專利名稱：具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型關(guān)于一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，尤指將第一短路桿的第一短 路線段電性連接至第一修補(bǔ)線，或者將第一修補(bǔ)線的第一修補(bǔ)線段與第一短路桿的第一短 路線段彼此重迭的一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置。
背景技術(shù)：
請參考圖1，圖1為已知技術(shù)中具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示意圖。如 圖1所示，具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置包括一基板100、一畫素陣列PA、一第一短路桿 (shorting bar) SB1、一第二短路桿 SB2、一第一修補(bǔ)線(impair line) RL1、一第二修補(bǔ)線 RL2、一柵極驅(qū)動(dòng)晶片30、以及一源極驅(qū)動(dòng)晶片40。畫素陣列PA包括多條資料線DL與多條 柵極線GL，柵極驅(qū)動(dòng)晶片30電性連接多條柵極線GL，用以提供柵極信號，而源極驅(qū)動(dòng)晶片 40電性連接多條資料線DL，用以提供源極信號。為了維持顯示裝置的品質(zhì)，顯示裝置在制程的中皆須經(jīng)過檢測，以排除具有缺陷 的產(chǎn)品。如圖1所示，第一短路桿SBl電性連接至測試墊GO與奇數(shù)條柵極線GL，第二短路桿 SB2電性連接至測試墊GE與偶數(shù)條柵極線GL。換言之，顯示裝置需要第一短路桿SBl與第 二短路桿SB2來檢測多條柵極線GL。此外，礙于制作時(shí)基板100表面的高低起伏、熱處理、 蝕刻制程等影響，資料線DL很容易發(fā)生斷線，進(jìn)而導(dǎo)致斷路的現(xiàn)象。為了避免顯示裝置的 操作受到少部份斷線的影響，需要于基板100上設(shè)置多條修補(bǔ)線，如圖1的第一修補(bǔ)線RLl 與第二修補(bǔ)線RL2。再者，當(dāng)顯示裝置的面積擴(kuò)大并提高解析度時(shí)，需要制作數(shù)量更多的資 料線，且線寬變得更窄，則制程困難度的提高更容易導(dǎo)致斷線現(xiàn)象。因此，一般需要更多條 的修補(bǔ)線。然而，由于第一短路桿SB1、第二短路桿SB2、第一修補(bǔ)線RLl第二修補(bǔ)線RL2、以 及其他未繪示的修補(bǔ)線等各走線皆設(shè)置于畫素陣列PA的周圍，在周圍空間有限的情況下， 將限制修補(bǔ)線的設(shè)置數(shù)目，且各走線的寬度亦將受限，使各走線的電阻值無法有效的降低， 不利于檢測與修補(bǔ)工作的進(jìn)行。據(jù)此，已知技術(shù)具有修補(bǔ)線空間不足與電阻值過大的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型目的之一在于提供一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，以解決已知技 術(shù)中修補(bǔ)線空間不足與電阻值過大的問題。本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例提供一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其包括一基 板、一畫素陣列、一第一短路桿、以及一第一修補(bǔ)線。畫素陣列設(shè)置于基板上，并且畫素陣列 包括多條資料線與多條柵極。第一短路桿設(shè)置于基板上，其中第一短路桿連接多條柵極線， 用以檢測多條柵極線，并且第一短路桿具有一第一短路線段。第一修補(bǔ)線設(shè)置于基板上，用 以修補(bǔ)至少一資料線，并且第一短路桿的第一短路線段電性連接至第一修補(bǔ)線。本實(shí)用新型的另一較佳實(shí)施例提供一種顯示裝置的修補(bǔ)結(jié)構(gòu)，其包括一基板、一 畫素陣列、一第一短路桿、一第一修補(bǔ)線、以及一絕緣層。畫素陣列設(shè)置于基板上，且畫素陣 列包括多條資料線與多條柵極線。