一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器。
【背景技術(shù)】
[0002]半導(dǎo)體是當(dāng)今社會(huì)電子設(shè)備運(yùn)用中不可缺少的部分，隨著電子產(chǎn)品的增多，半導(dǎo)體的種類之間增多，半導(dǎo)體的制造中，有硅元素等先關(guān)元素組成，成型的半導(dǎo)體通過(guò)電阻等相關(guān)檢查來(lái)確定其是否滿足產(chǎn)品需求，而這種檢測(cè)手段無(wú)法檢測(cè)出半導(dǎo)體中是否存在缺陷，現(xiàn)需要一種既快捷，有簡(jiǎn)單的方式來(lái)檢測(cè)半導(dǎo)體中的缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的是提供一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器，具有快速檢測(cè)出半導(dǎo)體是否有缺陷的特點(diǎn)。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器，包括顯示器，其特征在于，機(jī)體連接電源，機(jī)體設(shè)有顯示器，前端設(shè)有探頭，內(nèi)部設(shè)有分析儀，探頭設(shè)有檢測(cè)器。
[0005]所述的檢測(cè)器為X光檢測(cè)器。
[0006]本發(fā)明的有益效果是:
本發(fā)明通過(guò)檢測(cè)器檢測(cè)出半導(dǎo)體是否有缺陷，從而檢測(cè)出生產(chǎn)中的生產(chǎn)工藝是否有缺陷，具有聞效率、低風(fēng)險(xiǎn)的優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0008]其中，I為機(jī)體；2為電源；3為顯示器；4為探頭；5為分析儀；6為檢測(cè)器。
【具體實(shí)施方式】
[0009]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步敘述。
[0010]如圖1所示，一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器，包括顯示器3，其特征在于，機(jī)體I連接電源2，機(jī)體I設(shè)有顯示器3，前端設(shè)有探頭4，內(nèi)部設(shè)有分析儀5，探頭4設(shè)有檢測(cè)器6。
[0011]所述的檢測(cè)器6為X光檢測(cè)器。
[0012]本發(fā)明的工作原理是:
通過(guò)檢測(cè)器6檢測(cè)半導(dǎo)體，將數(shù)據(jù)傳輸給分析儀5分析后，在顯示器3上顯示。
[0013]以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理和主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說(shuō)明書中描述的只是說(shuō)明本發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器，包括顯示器，其特征在于，機(jī)體連接電源，機(jī)體設(shè)有顯示器，前端設(shè)有探頭，內(nèi)部設(shè)有分析儀，探頭設(shè)有檢測(cè)器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器，其特征在于，所述的檢測(cè)器為X光檢測(cè)器。
【專利摘要】一種半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)器，包括顯示器，其特征在于，機(jī)體連接電源，機(jī)體設(shè)有顯示器，前端設(shè)有探頭，內(nèi)部設(shè)有分析儀，探頭設(shè)有檢測(cè)器，通過(guò)檢測(cè)器檢測(cè)半導(dǎo)體，將數(shù)據(jù)傳輸給分析儀分析后，在顯示器上顯示，具有高效率、低風(fēng)險(xiǎn)的優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01N23/00
【公開號(hào)】CN105527304
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410516581
【發(fā)明人】楊永利
【申請(qǐng)人】陜西三元金泰實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司
【公開日】2016年4月27日
【申請(qǐng)日】2014年9月30日