一種斷路器輔助開關(guān)的測試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，具體涉及一種斷路器輔助開關(guān)的測試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]高壓斷路器輔助開關(guān)是連接在高壓斷路器操動機(jī)構(gòu)主動桿軸上的低壓信號開關(guān)，常作為二次控制回路中的分、合閘控制開關(guān)以及聯(lián)鎖保護(hù)接點(diǎn)。當(dāng)高壓開關(guān)的輔助開關(guān)出現(xiàn)故障，會影響控制和信號回路，對整臺斷路器甚至于電網(wǎng)都會出現(xiàn)嚴(yán)重的危害。尤其是在分閘回路里，當(dāng)出現(xiàn)故障時出現(xiàn)側(cè)斷路器無法正常斷開，那么必定會越級跳閘，造成全站失壓。而若輔助開關(guān)的故障出現(xiàn)在信號和保護(hù)回路，會造成誤報警和保護(hù)失效的可能，那樣會嚴(yán)重影響供電安全。根據(jù)《國網(wǎng)公司十八項(xiàng)反事故措失》中12.1.3.8條明確規(guī)定:加強(qiáng)輔助開關(guān)的檢查維護(hù)，防止由于觸電腐蝕，松動變位、觸點(diǎn)轉(zhuǎn)換不靈活、切換不可靠等原因造成開關(guān)設(shè)備拒動。根據(jù)《電網(wǎng)設(shè)備狀態(tài)檢修技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編》第一分冊中12(7.2)kV-40.5kV交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備狀態(tài)評價導(dǎo)則中有明確規(guī)定，輔助開關(guān)出現(xiàn)卡澀或接觸不良等現(xiàn)象，扣分值(應(yīng)扣分值X權(quán)重)為10X4 = 40分，直接評價為嚴(yán)重狀態(tài)?？梢娢覀儽仨氃跈z查斷路器的過程中嚴(yán)格檢查輔助開關(guān)的分?jǐn)嗄芰八薪狱c(diǎn)的導(dǎo)通。輔助開關(guān)的檢測是衡量斷路器可靠性的重要指標(biāo)。
[0003]傳統(tǒng)方式檢測1kV小車斷路器的輔助開關(guān)是在停電檢修，回路檢查的過程中的一個項(xiàng)目，一般通過萬用表測量回路的導(dǎo)通狀態(tài)來判斷，這是現(xiàn)在常用的檢測輔助開關(guān)的方法，但是存在很多弊病，一，可靠性不高，輔助開關(guān)最常見的問題就是接點(diǎn)粘連，接點(diǎn)粘連經(jīng)常會造成線圈的燒毀，而檢測中可能會出現(xiàn)雖然回路導(dǎo)通但是接點(diǎn)接觸不良，所以即使分合時檢測合格也不能保證輔助開關(guān)完好。二，檢測時間長，正常停電檢測的方法一般采用萬用表量通斷檢測，一臺開關(guān)16對接點(diǎn)如果全部檢測至少需要5分鐘，而且內(nèi)側(cè)接點(diǎn)測量起來十分困難。西安局有數(shù)千臺1kV小車開關(guān)，如果每臺開關(guān)都要這樣檢測，那就要花費(fèi)大量的時間人力。時間拖得越長，越影響供電可靠性。因此，一般性檢修只檢查斷路器分合情況，單純輔助開關(guān)的檢測經(jīng)常被省略。但是如果輔助開關(guān)不能有效的檢查，就會存在一個很大的隱患在其中，導(dǎo)致控制回路斷線，信號指示不正常。粘連甚至?xí)斐删€圈燒毀。因此，必須尋找一個專門檢測輔助開關(guān)的方法或儀器。才能切實(shí)有效的解決檢測輔助開關(guān)的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種斷路器輔助開關(guān)的測試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)及方法能夠快速、有效的完成斷路器輔助開關(guān)的測試。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明所述的斷路器輔助開關(guān)的測試系統(tǒng)包括處理器、用于控制斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的多路開關(guān)、用于控制所述多路開關(guān)的控制器、用于檢測斷路器輔助開關(guān)各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的輔助開關(guān)通斷測試電路、以及用于檢測斷路器輔助開關(guān)各閉合節(jié)點(diǎn)的接觸電阻的輔助開關(guān)接觸電阻測試電路；
[0006]處理器的輸出端與控制器的輸入端相連接，控制器的輸出端與多路開關(guān)的控制端相連接，輔助開關(guān)通斷測試電路的輸出端及輔助開關(guān)接觸電阻測試電路的輸出端均與處理器相連接。
[0007]所述斷路器輔助開關(guān)中設(shè)有16對節(jié)點(diǎn)。
[0008]所述輔助開關(guān)通斷測試電路包括16個發(fā)光二極管、電平轉(zhuǎn)換器、以及用于將發(fā)光二極管發(fā)出的光轉(zhuǎn)換為電信號的16個光電轉(zhuǎn)換器，任意一個發(fā)光二極管均與斷路器輔助開關(guān)中對應(yīng)一對節(jié)點(diǎn)中的兩個節(jié)點(diǎn)相連接，光電轉(zhuǎn)換器的輸出端與電平轉(zhuǎn)換器的輸入端相連接，電平轉(zhuǎn)換器的輸出端與處理器連接。
[0009]還包括放大器、采樣保持電路、A/D轉(zhuǎn)換器、用于給斷路器內(nèi)的分合閘線圈提供電流的分合閘線圈電流產(chǎn)生電路、用于采集分合閘線圈電流產(chǎn)生電路輸出端的電壓信號的霍爾傳感器，霍爾傳感器的輸出端依次經(jīng)放大器、采樣保持電路及A/D轉(zhuǎn)換器與處理器的輸入端相連接，分合閘線圈電流產(chǎn)生電路的控制端與處理器的輸出端相連接。
[0010]處理器通過總線與控制器的輸入端、輔助開關(guān)通斷測試電路的輸出端、輔助開關(guān)接觸電阻測試電路的輸出端、A/D轉(zhuǎn)換器及分合閘線圈電流產(chǎn)生電路的控制端通過總線相連接。
[0011]處理器還連接有顯示器及存儲器。
[0012]本發(fā)明所述的斷路器輔助開關(guān)的測試方法包括以下步驟:
