溫度的總數(shù),j=1,2…n2,n2表示電機(jī)繞組的總數(shù),ti表示第i個(gè)溫度的絕對(duì)溫度,δtijk表示在第i個(gè)溫度下第j個(gè)電機(jī)繞組的第k次測(cè)量的與第k-1次測(cè)量的剩余擊穿電壓的運(yùn)行時(shí)間增量,k=1,2…n3,n3表示電機(jī)繞組測(cè)量的總次數(shù),δuijk表示在第i個(gè)溫度下第j個(gè)電機(jī)繞組第k次測(cè)量的與第k-1次測(cè)量的剩余擊穿電壓值的減少量。

32、結(jié)合每個(gè)電機(jī)繞組的參數(shù)值aij、bij、cij,利用極大似然估計(jì)得到模型參數(shù)的似然函數(shù),具體公式為:

33、

34、利用似然函數(shù)分別對(duì)三個(gè)模型參數(shù)求偏導(dǎo),得到參數(shù)a、b、c各自的均值和標(biāo)準(zhǔn)差,具體公式為:

35、

36、由于模型參數(shù)相互獨(dú)立,最終得到模型參數(shù)的聯(lián)合先驗(yàn)分布為:

37、π0(a,b,c)=g(a)g(b)g(c)

38、其中,π0(a,b,c)表示模型參數(shù)的先驗(yàn)分布,g(a)、g(b)、g(c)分別表示模型參數(shù)a、b、c的分布情況,

39、

40、進(jìn)一步的,得到模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解包括以下內(nèi)容:

41、利用貝葉斯估計(jì)對(duì)模型參數(shù)的先驗(yàn)分布進(jìn)行更新,得到模型參數(shù)的后驗(yàn)分布,具體表達(dá)式為:

42、

43、其中,π(a,b,c)表示模型參數(shù)的后驗(yàn)分布,δu表示剩余擊穿電壓減少量,δt表示運(yùn)行時(shí)間的增量。

44、利用馬爾可夫鏈蒙特卡洛方法從模型參數(shù)后驗(yàn)分布的表達(dá)式中進(jìn)行采樣,得到a、b、c的分布情況,將該分布情況作為模型參數(shù)后驗(yàn)分布的近似解。

45、進(jìn)一步的,得到預(yù)測(cè)的電機(jī)絕緣剩余壽命包括以下內(nèi)容:

46、結(jié)合模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解,使用全概率公式對(duì)電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型進(jìn)行更新,得到最終的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型,具體表達(dá)式為:

47、

48、其中,u表示剩余擊穿電壓值。

49、將時(shí)變溫度應(yīng)力下電機(jī)繞組運(yùn)行過(guò)程中的剩余擊穿電壓數(shù)據(jù)輸入到該模型中,得到預(yù)測(cè)的電機(jī)絕緣剩余壽命,具體表達(dá)式為:

50、

51、其中,表示第t個(gè)運(yùn)行時(shí)間的剩余壽命值,e(l|u,t)表示剩余壽命的期望值,f(l|u,t)表示剩余壽命的概率密度表達(dá)式,l表示剩余壽命的值。

52、進(jìn)一步的,本發(fā)明還提出了一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng),包括:

53、電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型構(gòu)建模塊,用于以剩余擊穿電壓為退化量,根據(jù)arrhenius公式反應(yīng)的退化速率與溫度之間的指數(shù)關(guān)系,在首達(dá)時(shí)的概念下構(gòu)建基于wiener過(guò)程和arrhenius公式的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型。

54、等效溫度計(jì)算模塊,用于收集電機(jī)的溫度,并計(jì)算對(duì)應(yīng)的等效溫度。

55、模型參數(shù)設(shè)定模塊,用于針對(duì)電機(jī)繞組的個(gè)體差異性,即每個(gè)電機(jī)繞組的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型中的參數(shù)是不一致的,將電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型中的參數(shù)設(shè)定為正態(tài)分布且相互獨(dú)立的隨機(jī)變量。

56、電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù)獲取模塊,用于在不同溫度應(yīng)力下對(duì)設(shè)定數(shù)量個(gè)電機(jī)繞組進(jìn)行加速老化試驗(yàn),獲得每個(gè)電機(jī)繞組的電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)包括剩余擊穿電壓和時(shí)間。

57、模型參數(shù)的聯(lián)合先驗(yàn)分布獲取模塊,用于基于電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù)利用極大似然估計(jì)的方法對(duì)電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型進(jìn)行處理,得到每個(gè)電機(jī)繞組對(duì)應(yīng)的模型參數(shù)值,利用極大似然估計(jì)的方法對(duì)得到的模型參數(shù)值再次進(jìn)行處理,得到模型參數(shù)的聯(lián)合先驗(yàn)分布。

58、模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解獲取模塊,用于基于等效溫度,得到時(shí)變溫度應(yīng)力下電機(jī)繞組運(yùn)行過(guò)程中的剩余擊穿電壓數(shù)據(jù),結(jié)合該數(shù)據(jù),利用貝葉斯估計(jì)和馬爾科夫鏈蒙特卡洛方法,對(duì)模型參數(shù)的聯(lián)合先驗(yàn)分布進(jìn)行更新,得到模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解。

59、電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模塊,用于結(jié)合模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解,利用全概率公式,得到最終的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)模型,將時(shí)變溫度應(yīng)力下電機(jī)繞組運(yùn)行過(guò)程中的剩余擊穿電壓數(shù)據(jù)輸入到該模型中,得到預(yù)測(cè)的電機(jī)絕緣剩余壽命。

60、進(jìn)一步的,本發(fā)明還提出了一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)前文所述電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法的步驟。

61、進(jìn)一步的,本發(fā)明還提出了一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器運(yùn)行時(shí)執(zhí)行所述電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測(cè)方法。

62、本發(fā)明采用以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下技術(shù)效果:

63、1、本發(fā)明的方法能夠適應(yīng)不同運(yùn)行條件下的電機(jī),尤其是對(duì)于工況復(fù)雜多變的時(shí)變溫度環(huán)境,并通過(guò)引入等效溫度,提高了適用性和靈活性。

64、2、本發(fā)明的方法通過(guò)將退化模型參數(shù)視為隨機(jī)變量,并結(jié)合個(gè)體的退化數(shù)據(jù)進(jìn)行動(dòng)態(tài)更新,能夠更好地體現(xiàn)不同電機(jī)個(gè)體的差異性,使壽命預(yù)測(cè)結(jié)果更加個(gè)性化和精準(zhǔn)化。

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