專利名稱：一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明主要是提出一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，主要是在一電波暗室(Chamber)內(nèi)裝設(shè)不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè)試設(shè)備，同時(shí)在電波暗室外部也提供相對(duì)應(yīng)于不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè)試儀器，通過(guò)開發(fā)的程序自動(dòng)切換各儀器間的聯(lián)機(jī)至手機(jī)欲測(cè)試的項(xiàng)目，即可達(dá)到利用同一電波暗室進(jìn)行相關(guān)設(shè)備儀器的切換完成不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目的目的。
背景技術(shù)：
公知手機(jī)在開發(fā)過(guò)程中或認(rèn)證階段均需利用電波暗室進(jìn)行各種不同的輻射測(cè)試，以驗(yàn)證該手機(jī)是否符合相關(guān)測(cè)試規(guī)范的需求，其中的測(cè)試項(xiàng)目包含了將待測(cè)手機(jī)置于電波暗室中進(jìn)行高低不同頻段的寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試(Radiation spurious emission test)及同樣將待測(cè)手機(jī)置于電波暗室內(nèi)所做的天線場(chǎng)型圖測(cè)試(Antenna pattern test)，以了解待測(cè)手機(jī)的相關(guān)輻射特性，并借測(cè)試結(jié)果判斷是否符合相關(guān)測(cè)試規(guī)范的需求。
公知的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室在輻射測(cè)試的架構(gòu)上多采用一室一測(cè)試項(xiàng)目的方式，即一間電波暗室只用來(lái)搭配針對(duì)某一測(cè)試項(xiàng)目所需要的儀器來(lái)進(jìn)行，因此當(dāng)需要對(duì)待測(cè)手機(jī)進(jìn)行不同的測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，必須以人力手動(dòng)調(diào)整各測(cè)試設(shè)備、測(cè)試儀器及待測(cè)手機(jī)間的聯(lián)機(jī)或是將該待測(cè)手機(jī)移動(dòng)至另一間裝設(shè)有不同的測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器的場(chǎng)地繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，這對(duì)測(cè)試人員來(lái)說(shuō)是極為不便的測(cè)試方式。
為了更清楚說(shuō)明公知利用電波暗室進(jìn)行高低不同頻段的寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試及天線場(chǎng)型圖測(cè)試的方法，以下請(qǐng)參閱圖1及圖2的說(shuō)明，圖1是公知利用電波暗室進(jìn)行寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試時(shí)，相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器的連接方式示意圖，其中圖1中的分界線10上半部是表示在電波暗室內(nèi)，在分界線10下半部則表示是在電波暗室外，由圖中可知待測(cè)手機(jī)15、高頻接收天線11及低頻接收天線12是位于電波暗室內(nèi)，而所需的測(cè)量?jī)x器頻譜分析儀14則是位于電波暗室外，當(dāng)進(jìn)行寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試時(shí)需由一高低頻接收天線開關(guān)13來(lái)回往覆切換高頻接收天線11及低頻接收天線12之間，通過(guò)不同的傳輸路徑的切換，分別將接收自待測(cè)手機(jī)15的高低頻信號(hào)送往頻譜分析儀14，以利分析出待測(cè)手機(jī)15是否產(chǎn)生寄生信號(hào)并借以制作出相關(guān)的數(shù)據(jù)資料，此一連接方式在公知的做法上可由一獨(dú)立的電波暗室來(lái)執(zhí)行。
請(qǐng)?jiān)倮^續(xù)參閱圖2，圖2是公知利用電波暗室進(jìn)行天線場(chǎng)型圖測(cè)試時(shí)，相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器的連接方式示意圖，其中圖中的分界線10上半部是表示在電波暗室內(nèi)，在分界線10下半部則表示是在電波暗室外，由圖中可知待測(cè)手機(jī)15及高頻接收天線11是位于電波暗室內(nèi)，而所需的測(cè)量?jī)x器網(wǎng)絡(luò)分析儀16是位于電波暗室外，當(dāng)進(jìn)行天線場(chǎng)型圖測(cè)試時(shí)則由一高頻接收天線11將所接收到的信號(hào)送往網(wǎng)絡(luò)分析儀16進(jìn)行分析以產(chǎn)出相關(guān)的天線輻射場(chǎng)型圖資料，此一連接方式在公知的做法上可由一獨(dú)立的電波暗室來(lái)執(zhí)行。