第一短路桿設(shè)置于基板上，并且連接多條柵極線，用以檢測多條柵極線，其中第一短路桿具有一第一短路線段，且第一短路線段沿一第一方向設(shè)置。 第一修補(bǔ)線設(shè)置于基板上，用以修補(bǔ)至少一資料線，其中第一修補(bǔ)線具有一第一修補(bǔ)線段， 沿第一方向設(shè)置，并且第一修補(bǔ)線段與第一短路線段彼此重迭。另外，絕緣層設(shè)置于第一修 補(bǔ)線段與第一短路線段之間。本實(shí)用新型的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，可利用第一短路桿的第一短路線段 電性連接至第一修補(bǔ)線，達(dá)到合并第一修補(bǔ)線與第一短路桿的效果，進(jìn)而減少走線的數(shù)目。 或者，本實(shí)用新型的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置可利用第一修補(bǔ)線的第一修補(bǔ)線段與第 一短路桿的第一短路線段彼此重迭，使第一修補(bǔ)線段與第一短路線段共用基板的同一區(qū) 域，以有效利用基板上的面積。

圖1為已知技術(shù)中具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示意圖。圖2為本實(shí)用新型第一較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示意圖。圖3為本實(shí)用新型第二較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示意圖。圖4與圖5為本實(shí)用新型第三較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示意 圖。圖6至圖8為本實(shí)用新型第四較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示意 圖。圖9與圖10為本實(shí)用新型第五較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置的示 意圖。圖中[0015]100,200基板 PA畫素陣列[0016]DL資料線GL柵極線[0017]SBl第—4豆路桿SB2第二短路桿[0018]RLl第—-修補(bǔ)線RL2第二修補(bǔ)線[0019]30柵極驅(qū)動(dòng)晶片40源極驅(qū)動(dòng)晶片[0020]50修補(bǔ)線分支GO、GE試墊[0021]201第—-周邊區(qū)202第二周邊區(qū)[0022]11第—4豆路桿12第二短路桿[0023]21第—-修補(bǔ)線22第二修補(bǔ)線[0024]111第—4豆路線段121第二短路線段[0025]211第—-修補(bǔ)線段221第二修補(bǔ)線段[0026]Dl第—j方向60絕緣層[0027]300具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置具體實(shí)施方式
在說明書及權(quán)利要求書當(dāng)中使用了某些詞匯來指稱特定的元件。所屬領(lǐng)域中具 有通常知識者應(yīng)可理解，制作商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的元件。本說明書及權(quán)利
4要求書并不以名稱的差異來作為區(qū)別元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區(qū)別 的基準(zhǔn)。在通篇說明書及權(quán)利要求書當(dāng)中所提及的「包括」為一開放式的用語，故應(yīng)解釋成 「包括但不限定于」。此外，「電性連接」一詞在此包含任何直接及間接的電性連接手段。因 此，文中所描述一第一裝置電性連接于一第二裝置，則代表該第一裝置可直接連接于該第 二裝置，或者該第一裝置可經(jīng)由通過其他裝置或連接手段間接地連接至該第二裝置。此外， 需注意的是圖式僅以說明為目的，并未依照原尺寸作圖。請參考圖2，圖2為本實(shí)用新型第一較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置 300的示意圖。