專利名稱：彈片形變度測試裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種彈片形變度測試裝置。
背景技術：
電腦機箱的硬盤驅動器一般與定位彈片進行配合，從而可以使硬盤驅動器與機箱 的連接器連接。但是在實際使用中，硬盤驅動器需要頻繁的取放，因此硬盤驅動器與定位彈 片配合的緊密程度會直接影響到硬盤驅動器與機箱連接器的連接，因此定位彈片的形變度 測試變得很重要。一般的測試要求為每次壓縮2. 5mm后復位，按一定的操作頻率，重復壓縮 50次后檢測壓縮前后被測部位，如果此時定位彈片形變量不大于0. 3mm，那么就為合格產(chǎn) 品。目前檢測方法為人工直接按壓。但是人工按壓檢測效率低，而且人工施力大小無法精 確控制，檢測誤差比較大。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種檢測效率高，檢測誤差低的彈片形變度測試裝置。一種彈片形變度測試裝置，其包括測試機及基座，所述基座用于承載一待測彈片。 所述測試機包括支撐座、壓力機構、量測機構及施力機構。所述支撐座固定在所述基座上， 所述壓力機構、量測機構及施力機構固定在所述支撐座上。所述壓力機構能夠相對所述支 撐座上下移動，對一待測彈片進行壓合。所述施力機構包括施力杠桿、限位螺絲、及微調(diào)螺 絲。所述施力杠桿抵接在所述壓力機構上，用于驅動所述壓力機構上下移動。所述限位螺 絲用于抵接所述施力杠桿，限定所述施力杠桿的擺動幅度，從而控制所述壓力機構上下移 動幅度。所述微調(diào)螺絲用于抵接所述壓力機構，在所述待測彈片被壓前及被壓后，通過調(diào)整 所述微調(diào)螺絲，使所述壓力機構接觸所述待測彈片，確定待測彈片的形變量。所述量測機構 與所述壓力機構連接，用于顯示待測彈片的形變量。本發(fā)明的彈片形變度測試裝置利用一施力杠桿驅動一壓力機構上下移動，從而對 一待測彈片進行壓合，采用一限位螺絲限定所述施力杠桿擺動幅度，從而控制所述壓力機 構移動幅度，采用一微調(diào)螺絲確定所述待測彈片的形變量，本發(fā)明彈片形變度測試裝置檢 測效率高，檢測誤差低。


圖1為本發(fā)明實施方式提供的彈片形變度測試裝置組裝結構示意圖。圖2為圖1中彈片形變度測試裝置的分解結構示意圖。
具體實施例方式下面將結合附圖，對本發(fā)明作進一步的詳細說明。請參閱圖1及圖2，一種彈片形變度測試裝置10，其包括測試機100以及基座200。 所述測試機100固定在所述基座200上，所述基座200用于固定一待測彈片300，所述測試機100用于檢測所述待測彈片300的形變度。所述測試機100包括支撐座110、壓力機構120、量測機構130以及施力機構140。 所述支撐座110固定在所述基座200上，所述壓力機構120、量測機構130以及施力機構140 固定在所述支撐座110上。所述支撐座110包括頂面111、底面112、多個側面113、容置部114以及固定腳 115。所述容置部114在所述頂面111上形成第一開口 1111，在所述一個側面113上形成第 二開口 1131。在所述容置部114底面上沿垂直所述基座200方向形成一通孔1141。在所 述頂面111上，所述第一開口 1111兩側形成有兩個第一螺孔1112，用于固定所述量測機構 130。在所述側面113上，所述第二開口 1131的兩側形成有兩個第二螺孔1132，用于固定施 力機構140。所述固定腳115設置在所述底面112上，所述固定腳115固定在所述基座200 上。所述壓力機構120包括壓頭121、彈簧122以及擋塊123。所述壓頭121設置于所 述容置部114內(nèi)，其下端穿過所述容置部114底面的通孔1141，接觸所述支撐座110下方 設置的所述待測彈片300，其上端與所述擋塊123固定。所述彈簧122套設在所述壓頭121 上，所述彈簧122 —端抵接所述容置部114的底面，另一端抵接所述擋塊123。所述壓頭121 相對所述通孔1141可上下滑動。所述量測機構130包括量測表131以及量測表座132。所述量測表座132固定在 所述支撐座110的頂面111上。所述量測表131設置在所述量測表座132上。所述量測表 131延伸出一可伸縮的測試桿1311，通過所述測試桿1311的伸縮，所述量測表131能夠顯 示所述測試桿1311移動距離的讀數(shù)。在組裝時，所述測試桿1311穿過所述量測表座132， 并抵接在所述擋塊123上，從而可以隨著所述壓頭121的上下移動而移動。