本實用新型涉及電子元器件測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種晶體振蕩器測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

晶體振蕩器是指從一塊石英晶體上按一定方位角切下薄片，簡稱為石英晶體或晶體、晶振，而在封裝內(nèi)部添加IC組成振蕩電路的晶體元件稱為晶體振蕩器，其產(chǎn)品一般用金屬外殼封裝，也有用玻璃殼、陶瓷或塑料封裝。通用晶體振蕩器，用于各種電路中，產(chǎn)生振蕩頻率。

一個小小的晶體振蕩器，在其電路系統(tǒng)中，往往是很不起眼的器件。但這個器件的品質(zhì)和穩(wěn)定性，會決定整個系統(tǒng)的指標和特性。因為晶體的運用環(huán)境很廣泛，在軍事與宇航、科研與計算、工業(yè)、汽車和消費領(lǐng)域都有運用，特別是恒溫晶體振蕩器，簡稱TCXO，幾乎覆蓋了所有的電子產(chǎn)品，如手機，導(dǎo)航，手表等。因此測試工程師應(yīng)該在測試階段模擬產(chǎn)品的運用環(huán)境把好品壞品分出來，如果一顆晶體出問題，就將導(dǎo)致整個系統(tǒng)都會有問題。

晶體振蕩器頻點很多，而且頻率的精度要求很高，一般在正負幾個ppm。比如要測試一個100MHZ的晶體的頻率，那需要用到的采樣頻率最少是200MHZ了；這樣的話，一般的測試儀就達不到了；還要考慮到精度，那對測試儀的要求就更高了。如果能用高端的測試儀，測試的成本必定會增加，而現(xiàn)在的客戶都是追求低成本高品質(zhì)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的主要目的為提供，一種晶體振蕩器測試系統(tǒng)，即可以保證測試質(zhì)量，又能夠降低客戶的測試成本。

本實用新型提出了一種晶體振蕩器測試系統(tǒng)，其特征在于，包括有主控PC、用于測試芯片的DC參數(shù)的測試儀和用于測試芯片的頻率的頻率計，所述頻率計型號為HP53132A，所述測試儀型號為TR-6010，所述頻率計和所述測試儀都連接所述主控PC。

進一步地，所述頻率計通過自帶的通用接口總線GPIB連接所述主控PC上 的PCI插槽。

進一步地，所述頻率計上設(shè)置有GPIB卡，所述GPIB卡兼容IEEE 488.1、IEEE 488.2及PCI總線2.1規(guī)格。

進一步地，所述主控PC上還連接有用于發(fā)出警報的報警裝置。

進一步地，所述報警裝置為連接在所述主控PC的喇叭裝置。

進一步地，所述報警裝置為連接在所述主控PC上的報警燈。

本實用新型的有益效果是：通過HP53132A頻率計和TR-6010測試儀的配合使用，不僅可以能滿足測試晶體振蕩器的精度要求，保證測試質(zhì)量，而且可以降低客戶測試成本，提高企業(yè)競爭力。

附圖說明

圖1是本實用新型一實施例的一種晶體振蕩器測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。

本實用新型目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結(jié)合實施例，參照附圖做進一步說明。

具體實施方式

應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

參照圖1，提出本實用新型一實施例，一種晶體振蕩器測試系統(tǒng)，包括有主控PC1、用于測試芯片的DC參數(shù)的測試儀3和用于測試芯片的頻率的頻率計2，頻率計2型號為HP53132A，測試儀3型號為TR-6010，頻率計2和測試儀3都連接主控PC1，主控PC1根據(jù)測試儀3TR-6010和頻率計2HP53132A的檢測結(jié)果來判斷測試結(jié)果。

頻率計2通過自帶的通用接口總線GPIB(General-Purpose Interface Bus)連接到主控PC1上的PCI插槽，再由安裝在主控PC1上的PCI插槽中的PCI-GPIB卡傳輸?shù)街骺豍C1，最后由主控PC1對采集到的頻率和DC信息進行分析，得出芯片是否符合要求。

頻率計2作為高精度的頻率和時間測試儀表，測試精度高于普通的頻譜儀 和示波器，頻率計2可以用來測試如頻率、周期、相位、脈沖等，而其中頻率和周期的測試占有絕大部分比例。頻率計2上設(shè)置有GPIB卡，本實施例中采用了一款兼容IEEE 488.1、IEEE 488.2及PCI總線2.1規(guī)格的GPIB卡，產(chǎn)自中國臺灣研華，提高了開發(fā)效率降低了生產(chǎn)成本，并且信息控制較靈活。

另外，利用GPIB作為一種標準總線形式,使得本系統(tǒng)具有可擴充性。假如要在本基礎(chǔ)上增加測向的功能，則只要加進帶有GPIB接口的儀器,便可以將該系統(tǒng)擴展為一個功能較完備的監(jiān)測系統(tǒng)。

主控PC1上還連接有用于發(fā)出警報的報警裝置4，報警裝置4可以是喇叭裝置或報警燈，也可以是這兩者的組合，當主控PC1判斷被檢測芯片不通過時，即傳遞命令給報警裝置4，報警裝置4根據(jù)主控PC1的命令做出反饋，檢測人員可根據(jù)報警裝置4的反應(yīng)了解到當前的被檢測芯片是否合格。

使用時，頻率計2和測試儀3分別檢測待測芯片，并將檢測結(jié)果發(fā)送給主控PC1，主控PC1判斷被測芯片是否合格，如不合格則發(fā)出相應(yīng)的控制命令。

本實用新型有益效果是：通過HP53132A頻率計2和TR-6010測試儀3的配合使用，可以解決單獨使用測試儀3在保證測試精度的前提下成本過高的問題，可以能滿足測試晶體振蕩器的精度要求，保證測試質(zhì)量，而且可以降低客戶測試成本，提高企業(yè)競爭力。

以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。