內(nèi)存的檢測方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機領(lǐng)域，具體來說，涉及一種內(nèi)存的檢測方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的房展，網(wǎng)絡(luò)中所需檢測與處理的信息量越來越大，因此，使用大容量數(shù)據(jù)的內(nèi)存已成為必然趨勢。在網(wǎng)絡(luò)安全領(lǐng)域，由于網(wǎng)絡(luò)安全設(shè)備對數(shù)據(jù)內(nèi)容的敏感性，因此，內(nèi)存芯片工作的正常與否直接影響著數(shù)據(jù)后續(xù)的檢測與處理，也就是說，目前對于內(nèi)存的檢測顯得十分必要和緊迫。
[0003]而對于內(nèi)存所出現(xiàn)的錯誤來說，根據(jù)錯誤產(chǎn)生的原因可分為硬錯誤和軟錯誤，其中，硬錯誤是由硬件的損害或缺陷所引起的，因此硬錯誤所引起的數(shù)據(jù)不正確也是無法糾正的；而對于軟錯誤來說，其是隨機出現(xiàn)的，例如在內(nèi)存附近突然出現(xiàn)電子干擾等干擾因素時，就很容易造成內(nèi)存軟錯誤的發(fā)生，而這類錯誤就需要內(nèi)存的實時校驗來檢測。
[0004]而目前常用的內(nèi)存校驗方法可包括內(nèi)存奇偶校驗與內(nèi)存錯誤檢查和糾正(ECC)校驗。
[0005]其中，對于內(nèi)存奇偶校驗來說，其主要是通過在原來數(shù)據(jù)位的基礎(chǔ)上增加一個數(shù)據(jù)位的方式來檢查當前8為數(shù)據(jù)的正確性，但隨著數(shù)據(jù)位的增加，用來檢驗的數(shù)據(jù)位也成倍增加，因此當數(shù)據(jù)量非常大時，該校驗算法所占用的資源就會非常多，而當出現(xiàn)校驗錯誤時，系統(tǒng)就會中斷，甚至?xí)?dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。
[0006]而對于ECC校驗來說，其也是通過在原來的數(shù)據(jù)位上外加校驗為來實現(xiàn)的，雖然其通過每次只增加一位校驗位的方式克服了奇偶校驗的數(shù)據(jù)位成倍增加所帶來的問題，但是，帶ECC校驗的內(nèi)存需要進行復(fù)雜的設(shè)置，并且，其在校驗過程中需要主板的支持，并且，還需要在基本輸入輸出系統(tǒng)(B1S)中進行相應(yīng)的設(shè)置，那么在使用ECC校驗內(nèi)存的過程中，就會對系統(tǒng)的性能造成很大的影響，而這對于需要高速處理數(shù)據(jù)的網(wǎng)絡(luò)安全設(shè)備則是完全不可取的；此外，帶ECC校驗的內(nèi)存，其在價格上也并不占優(yōu)勢，比普通的內(nèi)存要昂貴的多，顯然，這并不符合企業(yè)級的生產(chǎn)。
[0007]針對相關(guān)技術(shù)中在對內(nèi)存進行校驗時影響系統(tǒng)的性能的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]針對相關(guān)技術(shù)中在對內(nèi)存進行校驗時存在影響系統(tǒng)性能的問題，本發(fā)明提出一種內(nèi)存的檢測方法和裝置，能夠在旁路模式下對內(nèi)存的工作情況進行實時的檢測，避免了內(nèi)存檢測對系統(tǒng)的性能造成影響。
[0009]本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種內(nèi)存的檢測方法。
[0011]該檢測方法包括:
[0012]在旁路模式下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸入內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第一數(shù)據(jù)，并通過預(yù)定位數(shù)的循環(huán)冗余校驗碼(CRC)的校驗算法對提取的第一數(shù)據(jù)進行計算，得到第一校驗碼；
[0013]在旁路模式下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸出內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第二數(shù)據(jù)，并通過預(yù)定位數(shù)的CRC校驗算法對提取的數(shù)據(jù)進行計算，得到第二校驗碼；
[0014]將第一校驗碼和第二校驗碼進行對比，根據(jù)對比結(jié)果確定內(nèi)存的工作情況。
[0015]其中，在接收到數(shù)據(jù)輸入內(nèi)存的信號的情況下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸入內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第一數(shù)據(jù)。
[0016]另外，在將第一校驗碼和第二校驗碼進行對比，并根據(jù)對比結(jié)果來確定內(nèi)存的工作情況時，可在對比結(jié)果為第一校驗碼和第二校驗碼不同的情況下，紀錄一次內(nèi)存異常；并判斷內(nèi)存異常的次數(shù)是否達到預(yù)定的閾值；在內(nèi)存異常的次數(shù)達到預(yù)先設(shè)定的閾值的情況下，確定內(nèi)存工作異常。
