本實用新型屬于電子工業(yè)應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種PCBA板的測試裝置。

背景技術(shù)：

PCBA板作為現(xiàn)代電子信息業(yè)的應(yīng)用產(chǎn)物，給人類科技進步和生活帶來了空前的便利。在現(xiàn)代化電子工業(yè)產(chǎn)品中，PCBA板朝著集成化、高密度、高精度、細孔徑、細導(dǎo)線、小間距、多層化、高速傳輸、質(zhì)量輕、板子薄和可靠性高的方向發(fā)展。

在一個小尺寸的PCBA中可布設(shè)幾十、幾百甚至上千個測試點，在PCBA板出廠前需要測量對各個測試點的電子元器件性能和電路的設(shè)計原理、性能，對這些測試點若由人工進行定點和尋找，繁瑣且混亂，并且測試時間長，極易出錯。同時，在測試過程中還需要多人進行協(xié)作才能完成，不僅耗時耗力，且重復(fù)性的機械勞動也加大了PCBA板的測試周期。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型為解決PCBA板測試測試點尋找和定位繁瑣問題，提出了一種PCBA板測試裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：

一種PCBA板的測試裝置，包括測試探針和固設(shè)于測試臺架中的測試工裝，所述測試工裝包括通過支柱連接的底座和蓋板，所述底座上固設(shè)有用于對PCBA板進行限位連接的螺紋桿；所述蓋板的中間密布有用于測試探針通過的探針通孔，所述測試探針的一端與測試線束連接、另一端穿過探針通孔后與固定在螺紋桿上的PCBA板的測試點相接觸而導(dǎo)通測試電路。

進一步方案，所述測試臺架包括臺架主體，所述臺架主體的底端設(shè)有用于固定測試工裝的封底板，臺架主體的頂端架設(shè)有十字交叉狀的支撐梁，位于支撐梁交匯處設(shè)有線束導(dǎo)向環(huán)；所述支撐梁的頂端開設(shè)有導(dǎo)向槽。

更進一步方案，所述支撐梁下方設(shè)有伸縮式掛鉤，所述掛鉤的頂端卡在所述導(dǎo)向槽內(nèi)并沿著導(dǎo)向槽移動；所述線束導(dǎo)向環(huán)的四周開設(shè)有固定孔；所述蓋板的四周開設(shè)有用于掛鉤掛起的掛鉤通孔。

進一步方案，所述蓋板的四周開設(shè)有用于卡接支柱的支柱孔，所述支柱的底端固定在底座上、頂端與蓋板上的支柱孔套接。

進一步方案，所述螺紋桿上通過螺紋連接有上、下螺紋環(huán)，所述PCBA板卡套在位于上下螺紋環(huán)之間的螺紋桿上，通過上、下螺紋環(huán)進行定位。

進一步方案，所述測試工裝的底座通過膠層粘接于測試臺架上的封底板上，所述封底板的厚度為0.2-5.0mm。

進一步方案，所述導(dǎo)向槽為方形、腰形或波浪形；所述線束導(dǎo)向環(huán)為方形、圓形或者腰形；所述掛鉤通孔為方形、圓形或者腰形。

所述測試探針選用有彈簧探頭的探針，使測試探針2與PCBA板上的測試點接觸良好。

本裝置中掛鉤與導(dǎo)向槽之間是滑動并且掛鉤是可伸縮的，從而掛鉤可根據(jù)蓋板的大小位置來進行調(diào)整，使其垂直受力；支柱可通過卡扣連接、過盈配合或螺紋配合方式固定在底座上，其數(shù)量和在底座上的位置是根據(jù)待測試PCBA板的尺寸和種類來決定的，一般為二到十二個。

另外，支撐梁、掛鉤和螺紋桿的數(shù)量也是根據(jù)PCBA板的大小來設(shè)置，一般為2-10個。

測試臺架和測試工裝形成一個可移動的整體，且測試臺架的外輪廓有效的保護了測試工裝，避免無意的觸碰測試工裝而造成PCBA板面劃傷、探針錯位或者測試過程中元器件的損壞。

本裝置中線束導(dǎo)向環(huán)是對測試線束進行導(dǎo)向和固定作用，使測試線束都從位于中間的線束導(dǎo)向環(huán)中穿出，并可將測試線束平整地排在線束導(dǎo)向環(huán)的四周，且可對各測試線束進行標記；另外還可以通過固定孔將測試線束進行捆扎起來，避免測試線束的移動，導(dǎo)致線束與測試探針之間發(fā)生脫連。

PCBA板是通過上、下螺紋環(huán)進行固定并定位，使PCBA板可沿著支柱進行上下移動，使其與蓋板上的探針通孔對應(yīng)，方便測試探針對其上的測試點進行測試。

