本技術(shù)涉及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著信息技術(shù)的飛速發(fā)展，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)技術(shù)尤其是固態(tài)硬盤(pán)(ssd)的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。固態(tài)硬盤(pán)以其更快的讀寫(xiě)速度、更低的功耗和更強(qiáng)的抗震性相比傳統(tǒng)的機(jī)械硬盤(pán)得到了廣泛的應(yīng)用，尤其在企業(yè)級(jí)數(shù)據(jù)中心、個(gè)人計(jì)算設(shè)備以及大數(shù)據(jù)處理場(chǎng)景中。然而，固態(tài)硬盤(pán)在生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制和性能評(píng)估是確保其可靠性和性能的關(guān)鍵步驟，因此，開(kāi)發(fā)一種有效的硬盤(pán)測(cè)試方法顯得尤為重要。

2、在現(xiàn)有的技術(shù)中，固態(tài)硬盤(pán)的測(cè)試通常包括對(duì)硬盤(pán)進(jìn)行全盤(pán)掃描，檢測(cè)硬盤(pán)的讀寫(xiě)能力以及存儲(chǔ)單元的健康狀態(tài)。這種方法主要依賴于順序讀寫(xiě)和隨機(jī)讀寫(xiě)測(cè)試，以模擬真實(shí)世界中的各種應(yīng)用場(chǎng)景。測(cè)試過(guò)程中，硬盤(pán)會(huì)被要求在不同的工作負(fù)載和持續(xù)時(shí)間下運(yùn)行，以評(píng)估其性能和耐久性。這種測(cè)試可以提供關(guān)于硬盤(pán)速度、延遲及錯(cuò)誤率的綜合信息，幫助制造商和使用者理解產(chǎn)品的質(zhì)量。

3、盡管現(xiàn)有技術(shù)在固態(tài)硬盤(pán)的測(cè)試方面取得了一定的成效，但在某些具體應(yīng)用場(chǎng)景下仍存在不足。例如，傳統(tǒng)的測(cè)試方法通常未能全面模擬硬盤(pán)在不同物理區(qū)域的表現(xiàn)，而這在實(shí)際應(yīng)用中可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)的不一致性。此外，現(xiàn)有的測(cè)試方法往往忽視了環(huán)境因素如溫度對(duì)硬盤(pán)性能的影響。在實(shí)際使用中，固態(tài)硬盤(pán)可能會(huì)在不同的環(huán)境溫度下工作，這些條件下硬盤(pán)的表現(xiàn)可能與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試環(huán)境下有顯著差異。因此，需要一種更為全面和實(shí)際的測(cè)試方法來(lái)確保硬盤(pán)在各種環(huán)境和工作負(fù)載下的穩(wěn)定性和可靠性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)提供了一種固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品，用于更加精確地定位和診斷固態(tài)硬盤(pán)中的特定問(wèn)題區(qū)域，從而提高整個(gè)固態(tài)硬盤(pán)的質(zhì)量評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)和維修效率。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試方法，應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)，該方法包括：將待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間劃分為多個(gè)物理區(qū)；確定在預(yù)設(shè)溫度下預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)；在預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)依次對(duì)多個(gè)物理區(qū)進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試操作，得到多個(gè)物理區(qū)分別對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率，讀寫(xiě)測(cè)試操作的讀寫(xiě)次數(shù)為讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)；若超過(guò)預(yù)設(shè)數(shù)量的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率高于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，則確定待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)不合格；若低于預(yù)設(shè)數(shù)量的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率低于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，則確定待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)合格。

3、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)將待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間劃分為多個(gè)物理區(qū)，并在預(yù)設(shè)溫度下預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)對(duì)各個(gè)物理區(qū)進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試操作，根據(jù)各個(gè)物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率來(lái)判斷待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的合格與否。如果超過(guò)預(yù)設(shè)數(shù)量的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率高于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，說(shuō)明待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)中存在過(guò)多物理區(qū)域的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率不符合要求，那么待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)不合格；如果低于預(yù)設(shè)數(shù)量的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率低于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，說(shuō)明待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)中雖然存在讀寫(xiě)錯(cuò)誤率高于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值的物理區(qū)，但從整體上來(lái)說(shuō)，這些物理區(qū)的數(shù)量沒(méi)有超過(guò)預(yù)設(shè)數(shù)量，意味著待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)大部分的物理區(qū)的讀寫(xiě)性能是符合要求的，因此可以判斷待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)總體上是合格的。該技術(shù)方案可以針對(duì)性地定位到固態(tài)硬盤(pán)存儲(chǔ)中故障率較高的物理區(qū)，可以縮短維修時(shí)間，減少整體的維護(hù)成本。根據(jù)讀寫(xiě)錯(cuò)誤率高于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值的物理區(qū)的數(shù)量判斷固態(tài)硬盤(pán)的質(zhì)量好壞，避免因部分區(qū)域故障而直接判定整個(gè)固態(tài)硬盤(pán)不合格。同時(shí)，保障了固態(tài)硬盤(pán)的總體讀寫(xiě)錯(cuò)誤率低于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，可以提高固態(tài)硬盤(pán)的響應(yīng)速度，改善用戶的使用體驗(yàn)。

