本技術(shù)涉及電磁環(huán)境數(shù)據(jù)測試，特別是涉及一種變電站電磁環(huán)境測試方法、裝置、計算機設備、計算機可讀存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著變電站建設的不斷擴大，對電磁環(huán)境測試的需求也在不斷增加。這主要是為了確保變電站的電磁環(huán)境不會對周圍環(huán)境和人體健康產(chǎn)生不利影響；目前，變電站電磁環(huán)境測試技術(shù)已經(jīng)呈現(xiàn)出多樣化的趨勢。這包括傳統(tǒng)的停電試驗和帶電檢測，以及使用數(shù)字式儀器儀表進行的智能化測試，但是隨著變電站設備復雜性的增加，電磁環(huán)境測試也面臨著更多的技術(shù)難題，例如，高頻、大功率、多功能的設備測試需要更為先進的測試技術(shù)和設備。傳統(tǒng)的電磁兼容測試技術(shù)可能無法滿足這些需求。

2、目前的變電站電磁環(huán)境測試主要分為工頻電場強度的測試和工頻磁感應強度的測試，通常使用的測試設備主要有專用的探頭或電、磁場測試儀器，三維探頭可以測出空間某點的三個相互垂直方向的電場或磁場強度分量，但是目前的測試局限性還是比較嚴重，最明顯的限制就是在雨天、霧天以及雪天或者環(huán)境濕度較高的時候測試的準確性和穩(wěn)定性會發(fā)生嚴重下降，在測試過程中同時要考慮變電站周圍和變電站內(nèi)部的信號干擾情況。

3、因此，亟需一種變電站電磁環(huán)境測試方法、裝置、計算機設備、計算機可讀存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品，能夠更全面地評估變電站的電磁環(huán)境，并在濕度較大的環(huán)境下提高測試的精準性。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種能夠更全面地評估變電站的電磁環(huán)境，并在濕度較大的環(huán)境下提高測試的精準性的變電站電磁環(huán)境測試方法、裝置、計算機設備、計算機可讀存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種變電站電磁環(huán)境測試方法，包括：

3、確定變電站電磁環(huán)境的測試地點；

4、在所述測試地點進行穩(wěn)態(tài)背景測試，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

5、獲取所述測試地點的環(huán)境濕度；

6、在所述環(huán)境濕度大于第一預設濕度閾值的情況下，根據(jù)所述環(huán)境濕度調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率；

7、按照調(diào)整后的電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率，在所述測試地點進行暫態(tài)背景測試，獲得暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

8、根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)和所述暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)，訓練得到電磁環(huán)境仿真模型；

9、利用所述電磁環(huán)境仿真模型，獲取變電站電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)。

10、在其中一個實施例中，所述在所述測試地點進行穩(wěn)態(tài)背景測試，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)，包括：

11、在變電站正常運行時，使用非選頻式寬帶輻射測量儀，在所述測試地點對工頻、射頻的電磁場背景值進行測量，并進行多次測量和平均處理，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)。

12、在其中一個實施例中，所述根據(jù)所述環(huán)境濕度調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率，包括：

13、根據(jù)所述環(huán)境濕度，確定電磁探頭的影響調(diào)節(jié)系數(shù)；

14、根據(jù)所述影響調(diào)節(jié)系數(shù)，調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率。

15、在其中一個實施例中，所述方法還包括：

16、在所述環(huán)境濕度大于第二預設濕度閾值的情況下，縮短變電站與所述測試地點的測試距離；其中，所述第二預設濕度閾值大于所述第一預設濕度閾值。

17、在其中一個實施例中，所述根據(jù)所述環(huán)境濕度，確定電磁探頭的影響調(diào)節(jié)系數(shù)，包括：

18、確定所述環(huán)境濕度與電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率之間的數(shù)學模型；

19、利用所述數(shù)學模型，根據(jù)所述環(huán)境濕度，動態(tài)計算電磁探頭的影響調(diào)節(jié)系數(shù)；其中，所述數(shù)學模型包括所述環(huán)境濕度對電磁波傳播速度的影響因子和對所述電磁探頭的靈敏度的影響因子。

20、在其中一個實施例中，所述在所述環(huán)境濕度大于第二預設濕度閾值的情況下，縮短變電站與所述測試地點的測試距離，包括：

21、使用距離傳感器實時監(jiān)測變電站與所述測試地點之間的測試距離，在所述環(huán)境濕度大于第二預設濕度閾值的情況下，縮短變電站與所述測試地點的測試距離，并根據(jù)濕度變化自動調(diào)整所述電磁探頭的俯仰角度和功率輸出。

