一種t/r組件測試裝置及裝置安全性校驗方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及T/R組件測試領(lǐng)域，具體涉及一種T/R組件測試裝置及裝置安全性校驗方法。
【背景技術(shù)】
[0002]T/R組件中主要包含發(fā)射通道、接收通道以及驅(qū)動控制三個部分，此外還有射頻輸入輸出、低頻連接器等組件接口部分。發(fā)射通道主要完成射頻激勵信號的放大，并輸出至饋線網(wǎng)絡(luò)；接收通道將天線接收的回波信號放大，并保證較低的噪聲系數(shù)；組件的收發(fā)開關(guān)切換及相位、衰減的控制由驅(qū)動控制部分完成。
[0003]T/R組件具有通道多、大小功率并存和端口復(fù)用等特點，而且指標(biāo)種類多，需要多種測試儀器才能完成測試。所謂大小功率并存，即發(fā)射通道輸出功率大、接收通道功率??；就端口復(fù)用來說，即發(fā)射輸出端口也就是接收輸入端口，發(fā)射輸入端口也就是接收輸出端口，當(dāng)然它是一個分時的工作體制。因此，T/R組件的測試實現(xiàn)較為困難，也非常復(fù)雜，大多采用測試系統(tǒng)完成測試，這就需要對收發(fā)信號進(jìn)行調(diào)理，同時利用開關(guān)網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)測試通道自動切換。
[0004]由于T/R組件發(fā)射信號功率一般較大，無法輸入儀器中直接進(jìn)行測試，目前一般是先在每個發(fā)射輸出端口連接衰減器或者耦合器，將功率降至一個合理水平，然后再經(jīng)過開關(guān)網(wǎng)絡(luò)的切換輸入至測試儀器(如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率分析儀和頻譜儀等)中進(jìn)行發(fā)射通道性能參數(shù)測試。這種直接將大功率信號進(jìn)行衰減/耦合為小功率信號的方法可以有效的保護(hù)測試儀器不被燒毀。對于接收通道性能參數(shù)的測試，原理上基本也是相同的，只是所需的儀器種類和測試通道不同而已。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)雖然能解決T/R組件收發(fā)參數(shù)的測試，但是存在如下幾個缺點:
[0006]1.由于衰減器或者耦合器作為測試通道的一部分，而發(fā)射輸出通道和接收輸入通道是部分復(fù)用的，從而導(dǎo)致通道插入損耗較大。在接收通道測試時，如果不拆掉衰減器或者耦合器等測試附件，那么就會出現(xiàn)無法測試噪聲系數(shù)和接收輸入端口駐波比的問題。具體原因為:
[0007]a)過大的通道插入損耗將降低噪聲儀的測試靈敏度，若通道插入損耗大于20dB，噪聲源輸出的標(biāo)準(zhǔn)噪聲功率將低于噪聲儀接收靈敏度，噪聲系數(shù)測試無法開展。而在具體的工程實踐中，只要T/R組件發(fā)射通道的輸出功率大于50W (峰值)，通道插入損耗一般就會大于20dB。
[0008]b)同樣因為通道的插入損耗過大，接收輸入端口駐波比測試所需的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀也會出現(xiàn)無用的源泄露信號可能還比有用的反射耦合信號功率還大的情況，這已經(jīng)無法采用校準(zhǔn)方式來消除影響，導(dǎo)致接收輸入端口駐波比測試結(jié)果與實際值偏差較大，無法采
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[0009]2.在噪聲系數(shù)和接收輸入端口駐波比測試時需要拆卸衰減器或者耦合器，這也影響了測試效率，也惡化了測試準(zhǔn)確度和重復(fù)性指標(biāo)。
[0010]3.在T/R組件通道數(shù)量較多時，每個通道都要連接一個衰減器或者耦合器，這也加大了系統(tǒng)集成的難度，系統(tǒng)建設(shè)成本也較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]本發(fā)明的第一目的是針對現(xiàn)有的T/R組件測試裝置如果不拆掉衰減器或耦合器，則噪聲系數(shù)和接收輸入端口駐波比無法測試，而一旦拆卸掉衰減器或耦合器，又會影響裝置的測試效率、準(zhǔn)確度和重復(fù)性的問題，以及現(xiàn)有的T/R組件測試裝置建設(shè)成本高的問題，本發(fā)明提供了一種T/R組件測試裝置。
[0012]本發(fā)明采用以下的技術(shù)方案:
[0013]—種T/R組件測試裝置，包括依次相連接的檢測儀器、第一多選開關(guān)、第二多選開關(guān)和T/R組件，還包括第三多選開關(guān)和第一單刀雙擲開關(guān)，所述T/R組件與第三多選開關(guān)相連接，第三多選開關(guān)與第一單刀雙擲開關(guān)上的動端相連接，第一單刀雙擲開關(guān)上的第一不動端通過衰減器或耦合器連接有第四多選開關(guān)，第四多選開關(guān)連接有發(fā)射輸出測試儀器，第一單刀雙擲開關(guān)上的第二不動端連接有第五多選開關(guān)，第五多選開關(guān)連接有接收輸入測試儀器。
