本發(fā)明涉及換熱器性能測試技術領域,具體的說是一種管殼式換熱器性能測試裝置。
背景技術:
現(xiàn)有針對管殼式換熱器的性能測試方法僅僅在管殼式換熱器的進出口放置壓力儀表、溫度儀表以進行傳熱器整體壓降、傳熱性能測試。實際上,管殼式換熱器的殼程流動傳熱特性非常復雜,局部不同區(qū)域具有不同的壓降、傳熱性能,現(xiàn)有技術僅僅針對傳熱器整體進行性能測試,無法反映管殼式換熱器殼程局部的壓降、傳熱性能,無法進行詳細的分析和研究。
技術實現(xiàn)要素:
針對上述現(xiàn)有技術僅僅針對傳熱器整體進行性能測試,無法反映管殼式換熱器殼程局部的壓降、傳熱性能,無法進行詳細的分析和研究等問題,本發(fā)明提供一種管殼式換熱器性能測試裝置。
為解決上述技術問題,本發(fā)明采用的技術方案為:
一種管殼式換熱器性能測試裝置,該裝置包括壓力儀表、兩根導壓管、兩根假管及兩個溫度儀表,所述假管的一端開口,另一端為管端密封,且假管上設有與其內(nèi)部連通的開孔,所述兩根假管的開口端均固定穿設在待測試管殼式換熱器的管板內(nèi),且兩根假管的外壁與管板密封連接,兩根假管的開孔分別設置在測試區(qū)域的進出口平面上,且兩個溫度儀表的探頭分別設置在測試區(qū)域的進出口平面上;所述兩根導壓管一端與壓力儀表連接,另一端與兩根假管的開口端連接。
所述假管開口端設有外螺紋,且假管的開口端通過外螺紋固定設置在待測試管殼式換熱器的管板內(nèi)。
所述導壓管和假管之間的管板兩側(cè)開孔連通,假管可將測試區(qū)域Ⅰ進出口平面的壓力通過導壓管引出。
本發(fā)明的有益效果:
本發(fā)明提供的管殼式換熱器性能測試裝置,通過設置兩根假管、兩根導壓管、壓力儀表和兩個溫度儀表,將假管設置為一端開口、一端封閉,且在假管上設置開孔,將假管上設置開孔設置在測試區(qū)域的進出口平面上,可通過壓力儀表測量壓力差,通過溫度儀表設置溫度差,實現(xiàn)了管殼式換熱器殼程局部壓降、傳熱性能的性能測試;解決了無法反映管殼式換熱器殼程局部的壓降、傳熱性能,無法進行詳細的分析和研究的問題。
附圖說明
圖1為本發(fā)明結(jié)構示意圖;
圖2為本發(fā)明假管結(jié)構示意圖;
圖3為圖1的A-A視圖;
圖4為圖1的B-B視圖;
附圖標記:1、壓力儀表,2、導壓管,3、假管,4、溫度儀表,5、換熱管,6、殼體,7、管板, 3-1、外螺紋,3-2、開孔,3-3、管端密封。
具體實施方式
下面結(jié)合具體實施方式對本發(fā)明做進一步的闡述。
如圖所示:一種管殼式換熱器性能測試裝置,該裝置包括壓力儀表1、兩根導壓管2、兩根假管3及兩個溫度儀表4,所述假管3的一端開口,另一端為管端密封3-3,且假管3上設有與其內(nèi)部連通的開孔3-2,所述兩根假管3的開口端均固定穿設在待測試管殼式換熱器的管板7內(nèi),且兩根假管3的外壁與管板7密封連接,兩根假管3的開孔3-2分別設置在測試區(qū)域的進出口平面上,且兩個溫度儀表4的探頭分別設置在測試區(qū)域的進出口平面上;所述兩根導壓管2一端均與壓力儀表1連接,另一端分別與兩根假管3的開口端連接;所述假管3開口端設有外螺紋3-1,且假管3的開口端通過外螺紋3-1固定設置在待測試管殼式換熱器的管板7內(nèi)。導壓管2和假管3之間的管板7兩側(cè)開孔連通,假管3可將測試區(qū)域Ⅰ進出口平面的壓力通過導壓管2引出。
為了實現(xiàn)殼程特定測試區(qū)域Ⅰ的壓降性能測試,需要在測試區(qū)域Ⅰ進出口平面設置具有壓力傳導功能的假管3,且假管3的開孔3-2需設置在測試區(qū)域Ⅰ進出口平面上,測試區(qū)域Ⅰ的壓降,通過兩個開孔3-2和導壓管2后,由壓力儀表1測試;假管3的外螺紋3-1在管板7上固定,開孔3-2應設置在測試區(qū)域Ⅰ的進出口平面上,假管3額另一端應密閉且不與殼程連通。管板7與假管3連接的區(qū)域Ⅱ應具有與假管3-1外螺紋相匹配的內(nèi)螺紋,用于固定假管、密封分隔管殼程流體。
為了實現(xiàn)殼程特定測試區(qū)域Ⅰ的傳熱性能測試,需要將溫度儀表4的探頭設置在測試區(qū)域Ⅰ進出口平面上。測試區(qū)域Ⅰ的傳熱量,通過兩個溫度儀表4測量溫差后換算得到。
圖3為截面A-A的示意圖,其中假管3與測試區(qū)域1、換熱管5、殼體6的位置見圖3。假管3、測試區(qū)域Ⅰ的位置可根據(jù)不同測試情況做出相應調(diào)整,且測試區(qū)域不限于圖例中所述的特定測試區(qū)域Ⅰ。
圖4為截面B-B的示意圖,其中假管3與測試區(qū)域Ⅰ、溫度儀表4的探頭、換熱管5、殼體6的位置見圖4。假管3、溫度儀表4的探頭、測試區(qū)域Ⅰ的位置可根據(jù)不同測試情況做出相應調(diào)整,且測試區(qū)域不限于圖例中所述的特定測試區(qū)域Ⅰ。