在本實施方式 中所述量測表131為一百分表。所述施力機構140包括施力杠桿141、限位塊142、限位螺絲143、固定塊144以及 微調(diào)螺絲145。所述施力杠桿141包括把手1411，在所述把手1411的一端形成一軸孔1412 以及一壓力部1413。所述軸孔1412中套入一軸套1414，并且所述施力杠桿141相對所述 軸套1414可以轉動。所述限位塊142上形成有一固定孔1421以及一限位螺孔1422。所述 限位螺絲143螺入到所述限位螺孔1422中，并且其一端從所述限位螺孔1422中伸出。所 述限位螺絲143用于抵接所述施力杠桿141。所述固定塊144上形成有兩個第三螺孔1441 以及一微調(diào)螺孔1442。所述第三螺孔1441與所述第二螺孔1132相對應，用于將所述固定 塊144固定在所述支撐座110上。所述微調(diào)螺絲145螺入到所述微調(diào)螺孔1442中，并且其 一端抵接在所述擋塊123上，通過上下調(diào)節(jié)所述微調(diào)螺絲145，從而可以限定所述壓頭121 上下移動位置。利用一個螺釘穿過所述固定塊144的其中一個第三螺孔1441以及所述軸套1414， 可將所述施力杠桿141固定在所述支撐座110上，并且所述施力杠桿141可以繞所述軸套 1414轉動。所述施力杠桿141上下擺動，其壓力部1413接觸所述擋塊123，從而所述壓頭 121可以隨所述施力杠桿141的上下擺動而上下移動。利用一螺釘穿過固定塊144的另一 個第三螺孔1441以及所述限位塊142的固定孔1421，可將所述限位塊142固定在所述支 撐座110上。所述施力杠桿141在上下擺動時，其把手1411可以抵接在所述限位螺絲143 上，通過調(diào)整所述限位螺絲143，可以限定所述施力杠桿141的擺動幅度，從而控制所述壓
4頭121上下移動的位置。所述基座200包括一承載面210以及兩個夾緊機構220。所述承載面210上形成 一容置槽2101，所述容置槽2101與所述待測彈片300的被測部分相對應，當所述待測彈 片300的被測部分受到所述壓頭121的壓力向下移動時，被測部分可以容置在所述容置槽 2101中。所述夾緊機構220設置在所述承載面210上，并位于所述支撐座110的兩側。所 述待測彈片300放置在所述承載面210上，所述夾緊機構220用于固定所述待測彈片300。在對所述待測彈片300進行檢測時，首先將所述待測彈片300放置于所述壓頭121 下方的基座200上，利用所述夾緊機構220固定所述待測彈片300。旋轉微調(diào)螺絲145，使 所述壓頭121剛好接觸所述待測彈片300的被測部分，此時將所述量測表131調(diào)為零。然后按動所述施力杠桿141，使所述壓頭121壓動所述待測彈片300的被測部分向 下移動一定距離時，調(diào)節(jié)所述限位螺絲143，使得此時施力杠桿141的把手1411剛好抵接在 所述限位螺絲143上。接著提起所述施力杠桿141的把手1411后，再向下按動所述施力杠 桿141，所述施力杠桿141與所述限位螺絲143接觸后抬起，重復按動至達到規(guī)定次數(shù)。此 時所述壓頭121與所述待測彈片300的被測部分的間隙即為所述待測彈片300受壓后的形 變量。最后再次旋轉所述微調(diào)螺絲145，使所述壓頭120與所述待測彈片300的被測部分接 觸，此時所述量測表131顯示的讀數(shù)即為所述待測彈片300的被測部分的實際形變量。本發(fā)明實施方式中提供的彈片形變度測試裝置利用一施力杠桿驅動一壓力機構 上下移動，從而對一待測彈片進行壓合，采用一限位螺絲限定所述施力杠桿擺動幅度，從而 控制所述壓力機構移動幅度，采用一微調(diào)螺絲確定所述待測彈片的形變量，本發(fā)明彈片形 變度測試裝置檢測效率高，檢測誤差低。本技術領域的普通技術人員應當認識到，以上的實施方式僅是用來說明本發(fā)明， 而并非用作為對本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實質精神范圍之內(nèi)，對以上實施方式所作 的適當改變和變化都落在本發(fā)明要求保護的范圍之內(nèi)。
權利要求
