本發(fā)明涉及一種電容器生產(chǎn)的測試設(shè)備，尤其涉及一種用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的電容器都是先將導(dǎo)針鉚接在極箔上，然后進行卷繞。導(dǎo)針鉚接的質(zhì)量直接影響整個電容器的好壞，鉚接的好壞可通過測試極箔與導(dǎo)針之間的電阻來確定，然而在測試的時候由于在陽極箔表面形成有一層三氧化二鋁的氧化膜，正極測試針和負(fù)極測試針需要將三氧化二鋁刺穿才能夠測試極箔與導(dǎo)針之間的電阻，故在測試的時候非常容易出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象，往往導(dǎo)致測試出來的電阻偏大，不能夠真實的反應(yīng)極箔與導(dǎo)針之間的電阻。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種操作簡單、能夠真實的測量極箔和導(dǎo)針之間的電阻的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出的技術(shù)方案為：一種用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，包括底座、壓板和測試針組件，所述底座的中部固定設(shè)置有絕緣墊板，所述底座的兩側(cè)均設(shè)置有立柱，立柱穿過絕緣墊板并從壓板伸出，壓板能沿立柱上下移動；所述測試針組件固定設(shè)置在壓板的中部；所述測試針組件包括兩根負(fù)極測試針和三根正極測試針，所述三根正極測試針成一排設(shè)置，兩根負(fù)極測試針分別設(shè)置在成一排設(shè)置的正極測試針的兩側(cè)；所述兩根負(fù)極測試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接在阻抗測試儀的負(fù)極上，三根正極測試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接連接在阻抗測試儀的正極上。本發(fā)明中，在測試極箔和導(dǎo)針之間的電阻的時候，先將待測試的帶有導(dǎo)針的極箔伸入到絕緣墊板上，將壓板壓下，這時正極測試針和負(fù)極測試針下端的圓錐形尖端刺穿極箔上的三氧化二鋁氧化膜和導(dǎo)針上的氧化膜，這樣正極測試針和負(fù)極測試針能夠分別直接接觸導(dǎo)針和極箔的內(nèi)部，這樣測試出來的電阻是最真實的，能夠真實的反應(yīng)鉚接的效果。在發(fā)明中設(shè)置有三根正極測試針和兩根負(fù)極測試針，這樣只要有一根正極測試針和一根負(fù)極測試針將導(dǎo)針和極箔表面的氧化膜刺穿就能夠完成測試，這樣能夠保證測試的穩(wěn)定性。

上述的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，優(yōu)選的，所述測試組件固定設(shè)置在連接塊上，所述連接塊通過卡槽設(shè)置在壓板上；所述連接塊可在壓板上滑動。本發(fā)明中，由于每種電容器的型號和尺寸不同，在測試導(dǎo)針和極箔之間的電阻的時候，正極測試針會不可避免的可能之間頂在鉚花上，這樣不能夠真實的反應(yīng)導(dǎo)針和極箔之間的電阻，此時可以移動測試組件使得正極測試針能夠準(zhǔn)確的頂在導(dǎo)針上。

上述的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，優(yōu)選的，負(fù)極測試針和正極測試針均包括探針，所述探針的下端呈尖銳的圓錐形，上端設(shè)置有導(dǎo)線連接部，所述導(dǎo)線焊接在導(dǎo)線連接部上，所述探針通過緩沖組件連接在壓板上。探針下端尖銳的圓錐形在測試的時候刺穿極箔和導(dǎo)針表面的氧化膜。

上述的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，優(yōu)選的，所述緩沖組件包括固定設(shè)置在壓板頂部的蓋板、緩沖彈簧和設(shè)置在正極測試針或者負(fù)極測試針中部的凸塊，所述緩沖彈簧設(shè)置在凸塊和蓋板之間；所述正極測試針的中部、負(fù)極測試針的中部和凸塊的表面設(shè)置有一個絕緣層。由于正極測試針和負(fù)極測試針的是導(dǎo)電的，故需要在正極測試針和負(fù)極測試針的中部以及凸塊的表面設(shè)置一個絕緣層。同時緩沖組件的設(shè)置能夠在刺穿導(dǎo)針和極箔表面氧化膜的時候起到緩沖作用，防止一下子將極箔刺穿，同時防止鋼性碰撞將圓錐形尖端損壞。本發(fā)明中，正極測試針的中部、負(fù)極測試針的中部和凸塊的表面的絕緣層可以是涂覆上去的絕緣材料，也可以是鍍上去的絕緣膜。

上述的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，優(yōu)選的，所述正極測試針的下端比負(fù)極測試針的下端高0.1-1mm。因為導(dǎo)針鉚接在極箔上后，導(dǎo)針的鋁舌是有一定厚度的，其厚度一般在0.1-1mm之間。