[0017]此外，在對內(nèi)存進行檢測時，可在預(yù)定的時間內(nèi)對內(nèi)存進行檢測。
[0018]此外，該檢測方法進一步包括:
[0019]根據(jù)內(nèi)存所在系統(tǒng)的性能和/或內(nèi)存檢測精度要求，確定CRC校驗算法的位數(shù)、以及提取規(guī)則。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種內(nèi)存的檢測裝置。
[0021]該檢測裝置包括:
[0022]第一計算模塊，用于在旁路模式下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸入內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第一數(shù)據(jù)，并通過預(yù)定位數(shù)的CRC校驗算法對提取的第一數(shù)據(jù)進行計算，得到第一校驗碼；
[0023]第二計算模塊，用于在旁路模式下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸出內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第二數(shù)據(jù)，并通過預(yù)定位數(shù)的CRC校驗算法對提取的數(shù)據(jù)進行計算，得到第二校驗碼；
[0024]分析模塊，用于將第一校驗碼和第二校驗碼進行對比，根據(jù)對比結(jié)果確定內(nèi)存的工作情況。
[0025]其中，第一計算模塊可包括提取模塊，用于在旁路模式、且接收到數(shù)據(jù)輸入內(nèi)存的信號的情況下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸入內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第一數(shù)據(jù)。
[0026]此外，分析模塊可包括:
[0027]記錄模塊，用于在對比結(jié)果為第一校驗碼和第二校驗碼不同的情況下，紀錄一次內(nèi)存異常；
[0028]判斷模塊，用于判斷內(nèi)存異常的次數(shù)是否達到預(yù)定的閾值；
[0029]分析子模塊，用于在內(nèi)存異常的次數(shù)達到預(yù)先設(shè)定的閾值的情況下，確定內(nèi)存工作異常。
[0030]另外，該檢測裝置用于在預(yù)定的時間內(nèi)對內(nèi)存進行檢測。
[0031]此外，該檢測裝置進一步包括:
[0032]確定模塊，用于根據(jù)內(nèi)存所在系統(tǒng)的性能和/或內(nèi)存檢測精度要求，確定CRC校驗算法的位數(shù)、以及提取規(guī)則。
[0033]本發(fā)明通過在旁路模式下對內(nèi)存進行實時的檢測，能夠避免內(nèi)存檢測過程中對主干線上的數(shù)據(jù)處理造成影響，且不影響系統(tǒng)性能；還通過對輸入和輸出的同一數(shù)據(jù)進行相同的校驗處理，增加內(nèi)存檢測的精準度，并及時的發(fā)現(xiàn)內(nèi)存中存在的問題。
【附圖說明】
[0034]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0035]圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的內(nèi)存的校驗方法的流程圖；
[0036]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的報文數(shù)據(jù)的處理流程圖；
[0037]圖3是根據(jù)本發(fā)明一具體實施例的內(nèi)存的校驗方法的流程圖；
[0038]圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的內(nèi)存的校驗裝置的框圖。
【具體實施方式】
[0039]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0040]根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種內(nèi)存的檢測方法。
[0041]如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明實施例的檢測方法包括:
[0042]步驟S101，在旁路模式下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸入內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第一數(shù)據(jù)，并通過預(yù)定位數(shù)的CRC校驗算法對提取的第一數(shù)據(jù)進行計算，得到第一校驗碼；
[0043]步驟S103，在旁路模式下，根據(jù)預(yù)定的提取規(guī)則從即將輸出內(nèi)存的數(shù)據(jù)中提取第二數(shù)據(jù)，并通過預(yù)定位數(shù)的CRC校驗算法對提取的數(shù)據(jù)進行計算，得到第二校驗碼；
[0044]步驟S105，將第一校驗碼和第二校驗碼進行對比，根據(jù)對比結(jié)果確定內(nèi)存的工作情況。<