技術(shù)特征：

1.一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，應(yīng)用于可編程邏輯芯片，所述可編程邏輯芯片包括網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊和功能調(diào)試模塊，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊與所述功能調(diào)試模塊相連，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊包括通信接口和指令調(diào)試單元，所述通信接口與所述指令調(diào)試單元相連，所述指令調(diào)試單元與所述功能調(diào)試模塊相連；

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，所述通信接口還包括串行器和解串器，所述串行器和所述解串器分別與所述指令調(diào)試單元相連；

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，包括：控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令數(shù)據(jù)包，解析所述數(shù)據(jù)包得到網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令；

5.一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，應(yīng)用于調(diào)試主機(jī)，所述調(diào)試主機(jī)包括調(diào)試客戶端和網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊，所述調(diào)試客戶端與所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊相連，所述方法包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊包括通信接口和指令調(diào)試單元，所述通信接口與所述指令調(diào)試單元相連，所述指令調(diào)試單元與所述調(diào)試客戶端相連；

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，所述通信接口還包括串行器和解串器，所述串行器和所述解串器分別與所述指令調(diào)試單元相連；

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，其特征在于，控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片，包括：控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令封裝為網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令數(shù)據(jù)包，通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片；

9.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述可編程邏輯芯片的調(diào)試方法。

10.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述可編程邏輯芯片的調(diào)試方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┮环N可編程邏輯芯片的調(diào)試方法、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，涉及芯片調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域，應(yīng)用于可編程邏輯芯片，所述可編程邏輯芯片包括網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊和功能調(diào)試模塊，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊與所述功能調(diào)試模塊相連，所述方法包括：控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，解析所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令，將所述調(diào)試指令發(fā)送到所述功能調(diào)試模塊，所述調(diào)試指令用于使所述功能調(diào)試模塊進(jìn)行功能調(diào)試；控制所述功能調(diào)試模塊將功能調(diào)試回應(yīng)發(fā)送到所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊；控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述功能調(diào)試響應(yīng)通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)到所述調(diào)試主機(jī)，能夠提升可編程邏輯芯片調(diào)試的調(diào)試效率和靈活性。

技術(shù)研發(fā)人員：劉家豪
受保護(hù)的技術(shù)使用者：山東云海國創(chuàng)云計(jì)算裝備產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6