1.一種彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述彈片形變度測試裝置包括測試機及基 座，所述基座用于承載一待測彈片，所述測試機包括支撐座、壓力機構、量測機構及施力機 構，所述支撐座固定在所述基座上，所述壓力機構、量測機構及施力機構固定在所述支撐座 上，所述壓力機構能夠相對所述支撐座上下移動，對一待測彈片進行壓合，所述施力機構包 括施力杠桿、限位螺絲、及微調(diào)螺絲，所述施力杠桿抵接在所述壓力機構上，用于驅動所述 壓力機構上下移動，所述限位螺絲用于抵接所述施力杠桿，限定所述施力杠桿的擺動幅度， 從而控制所述壓力機構上下移動幅度，所述微調(diào)螺絲用于抵接所述壓力機構，在所述待測 彈片被壓前及被壓后，調(diào)整所述微調(diào)螺絲，使所述壓力機構接觸所述待測彈片，確定待測彈 片的形變量，所述量測機構與所述壓力機構連接，用于顯示待測彈片的形變量。
2.如權利要求1所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述支撐座包括頂面、底 面、多個側面、容置部及固定腳，所述容置部底面上沿垂直所述基座方向形成一通孔，所述 固定腳設置在所述底面上，其固定在所述基座上。
3.如權利要求2所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述壓力機構包括壓頭、彈 簧及擋塊，所述壓頭設置于所述容置部內(nèi)，其下端穿過所述容置部的通孔，接觸所述待測彈 片，上端與所述擋塊固定，所述彈簧套設在所述壓頭上，其一端抵接所述容置部的底面，另 一端抵接所述擋塊，所述壓頭相對所述支撐座可上下滑動。
4.如權利要求3所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述量測機構包括量測表 及量測表座，所述量測表座固定在所述支撐座的頂面上，所述量測表延伸出一可伸縮的測 試桿，通過所述測試桿的伸縮，所述量測表能夠顯示所述測試桿移動距離的讀數(shù)，所述測試 桿抵接在所述擋塊上，可以隨所述壓頭的上下移動而移動。
5.如權利要求3所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述施力機構還包括限位 塊以及固定塊，所述固定塊將所述施力杠桿以及限位塊固定在所述支撐座上，所述限位塊 上形成有一限位螺孔，所述限位螺絲螺入到所述限位螺孔中，并且其一端從所述限位螺孔 中伸出，用于抵接所述施力杠桿，所述固定塊上形成有微調(diào)螺孔，所述微調(diào)螺絲螺入到所述 微調(diào)螺孔中，并且其一端抵接在所述擋塊上。
6.如權利要求3所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述施力杠桿由所述固定 塊樞接在所述支撐座上，其包括一把手，在所述把手的一端形成一壓力部，所述壓力部抵接 在所述擋塊上。
7.如權利要求1所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述基座包括一承載面及 兩個夾緊機構，所述夾緊機構設置在所述承載面上，所述待測彈片放置在所述承載面上，所 述夾緊機構用于固定所述待測彈片。
8.如權利要求7所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述承載面上形成一容置 槽，所述容置槽與所述待測彈片的被測部分相對應，當所述待測彈片的被測部分受到壓力 向下移動時，被測部分可以容置在所述容置槽中。
9.如權利要求7所述的彈片形變度測試裝置，其特征在于，所述夾緊機構分置于所述 支承座的兩側。
全文摘要
一種彈片形變度測試裝置，其包括測試機及基座，所述基座用于承載一待測彈片。所述測試機包括支撐座及固定在支撐座上的壓力機構、量測機構及施力機構。所述支撐座固定在基座上。所述壓力機構能夠相對支撐座上下移動，對一待測彈片進行壓合。所述施力機構包括施力杠桿、限位螺絲、及微調(diào)螺絲。所述施力杠桿抵接在壓力機構上，用于驅動壓力機構上下移動。所述限位螺絲用于抵接施力杠桿，限定施力杠桿的擺動幅度，從而控制壓力機構上下移動幅度。所述微調(diào)螺絲用于抵接壓力機構，在待測彈片被壓前及被壓后，通過調(diào)整微調(diào)螺絲，使壓力機構接觸待測彈片，確定待測彈片的形變量。所述量測機構與所述壓力機構連接，用于顯示待測彈片的形變量。
文檔編號G01B5/30GK101995205SQ200910305570
公開日2011年3月30日 申請日期2009年8月13日 優(yōu)先權日2009年8月13日
發(fā)明者張秉君 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司