前述手機(jī)輻射測(cè)試方式多需在一固定測(cè)試環(huán)境之下進(jìn)行，如無(wú)法將電波暗室內(nèi)相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器間的高頻連接線加以固定，將會(huì)造成連結(jié)線的幾何形狀改變，影響測(cè)量結(jié)果的精確性及準(zhǔn)確性。
綜合前述分析可知，公知手機(jī)輻射測(cè)量方式不論是進(jìn)行寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試或天線場(chǎng)型圖測(cè)試，兩者所需求的測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法都極為類似且都需要在電波暗室內(nèi)進(jìn)行才可以，因此若以公知的方式進(jìn)行不同的測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，則必須以人力手動(dòng)調(diào)整各測(cè)試設(shè)備、測(cè)試儀器與待測(cè)手機(jī)間的聯(lián)機(jī)或?qū)⒃摯郎y(cè)手機(jī)移動(dòng)至不同的測(cè)試空間繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，如此一來(lái)即會(huì)產(chǎn)生以下的問(wèn)題1.各測(cè)試項(xiàng)目間的相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器聯(lián)機(jī)切換不易，造成測(cè)試流程的復(fù)雜度提高。
2.頻繁的高頻接頭拆卸易造成高頻接頭的損壞。
3.連接各儀器設(shè)備的高頻連接線因無(wú)法置于固定位置，因此增加高頻連接線幾何形狀改變所造成的校正不確定性與準(zhǔn)確度。
4.增加經(jīng)常性的校正頻率，增加校正流程。
5.增加測(cè)試過(guò)程所需的人力與時(shí)間。
6.降低電波暗室的使用效率。
因此本發(fā)明即是為了解決公知手機(jī)進(jìn)行寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試及天線場(chǎng)型圖測(cè)試時(shí)所產(chǎn)生的前述問(wèn)題，提出一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，該系統(tǒng)及方法主要是在一電波暗室內(nèi)裝設(shè)不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè)試設(shè)備，同時(shí)在電波暗室外部也提供裝設(shè)相對(duì)應(yīng)于不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè)試儀器，并配合利用預(yù)先開發(fā)的程序自動(dòng)切換各儀器間的聯(lián)機(jī)至手機(jī)欲測(cè)試的項(xiàng)目，達(dá)到利用同一電波暗室進(jìn)行相關(guān)設(shè)備儀器的切換完成不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目的目的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，利用預(yù)先開發(fā)的程控高頻開關(guān)自動(dòng)切換各儀器間的聯(lián)機(jī)至手機(jī)欲測(cè)試項(xiàng)目的系統(tǒng)及方法。
本發(fā)明的次要目的在于提供一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，以避免因頻繁拆卸各聯(lián)機(jī)的高頻接頭所造成的損壞。
本發(fā)明的再一目的在于提供一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，可使連接各儀器設(shè)備的高頻連接線可置于固定位置不需移動(dòng)，減少因高頻連接線幾何形狀改變所造成的校正不確定性與準(zhǔn)確度。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，可減少經(jīng)常性的校正頻率，縮短校正流程。
為了達(dá)到上述發(fā)明的目的，本發(fā)明主要提出利用預(yù)先設(shè)計(jì)的高頻開關(guān)配合不同的手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器做相對(duì)應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的切換，即可達(dá)到利用同一電波暗室進(jìn)行相關(guān)設(shè)備儀器的切換完成不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目的目的。