[0013]處理器發(fā)出開啟信號，控制器根據(jù)所述開啟信號控制多路開關(guān)使斷路器輔助開關(guān)工作，輔助開關(guān)接觸電阻測試電路檢測斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息，并將所述斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息轉(zhuǎn)發(fā)至處理器中，處理器根據(jù)所述斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息判斷斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻值是否大于等于預(yù)設(shè)電阻值，當(dāng)斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻值大于等于預(yù)設(shè)電阻值時，則產(chǎn)生報警信號，并輸出所述報警信號，當(dāng)斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻值小于預(yù)設(shè)電阻值時，則控制分合閘線圈電流產(chǎn)生電路產(chǎn)生電流信號，并將所述電流信號輸入到斷路器的分合閘線圈中，使斷路器合閘，輔助開關(guān)通斷測試電路檢測斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前的通斷狀態(tài)信息，并將所述斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)信息轉(zhuǎn)發(fā)至處理器中，處理器根據(jù)斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)信息判斷斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的關(guān)斷狀態(tài)是否正確，當(dāng)斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的關(guān)斷狀態(tài)不正確時，則產(chǎn)生報警信號；輔助開關(guān)接觸電阻測試電路檢測斷路器輔助開關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息，并將斷路器輔助開關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息轉(zhuǎn)發(fā)至處理器中，處理器根據(jù)斷路器輔助開關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息判斷斷路器輔助開關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻是否大于等于預(yù)設(shè)電阻值，當(dāng)斷路器輔助開關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻大于等于預(yù)設(shè)電阻值時，則產(chǎn)生報警信號；
[0014]同時，霍爾傳感器獲取分合閘線圈電流產(chǎn)生電路輸出端的電壓信號，所述電壓信號依次經(jīng)放大、采樣保持及A/D轉(zhuǎn)換后輸入到處理器，處理器存儲經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后電壓信號。
[0015]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0016]本發(fā)明所述的斷路器輔助開關(guān)的測試系統(tǒng)在檢測過程中，通過多路開關(guān)控制斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的閉合狀態(tài)，然后通過輔助開關(guān)通斷測試電路獲取斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)中的通斷狀態(tài)，同時通過輔助開關(guān)接觸電阻測試電路檢測斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的接觸電阻，處理器根據(jù)斷路器輔助開關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)及閉合節(jié)點(diǎn)中的接觸電阻得到斷路器輔助開關(guān)是否正常工作，從而完成對斷路器輔助開關(guān)的測試，另外，在測試過程中參考了斷路器輔助開關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)中的接觸電阻，因此測試的可靠性較高。本發(fā)明所述的斷路器輔助開關(guān)的測試方法在測試過程中，通過分合閘線圈電流產(chǎn)生電路給斷路器內(nèi)的分合閘線圈提供電流，再通過輔助開關(guān)通斷測試電路及輔助開關(guān)接觸電阻測試電路檢測斷路器輔助開關(guān)的響應(yīng)信息，從而測試得到斷路器輔助開關(guān)是否能夠有效響應(yīng)斷路器的分合閘狀態(tài)。
【附圖說明】
[0017]圖1為本發(fā)明的原理圖。
[0018]其中，I為斷路器輔助開關(guān)、2為光電轉(zhuǎn)換器、3為電平轉(zhuǎn)換器、4為總線、5為多路開關(guān)、6為分合閘線圈電流產(chǎn)生電路、7為斷路器、8為霍爾傳感器、9為放大器、10為采樣保持電路、11為A/D轉(zhuǎn)換器、12為控制器、13為輔助開關(guān)接觸電阻測試電路、14為處理器、15為存儲器、16為顯示器。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)描述:
[0020]參考圖1，本發(fā)明所述的斷路器輔助開關(guān)的測試系統(tǒng)包括處理器14、用于控制斷路器輔助開關(guān)I中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的多路開關(guān)5、用于控制所述多路開關(guān)5的控制器12、用于檢測斷路器輔助開關(guān)I各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的輔助開關(guān)通斷測試電路、以及用于檢測斷路器輔助開關(guān)I各閉合節(jié)點(diǎn)的接觸電阻的輔助開關(guān)接觸電阻測試電路13 ;處理器14的輸出端與控制器12的輸入端相連接，控制器12的輸出端與多路開關(guān)5的控制端相連接，輔助開關(guān)通斷測試電路的輸出端及輔助開關(guān)接觸電阻測試電路13的輸出端均與處理器14相連接，處理器14還連接有顯示器16及存儲器15。
[0021]需要說明的是，斷路器輔助開關(guān)I中設(shè)有16對節(jié)點(diǎn)，輔助開關(guān)通斷測試電路包括16個發(fā)光二極管、電平轉(zhuǎn)換器3、以及用于將發(fā)光二極管發(fā)出的光轉(zhuǎn)換為電信號的16個光