如圖2所示，具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置300至少包括一基板200、一畫素 陣列PA、一第一短路桿11、以及一第一修補(bǔ)線21。畫素陣列PA設(shè)置于基板200上，且畫素 陣列PA包括多條資料線DL與多條柵極線GL。為簡化說明，圖示中僅繪示部份的資料線DL 與柵極線GL，而未繪示對應(yīng)的畫素。在本較佳實(shí)施例中，多條資料線DL大體上垂直于多條 柵極線GL，并且另外于基板200上設(shè)置至少一柵極驅(qū)動(dòng)晶片30與至少一源極驅(qū)動(dòng)晶片40。 其中，柵極驅(qū)動(dòng)晶片30電性連接多條柵極線GL，用以提供柵極信號，而源極驅(qū)動(dòng)晶片40電 性連接多條資料線DL，用以提供源極信號。此外，在畫素陣列PA外圍的基板200上定義有 一第一周邊區(qū)201與一第二周邊區(qū)202，第一周邊區(qū)201平行于多條柵極線GL，而第二周邊 區(qū)202平行多條資料線DL。更明確地說，第一周邊區(qū)201設(shè)置于畫素陣列PA相對于源極驅(qū) 動(dòng)晶片40的另一側(cè)(反S側(cè))，而第二周邊區(qū)202設(shè)置于畫素陣列PA相對于柵極驅(qū)動(dòng)晶片 30的另一側(cè)(反G側(cè))。再者，第一短路桿11設(shè)置于基板200上，其中第一短路桿11連接多條柵極線GL， 用以檢測多條柵極線GL，并且第一短路桿11具有一第一短路線段111。在本較佳實(shí)施例中， 第一短路桿11電性連接至測試墊G0，用以檢測奇數(shù)條的柵極線GL，但不以此為限。第一修 補(bǔ)線21設(shè)置于基板200上，其中第一修補(bǔ)線21用以修補(bǔ)至少一斷線的資料線DL。此外，第 一短路桿11的第一短路線段111電性連接至第一修補(bǔ)線21。在第一較佳實(shí)施例中，第一短 路線段111設(shè)置于第一周邊區(qū)201與第二周邊區(qū)202內(nèi)，但本實(shí)用新型并不以此為限。例 如，第一短路線段111可以僅設(shè)置于第一周邊區(qū)201內(nèi)，并電性連接至第一修補(bǔ)線21。換言 之，第一短路線段111可以設(shè)置于第一周邊區(qū)201內(nèi)，亦可另外設(shè)置于第二周邊區(qū)202內(nèi)。在第一較佳實(shí)施中，通過設(shè)置于第一周邊區(qū)201與第二周邊區(qū)202內(nèi)的第一短路 線段111，可將已知技術(shù)中分開設(shè)置的修補(bǔ)線與短路桿合并，進(jìn)而減少第一周邊區(qū)201與第 二周邊區(qū)202內(nèi)的走線數(shù)目。此外，本實(shí)用新型可以維持第一短路桿11與第一修補(bǔ)線21 的功能。如圖2所示，第一短路桿11由第一短路線段111，可電性連接至奇數(shù)條柵極線GL， 用以檢測奇數(shù)條柵極線GL，達(dá)到第一短路桿11的檢測功能。再者，第一修補(bǔ)線21由第一短 路線段111，可在第一周邊區(qū)201內(nèi)橫跨多條資料線DL的一端，且第一修補(bǔ)線21通過源極 驅(qū)動(dòng)晶片40內(nèi)的線路(圖未示)，橫跨多條資料線DL的另一端。當(dāng)其中一資料線DL發(fā)生 斷線時(shí)，第一修補(bǔ)線21可用以提供另一個(gè)電性導(dǎo)通路徑，發(fā)揮修補(bǔ)作用。如圖2所示，具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置300另外包括一第二短路桿12與一第 二修補(bǔ)線22，設(shè)置于基板200上。第二修補(bǔ)線22用以修補(bǔ)至少一斷線的資料線DL，而第二 短路桿12具有一第二短路線段121。在本較佳實(shí)施例中，第二短路桿12電性連接至測試 墊GE，用以檢測偶數(shù)條的柵極線GL，但并不以此為限。再者，第二短路桿12的第二短路線 段121電性連接至第二修補(bǔ)線22，并且第二短路線段121設(shè)置于第一周邊區(qū)201內(nèi)。[0034]據(jù)此，本實(shí)用新型的第一較佳實(shí)施例由第一短路線段111與第二短路線段121的 設(shè)置，可達(dá)到在第一周邊區(qū)201內(nèi)將第一修補(bǔ)線21和第二修補(bǔ)線22分別與第一短路桿11 和第二短路桿12合并的效果，進(jìn)而減少第一周邊區(qū)201內(nèi)的兩條走線數(shù)目。