技術(shù)總結(jié)
一種示例可掃描寄存器文件包括多個存儲器單元，并且掃描測試的移位階段將來自掃描輸入的數(shù)據(jù)位移位通過該多個存儲器單元到達掃描輸出。移位可以通過在每一時鐘循環(huán)上讀取該多個存儲器單元中的一個存儲器單元以提供掃描輸出并使用掃描輸入上的數(shù)據(jù)位寫入該多個存儲器單元中的一個存儲器單元來執(zhí)行。為了在每一時鐘循環(huán)上執(zhí)行順序讀和寫，可掃描寄存器可以生成寫時鐘，該寫時鐘在移位階段期間從用于功能操作的時鐘反相。寫時鐘被生成而不帶毛刺，使得非預(yù)期寫入不會發(fā)生。可掃描寄存器文件可以與集成電路中的其他模塊的基于掃描的測試(例如，使用自動測試模式生成)集成在一起。

技術(shù)研發(fā)人員：V·伯納帕里;K·R·貝魯爾;P·巴魯;B·扎法;A·D·樸;S·S·尹
受保護的技術(shù)使用者：高通股份有限公司
文檔號碼：201580049236
技術(shù)研發(fā)日：2015.07.20
技術(shù)公布日：2017.05.17