圖1為公知寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試接線圖；圖2為公知天線場(chǎng)型圖測(cè)試接線圖；
圖3為本發(fā)明手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)接線圖。
其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下11高頻接收天線12低頻接收天線13高低頻接收天線開關(guān)14頻譜分析儀15待測(cè)手機(jī)16網(wǎng)絡(luò)分析儀31高頻接收天線開關(guān)32高低頻接收天線開關(guān)具體實(shí)施方式
為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定目的所采取的技術(shù)、手段及功效，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，相信本發(fā)明的目的、特征與特點(diǎn)，當(dāng)可由此得一深入且具體的了解，然而所附圖式僅提供參考與說(shuō)明用，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制。
本發(fā)明主要提供一種利用預(yù)先設(shè)計(jì)的高頻開關(guān)配合不同的手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器做相對(duì)應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的切換，即可達(dá)到利用同一電波暗室進(jìn)行相關(guān)設(shè)備儀器的切換完成不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目的目的。
請(qǐng)參閱圖3的說(shuō)明，圖3是本發(fā)明手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法示意圖，其中圖中的分界線10上半部是表示在電波暗室內(nèi)，在分界線10下半部則表示是在電波暗室外，本發(fā)明主要是利用預(yù)先設(shè)計(jì)的高頻開關(guān)配合不同的手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的相關(guān)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試儀器做相對(duì)應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的切換，其中高頻接收天線開關(guān)31主要是將在電波暗室內(nèi)的高頻接收天線11所接收由待測(cè)手機(jī)15所發(fā)射出來(lái)的高頻信號(hào)做電波暗室外信號(hào)傳輸路徑的切換，以決定其信號(hào)路徑是送往網(wǎng)絡(luò)分析儀16或者是頻譜分析儀14。
承上述，當(dāng)高頻接收天線開關(guān)31是設(shè)在311的位置時(shí)，則配合網(wǎng)絡(luò)分析儀16的操作，則可以對(duì)在電波暗室內(nèi)的待測(cè)手機(jī)15進(jìn)行天線場(chǎng)型圖測(cè)試。
同樣的，當(dāng)高頻接收天線開關(guān)31是設(shè)在312的位置時(shí)，則高頻接收天線11的信號(hào)傳輸路徑將導(dǎo)向頻譜分析儀14的傳輸路徑，此時(shí)頻譜分析儀14即可通過(guò)高低頻接收天線開關(guān)32的切換來(lái)決定所要接收的是電波暗室內(nèi)高頻接收天線11所送過(guò)來(lái)的信號(hào)亦或是由低頻接收天線12所送過(guò)來(lái)的信號(hào)。
承上述，當(dāng)高頻接收天線開關(guān)31是設(shè)定在312的位置且高低頻接收天線開關(guān)32是設(shè)定321的位置時(shí)，則高頻接收天線11所接收到由電波暗室內(nèi)待測(cè)手機(jī)15發(fā)射出來(lái)的高頻信號(hào)將可順利的送到頻譜分析儀14做分析；當(dāng)高低頻接收天線開關(guān)32是設(shè)定322的位置時(shí)，則由則低頻接收天線12所接收到由電波暗室內(nèi)待測(cè)手機(jī)15發(fā)射出來(lái)的低頻信號(hào)將可順利的送到頻譜分析儀14做分析。
