本申請涉及一種拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置。

背景技術：

目前，拉彎矯直機組上的檢測裝置通常沒有設置檢測裝置，來實時檢測料帶的表面二維、三維瑕疵及對象尺寸測量，因此，在現有技術中，拉彎矯直機上的料帶的檢測，通常需要另外增加檢測裝置進行檢測，使工序變得復雜，且浪費時間；此外在原機組上增加檢測裝置將帶來兩方面的技術問題：1)當帶料厚度較薄是，由于主體機組張力較大，張力輥輥面出現的問題、輥面附著外界介質都會反應到檢測系統(tǒng)的檢測數據中，數據量大，直接影響檢測效果；2)張力輥換輥、張力輥磨輥所帶來的檢測位置偏移嚴重時，將直接導致檢測無法進行，需再次進行檢測角度調整、位置標定工作。

申請內容

為解決上述技術問題，本申請的目的是提供一種拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置。

本申請涉及一種拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置，所述的檢測裝置包括包角輥組，所述的包角輥組包括分別設置在料帶上表面和下表面的上輥和下輥，所述的料帶的上側設置有用于照明所述的料帶的上表面的上表面光源、用于對所述的料帶的上表面成像的上表面檢測相機，所述的料帶的下側設置有用于照明所述的料帶的下表面的下表面光源、用于所述的料帶的下表面成像的下表面檢測相機。檢測裝置包含包角輥組，料帶對輥面的正壓力合力僅用于維持料帶與輥面間不打滑，正壓力合力小，可避免輥面質量問題以及輥面附著外界介質對檢測系統(tǒng)及檢測數據的干擾，且輥面磨損小，使用壽命長，可避免如在張力輥上配置檢測裝置出現換輥、磨輥時出現檢測位置偏移，系統(tǒng)需要重新檢測調試及標定的問題。維護周期長，有利于系統(tǒng)不間斷工作。

優(yōu)選地，所述的檢測裝置還包括觸發(fā)裝置，所述的觸發(fā)裝置包括安裝在所述的上輥或下輥的輥軸上的抱軸臂，所述的抱軸臂包括抱軸臂本體和與所述的抱軸臂本體可拆卸連接的抱軸塊，所述的抱軸臂本體與所述的抱軸塊之間形成供所述的上輥或下輥的輥軸穿過軸孔，所述的觸發(fā)裝置還包括與抱軸臂本體通過轉軸相轉動連接的擺臂、設置在所述的擺臂上的同步輪、與所述的同步輪連接的編碼器、與所述的編碼器信號連接的脈沖變頻分配器，所述的輥軸與所述的轉軸相互平行設置。

優(yōu)選地，所述的轉軸上還還設置有用于對所述的擺臂施壓的扭簧，所述的轉軸上還設置有用于調節(jié)扭簧壓力的壓力調節(jié)環(huán)。

優(yōu)選地，所述的脈沖變頻分配器包括與所述的編碼器信號連接的輸入端口和與多個負載連接的輸出端口，所述的編碼器用于根據所述的同步輪的轉動輸出脈沖信號，所述的脈沖變頻分配器用于根據接收到的編碼器的脈沖信號進行頻率轉換，并將轉換頻率的脈沖信號分配成多路信號分別發(fā)送至多個負載。

優(yōu)選地，所述的編碼器用于根據所述的料帶的運行速度控制所述的檢測相機的成像頻率。當檢測極限頻率與主體機組最高速度不能直接匹配時，可通過控制信號頻率轉換實現兩者之間的對應關系。

優(yōu)選地，所述的上表面光源和所述的下表面光源的線性光源。線性光源可消除光源發(fā)光點與具有反光特性被檢測對象出現的特點效應。

優(yōu)選地，所述的上輥、下輥、上表面檢測相機、下表面檢測相機、上表面光源和下表面光源被固定設置在一機架上，所述的檢測裝置還包括一升降機構，所述的機架設于所述的升降機構上。機架與主體機組相獨立，可有效避免主體機組振動等干擾因素的影響，并且便于整體安裝調試。

優(yōu)選地，所述的檢測裝置還包括用于驅動上輥或/和下輥上下移動的驅動裝置。驅動裝置能夠改變上輥與下輥之間的距離，用于厚度較大被測對象進行穿帶操作。

借由上述方案，本申請至少具有以下優(yōu)點：

本申請所述的拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置，在料帶的上表面和下表面分別設置了檢測組件，檢測組件包括用于照明的光源及用于拍攝圖片的相機，可以實時檢測料帶的表面缺陷，也可以同時檢測上下表面的缺陷。

上述說明僅是本申請技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本申請的技術手段，并可依照說明書的內容予以實施，以下以本申請的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。