同樣地，本實(shí) 用新型可達(dá)到于第二周邊區(qū)202內(nèi)將第一修補(bǔ)線21與第一短路桿11合并的效果，進(jìn)而減 少第二周邊區(qū)202內(nèi)的一條走線數(shù)目。再者，由于走線數(shù)目的減少，可增加在第一周邊區(qū) 201內(nèi)和第二周邊區(qū)202內(nèi)的走線的寬度，進(jìn)而達(dá)到降低第一修補(bǔ)線21和第二修補(bǔ)線22的 電阻值的效果，以利修補(bǔ)工作的進(jìn)行。因此，本實(shí)用新型可解決已知技術(shù)中修補(bǔ)線空間不足 與電阻值過大的問題，且不會額外增加任何光罩制作成本。另外，本實(shí)用新型在第一周邊區(qū) 201中可另外設(shè)置至少一修補(bǔ)線分支50，其一端通過第一短路線段111與第一修補(bǔ)線21電 性連接，而其另一端則通過第二短路線段121與第二修補(bǔ)線22電性連接。本實(shí)用新型的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置并不以上述的第一較佳實(shí)施例為限， 而可具有其它不同的實(shí)施形式。為了簡化說明并易于比較，在下文的四個(gè)較佳實(shí)施例中，對 于相同元件沿用相同的符號來表示。請參考圖3，圖3為本實(shí)用新型第二較佳實(shí)施例的具有 修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置300的示意圖。如圖3所示，第二較佳實(shí)施例與第一較佳實(shí)施例 的主要差異在于，第二短路線段121另外設(shè)置于第二周邊區(qū)202內(nèi)。更明確地說，第二修補(bǔ) 線22由第一較佳實(shí)施例中的設(shè)置位置，改為設(shè)置在第二較佳實(shí)施例中鄰近第二周邊區(qū)202 的位置，并且設(shè)置于第一周邊區(qū)201內(nèi)的第二短路線段121電性連接至第二修補(bǔ)線22。據(jù) 此，本實(shí)用新型的第二較佳實(shí)施例由第一短路線段111與第二短路線段121的設(shè)置，不但可 達(dá)到于第一周邊區(qū)201內(nèi)將第一修補(bǔ)線21和第二修補(bǔ)線22分別與第一短路桿11和第二 短路桿12合并的效果，并且可達(dá)到于第二周邊區(qū)202內(nèi)將第一修補(bǔ)線21和第二修補(bǔ)線22 分別與第一短路桿11和第二短路桿12合并的效果，進(jìn)而分別減少第一周邊區(qū)201內(nèi)與第 二周邊區(qū)202內(nèi)的兩條走線數(shù)目。換言之，相較于第一較佳實(shí)施例，第二較佳實(shí)施例更進(jìn)一 步地減少第二周邊區(qū)202內(nèi)的走線數(shù)目。請參考圖4與圖5，圖4與圖5為本實(shí)用新型第三較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié) 構(gòu)的顯示裝置300的示意圖，其中圖5為沿著圖4的A-A’線的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。第三較佳 實(shí)施例與前兩個(gè)較佳實(shí)施例的主要差異在于，第三較佳實(shí)施例的第一修補(bǔ)線21和第二修 補(bǔ)線22并未分別與第一短路線段111和第二短路線段121電性連接，而是利用重迭設(shè)置的 方式來解決已知技術(shù)中空間不足的問題。如圖4所示，第一修補(bǔ)線21具有一第一修補(bǔ)線段 211，沿一第一方向Dl設(shè)置。如圖4與圖5所示，第一短路桿11具有一第一短路線段111， 而第一短路線段111亦沿第一方向Dl設(shè)置，并且第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111于 第一周邊區(qū)201內(nèi)彼此重迭，故第一短路線段111于圖4中被第一修補(bǔ)線段211覆蓋，而需 通過圖5的剖面結(jié)構(gòu)示意圖來繪示。