上述的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，優(yōu)選的，所述底座和壓板之間通過螺紋桿連接在一起。通過螺紋桿可以控制壓板和底座之間的距離。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于：本發(fā)明的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具能夠準(zhǔn)確的測量導(dǎo)針與極箔之間的電阻，從而評價導(dǎo)針的鉚接效果；并且本發(fā)明的測試治具非常穩(wěn)定。

附圖說明

圖1為本發(fā)明中用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明中測試針組件的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖例說明

1、底座；2、壓板；3、絕緣墊板；4、立柱；5、負(fù)極測試針；6、正極測試針；7、連接塊；8、卡槽；9、導(dǎo)線連接部；10、蓋板；11、緩沖彈簧；12、凸塊；13、螺紋桿；14、絕緣層。

具體實施方式

為了便于理解本發(fā)明，下文將結(jié)合較佳的實施例對本發(fā)明作更全面、細(xì)致地描述，但本發(fā)明的保護范圍并不限于以下具體的實施例。

需要特別說明的是，當(dāng)某一元件被描述為“固定于、固接于、連接于或連通于”另一元件上時，它可以是直接固定、固接、連接或連通在另一元件上，也可以是通過其他中間連接件間接固定、固接、連接或連通在另一元件上。

除非另有定義，下文中所使用的所有專業(yè)術(shù)語與本領(lǐng)域技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中所使用的專業(yè)術(shù)語只是為了描述具體實施例的目的，并不是旨在限制本發(fā)明的保護范圍。

實施例

如圖1和圖2所示的一種用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，包括底座1、壓板2和測試針組件，底座1的中部固定設(shè)置有絕緣墊板3，底座1的兩側(cè)均設(shè)置有立柱4，立柱4穿過絕緣墊板3并從壓板2伸出，壓板2能沿立柱上下移動；測試針組件固定設(shè)置在壓板2的中部；測試針組件包括兩根負(fù)極測試針5和三根正極測試針6，三根正極測試針6成一排設(shè)置，兩根負(fù)極測試針5分別設(shè)置在成一排設(shè)置的正極測試針6的兩側(cè)；兩根負(fù)極測試針5通過導(dǎo)線連接在一起并且連接在阻抗測試儀的負(fù)極上，三根正極測試針6通過導(dǎo)線連接在一起并且連接連接在阻抗測試儀的正極上。測試組件固定設(shè)置在連接塊7上，連接塊7通過卡槽8設(shè)置在壓板2上；連接塊7可在壓板2上滑動。底座1和壓板2之間通過螺紋桿13連接在一起。

本實施例中，負(fù)極測試針5和正極測試針6均包括探針，探針的下端呈尖銳的圓錐形，上端設(shè)置有導(dǎo)線連接部9，導(dǎo)線焊接在導(dǎo)線連接部9上，探針通過緩沖組件連接在壓板2上。緩沖組件包括固定設(shè)置在壓板2頂部的蓋板10、緩沖彈簧11和設(shè)置在正極測試針6或者負(fù)極測試針5中部的凸塊12，緩沖彈簧11設(shè)置在凸塊12和蓋板10之間；正極測試針6的中部、負(fù)極測試針5的中部和凸塊12的表面設(shè)置有一個絕緣層14。本實施例中，正極測試針6的下端比負(fù)極測試針5的下端高0.5mm。

本實施例的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具能夠準(zhǔn)確的測量導(dǎo)針與極箔之間的電阻，從而評價導(dǎo)針的鉚接效果；并且本發(fā)明的測試治具非常穩(wěn)定。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
一種用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具，包括底座、壓板和測試針組件，底座的中部固定設(shè)置有絕緣墊板，底座的兩側(cè)均設(shè)置有立柱，立柱穿過絕緣墊板并從壓板伸出，壓板能沿立柱上下移動；測試針組件固定設(shè)置在壓板的中部；測試針組件包括兩根負(fù)極測試針和三根正極測試針，三根正極測試針成一排設(shè)置，兩根負(fù)極測試針分別設(shè)置在成一排設(shè)置的正極測試針的兩側(cè)；兩根負(fù)極測試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接在阻抗測試儀的負(fù)極上，三根正極測試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接連接在阻抗測試儀的正極上。本發(fā)明的用于檢測電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測試治具能夠準(zhǔn)確的測量導(dǎo)針與極箔之間的電阻，從而評價導(dǎo)針的鉚接效果。

技術(shù)研發(fā)人員：艾茂;彭國
受保護的技術(shù)使用者：益陽市安興電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.07
技術(shù)公布日：2017.09.01