專利名稱：內(nèi)存檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)內(nèi)存檢測(cè)技術(shù)，具體涉及一種快速、高效、可靠的內(nèi)存檢測(cè)算法，尤其涉及可用于通訊領(lǐng)域的嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存檢測(cè)方法。
本發(fā)明上述技術(shù)問(wèn)題這樣解決，構(gòu)造一種內(nèi)存檢測(cè)方法，至少進(jìn)行地址線走1檢測(cè)、地址線走0檢測(cè)、數(shù)據(jù)線走1檢測(cè)和數(shù)據(jù)線走0檢測(cè)中的一種或一種以上的檢測(cè)。
其中，所述地址線走1檢測(cè)包括以下步驟a1)在給定地址范圍內(nèi)，逐個(gè)向其中所有一個(gè)地址位為1、其余地址位為0的內(nèi)存單元，寫入該地址值；a2)寫完后，對(duì)上述內(nèi)存單元逐個(gè)回讀；a3)將回讀數(shù)值與寫入數(shù)值進(jìn)行比較，如果有回讀數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則表示存在地址線連接錯(cuò)誤。
其中，所述地址線走0檢測(cè)包括以下步驟b1)在給定地址范圍內(nèi)，逐個(gè)向其中所有一個(gè)地址位為0、其余地址位為1的內(nèi)存單元，寫入該地址值；b2)寫完后，逐個(gè)回讀；b3)將讀回?cái)?shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果有讀出數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則表示存在地址線連接錯(cuò)誤。
其中，所述數(shù)據(jù)線走1檢測(cè)包括以下步驟c1)選擇一個(gè)地址；c2)對(duì)所有一位數(shù)據(jù)線為1、其余數(shù)據(jù)線為0的數(shù)據(jù)，逐個(gè)執(zhí)行步驟c3)-c5)；c3)將當(dāng)前數(shù)據(jù)寫入所選內(nèi)存單元；c4)從所選內(nèi)存單元回讀數(shù)據(jù)；c5)將回讀數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果讀出數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則斷定存在數(shù)據(jù)線連接錯(cuò)誤。
其中，所述數(shù)據(jù)線走0檢測(cè)包括以下步驟d1)選擇一個(gè)地址；d2)對(duì)所有一位數(shù)據(jù)線為0、其余數(shù)據(jù)線為1的數(shù)據(jù)，逐個(gè)執(zhí)行步驟d3)-d5)；d3)將當(dāng)前數(shù)據(jù)寫入所選內(nèi)存單元；d4)從所選內(nèi)存單元回讀數(shù)據(jù)；d5)將回讀數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果讀出數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則斷定存在數(shù)據(jù)線連接錯(cuò)誤。
實(shí)施本發(fā)明提供的內(nèi)存檢測(cè)方法，可以迅速完全地確定內(nèi)存地址線、數(shù)據(jù)線方面有無(wú)故障即確定其正確和有效性，本發(fā)明的內(nèi)存檢測(cè)方法能夠檢測(cè)出的故障問(wèn)題包括地址線恒0、恒1、短路、數(shù)據(jù)線恒0、恒1及短路。同時(shí)，本發(fā)明方法有很高的檢測(cè)效率。例如，對(duì)前面的16位地址線16位數(shù)據(jù)線的情況，只需要寫讀內(nèi)存16*4＝64次。如對(duì)2M(2^21)，32位內(nèi)存，只需要寫讀內(nèi)存((21-1)*2+32*2)＝104次。


圖1是本發(fā)明方法中地址線走1檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖2是本發(fā)明方法中地址線走0檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖3是本發(fā)明方法中數(shù)據(jù)線走1檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖4是本發(fā)明方法中數(shù)據(jù)線走0檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖5是利用本發(fā)明方法四個(gè)部分進(jìn)行內(nèi)存中數(shù)據(jù)線走0檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)流程圖。
對(duì)一個(gè)地址，通常取測(cè)試起始地址，向該內(nèi)存單元寫數(shù)據(jù)，使一位數(shù)據(jù)線為0，其余為1。每寫一個(gè)值，回讀，比較，如果讀出值與寫入值不一樣，則表示存在數(shù)據(jù)線連接錯(cuò)誤。
下面詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明方法的上述四個(gè)部分是如何檢測(cè)出地址線和數(shù)據(jù)線的錯(cuò)誤的。為簡(jiǎn)單起見，假設(shè)一個(gè)芯片，16位數(shù)據(jù)線D0-D15，16位地址線A0-A15。作雙字節(jié)尋址時(shí)，A0始終為0，可變地址線A1-A15。則進(jìn)行數(shù)據(jù)線走1時(shí)，16個(gè)地址為0x0000，0x0002，0x0004，0x0008，0x0010，0x0020，0x0040，0x0080，0x0100，0x0200，0x0400，0x0800，0x1000，0x2000，0x4000，0x8000。進(jìn)行數(shù)據(jù)線走0時(shí)，16個(gè)地址為0xfffe，0xfffc，0xfffa，0xfff6，0xffee，0xffde，0xffbe，0xff7e，0xfefe，0xfdfe，0xfbfe，0xf7fe，0xeffe，0xdffe，0xbffe，0x7ffe。如果存在地址線恒0的現(xiàn)象，例如A7為恒0，則進(jìn)行數(shù)據(jù)線走1時(shí)，寫數(shù)據(jù)單元0x0080，其實(shí)是寫到了0x0000，即地址0x0000的值變成了0x0080，與原先寫入值0x0000不符合，發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。進(jìn)行數(shù)據(jù)線走0時(shí)，讀數(shù)據(jù)單元0xfffe其實(shí)讀出的是0xff7e的值，與原先寫入值0xfffe不符合，發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。如果存在地址線恒1的情況也一樣。如果是短路的情況，例如A7和A9短路，則走1時(shí)，地址0x0200與0x0080回讀出來(lái)的值是一樣的，走0時(shí)，地址0xff7e與0xfdfe回讀出來(lái)的值是一樣的。這樣，就可以判斷出錯(cuò)誤。同時(shí)采用走1和走0，不僅可以判斷出有沒(méi)有錯(cuò)誤，而且可以判斷出錯(cuò)誤的類型。
對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行走1與走0測(cè)試的原理與前面的寫0x55AA是一致的，只不過(guò)采用走1和走0可以檢測(cè)出所有可能的情況，如恒0，恒1和短路。在走1時(shí)，每次對(duì)一位數(shù)據(jù)線置1，其余位置0，遍歷所有數(shù)據(jù)線。比如上面的例子，16位數(shù)據(jù)線，需要寫的數(shù)據(jù)為0x0001，0x0002，0x0004，0x0008，0x0010，0x0020，0x0040，0x0080，0x0100，0x0200，0x0400，0x0800，0x1000，0x2000，0x4000，0x8000。在走0時(shí)，每次對(duì)一位數(shù)據(jù)線置0，其余位置1，遍歷所有數(shù)據(jù)線。比如上面的例子，16位數(shù)據(jù)線，需要寫的數(shù)據(jù)為0xfffe，0xfffd，0xfffb，0xfff7，0xffef，0xffdf，0xffbf，0xff7f，0xfeff，0xfdff，0xfbff，0xf7ff，0xefff，0xdfff，0xbfff，0x7fff。如果存在短路如D7和D9短路則走1時(shí)寫0x0080和0x0200時(shí)讀回的值與寫入的值就不一樣了，走0時(shí)寫0xff7f和0xfdff時(shí)讀出與寫入的時(shí)就不一樣了，從而可以判斷出錯(cuò)誤。如果存在恒0或恒1的情況也一樣。同時(shí)進(jìn)行走1和走0測(cè)試不僅可以查出錯(cuò)誤，還能知道錯(cuò)誤類型。
從上可見，對(duì)地址線和數(shù)據(jù)線的寫-讀-比較的過(guò)程是不一樣的。對(duì)地址線是先全部寫完再回讀比較，對(duì)數(shù)據(jù)線則是寫一個(gè)值，回讀一個(gè)值。這一點(diǎn)需要注意。
圖1-5中詳細(xì)說(shuō)明了本發(fā)明各個(gè)部分的實(shí)現(xiàn)流程以及綜合各個(gè)方面進(jìn)行內(nèi)存檢測(cè)的過(guò)程。
如圖1所示，進(jìn)行地址線走1檢測(cè)，首先要根據(jù)檢測(cè)內(nèi)存的大小和數(shù)據(jù)寬度，確定有效地址線位Ax-＞Ay，向基址地址數(shù)據(jù)單元寫地址值，從最低地址Ax開始走1，Ai＝Ax；設(shè)置地址Ai為高、其余地址位為低電平，即Addr＝基地址+(1(<Ai>；在該地址指向的內(nèi)存單元寫地址值即，*Addr＝Addr；將地址線往高移位，即Ai＝Ai+1；判斷超過(guò)要檢測(cè)的最高地址嗎，如不是，則進(jìn)行下一個(gè)地址的檢測(cè)，如是，則讀基地址對(duì)應(yīng)內(nèi)存的數(shù)值，如不等于地址值，報(bào)告錯(cuò)誤。具體包括以下步驟從最低地址Ax開始走1，Ai＝Ax，設(shè)置地址Ai為高，其余地址為低即Addr＝基地址+(1<<Ai>；從該地址指向的內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)，即Data＝*Addr，如果讀出數(shù)據(jù)不等于地址值，即如果Data<>Addr，則報(bào)告錯(cuò)誤，否則地址線向高移位，即Ai＝Ai+1，判斷是否超過(guò)要檢測(cè)的最高地址，如不是，則返回其余單元的數(shù)據(jù)讀出和比較，如是則結(jié)束檢測(cè)。圖2-5的進(jìn)一步說(shuō)明此處省略。
本發(fā)明的內(nèi)存檢測(cè)方法可以用于各種需要進(jìn)行內(nèi)存檢測(cè)的場(chǎng)合，尤其適用于嵌入式系統(tǒng)中外圍存儲(chǔ)芯片的檢測(cè)，檢測(cè)的存儲(chǔ)芯片類型包括SSRAM，SDRAM，F(xiàn)LASH等。當(dāng)然對(duì)各種不同的芯片其讀寫過(guò)程是不一樣的，這需要使用者自己編寫不同的讀寫函數(shù)。對(duì)于不同的存儲(chǔ)芯片，需要注意其特性。
在一個(gè)實(shí)驗(yàn)性的以太網(wǎng)交換機(jī)的開發(fā)過(guò)程中，交換芯片需要使用SSRAM作為以太網(wǎng)地址的存儲(chǔ)表。在調(diào)試過(guò)程中，實(shí)驗(yàn)性地使用以上檢測(cè)方法，即編寫了一個(gè)內(nèi)存檢測(cè)程序來(lái)檢測(cè)外接SSRAM的可用性。該段內(nèi)存被映射到PCI的存儲(chǔ)空間，通過(guò)PCI的輸入輸出函數(shù)進(jìn)行讀寫?；刂窞?x81200000，地址空間2M，在檢測(cè)過(guò)程中，報(bào)告錯(cuò)誤address walking 1…error found at 0x81200000 expected0x81200000，got 0x81300000；address walking 0…error found at 0x813ffffc expected 0x813ffffc，got 0x812ffffc；分析錯(cuò)誤報(bào)告的內(nèi)容，發(fā)現(xiàn)是地址線A20和A21短路，排除后，再次檢測(cè)，不再報(bào)告錯(cuò)誤，內(nèi)存使用正常。從此可以看出，本發(fā)明的內(nèi)存檢測(cè)方法是快速高效的，對(duì)于迅速的檢測(cè)和排除內(nèi)存故障有很大的幫助。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)存檢測(cè)方法，其特征在于，至少進(jìn)行地址線走1檢測(cè)、地址線走0檢測(cè)、數(shù)據(jù)線走1檢測(cè)和數(shù)據(jù)線走0檢測(cè)中的一種檢測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述內(nèi)存檢測(cè)方法，其特征在于，所述地址線走1檢測(cè)包括以下步驟a1)在給定地址范圍內(nèi)，逐個(gè)向其中所有一個(gè)地址位為1、其余地址位為0的內(nèi)存單元，寫入該地址值；a2)寫完后，對(duì)上述內(nèi)存單元逐個(gè)回讀；a3)將回讀數(shù)值與寫入數(shù)值進(jìn)行比較，如果有回讀數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則表示存在地址線連接錯(cuò)誤。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述內(nèi)存檢測(cè)方法，其特征在于，所述地址線走0檢測(cè)包括以下步驟b1)在給定地址范圍內(nèi)，逐個(gè)向其中所有一個(gè)地址位為0、其余地址位為1的內(nèi)存單元，寫入該地址值；b2)寫完后，逐個(gè)回讀；b3)將讀回?cái)?shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果有讀出數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則表示存在地址線連接錯(cuò)誤。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述內(nèi)存檢測(cè)方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線走1檢測(cè)包括以下步驟c1)選擇一個(gè)地址；c2)對(duì)所有一位數(shù)據(jù)線為1、其余數(shù)據(jù)線為0的數(shù)據(jù)，逐個(gè)執(zhí)行步驟c3)-c5)；c3)將當(dāng)前數(shù)據(jù)寫入所選內(nèi)存單元；c4)從所選內(nèi)存單元回讀數(shù)據(jù)；c5)將回讀數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果讀出數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則斷定存在數(shù)據(jù)線連接錯(cuò)誤。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述內(nèi)存檢測(cè)方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線走0檢測(cè)包括以下d1)選擇一個(gè)地址；d2)對(duì)所有一位數(shù)據(jù)線為0、其余數(shù)據(jù)線為1的數(shù)據(jù)，逐個(gè)執(zhí)行步驟d3)-d5)；d3)將當(dāng)前數(shù)據(jù)寫入所選內(nèi)存單元；d4)從所選內(nèi)存單元回讀數(shù)據(jù)；d5)將回讀數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果讀出數(shù)值與寫入數(shù)值不一致，則斷定存在數(shù)據(jù)線連接錯(cuò)誤。
全文摘要
一種內(nèi)存檢測(cè)方法，包括地址線走1和走0檢測(cè)、數(shù)據(jù)線走1和走0檢測(cè)，其中，地址線走1(0)檢測(cè)包括在給定范圍內(nèi)，逐個(gè)向其中所有一個(gè)地址位為1(0)、其余地址位為0(1)單元寫入地址值；寫完后，逐個(gè)回讀；將回讀數(shù)值與寫入數(shù)值進(jìn)行比較，如有不一致，則報(bào)告錯(cuò)誤；數(shù)據(jù)線走1(0)檢測(cè)包括選擇一個(gè)地址；對(duì)所有一位數(shù)據(jù)線為1(0)、其余數(shù)據(jù)線為0(1)的數(shù)據(jù)，逐個(gè)將當(dāng)前數(shù)據(jù)寫入所選單元并回讀，將回讀數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)比較，如有不一致報(bào)告出錯(cuò)。這種內(nèi)存檢測(cè)方法，可以迅速完全地確定內(nèi)存地址線、數(shù)據(jù)線方面有無(wú)故障即確定其正確和有效性，即能夠檢測(cè)出地址線恒0、恒1、短路、數(shù)據(jù)線恒0、恒1及短路，同時(shí)，有很高的效率。
文檔編號(hào)G06F11/18GK1479207SQ0213675
公開日2004年3月3日 申請(qǐng)日期2002年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月29日
發(fā)明者盧春鵬 申請(qǐng)人:深圳市中興通訊股份有限公司