4、結(jié)合第一方面的一些實(shí)施例，在一些實(shí)施例中，將待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間劃分為多個(gè)物理區(qū)，具體包括：根據(jù)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的最小寫(xiě)入單元，確定每個(gè)物理區(qū)的最小規(guī)格；根據(jù)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間確定物理區(qū)的數(shù)量。

5、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)根據(jù)固態(tài)硬盤(pán)的最小寫(xiě)入單元確定物理區(qū)的最小規(guī)格規(guī)格，并根據(jù)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間確定物理區(qū)的數(shù)量。通過(guò)考慮固態(tài)硬盤(pán)的最小寫(xiě)入單元，可以使物理區(qū)的劃分更符合固態(tài)硬盤(pán)的實(shí)際存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)，同時(shí)根據(jù)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間確定物理區(qū)的數(shù)量，可以使物理區(qū)的數(shù)量合理，既能充分反映固態(tài)硬盤(pán)中不同存儲(chǔ)區(qū)域的質(zhì)量狀況，又不會(huì)造成物理區(qū)的數(shù)量過(guò)多導(dǎo)致測(cè)試效率過(guò)低的問(wèn)題。

6、結(jié)合第一方面的一些實(shí)施例，在一些實(shí)施例中，確定在預(yù)設(shè)溫度下預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)，具體包括：基于預(yù)設(shè)模型，確定在預(yù)設(shè)溫度下待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的平均故障間隔時(shí)間；根據(jù)預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)和平均故障間隔時(shí)間確定平均故障次數(shù)，將平均故障次數(shù)作為讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)。

7、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)基于預(yù)設(shè)模型，確定在預(yù)設(shè)溫度下固態(tài)硬盤(pán)的平均故障間隔時(shí)間，并根據(jù)預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)和平均故障間隔時(shí)間確定平均故障次數(shù)，將平均故障次數(shù)轉(zhuǎn)換為讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)。通過(guò)考慮測(cè)試環(huán)境中的預(yù)設(shè)溫度和預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)，從而確定讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)，可以更加真實(shí)地模擬固態(tài)硬盤(pán)的使用狀態(tài)，從而使得測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確。通過(guò)計(jì)算平均故障次數(shù)來(lái)確定測(cè)試次數(shù)，合理的測(cè)試次數(shù)有助于在保證測(cè)試質(zhì)量的前提下，縮短整個(gè)測(cè)試周期，提高測(cè)試流程的效率，從而避免測(cè)試次數(shù)過(guò)多或過(guò)少導(dǎo)致的測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)或效果不佳的問(wèn)題。

8、結(jié)合第一方面的一些實(shí)施例，在一些實(shí)施例中，在預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)依次對(duì)多個(gè)物理區(qū)進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試操作，得到多個(gè)物理區(qū)分別對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率，具體包括：在預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)對(duì)目標(biāo)物理區(qū)進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試操作，記錄目標(biāo)物理區(qū)的讀寫(xiě)操作次數(shù)；確定目標(biāo)物理區(qū)在讀寫(xiě)測(cè)試操作中出現(xiàn)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤次數(shù)；根據(jù)讀寫(xiě)操作次數(shù)和讀寫(xiě)錯(cuò)誤次數(shù)，確定目標(biāo)物理區(qū)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率；當(dāng)讀寫(xiě)操作次數(shù)達(dá)到讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)時(shí)，結(jié)束測(cè)試。