本裝置中掛鉤是用于在測試結(jié)束后測試工裝進行拆卸時，通過掛鉤與掛鉤通孔配合而將測試工裝中的蓋板整體抬起上升而與支柱分離，則使測試探針和測試線束一起上升，從而避免過多移動導(dǎo)致測試線束與測試探針連接處折斷，同時避免測試探針裸露而使測試人員因意外觸碰而受傷。

本實用新型將測試工裝放置在測試臺架中，并將測試線束固定在線束導(dǎo)向槽內(nèi)，形成一個可移動的整體，有效的保護了測試工裝和測試人員。同時，測試工裝中的蓋板與測試探針準確定位，成功將PCBA板上的各測試點通過測試線束引出，解決了測試過程中測試點的定位繁瑣和漏掉的問題。

附圖說明

圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實用新型中測試臺架的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本實用新型中測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本實用新型中PCBA板和底座連接示意圖。

圖中：1-測試臺架，1.1臺架主體，1.2-支撐梁，1.3-導(dǎo)向槽，1.4-線束導(dǎo)向環(huán)，1.5-固定孔，1.6-掛鉤，1.7-封底板；2-測試工裝，2.1-底座，2.2-蓋板，2.21-支柱孔，2.22-掛鉤通孔，2.23-探針通孔，2.3-支柱，2.4-螺紋桿，2.5-螺栓環(huán)；3-測試探針，4-PCBA板。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步詳細說明，但并不因此將本實用新型限制在所述的實施例范圍之內(nèi)。

一種PCBA板的測試裝置，包括測試探針3和固設(shè)于測試臺架1中的測試工裝2，所述測試工裝2包括通過支柱2.3連接的底座2.1和蓋板2.2，所述底座2.1上固設(shè)有用于對PCBA板4進行限位連接的螺紋桿2.4；所述蓋板2.2的中間密布有用于測試探針3通過的探針通孔2.23，所述測試探針3的一端與測試線束連接、另一端穿過探針通孔2.23后與固定在螺紋桿2.4上的PCBA板4的測試點相接觸而導(dǎo)通測試電路。

進一步方案，所述測試臺架1包括臺架主體1.1，所述臺架主體1.1的底端設(shè)有用于固定測試工裝2的封底板1.7，臺架主體1.1的頂端架設(shè)有十字交叉狀的支撐梁1.2，位于支撐梁1.2交匯處設(shè)有線束導(dǎo)向環(huán)1.4；所述支撐梁1.2的頂端開設(shè)有導(dǎo)向槽1.3。

更進一步方案，所述支撐梁1.2下方設(shè)有伸縮式掛鉤1.6，所述掛鉤1.6的頂端卡在所述導(dǎo)向槽1.3內(nèi)并沿著導(dǎo)向槽1.3移動；所述線束導(dǎo)向環(huán)1.4的四周開設(shè)有固定孔1.5；所述蓋板2.2的四周開設(shè)有用于掛鉤1.6掛起的掛鉤通孔2.22。

進一步方案，所述蓋板2.2的四周開設(shè)有用于卡接支柱2.3的支柱孔2.21，所述支柱2.3的底端固定在底座2.1上、頂端與蓋板2.2上的支柱孔2.21套接。

進一步方案，所述螺紋桿2.4上通過螺紋連接有上、下螺紋環(huán)2.5，所述PCBA板4卡套在位于上下螺紋環(huán)2.5之間的螺紋桿2.4上，通過上、下螺紋環(huán)2.5進行定位。

進一步方案，所述測試工裝2的底座2.1通過膠層粘接于測試臺架1上的封底板1.7上，方便測試工裝2的拆卸，并且連接操作簡單；所述封底板1.7的厚度為0.2-5.0mm。

進一步方案，所述導(dǎo)向槽1.3為方形、腰形或波浪形；所述線束導(dǎo)向環(huán)1.4為方形、圓形或者腰形；所述掛鉤通孔2.22為方形、圓形或者腰形。

測試時，先將測試工裝2的底座2.1通過膠粘接于測試臺架1上的封底板1.7上，再將PCBA板4卡套在螺紋桿2.4上，并通過上、下螺紋環(huán)2.5對其進行定位固定；然后將蓋板2.2通過支柱2.3固定在PCBA板4的正上方；與測試探針3焊接的測試線束全部從線束導(dǎo)向環(huán)1.4內(nèi)穿過，從而避免了在測試過程中因?qū)y試線束施力不同而導(dǎo)致其與測試探針3連接處發(fā)生斷落；測試探針3的底端與PCBA板4上的測試點接觸而導(dǎo)通測試電路。

若需要更換不同尺寸的PCBA板4時，只需要將相應(yīng)的支柱2.3和螺紋桿2.4移到底座2.1上相應(yīng)孔位即可，再將蓋板2.2放置于支柱2.3的頂端固定，并同時固定好已標碼的測試線束，便可以進行測試。

此外，應(yīng)當理解，雖然本說明書按照實施方式加以描述，但并非每個實施方式僅包括一個獨立的技術(shù)方案，說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當將說明書作為一個整體，各實施例中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當組合，形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實施方式。