本實(shí)用新型涉及電路板測(cè)試領(lǐng)域，更具體的說，它涉及一種基于飛針測(cè)試雙面PCB板系統(tǒng)的測(cè)試儀。

背景技術(shù)：

目前業(yè)界用的飛針測(cè)試機(jī)，在進(jìn)行對(duì)電路板測(cè)試時(shí)，飛針測(cè)試機(jī)只能一面一面進(jìn)行測(cè)試，相比于針床測(cè)試機(jī)可使用頂面夾具同時(shí)測(cè)試雙面PCB的頂面與底面元件，這就使得飛針測(cè)試給操作員增加了工作量，嚴(yán)重影響了工作效率且目前針對(duì)不同元器件的測(cè)試，難以做到快速切換測(cè)試方式。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種有全自動(dòng)化、可針對(duì)不同元器件進(jìn)行不同切換測(cè)試的一種基于飛針測(cè)試雙面PCB板系統(tǒng)的測(cè)試儀。

為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下：

一種基于飛針測(cè)試雙面PCB板系統(tǒng)的測(cè)試儀，包括單片機(jī)、控制器、待測(cè)電板固定夾、飛針測(cè)試盤和微型攝像頭；所述控制器包括主控制器、電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器；所述電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器與飛針測(cè)試盤直接電性連接；所述控制器的主控制器、待測(cè)電板固定夾和飛針測(cè)試盤與單片機(jī)電性連接，微型攝像頭與單片機(jī)通過HDMI連接。

進(jìn)一步的，所述控制器的主控制器、待測(cè)電板固定夾和飛針測(cè)試盤與單片機(jī)電性連接并受其控制。

進(jìn)一步的，所述微型攝像頭與單片機(jī)通過HDMI連接通訊，微型攝像頭將照片采集的信息標(biāo)識(shí)后，再將圖片信息傳送給單片機(jī)。

進(jìn)一步的，所述控制器包括主控制器、電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器，電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器與主控制器電性連接并受其控制。

進(jìn)一步的，所述待測(cè)電板固定夾包括移動(dòng)桿和翻轉(zhuǎn)夾，移動(dòng)桿一端與翻轉(zhuǎn)夾中間連接，另一端與飛針測(cè)試盤連接。

進(jìn)一步的，所述飛針測(cè)試盤與單片機(jī)電性連接，單片機(jī)將微型攝像頭拍攝的圖片進(jìn)行元器件分類和定位，再將分類和定位信息通過控制命令發(fā)送給飛針測(cè)試盤。

本實(shí)用新型相比現(xiàn)有技術(shù)優(yōu)點(diǎn)在于：本實(shí)用新型具備構(gòu)造簡單，造價(jià)較低，且有效保護(hù)電路板在飛針測(cè)試時(shí)不被損壞而影響使用功能，固定待測(cè)試電路板不移動(dòng)，提高飛針測(cè)試準(zhǔn)確率，可進(jìn)行上下反轉(zhuǎn)，能讓飛針測(cè)試進(jìn)行自動(dòng)化的雙面測(cè)試，并且對(duì)于不同元器件的測(cè)試，可以進(jìn)行快速的對(duì)應(yīng)測(cè)試方式的轉(zhuǎn)換，大大提高飛針測(cè)試的工作效率。

附圖說明

圖 1 為本實(shí)用新型一種基于飛針測(cè)試雙面PCB板系統(tǒng)的測(cè)試儀的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。

如圖1所示，一種基于飛針測(cè)試雙面PCB板系統(tǒng)的測(cè)試儀，包括單片機(jī)、控制器、待測(cè)電板固定夾、飛針測(cè)試盤和微型攝像頭；所述控制器包括主控制器、電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器；所述電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器與飛針測(cè)試盤直接電性連接；所述控制器的主控制器、待測(cè)電板固定夾和飛針測(cè)試盤與單片機(jī)電性連接并受其控制，微型攝像頭與單片機(jī)通過HDMI連接通訊，微型攝像頭將照片采集的信息標(biāo)識(shí)后，再將圖片信息傳送給單片機(jī)。單片機(jī)對(duì)圖片信息進(jìn)行分析比對(duì)，區(qū)分出各類元器件，并標(biāo)記各元器件的精確位置，為測(cè)試電路的精確定位做好數(shù)據(jù)準(zhǔn)備。

所述控制器包括主控制器、電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器，電容測(cè)試器、電阻測(cè)試器、電感測(cè)試器和晶體管測(cè)試器與主控制器電性連接并受其控制。當(dāng)單片機(jī)發(fā)出測(cè)試指令，要對(duì)元器件進(jìn)行電阻測(cè)試、電容測(cè)試、電感測(cè)試器還是晶體管測(cè)試器，由單片機(jī)根據(jù)圖片信息決定，并發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試信息給主控制器，由主控器選擇對(duì)應(yīng)的測(cè)試器工作，對(duì)應(yīng)的測(cè)試器通過與測(cè)試盤的連接，讀取到實(shí)時(shí)測(cè)試信息。所有測(cè)試盤的控制都有單片機(jī)來控制，測(cè)試器只負(fù)責(zé)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)，并通過控制器傳遞給單片機(jī)。

電路板一面測(cè)試完畢后，單片機(jī)控制待測(cè)電板固定夾，所述待測(cè)電板固定夾包括移動(dòng)桿和翻轉(zhuǎn)夾，單片機(jī)通過指令使得移動(dòng)桿上移，達(dá)到待測(cè)電板可以翻轉(zhuǎn)的高度，控制翻轉(zhuǎn)夾進(jìn)行翻轉(zhuǎn)，后移動(dòng)桿下移，繼續(xù)進(jìn)行另一面的測(cè)試。因?yàn)榉D(zhuǎn)夾的存在也有力的保護(hù)了測(cè)試電板條邊的保護(hù)，翻轉(zhuǎn)夾隨著移動(dòng)桿下移后固定在特定的檢測(cè)位置，使得測(cè)試更加精準(zhǔn)，有利與保證產(chǎn)品的質(zhì)量和檢測(cè)效率。

以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型保護(hù)范圍內(nèi)。