1.一種高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置，包括原子氣體室（1）、偏振非均勻分布矢量光束光源（2）、光束偏轉(zhuǎn)掃描器(3)、探測(cè)光源（4）、光電探測(cè)器（6）、處理分析單元（7），其特征在于：所述原子氣體室（1）的底層（102）和頂層（101）設(shè)置反射膜，頂層（101）上方設(shè)有光電探測(cè)器（6），光電探測(cè)器（6）連接處理分析單元（7），所述原子氣體室（1）一側(cè)外設(shè)有偏振非均勻分布矢量光束光源（2）、光束偏轉(zhuǎn)掃描器(3)，探測(cè)光源（4）。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述原子氣體室（1）采用長(zhǎng)方體透明結(jié)構(gòu)，在原子氣體室（1）的底層（102）和頂層（103）設(shè)置的反射膜對(duì)偏振非均勻分布矢量光束光源（2）出射的偏振非均勻分布矢量光束反射率為97%；原子氣體室（1）內(nèi)測(cè)的底層（102）設(shè)置的反射膜對(duì)探測(cè)光源出射探測(cè)光束的反射率為97%，原子氣體室（1）內(nèi)測(cè)的頂層（101）設(shè)置的反射膜對(duì)探測(cè)光源出射探測(cè)光束的反射率值為80%-95%之間；在原子氣體室（1）內(nèi)測(cè)的側(cè)壁設(shè)置有增透膜。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述偏振非均勻分布矢量光源（2）出射光路上設(shè)置有光束偏轉(zhuǎn)掃描器（3），光束偏轉(zhuǎn)掃描器（3）為光譜分光鏡振鏡，對(duì)偏振非均勻分布矢量光源（2）出射光束的反射率為99%，對(duì)探測(cè)光源出射探測(cè)光束的透射率為99%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的偏振非均勻分布矢量光源（2）為徑向偏振圓偏振復(fù)合激光光源或方位角偏振圓偏振復(fù)合激光光源。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的光電探測(cè)器（6）為二維光電探測(cè)器，二維光電探測(cè)器為電荷耦合器件或互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體電傳感器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的原子氣體室（1）為堿金屬原子氣體室。
7.一種采用權(quán)利要求1-6任一所述高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其特征在于，其步驟為：1）偏振非均勻分布矢量光束光源（2）出射的偏振非均勻分布矢量光束經(jīng)過(guò)光束偏轉(zhuǎn)掃描器(3)光束傳播方向發(fā)生改變，從原子氣體室（1）側(cè)面入射實(shí)現(xiàn)多次反射動(dòng)態(tài)原子蒸氣泵浦；2）探測(cè)光源（4）出射探測(cè)光束從原子氣體室（1）側(cè)面入射，在原子氣體室（1）的底層（102）和頂層（101）發(fā)生多次反射，有部分探測(cè)光透射出頂層（101）發(fā)生透射形成探測(cè)光束陣列（5）；3）原子氣體室（1）的頂層（101）透射的探測(cè)光束陣列（5）經(jīng)過(guò)偏振分光鏡陣列的分光后，被光電探測(cè)器（6）接收，光電探測(cè)器（6）將陣列信號(hào)傳給信息處理分析單元（7）進(jìn)行分析；4）光束偏轉(zhuǎn)掃描器（3）實(shí)現(xiàn)偏振非均勻分布矢量光束泵浦路線掃描，重復(fù)步驟3），信息處理分析單元（7）對(duì)數(shù)據(jù)分析空間差異性的光電分布信息，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率磁場(chǎng)檢測(cè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)方法，其特征在于：所述步驟2)的具體方法為：探測(cè)光源（4）出射探測(cè)光束從原子氣體室（1）側(cè)面入射，在入射在原子氣體室（1）側(cè)面之前，光路經(jīng)過(guò)光束偏轉(zhuǎn)掃描器（2）的光譜分光鏡振鏡的光譜分光鏡光學(xué)作用面上；在光譜分光鏡光學(xué)作用面上，偏振非均勻分布矢量光束和探測(cè)光束的入射點(diǎn)重疊；探測(cè)光束在原子氣體室（1）的底層（102）和頂層(101)發(fā)生多次反射，每次經(jīng)過(guò)原子氣體室（1）的頂層（101）反射時(shí)，有部分探測(cè)光發(fā)生透射。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)方法，其特征在于：所述步驟3)的具體方法為：原子氣體室（1）的頂層（101）透射的探測(cè)光束陣列經(jīng)過(guò)偏振分光鏡陣列（5）的分光后，偏振分光鏡陣列（5）為等間距設(shè)立偏振分光鏡，間距與室探測(cè)光束在原子氣體頂層發(fā)生透射的透射點(diǎn)間距一致，每個(gè)透射點(diǎn)透射光束被相對(duì)應(yīng)的一片偏振分光鏡分光，在偏振分光鏡陣列（5）的每個(gè)偏振分光鏡兩側(cè)形成光束；偏振分光后的所有光束被光電探測(cè)器（6）接收，光電探測(cè)器（6）將陣列信號(hào)傳給信息處理分析單元（7）進(jìn)行分析。