9、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)逐區(qū)統(tǒng)計(jì)讀寫(xiě)操作次數(shù)和讀寫(xiě)錯(cuò)誤次數(shù)，可以準(zhǔn)確獲取每個(gè)物理區(qū)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率，以便后續(xù)根據(jù)讀寫(xiě)錯(cuò)誤率判定該物理區(qū)的質(zhì)量好壞，避免直接以錯(cuò)位數(shù)量判斷可能造成的不準(zhǔn)確。同時(shí)，每完成一個(gè)物理區(qū)的測(cè)試即計(jì)算該物理區(qū)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率，可以使測(cè)試過(guò)程更加明確、直觀。

10、結(jié)合第一方面的一些實(shí)施例，在一些實(shí)施例中，在確定在預(yù)設(shè)溫度下預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)內(nèi)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)的步驟之后，方法還包括：監(jiān)測(cè)測(cè)試環(huán)境中的實(shí)時(shí)溫度；當(dāng)實(shí)時(shí)溫度高于或低于預(yù)設(shè)溫度時(shí)，向溫控裝置發(fā)送控制指令，使得溫控裝置接收到控制指令后調(diào)節(jié)測(cè)試環(huán)境中的溫度以將測(cè)試環(huán)境中的實(shí)時(shí)溫度維持在預(yù)設(shè)溫度。

11、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)監(jiān)測(cè)測(cè)試環(huán)境的實(shí)時(shí)溫度，并控制溫控裝置實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)使得實(shí)時(shí)溫度維持在預(yù)設(shè)溫度。由于固態(tài)硬盤(pán)的工作環(huán)境溫度會(huì)直接影響其讀寫(xiě)錯(cuò)誤率，增加溫度監(jiān)測(cè)和控制可以減少溫度波動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，使得測(cè)試條件更加可控，測(cè)試結(jié)果也更加準(zhǔn)確可靠。

12、結(jié)合第一方面的一些實(shí)施例，在一些實(shí)施例中，在將待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間劃分為多個(gè)物理區(qū)的步驟之前，方法還包括：向待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)連續(xù)寫(xiě)入預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)，直到待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的寫(xiě)入速度在預(yù)設(shè)速度閾值范圍內(nèi)；對(duì)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行數(shù)據(jù)擦除操作，將待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)上的所有存儲(chǔ)單元重置到出廠的初始狀態(tài)。

13、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)向待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)連續(xù)寫(xiě)入預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)，直到待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的寫(xiě)入速度在預(yù)設(shè)速度閾值范圍內(nèi)，從而可以有效地評(píng)估固態(tài)硬盤(pán)在持續(xù)高負(fù)載條件下的性能。對(duì)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行數(shù)據(jù)擦除操作并將待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)上的所有存儲(chǔ)單元重置到出廠的初始狀態(tài)，從而可以清除所有殘留數(shù)據(jù)，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。這個(gè)過(guò)程有助于消除先前操作可能引入的任何性能偏差，使得接下來(lái)的讀寫(xiě)測(cè)試操作在一個(gè)干凈且統(tǒng)一的狀態(tài)下開(kāi)始。同時(shí)也確保了每次測(cè)試開(kāi)始時(shí)固態(tài)硬盤(pán)的狀態(tài)一致，這對(duì)于比較不同固態(tài)硬盤(pán)或同一固態(tài)硬盤(pán)在不同條件下的表現(xiàn)尤為重要，提高了測(cè)試結(jié)果的可重復(fù)性和可比性。

14、結(jié)合第一方面的一些實(shí)施例，在一些實(shí)施例中，在若超過(guò)預(yù)設(shè)數(shù)量的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率高于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，則確定待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)不合格或若低于預(yù)設(shè)數(shù)量的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的讀寫(xiě)錯(cuò)誤率低于預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值，則確定待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)合格的步驟之后，方法還包括：將讀寫(xiě)錯(cuò)誤率超過(guò)預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的地址信息作為不合格物理區(qū)的標(biāo)識(shí)信息；將讀寫(xiě)測(cè)試操作的執(zhí)行時(shí)間、環(huán)境參數(shù)、待測(cè)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的設(shè)備信息以及不合格物理區(qū)的標(biāo)識(shí)信息封裝成測(cè)試報(bào)告。

