1.一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:步驟s1中,注入的離子為以下任意一種:o離子、h離子、he離子或任意組合離子,注入時表面傾斜5°~10°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:所述第一損傷層(2a)和所述第二損傷層(2b)的厚度均為10nm~50nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:所述第一損傷層(2a)和所述第二損傷層(2b)的離子注入條件不同以使退火分離條件不同;所述離子注入條件包括離子濃度、離子種類、注入能量和注入角度;所述第一損傷層(2a)退火溫度小于所述第二損傷層(2b)的退火溫度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:步驟s5中,退火溫度在300℃~450℃之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:步驟s8中,退火溫度在450℃~600℃之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:步驟s2中,沉積sio2的方法為以下任意一種:pvd、cvd、pecvd或ald;
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:步驟s3中,所述第一通孔、所述第二通孔的刻蝕方法為以下任意一種:等離子體刻蝕法、激光燒灼、電化學(xué)法,所述第一通孔和所述第二通孔均填充金屬cu;
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于:所述裸芯片通過底部植球bga(9)與pcb的互連得到玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種玻璃基和硅基轉(zhuǎn)接板混合堆疊的射頻微系統(tǒng)制備方法,其特征在于: