一種工件與治具之間的電測對位方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種印制線路板電性測試技術領域，具體地說涉及一種工件與治具之間的電測對位方法及系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]目前普通PCB線路板在測試時為了降低測試成本并提高測試效率，通常會使用專用型測試機來進行電測。此測試機的測試原理是先根據(jù)PCB線路板的設計資料制作出測試治具，根據(jù)PCB線路板的焊盤位置在治具上分布多個測試探針，此探針是與PCB線路板的焊盤一一對應的，即測試時將工件(被測PCB線路板)固定在治具上，治具的每根測試探針接觸PCB線路板上對應的那個焊盤，測試機通過施加定電流或定電壓或高頻和信號來對工件的電氣性能進行測試。
[0003]現(xiàn)有的工件在治具上的定位方式是在PCB線路板上鉆出一些的定位孔，并在制作治具時根據(jù)這些孔的位置也增加對應的定位孔，利用機械PIN、光學定位再輔以透明材料(藍膠)結(jié)合人工目視等手段，從而實現(xiàn)工件與治具的定位。但是，在PCB線路板上鉆制定位孔時，由于受限于目前鉆孔的制作能力，精度無法做得很高，因此光學定位時會存在偏移。還有，若被測PCB線路板存在變形等問題時，僅利用工件與治具上的定位孔進行光學定位時也會存在偏移。人工目視藍膠的方式對操作人員技能要求很高，調(diào)試時間較長。所以，現(xiàn)有技術中經(jīng)常會因為工件與治具對位偏移造成測試機測試不到焊盤與調(diào)試時間過長的情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為此，本發(fā)明所要解決的技術問題在于克服現(xiàn)有技術中工件與治具對位不準確、精度低、對操作人員技術要求高、調(diào)試時間過長的問題，從而提出一種高精度的工件與治具之間的電測對位方法及系統(tǒng)。
[0005]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測對位方法，包括以下步驟:
[0006]對電測合格工件與所述治具進行初始對準；
[0007]獲取所述治具的初始位置；
[0008]移動所述治具；
[0009]對所述電測合格工件進行電測；
[0010]獲取電測合格的位置；
[0011]計算所述電測合格的位置與所述初始位置之間的偏移量；
[0012]當對被測工件進行電測時，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處。
[0013]優(yōu)選地，所述獲取電測合格的位置的步驟包括:
[0014]當電測合格時，將當前位置作為電測合格位置；當電測不合格時，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進行電測，直至電測合格；或者
[0015]對所有位置進行電測以獲得所有電測合格位置，選取與所述初始位置之間的偏移量最小的電測合格位置。
[0016]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測對位方法，包括以下步驟:
[0017]對電測合格工件與所述治具進行初始對準；
[0018]獲取所述治具的初始位置；
[0019]移動所述治具；
[0020]對所述電測合格工件進行電測；
[0021]獲取電測的多個連續(xù)合格位置，在多個連續(xù)合格位置中選出電測合格位置，所述多個連續(xù)合格位置指的是按照移動順序連續(xù)多個移動位置處進行電測均合格的位置；
[0022]計算所述電測合格位置與所述初始位置之間的偏移量；
[0023]當對被測工件進行電測時，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處。
[0024]優(yōu)選地，所述獲取電測的多個連續(xù)合格位置，在多個連續(xù)合格位置中選出電測合格位置的步驟包括:
[0025]當電測合格時，記錄當前合格位置；當電測不合格時，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進行電測，直至電測合格，記錄當前合格位置；繼續(xù)將所述治具移至下一位置，并每移至一處進行電測，直至記錄到多個連續(xù)合格位置；選取多個連續(xù)合格位置的中間位置作為電測合格位置；或者