15、在上述實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)將讀寫(xiě)錯(cuò)誤率超過(guò)預(yù)設(shè)錯(cuò)誤率閾值的物理區(qū)對(duì)應(yīng)的地址信息標(biāo)記為不合格，可以精確地識(shí)別和記錄固態(tài)硬盤(pán)中表現(xiàn)不佳的具體區(qū)域，對(duì)于后續(xù)的故障分析和質(zhì)量改進(jìn)工作至關(guān)重要。將讀寫(xiě)測(cè)試操作的執(zhí)行時(shí)間、環(huán)境參數(shù)、待測(cè)待測(cè)固態(tài)硬盤(pán)的設(shè)備信息以及不合格物理區(qū)的標(biāo)識(shí)信息封裝成測(cè)試報(bào)告，提供了一個(gè)全面的視圖，展示了測(cè)試的完整性和深度。

16、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括：一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器；該存儲(chǔ)器與該一個(gè)或多個(gè)處理器耦合，該存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序代碼，該計(jì)算機(jī)程序代碼包括計(jì)算機(jī)指令，該一個(gè)或多個(gè)處理器調(diào)用該計(jì)算機(jī)指令以使得該測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行如第一方面以及第一方面中任一可能的實(shí)現(xiàn)方式描述的方法。

17、第三方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種包含指令的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)上述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在測(cè)試系統(tǒng)上運(yùn)行時(shí)，使得上述測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行如第一方面以及第一方面中任一可能的實(shí)現(xiàn)方式描述的方法。

18、第四方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，包括指令，當(dāng)上述指令在測(cè)試系統(tǒng)上運(yùn)行時(shí)，使得上述測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行如第一方面以及第一方面中任一可能的實(shí)現(xiàn)方式描述的方法。

19、可以理解地，上述第二方面提供的測(cè)試系統(tǒng)，第三方面提供的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品和第四方面提供的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)均用于執(zhí)行本技術(shù)實(shí)施例所提供的方法。因此，其所能達(dá)到的有益效果可參考對(duì)應(yīng)方法中的有益效果，此處不再贅述。

20、本技術(shù)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：

21、1、由于采用了將固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間劃分為多個(gè)物理區(qū)并分區(qū)統(tǒng)計(jì)讀寫(xiě)錯(cuò)誤率的方法，所以可以定位到固態(tài)硬盤(pán)中故障率較高的物理區(qū)，有效解決了現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法定位故障區(qū)域而直接判定整個(gè)固態(tài)硬盤(pán)不合格的問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了更精確地判斷固態(tài)硬盤(pán)質(zhì)量好壞，避免誤判的效果。這種基于物理區(qū)劃分并分區(qū)統(tǒng)計(jì)錯(cuò)誤的測(cè)量方式，與現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)整個(gè)固態(tài)硬盤(pán)統(tǒng)一統(tǒng)計(jì)錯(cuò)誤的方法相比，可以更加精確地定位故障區(qū)域，避免因局部故障而直接判定整個(gè)固態(tài)硬盤(pán)不合格的顯著缺陷，是本發(fā)明的一個(gè)顯著進(jìn)步。

22、2、由于采用了考慮固態(tài)硬盤(pán)的最小寫(xiě)入單元和固態(tài)硬盤(pán)的存儲(chǔ)空間來(lái)劃分物理區(qū)以及根據(jù)預(yù)設(shè)模型計(jì)算讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)的方案，所以測(cè)試的物理區(qū)劃分更符合固態(tài)硬盤(pán)的特性，讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)更合理，有效解決了現(xiàn)有技術(shù)中物理區(qū)劃分和讀寫(xiě)測(cè)試次數(shù)設(shè)置不當(dāng)導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)確的問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了測(cè)試條件更科學(xué)合理，測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。這種劃分方式和測(cè)試次數(shù)確定方式與現(xiàn)有技術(shù)中經(jīng)驗(yàn)性設(shè)置的方式相比，可以使測(cè)試條件更科學(xué)合理，避免測(cè)試盲目性帶來(lái)的不準(zhǔn)確結(jié)果，是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)質(zhì)性優(yōu)點(diǎn)。

23、3、由于采用了生成測(cè)試報(bào)告、進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間讀寫(xiě)測(cè)試等措施，所以可以更全面地反映測(cè)試情況，檢驗(yàn)固態(tài)硬盤(pán)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，有效解決了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試信息不全面和可靠性檢驗(yàn)不足的問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了測(cè)試的完整性和全面性。這些測(cè)試輔助措施相比現(xiàn)有技術(shù)中的僅進(jìn)行簡(jiǎn)單讀寫(xiě)測(cè)試的方案，可以從多個(gè)方面提高測(cè)試的系統(tǒng)性、完整性與全面性，是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)質(zhì)性優(yōu)點(diǎn)。