另外，如圖5所示，一絕緣層60設(shè)置于第一修補(bǔ)線段 211與第一短路線段111之間，用以電性隔絕第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111。同理可知，如圖4與圖5所示，第二修補(bǔ)線22亦可具有沿第一方向Dl設(shè)置的一第 二修補(bǔ)線段221，第二短路桿12具有一第二短路線段121，而第二短路線段121亦沿第一方 向Dl設(shè)置，并且第二修補(bǔ)線段221與第二短路線段121在第一周邊區(qū)201內(nèi)彼此重迭。再 者，絕緣層60設(shè)置于第二修補(bǔ)線段221與第二短路線段121之間，用以電性隔絕第二修補(bǔ) 線段221與第二短路線段121。據(jù)此，本實(shí)用新型的第三較佳實(shí)施例由將第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111
6于第一周邊區(qū)201內(nèi)彼此重迭設(shè)置，可使第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111共用基板 200的同一區(qū)域，以有效利用基板200上的面積。同樣地，由將第二修補(bǔ)線段221與第二短 路線段121在第一周邊區(qū)201內(nèi)彼此重迭設(shè)置，可使第二修補(bǔ)線段221與第二短路線段121 共用基板200的同一區(qū)域，以有效利用基板200上的面積。再者，由于基板200的面積的有 效利用，可增加在第一周邊區(qū)201內(nèi)的走線的寬度，進(jìn)而達(dá)到降低第一修補(bǔ)線21和第二修 補(bǔ)線22的電阻值的效果，以利修補(bǔ)工作的進(jìn)行。因此，本實(shí)用新型可解決已知技術(shù)中修補(bǔ) 線空間不足與電阻值過大的問題，且不會額外增加任何光罩制作成本。請參考圖6至圖8，圖6至圖8為本實(shí)用新型第四較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu) 的顯示裝置300的示意圖，其中沿著圖6的A-A’線的剖面結(jié)構(gòu)示意圖如圖7所繪示，而沿 著圖6的B-B’線與C-C’線的各剖面結(jié)構(gòu)示意圖皆如圖8所繪示。第四較佳實(shí)施例與第三 較佳實(shí)施例的主要差異在于，第四較佳實(shí)施例的第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111另 外于第二周邊區(qū)202內(nèi)彼此重迭。如圖6與圖8所示，第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段 111彼此重迭，且絕緣層60設(shè)置于第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111之間，用以電性 隔絕第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111。其中，如沿著圖6的B-B’線的剖面結(jié)構(gòu)示意 圖(圖8)所示，第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111于第二周邊區(qū)202內(nèi)彼此重迭，并 且如沿著圖6的C-C’線的剖面結(jié)構(gòu)示意圖(圖8)所示，第一修補(bǔ)線段211與第一短路線 段111于第二周邊區(qū)202與源極驅(qū)動(dòng)晶片40之間的區(qū)域內(nèi)彼此重迭。另外，如圖6與圖7 所示，第四較佳實(shí)施例于第一周邊區(qū)201內(nèi)的設(shè)置方式大體上相同于第三較佳實(shí)施例。據(jù) 此，本實(shí)用新型的第四較佳實(shí)施例，不但于第一周邊區(qū)201內(nèi)將第一修補(bǔ)線段211與第一短 路線段111彼此重迭設(shè)置，并且于第二周邊區(qū)202內(nèi)將第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段 111彼此重迭設(shè)置。換言之，相較于第三較佳實(shí)施例，第四較佳實(shí)施例有效地利用基板200 的第二周邊區(qū)202內(nèi)的面積。