綜上所述，本發(fā)明可有效達(dá)到利用同一間電波暗室進(jìn)行不同的手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目，其中包含有對(duì)手機(jī)進(jìn)行寄生信號(hào)發(fā)射測(cè)試及天線場(chǎng)型圖測(cè)試，亦即通過(guò)本發(fā)明所開發(fā)的測(cè)試程序，控制相關(guān)高頻開關(guān)間的切換與接線方式，以自動(dòng)切換儀器間的聯(lián)機(jī)至手機(jī)所需的測(cè)試項(xiàng)目并進(jìn)行測(cè)試，達(dá)到節(jié)省測(cè)試過(guò)程的人力與時(shí)間，并有效改善測(cè)試流程，因此本發(fā)明所能達(dá)到的功效及優(yōu)點(diǎn)如下1.于測(cè)試過(guò)程中，可通過(guò)開發(fā)的程序自動(dòng)切換各儀器間的聯(lián)機(jī)至手機(jī)欲測(cè)試的項(xiàng)目，有效改善測(cè)試流程。
2.降低因頻繁拆卸對(duì)高頻接頭所造成的損壞。
3.連接各儀器設(shè)備的高頻連接線可置于固定位置不需移動(dòng)，減少因高頻連接線幾何形狀改變所造成的校正不確定性與準(zhǔn)確度。
4.可減少經(jīng)常性的校正頻率，縮短校正流程。
5.節(jié)省測(cè)試過(guò)程所需的人力與時(shí)間。
6.增加電波暗室的使用效率。
因此本發(fā)明確能借上述所披露的技術(shù)，解決公知手機(jī)輻射測(cè)試必需大量依賴人工作接線及調(diào)校等煩瑣步驟等缺點(diǎn)。
然而上述所披露的圖式、說(shuō)明，僅為本發(fā)明的實(shí)施例而已，凡本領(lǐng)域的技術(shù)人員可依據(jù)上述的說(shuō)明作其它種種的改進(jìn)，然而這些改變?nèi)詫儆诒景l(fā)明的創(chuàng)作精神及以下所界定的專利范圍中。
權(quán)利要求
1.一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括一高頻接收天線，用來(lái)接收待測(cè)物所輻射出的高頻頻率；一低頻接收天線，用來(lái)接收待測(cè)物所輻射出的低頻頻率；一頻譜分析儀，用來(lái)分析待測(cè)物輻射出的高低頻寄生信號(hào)；一網(wǎng)絡(luò)分析儀，用來(lái)分析并產(chǎn)生待測(cè)物輻射出的天線場(chǎng)型圖；一高頻接收天線開關(guān)，用來(lái)切換高頻天線與網(wǎng)絡(luò)分析儀間的高頻聯(lián)機(jī)；一高低頻接收天線開關(guān)，用來(lái)切換高低頻天線與頻譜分析儀間的高頻聯(lián)機(jī)；一開關(guān)控制程序，用來(lái)控制高頻接收天線開關(guān)及高低頻接收天線開關(guān)的切換。
2.一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試方法，包含一高頻寄生信號(hào)測(cè)試步驟、一低頻寄生信號(hào)測(cè)試步驟及一天線場(chǎng)型圖測(cè)試步驟；當(dāng)進(jìn)行高頻寄生信號(hào)測(cè)試時(shí)，利用開關(guān)控制程序?qū)⒏哳l接收天線開關(guān)置于頻譜分析儀端，同時(shí)將高低頻接收天線開關(guān)置于高頻接收天線端，當(dāng)高頻接收天線接收到特測(cè)物輻射出的高頻信號(hào)時(shí)，可將該高頻信號(hào)順利傳送到頻譜分析儀；當(dāng)進(jìn)行低頻寄生信號(hào)測(cè)試時(shí)，利用開關(guān)控制程序?qū)⒏叩皖l接收天線開關(guān)置于低頻接收天線端，當(dāng)?shù)皖l接收天線接收到特測(cè)物輻射出的低頻信號(hào)時(shí)，可將該低頻信號(hào)順利傳送到頻譜分析儀；當(dāng)進(jìn)行天線場(chǎng)型圖測(cè)試時(shí)，利用開關(guān)控制程序?qū)⒏哳l接收天線開關(guān)置于網(wǎng)絡(luò)分析儀端，當(dāng)高頻接收天線接收到特測(cè)物輻射出的高頻信號(hào)時(shí)，可將該高頻信號(hào)順利傳送到網(wǎng)絡(luò)分析儀。
全文摘要
一種手機(jī)輻射自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與方法，主要是在一電波暗室內(nèi)裝設(shè)不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè)試設(shè)備，同時(shí)在電波暗室外部也提供相對(duì)應(yīng)于不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目所需的測(cè)試儀器，當(dāng)要在同一電波暗室內(nèi)進(jìn)行不同的手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，通過(guò)開發(fā)的程序自動(dòng)切換各儀器間的聯(lián)機(jī)至手機(jī)欲測(cè)試的項(xiàng)目，即可達(dá)到利用同一電波暗室進(jìn)行相關(guān)設(shè)備儀器的切換完成不同手機(jī)輻射測(cè)試項(xiàng)目的目的。
文檔編號(hào)H04M1/24GK1900727SQ20051008740
公開日2007年1月24日 申請(qǐng)日期2005年7月21日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月21日
發(fā)明者張晉維 申請(qǐng)人:華冠通訊股份有限公司