[0026]對所有位置進行電測以獲得所有位置處的電測結(jié)果，選取出多個電測結(jié)果中不良數(shù)并列最少的位置中的中間位置作為電測合格位置。
[0027]優(yōu)選地，所述治具的位置用治具上任意一個探針針尖在平面直角坐標系中的坐標(x，Y)來表示，所述平面直角坐標系定義為以治具上任意一個探針針尖為坐標原點、面向治具時水平向右方向為X軸正向和與X軸垂直向上方向為Υ軸正向；并且
[0028]所述治具的每兩個連續(xù)的移動位置之間的間隔用1和θ I來表示，其中乂工表不沿X軸的間隔量，乂工的符號為正表不正向間隔量，X工的符號為負表不負向間隔量；Υ工表不沿Υ軸的間隔量，符號為正表不正向間隔量，Υ工的符號為負表不負向間隔量；θ工表不圍繞所述治具的位置旋轉(zhuǎn)的角度，符號為正表示逆時針旋轉(zhuǎn)，Θ工的符號為負表示順時針旋轉(zhuǎn)。
[0029]優(yōu)選地，所述治具的每次移動中Χρ Υ#Ρ θ I的取值均不變；和/或
[0030]所述治具的每次移動中\(zhòng)、1和θ I的取值只有一個不為零，其他兩個均為零。
[0031]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測對位系統(tǒng)，包括治具和控制器；
[0032]所述控制器用于對電測合格工件與所述治具進行初始對準；獲取所述治具的初始位置；移動所述治具；對所述電測合格工件進行電測；獲取電測合格的位置；計算所述電測合格的位置與所述初始位置之間的偏移量；當對被測工件進行電測時，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處；
[0033]所述治具用于在所述控制器的控制下進行移動。
[0034]優(yōu)選地，所述獲取電測合格的位置的步驟包括:
[0035]當電測合格時，將當前位置作為電測合格位置；當電測不合格時，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進行電測，直至電測合格；或者
[0036]對所有位置進行電測以獲得所有電測合格位置，選取與所述初始位置之間的偏移量最小的電測合格位置。
[0037]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測對位系統(tǒng)，包括治具和控制器；
[0038]所述控制器用于對電測合格工件與所述治具進行初始對準；獲取所述治具的初始位置；移動所述治具；對所述電測合格工件進行電測；獲取電測的多個連續(xù)合格位置，在多個連續(xù)合格位置中選出電測合格位置，所述多個連續(xù)合格位置指的是按照移動順序連續(xù)多個移動位置處進行電測均合格的位置；計算所述電測合格位置與所述初始位置之間的偏移量；當對被測工件進行電測時，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處；
[0039]所述治具用于在所述控制器的控制下進行移動。
[0040]優(yōu)選地，所述獲取電測的多個連續(xù)合格位置，在多個連續(xù)合格位置中選出電測合格位置的步驟包括:
[0041]當電測合格時，記錄當前合格位置；當電測不合格時，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進行電測，直至電測合格，記錄當前合格位置；繼續(xù)將所述治具移至下一位置，并每移至一處進行電測，直至記錄到多個連續(xù)合格位置；選取多個連續(xù)合格位置的中間位置作為電測合格位置；或者
[0042]對所有位置進行電測以獲得所有位置處的電測結(jié)果，選取出多個電測結(jié)果中不良數(shù)并列最少的位置中的中間位置作為電測合格位置。
[0043]本發(fā)明的上述技術方案相比現(xiàn)有技術具有以下優(yōu)點:
[0044]本發(fā)明中通過對電測合格工件與治具進行初始對準后，控制治具進行移動，并通過獲取電測合格的位置，并計算電測合格的位置與初始位置之間的偏移量，即為被測工件在初始對準后還需移動的偏移量，通過控制被測工件在初始對準后再移動該偏移量，可實現(xiàn)被測工件與治具之間的精確對準，修正偏移，提高工件與治具之間的對準精度，從而可以解決因工件變形等一些原因造成的光學對位不精確而使得對工件的電測結(jié)果不準確的問題。
[0045]本發(fā)明中通過在每移至一處時進