附圖說明

圖1為本申請所述的一種拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置的側面結構示意圖；

圖2為本申請所述的一種集成式拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置的立體結構示意圖；

圖3為本申請所述的一種變頻觸發(fā)裝置的結構示意圖，

其中：1、料帶；21、上輥；22、下輥；3、編碼器；41、上表面光源；42、下表面光源；51、上表面檢測相機；52、下表面檢測相機；6、控制箱；61、信號采集裝置；7、脈沖變頻分配器；71、輸入端口；72、輸出端口；35、轉軸；31、同步輪；36、抱軸臂本體；37、抱軸塊；34、壓力調節(jié)環(huán)；33、扭簧；32、擺臂。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本申請的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本申請，但不用來限制本申請的范圍。

如圖1和2所示，本申請的涉及一種拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置，所述的檢測裝置包括包角輥組，所述的包角輥組包括分別設置在料帶1上表面和下表面的上輥21和下輥22，所述的料帶1的上側設置有用于照明所述的料帶1的上表面的上表面光源41、用于對所述的料帶1的上表面成像的上表面檢測相機51，所述的料帶1的下側設置有用于照明所述的料帶1的下表面的下表面光源42、用于所述的料帶1的下表面成像的下表面檢測相機52。檢測裝置包含包角輥組，料帶1對輥面的正壓力合力僅用于維持料帶1與輥面間不打滑，正壓力合力小，可避免輥面質量問題以及輥面附著外界介質對檢測系統(tǒng)及檢測數據的干擾，且輥面磨損小，使用壽命長，可避免如在張力輥上配置檢測裝置出現換輥、磨輥時出現檢測位置偏移，系統(tǒng)需要重新檢測調試及標定的問題。維護周期長，有利于系統(tǒng)不間斷工作。

所述的檢測裝置還包括觸發(fā)裝置，如圖2所示，所述的觸發(fā)裝置包括安裝在所述的上輥21或下輥22的輥軸上的抱軸臂，所述的抱軸臂包括抱軸臂本體36和與所述的抱軸臂本體36可拆卸連接的抱軸塊37，所述的抱軸臂本體36與所述的抱軸塊37之間形成供所述的上輥21或下輥22的輥軸穿過軸孔，所述的觸發(fā)裝置還包括與抱軸臂本體36通過轉軸35相轉動連接的擺臂32、設置在所述的擺臂32上的同步輪31、與所述的同步輪31連接的編碼器3、與所述的編碼器3信號連接的脈沖變頻分配器7，所述的輥軸與所述的轉軸35相互平行設置。所述的轉軸35上還還設置有用于對所述的擺臂32施壓的扭簧33，所述的轉軸35上還設置有用于調節(jié)扭簧33壓力的壓力調節(jié)環(huán)34。所述的脈沖變頻分配器7包括與所述的編碼器3信號連接的輸入端口71和與多個負載連接的輸出端口72，所述的編碼器3用于根據所述的同步輪31的轉動輸出脈沖信號，所述的脈沖變頻分配器7用于根據接收到的編碼器3的脈沖信號進行頻率轉換，并將轉換頻率的脈沖信號分配成多路信號分別發(fā)送至多個負載。

在一種實施方式中，所述的負載為檢測相機，所述的編碼器3用于根據所述的料帶1的運行速度控制所述的檢測相機的成像頻率。當檢測極限頻率與主體機組最高速度不能直接匹配時，可通過控制信號頻率轉換實現兩者之間的對應關系。所述的上表面光源41和所述的下表面光源42的線性光源。線性光源可消除光源發(fā)光點與具有反光特性被檢測對象出現的特點效應。所述的上輥21、下輥22、上表面檢測相機51、下表面檢測相機52、上表面光源41和下表面光源42被固定設置在一機架上，所述的檢測裝置還包括一升降機構，所述的機架設于所述的升降機構上。機架與主體機組相獨立，可有效避免主體機組振動等干擾因素的影響，并且便于整體安裝調試。所述的檢測裝置還包括用于驅動上輥21或/和下輥22上下移動的驅動裝置。驅動裝置能夠改變上輥21與下輥22之間的距離，用于厚度較大被測對象進行穿帶操作。所述的拉彎矯直機組帶料雙面檢測裝置還包括設置在機架一側的控制箱及設置在控制箱6上的信號采集裝置61。

本申請所述的一種拉彎矯直機組用的雙面檢測裝置，在料帶1的上表面和下表面分別設置了檢測組件，檢測組件包括用于照明的光源及用于拍攝圖片的相機，可以實時檢測料帶1的表面缺陷，也可以同時檢測上下表面的缺陷。

以上所述僅是本申請的優(yōu)選實施方式，并不用于限制本申請，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本申請技術原理的前提下，還可以做出若干改進和變型，這些改進和變型也應視為本申請的保護范圍。