請參考圖9與圖10，圖9與圖10為本實(shí)用新型第五較佳實(shí)施例的具有修補(bǔ)檢測結(jié) 構(gòu)的顯示裝置300的示意圖，其中沿著圖9的A-A’線、B-B’線、與C-C’線的各剖面結(jié)構(gòu)示 意圖皆如圖10所繪示。如圖9與圖10所示，第五較佳實(shí)施例與第四較佳實(shí)施例的主要差 異在于，第五較佳實(shí)施例的第二修補(bǔ)線段221與第二短路線段121另外于第二周邊區(qū)202 內(nèi)彼此重迭。其中，第二短路線段121被第二修補(bǔ)線段221覆蓋而未標(biāo)示于圖9中。再者， 如沿著圖9的C-C’線的剖面結(jié)構(gòu)示意圖(圖10)所示，第二修補(bǔ)線段221與第二短路線段 121另外于第二周邊區(qū)202與源極驅(qū)動(dòng)晶片40之間的區(qū)域內(nèi)彼此重迭。據(jù)此，本實(shí)用新型 的第五較佳實(shí)施例不但于第二周邊區(qū)202內(nèi)將第一修補(bǔ)線段211與第一短路線段111彼此 重迭設(shè)置，并且在第二周邊區(qū)202內(nèi)將第二修補(bǔ)線段221與第二短路線段121彼此重迭設(shè) 置。換言之，相較于第四較佳實(shí)施例，第五較佳實(shí)施例更進(jìn)一步地有效利用基板200的第二 周邊區(qū)202內(nèi)的面積。綜上所述，本實(shí)用新型的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，可利用第一短路桿的第 一短路線段電性連接至第一修補(bǔ)線，達(dá)到合并第一修補(bǔ)線與第一短路桿的效果，進(jìn)而減少 走線的數(shù)目。再者，第一短路線段可以設(shè)置于第一周邊區(qū)內(nèi)，亦可另外設(shè)置于第二周邊區(qū) 內(nèi)。或者，本實(shí)用新型的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置可利用第一修補(bǔ)線的第一修補(bǔ)線段 與第一短路桿的第一短路線段彼此重迭，使第一修補(bǔ)線段與第一短路線段共用基板的同一 區(qū)域，以有效利用基板上的面積。同樣地，第一修補(bǔ)線段與第一短路線段可以于第一周邊區(qū)內(nèi)彼此重迭，亦可另外于第二周邊區(qū)內(nèi)彼此重迭。此外，由于走線數(shù)目的減少，可增加第一 修補(bǔ)線和第二修補(bǔ)線的寬度，進(jìn)而達(dá)到降低第一修補(bǔ)線和第二修補(bǔ)線的電阻值的效果，以 利修補(bǔ)工作的進(jìn)行。因此，本實(shí)用新型可解決已知技術(shù)中修補(bǔ)線空間不足與電阻值過大的 問題，且不會額外增加任何光罩制作成本。 以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，凡依本實(shí)用新型權(quán)利要求范圍所做的均 等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實(shí)用新型的涵蓋范圍。
權(quán)利要求一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于包括一基板；一畫素陣列，設(shè)置于所述基板上，該畫素陣列包括多條資料線與多條柵極線；一第一短路桿，設(shè)置于所述基板上，其中該第一短路桿連接所述柵極線，用以檢測所述柵極線，且該第一短路桿具有一第一短路線段；以及一第一修補(bǔ)線，設(shè)置于所述基板上，用以修補(bǔ)至少一資料線，并且所述第一短路桿的第一短路線段電性連接至該第一修補(bǔ)線。
2.如權(quán)利要求1所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于在所述畫素陣列 外圍的基板上定義有一第一周邊區(qū)與一第二周邊區(qū)，該第一周邊區(qū)平行于所述柵極線，而 該第二周邊區(qū)平行所述資料線，并且所述第一短路線段設(shè)置于所述第一周邊區(qū)內(nèi)。
3.如權(quán)利要求2所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于所述第一短路線 段另外設(shè)置于所述第二周邊區(qū)內(nèi)。