22、第二方面，本技術(shù)還提供了一種變電站電磁環(huán)境測試裝置，包括：

23、地點確定模塊，用于確定變電站電磁環(huán)境的測試地點；

24、測試模塊，用于在所述測試地點進行穩(wěn)態(tài)背景測試，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

25、獲取模塊，用于獲取所述測試地點的環(huán)境濕度；

26、調(diào)整模塊，用于在所述環(huán)境濕度大于第一預設濕度閾值的情況下，根據(jù)所述環(huán)境濕度調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率；

27、測試模塊，還用于按照調(diào)整后的電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率，在所述測試地點進行暫態(tài)背景測試，獲得暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

28、模型訓練模塊，用于根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)和所述暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)，訓練得到電磁環(huán)境仿真模型；

29、環(huán)境監(jiān)測模塊，用于利用所述電磁環(huán)境仿真模型，獲取變電站電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)。

30、第三方面，本技術(shù)還提供了一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)以下步驟：

31、確定變電站電磁環(huán)境的測試地點；

32、在所述測試地點進行穩(wěn)態(tài)背景測試，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

33、獲取所述測試地點的環(huán)境濕度；

34、在所述環(huán)境濕度大于第一預設濕度閾值的情況下，根據(jù)所述環(huán)境濕度調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率；

35、按照調(diào)整后的電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率，在所述測試地點進行暫態(tài)背景測試，獲得暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

36、根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)和所述暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)，訓練得到電磁環(huán)境仿真模型；

37、利用所述電磁環(huán)境仿真模型，獲取變電站電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)。

38、第四方面，本技術(shù)還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)以下步驟：

39、確定變電站電磁環(huán)境的測試地點；

40、在所述測試地點進行穩(wěn)態(tài)背景測試，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

41、獲取所述測試地點的環(huán)境濕度；

42、在所述環(huán)境濕度大于第一預設濕度閾值的情況下，根據(jù)所述環(huán)境濕度調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率；

43、按照調(diào)整后的電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率，在所述測試地點進行暫態(tài)背景測試，獲得暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

44、根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)和所述暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)，訓練得到電磁環(huán)境仿真模型；

45、利用所述電磁環(huán)境仿真模型，獲取變電站電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)。

46、第五方面，本技術(shù)還提供了一種計算機程序產(chǎn)品，包括計算機程序，該計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)以下步驟：

47、確定變電站電磁環(huán)境的測試地點；

48、在所述測試地點進行穩(wěn)態(tài)背景測試，獲得穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

49、獲取所述測試地點的環(huán)境濕度；

50、在所述環(huán)境濕度大于第一預設濕度閾值的情況下，根據(jù)所述環(huán)境濕度調(diào)整電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率；

51、按照調(diào)整后的電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率，在所述測試地點進行暫態(tài)背景測試，獲得暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)；

52、根據(jù)所述穩(wěn)態(tài)背景測試數(shù)據(jù)和所述暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)，訓練得到電磁環(huán)境仿真模型；

53、利用所述電磁環(huán)境仿真模型，獲取變電站電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)。

54、上述變電站電磁環(huán)境測試方法、裝置、計算機設備、計算機可讀存儲介質(zhì)和計算機程序產(chǎn)品，通過在變電站的關(guān)鍵測試地點進行穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)背景測試，能夠全面評估變電站在不同運行狀態(tài)下的電磁環(huán)境。考慮環(huán)境濕度對電磁測試的影響，并據(jù)此調(diào)整電磁探頭的旋轉(zhuǎn)速率，可以減少濕度對測試結(jié)果的干擾，提高測試數(shù)據(jù)的準確性。通過動態(tài)調(diào)整測試參數(shù)（如電磁探頭的水平旋轉(zhuǎn)速率）以適應不同的環(huán)境條件，增強了測試方法的靈活性和適應性。利用穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)背景測試數(shù)據(jù)訓練得到的電磁環(huán)境仿真模型，可以用于模擬和預測變電站在各種條件下的電磁環(huán)境，為決策提供科學依據(jù)。仿真模型可以幫助識別潛在的電磁環(huán)境風險，為變電站的安全管理和風險預防提供支持。根據(jù)仿真結(jié)果，可以對變電站的設備布局和操作進行優(yōu)化，以減少電磁干擾和提高系統(tǒng)的整體性能。通過持續(xù)使用仿真模型進行測試和分析，可以實現(xiàn)對變電站電磁環(huán)境的長期監(jiān)測和趨勢分析，及時發(fā)現(xiàn)和解決潛在問題。