[0014]優(yōu)選地，所述檢測儀器包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀及噪聲系數(shù)分析儀，所述發(fā)射輸出測試儀器包括功率分析儀，所述接收輸入測試儀器包括噪聲源。
[0015]優(yōu)選地，還包括第二單刀雙擲開關(guān)、第三單刀雙擲開關(guān)及第四單刀雙擲開關(guān)，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口與第一多選開關(guān)相連，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口與第二單刀雙擲開關(guān)的動端相連，第二單刀雙擲開關(guān)的兩個不動端分別連接第四多選開關(guān)和第五多選開關(guān)，信號發(fā)生器與第三單刀雙擲開關(guān)的動端相連，第三單刀雙擲開關(guān)的兩個不動端分別連接第一多選開關(guān)和第五多選開關(guān)，頻譜分析儀與第四單刀雙擲開關(guān)的動端相連，第四單刀雙擲開關(guān)的兩個不動端分別連接第一多選開關(guān)和第四多選開關(guān)。
[0016]優(yōu)選地，所述第一多選開關(guān)、第二多選開關(guān)、第三多選開關(guān)、第四多選開關(guān)、第五多選開關(guān)、第一單刀雙擲開關(guān)、第二單刀雙擲開關(guān)、第三單刀雙擲開關(guān)及第四單刀雙擲開關(guān)均配置有一個開關(guān)狀態(tài)寄存器。
[0017]本發(fā)明的第二目的是提供了以上所述的一種T/R組件測試裝置的安全性校驗方法。
[0018]—種T/R組件測試裝置的安全性校驗方法，包括:
[0019]步驟1:查詢開關(guān)狀態(tài)，開關(guān)狀態(tài)寄存器Si*的不同的標(biāo)志位對應(yīng)各個開關(guān)的不同位置S#,，Si對應(yīng)開關(guān)的標(biāo)號，D ,對應(yīng)開關(guān)中的位置標(biāo)號，根據(jù)開關(guān)狀態(tài)寄存器查詢所有開關(guān)是否置于正確的連接位置上，如果開關(guān)狀態(tài)寄存器顯示對應(yīng)開關(guān)的連接位置正確，則不對該開關(guān)進(jìn)行位置切換控制，如果開關(guān)狀態(tài)寄存器顯示對應(yīng)開關(guān)的連接位置錯誤，則對該開關(guān)進(jìn)行位置切換控制，使該開關(guān)連接到正確的位置上，并設(shè)置對應(yīng)開關(guān)狀態(tài)寄存器中的標(biāo)志位；
[0020]步驟2:計算激勵信號功率，激勵信號功率為T/R組件的發(fā)射功率和T/R組件發(fā)射增益的差值，T/R組件的發(fā)射功率不大于20dBm ;
[0021]步驟3:T/R組件測試裝置連通性校驗，在T/R組件中輸入步驟2中的激勵信號功率，在信號測試機(jī)構(gòu)中得到測試結(jié)果，將測試結(jié)果與期望值進(jìn)行比較，如果比較結(jié)果在誤差允許的范圍內(nèi)，則證明T/R組件測試裝置連通成功，否則認(rèn)為T/R組件測試裝置連通失??；
[0022]步驟4:結(jié)束裝置安全性校驗測試。
[0023]本發(fā)明具有的有益效果是:
[0024]本發(fā)明提供了一種T/R組件測試裝置，該裝置引入一個單刀雙擲開關(guān)，將發(fā)射輸出通道和接收輸入通道進(jìn)行物理分離，將衰減器或耦合器內(nèi)置于發(fā)射輸出通道中，這樣不會因通道插入損耗大而影響接收通道的噪聲系數(shù)和輸入端口駐波比的測試。與現(xiàn)有的測試裝置相比，提高了測試效率，減少了重復(fù)連線對測試準(zhǔn)確度和一致性的影響，而且減少了衰減器或耦合器等測試附件的數(shù)量，降低了裝置的建設(shè)成本，方便了裝置的集成。
[0025]T/R組件測試裝置的安全性校驗方法，通過開關(guān)狀態(tài)寄存器對開關(guān)的連通狀態(tài)進(jìn)行查詢操作，確保了各個開關(guān)的連接位置正確，然后利用小功率低頻激勵信號驗證裝置的連通性，保證開關(guān)故障時測試儀器不被燒毀，保障測試過程的正常運行，提高了裝置的安全性。
【附圖說明】
[0026]圖1為本發(fā)明提供的T/R組件測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖2為第二單刀雙擲開關(guān)的連接示意圖。
[0028]圖3為第三單刀雙擲開關(guān)的連接示意圖。
[0029]圖4為第四單刀雙擲開關(guān)的連接示意圖。
【具體實施方式】
[0030]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的說明:
[0031]實施例1
[0032]結(jié)合圖1至圖4，一種T/R組件測試裝置，包括相連接的檢測儀器、第一多選開關(guān)K1、第二多選開關(guān)K2和T/R組件，還包括第三多選開關(guān)K3和第一單刀雙擲開關(guān)K4。
[0033]T/R組件與第三多選開關(guān)K3相連接，第三多選開關(guān)K3與第一單刀雙擲開關(guān)K4上的動端相連，第一單刀雙擲開關(guān)K4上的第一不動端通過衰減器或耦合