本技術(shù)涉及芯片調(diào)試，尤其涉及一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、可編程邏輯芯片是一種高度靈活的數(shù)字電路設(shè)計(jì)器件，被廣泛應(yīng)用于各種電子系統(tǒng)中?？删幊踢壿嬓酒暮诵奶攸c(diǎn)在于其可以通過編程來實(shí)現(xiàn)不同的邏輯功能，因此在開發(fā)過程中往往需要頻繁進(jìn)行調(diào)試。傳統(tǒng)上，可編程邏輯芯片的調(diào)試主要依賴于jtag（聯(lián)合測(cè)試工作組）接口和相關(guān)的開發(fā)環(huán)境。jtag是一種標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試協(xié)議，能夠?qū)π酒M(jìn)行內(nèi)部測(cè)試，并廣泛用于可編程邏輯芯片的調(diào)試。

2、然而，傳統(tǒng)的可編程邏輯芯片調(diào)試通常需要在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中進(jìn)行調(diào)試，調(diào)試工程師必須在物理上接觸到可編程邏輯芯片器件。這在產(chǎn)品定型后或部署到遠(yuǎn)程環(huán)境中的可編程邏輯芯片系統(tǒng)時(shí)，增加了維護(hù)和調(diào)試的難度。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)提供一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中可編程邏輯芯片調(diào)試需要現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試的限制，提升了可編程邏輯芯片調(diào)試的調(diào)試效率和靈活性。

2、本技術(shù)提供一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，應(yīng)用于可編程邏輯芯片，所述可編程邏輯芯片包括網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊和功能調(diào)試模塊，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊與所述功能調(diào)試模塊相連，所述方法包括：

3、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，解析所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令，將所述調(diào)試指令發(fā)送到所述功能調(diào)試模塊，所述調(diào)試指令用于使所述功能調(diào)試模塊進(jìn)行功能調(diào)試；

4、控制所述功能調(diào)試模塊將功能調(diào)試回應(yīng)發(fā)送到所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊；

5、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述功能調(diào)試響應(yīng)通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)到所述調(diào)試主機(jī)。

6、根據(jù)本技術(shù)提供的一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊包括通信接口和指令調(diào)試單元，所述通信接口與所述指令調(diào)試單元相連，所述指令調(diào)試單元與所述功能調(diào)試模塊相連；

7、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，解析所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令，將所述調(diào)試指令發(fā)送到所述功能調(diào)試模塊，包括：

8、控制所述通信接口接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到指令調(diào)試單元；

9、控制所述指令調(diào)試單元解析所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令，將所述調(diào)試指令發(fā)送到所述功能調(diào)試模塊。

10、根據(jù)本技術(shù)提供的一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，所述通信接口還包括串行器和解串器，所述串行器和所述解串器分別與所述指令調(diào)試單元相連；

11、控制所述通信接口接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到指令調(diào)試單元，包括：控制所述解串器接收調(diào)試主機(jī)的串行器通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的高速串行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，將所述高速串行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令轉(zhuǎn)換成低速并行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到指令調(diào)試單元；

12、控制所述指令調(diào)試單元解析所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令，包括控制所述指令調(diào)試單元解析所述低速并行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令；

13、控制所述功能調(diào)試模塊將功能調(diào)試回應(yīng)發(fā)送到所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊，包括：控制所述功能調(diào)試模塊將低速并行功能調(diào)試回應(yīng)發(fā)送到所述指令調(diào)試單元，控制所述指令調(diào)試單元封裝所述低速并行功能調(diào)試響應(yīng)，將封裝后的低速并行功能調(diào)試響應(yīng)發(fā)送到所述串行器；

14、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述功能調(diào)試響應(yīng)通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)到所述調(diào)試主機(jī)，包括：控制所述串行器將封裝后的低速并行功能調(diào)試響應(yīng)轉(zhuǎn)換成高速串行功能調(diào)試響應(yīng)，通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)到所述調(diào)試主機(jī)。

15、根據(jù)本技術(shù)提供的一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，包括：控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令數(shù)據(jù)包，解析所述數(shù)據(jù)包得到網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令；

16、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述功能調(diào)試響應(yīng)通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)到所述調(diào)試主機(jī)，包括：控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述功能調(diào)試回應(yīng)封裝為功能調(diào)試回應(yīng)數(shù)據(jù)包，將所述功能調(diào)試回應(yīng)數(shù)據(jù)包通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)到所述調(diào)試主機(jī)。