4.如權(quán)利要求2所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于另包括一第二短 路桿與一第二修補(bǔ)線，設(shè)置于所述基板上，其中該第二短路桿具有一第二短路線段，而該第 二短路桿的第二短路線段電性連接至該第二修補(bǔ)線，并且所述第二短路線段設(shè)置于所述第 一周邊區(qū)內(nèi)。
5.如權(quán)利要求4所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于所述第二短路線 段另外設(shè)置于所述第二周邊區(qū)內(nèi)。
6.一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于包括一基板；一畫素陣列，設(shè)置于所述基板上，該畫素陣列包括多條資料線與多條柵極線；一第一短路桿，設(shè)置于所述基板上，該第一短路桿連接所述柵極線，用以檢測所述柵極 線，其中該第一短路桿具有一第一短路線段，且該第一短路線段沿一第一方向設(shè)置；一第一修補(bǔ)線，設(shè)置于所述基板上，用以修補(bǔ)至少一所述資料線，其中該第一修補(bǔ)線具 有一第一修補(bǔ)線段，該第一修補(bǔ)線段沿所述第一方向設(shè)置，并且該第一修補(bǔ)線段與所述第 一短路線段彼此重迭；以及一絕緣層，設(shè)置于所述第一修補(bǔ)線段與第一短路線段之間。
7.如權(quán)利要求6所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于所述畫素陣列外 圍的所述基板上定義有一第一周邊區(qū)與一第二周邊區(qū)，所述第一周邊區(qū)平行于所述柵極 線，而該第二周邊區(qū)且平行所述資料線，并且所述第一修補(bǔ)線段與第一短路線段于所述第 一周邊區(qū)內(nèi)彼此重迭。
8.如權(quán)利要求7所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于所述第一修補(bǔ)線 段與第一短路線段另外于所述第二周邊區(qū)內(nèi)彼此重迭。
9.如權(quán)利要求7所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于另包括一第二短 路桿與一第二修補(bǔ)線，設(shè)置于所述基板上，其中所述第二短路桿具有一第二短路線段，所述 第一短路線段沿所述第一方向設(shè)置，而所述第二修補(bǔ)線具有一第二修補(bǔ)線段，該第二修補(bǔ) 線段沿所述第一方向設(shè)置，并且該第二修補(bǔ)線段與所述第二短路線段于所述第一周邊區(qū)內(nèi) 彼此重迭。
10.如權(quán)利要求9所述的具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其特征在于所述第二修補(bǔ)線 段與第二短路線段另外于所述第二周邊區(qū)內(nèi)彼此重迭。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其包括一基板、一畫素陣列、一第一短路桿、以及一第一修補(bǔ)線，畫素陣列設(shè)置于基板上，并且畫素陣列包括多條資料線與多條柵極。第一短路桿設(shè)置于基板上，用以檢測多條柵極線，并且第一短路桿具有一第一短路線段，第一修補(bǔ)線設(shè)置于基板上，用以修補(bǔ)至少一資料線，并且第一短路線段電性連接至第一修補(bǔ)線。此外，本實(shí)用新型提供另一種具有修補(bǔ)檢測結(jié)構(gòu)的顯示裝置，其中第一短路桿具有一第一短路線段，而第一修補(bǔ)線具有一第一修補(bǔ)線段，并且第一修補(bǔ)線段與第一短路線段彼此重迭。本實(shí)用新型可解決已知技術(shù)中修補(bǔ)線空間不足與電阻值過大的問題。
文檔編號G09G3/00GK201749652SQ20102029780
公開日2011年2月16日 申請日期2010年8月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月19日
發(fā)明者任祖德, 張凱婷, 許漢東 申請人:華映視訊(吳江)有限公司;中華映管股份有限公司