17、本技術(shù)還提供一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，應(yīng)用于調(diào)試主機(jī)，所述調(diào)試主機(jī)包括調(diào)試客戶端和網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊，所述調(diào)試客戶端與所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊相連，所述方法包括：

18、控制所述調(diào)試客戶端接收用戶輸入的交互指令生成網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊；

19、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片，所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令用于被所述可編程邏輯芯片的網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊解析得到調(diào)試指令后，使所述可編程邏輯芯片的功能調(diào)試模塊進(jìn)行功能調(diào)試；

20、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收所述可編程邏輯芯片通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)的功能調(diào)試回應(yīng)，將所述功能調(diào)試回應(yīng)回發(fā)到所述調(diào)試客戶端。

21、根據(jù)本技術(shù)提供的一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊包括通信接口和指令調(diào)試單元，所述通信接口與所述指令調(diào)試單元相連，所述指令調(diào)試單元與所述調(diào)試客戶端相連；

22、將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊，包括：將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送指令調(diào)試單元，控制所述指令調(diào)試單元將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到所述通信接口；

23、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片，包括：控制所述通信接口將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片。

24、根據(jù)本技術(shù)提供的一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，所述通信接口還包括串行器和解串器，所述串行器和所述解串器分別與所述指令調(diào)試單元相連；

25、控制所述指令調(diào)試單元將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到所述通信接口，包括：控制所述指令調(diào)試單元將低速并行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到所述指令調(diào)試單元，控制所述指令調(diào)試單元封裝低速并行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令后，將封裝后的低速并行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令發(fā)送到所述串行器；

26、控制所述通信接口將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片，包括：控制所述串行器將封裝后的低速并行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令轉(zhuǎn)換為高速串行網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片；

27、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收所述可編程邏輯芯片通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)的功能調(diào)試回應(yīng)，將所述功能調(diào)試回應(yīng)回發(fā)到所述調(diào)試客戶端，包括：控制所述解串器接收所述可編程邏輯芯片通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)的高速串行功能調(diào)試響應(yīng)，將所述高速串行功能調(diào)試響應(yīng)轉(zhuǎn)換成低速并行功能調(diào)試響應(yīng)通過所述指令調(diào)試單元回發(fā)到所述調(diào)試客戶端。

28、根據(jù)本技術(shù)提供的一種可編程邏輯芯片的調(diào)試方法，控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片，包括：控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊將所述網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令封裝為網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令數(shù)據(jù)包，通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述可編程邏輯芯片；

29、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收所述可編程邏輯芯片通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)的功能調(diào)試回應(yīng)，包括：

30、控制所述網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊接收所述可編程邏輯芯片通過網(wǎng)絡(luò)回發(fā)的功能調(diào)試回應(yīng)數(shù)據(jù)包，解析所述數(shù)據(jù)包得到功能調(diào)試回應(yīng)。

31、本技術(shù)還提供一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述可編程邏輯芯片的調(diào)試方法。

32、本技術(shù)還提供一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述可編程邏輯芯片的調(diào)試方法。

33、本技術(shù)提供的可編程邏輯芯片的調(diào)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，本技術(shù)實(shí)施例中，可編程邏輯芯片與調(diào)試主機(jī)直接通網(wǎng)絡(luò)相連，可便于可編程邏輯芯片接收調(diào)試主機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令，通過在可編程邏輯芯片中設(shè)置網(wǎng)絡(luò)調(diào)試模塊，可解析網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用層指令得到調(diào)試指令，使功能調(diào)試模塊基于調(diào)試指令進(jìn)行功能調(diào)試，功能調(diào)試模塊將功能調(diào)試回應(yīng)通過網(wǎng)絡(luò)將功能調(diào)試回應(yīng)通過網(wǎng)絡(luò)發(fā)送到所述調(diào)試主機(jī)，能夠便于調(diào)試主機(jī)側(cè)在調(diào)試過程中做出相應(yīng)的調(diào)整和決策，從而能夠在遠(yuǎn)程環(huán)境下調(diào)試可編程邏輯芯片，提升了可編程邏輯芯片調(diào)試的調(diào)試效率和靈活性。