本發(fā)明涉及電力系統(tǒng),特別涉及一種零值絕緣子檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù):
1、長(zhǎng)期以來,絕緣子被大量應(yīng)用于各電壓等級(jí)輸電線路。各種材質(zhì)絕緣子中,瓷質(zhì)絕緣子結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,由瓷件、水泥膠合劑、鋼帽及鐵腳組成,而瓷件與鋼帽、水泥膠合劑之間的溫度膨脹系數(shù)相差較大,因此瓷件在絕緣子運(yùn)行過程中受到冷熱變化時(shí)會(huì)承受較大的熱應(yīng)力,并且由于瓷質(zhì)結(jié)構(gòu)各相的膨脹系數(shù)不同,瓷件將產(chǎn)生裂紋,在強(qiáng)電場(chǎng)下容易發(fā)生內(nèi)部擊穿,變?yōu)榱阒到^緣子,成為電網(wǎng)安全運(yùn)行的隱患。
2、為避免電網(wǎng)安全事故的發(fā)生,有必要對(duì)絕緣子開展零值監(jiān)測(cè)。目前對(duì)于瓷絕緣子的零值檢測(cè)方法主要有絕緣電阻法、泄漏電流法、紅外測(cè)溫法等,并已在工程現(xiàn)場(chǎng)得到成熟應(yīng)用,但面對(duì)架空線路復(fù)雜運(yùn)行環(huán)境下的海量待測(cè)設(shè)備,上述方法在作業(yè)強(qiáng)度、檢測(cè)效率、環(huán)境耐受力、施工安全性等方面尚無(wú)法完全滿足線路運(yùn)維部門要求,誤檢或漏檢比例較高。因此,提出一種高效、精確、穩(wěn)定、安全的零值瓷絕緣子帶電檢測(cè)技術(shù)迫在眉睫。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種零值絕緣子檢測(cè)裝置及方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述技術(shù)問題。
2、為了對(duì)披露的實(shí)施例的一些方面有一個(gè)基本的理解,下面給出了簡(jiǎn)單的概括。該概括部分不是泛泛評(píng)述,也不是要確定關(guān)鍵/重要組成元素或描繪這些實(shí)施例的保護(hù)范圍。其唯一目的是用簡(jiǎn)單的形式呈現(xiàn)一些概念,以此作為后面的詳細(xì)說明的序言。
3、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一方面,提供了一種零值絕緣子檢測(cè)裝置。
4、在一個(gè)實(shí)施例中,所述零值絕緣子檢測(cè)裝置,包括:
5、電致發(fā)光模塊,用于利用電致發(fā)光材料根據(jù)絕緣子電壓變化進(jìn)行發(fā)光,以根據(jù)發(fā)光情況,判斷絕緣子是否存在零值故障;
6、電壓導(dǎo)通模塊,用于實(shí)時(shí)采集絕緣子兩端電壓,并對(duì)絕緣子電壓進(jìn)行判斷,根據(jù)判斷結(jié)果對(duì)所述電致發(fā)光模塊進(jìn)行供電。
7、在一個(gè)實(shí)施例中,所述電致發(fā)光模塊包括:
8、發(fā)光單元,用于根據(jù)絕緣子電壓變化進(jìn)行發(fā)光;
9、電極,位于所述發(fā)光單元內(nèi),用于對(duì)發(fā)光單元進(jìn)行導(dǎo)電;
10、導(dǎo)線,用于連接所述電極和所述絕緣子,并使絕緣子和電極之間形成電路回路。
11、在一個(gè)實(shí)施例中,所述發(fā)光單元的形狀為平板形狀。
12、在一個(gè)實(shí)施例中,所述發(fā)光單元由硫化鋅銅電致發(fā)光材料和常溫硫化硅橡膠制成。
13、在一個(gè)實(shí)施例中,所述硫化鋅銅電致發(fā)光材料與所述常溫硫化硅橡膠的質(zhì)量比為4:10。
14、在一個(gè)實(shí)施例中,所述發(fā)光單元的制備方法包括:
15、根據(jù)預(yù)定質(zhì)量比,將所述硫化鋅銅電致發(fā)光材料與所述常溫硫化硅橡膠進(jìn)行混合,并攪拌均勻,得到混合溶液;
16、將所述混合溶液置于真空干燥機(jī)進(jìn)行脫泡,并在脫泡后將混合溶液和電極放置于預(yù)定模具內(nèi)進(jìn)行凝固干燥,得到發(fā)光單元。
17、在一個(gè)實(shí)施例中,所述電極包括兩個(gè)平行電極,兩個(gè)平行電極分別位于所述發(fā)光單元的兩側(cè)。
18、在一個(gè)實(shí)施例中,兩個(gè)平行電極之間具有間距,且該間距的計(jì)算公式為:
19、d=u0×s/(i0×ρ)
20、imin<i0<imax
21、u0×s/(imin×ρ)<d<u0×s/(imax×ρ)
22、式中,d為兩個(gè)平行電極間距;s為單個(gè)平行電極面積;ρ為發(fā)光單元的電阻率,u0為電壓導(dǎo)通模塊的最小導(dǎo)通電壓,i0為發(fā)光單元的發(fā)光電流;imin為發(fā)光單元的起始發(fā)光電流,imax為發(fā)光單元可承受的最大電流。
23、在一個(gè)實(shí)施例中,所述電壓導(dǎo)通模塊為電壓比較器。
24、在一個(gè)實(shí)施例中,所述電壓導(dǎo)通模塊在對(duì)絕緣子電壓進(jìn)行判斷,根據(jù)判斷結(jié)果對(duì)所述電致發(fā)光模塊進(jìn)行供電時(shí),利用所述電壓比較器根據(jù)預(yù)定電壓擋位閾值對(duì)實(shí)時(shí)采集的絕緣子兩端電壓進(jìn)行判斷,在判斷結(jié)果為所述絕緣子兩端電壓大于所述預(yù)定電壓擋位閾值的情況下,導(dǎo)通導(dǎo)線電路,對(duì)所述電極進(jìn)行導(dǎo)電。
25、在一個(gè)實(shí)施例中,所述預(yù)定電壓擋位閾值基于絕緣子所處電路的電壓等級(jí)以及絕緣子所處電路位置設(shè)定。
26、在一個(gè)實(shí)施例中,根據(jù)發(fā)光情況,判斷絕緣子是否存在零值故障包括:
27、在所述電致發(fā)光模塊發(fā)出熒光的情況下,判斷絕緣子未出現(xiàn)零值故障;
28、在所述電致發(fā)光模塊不發(fā)光的情況下,判定絕緣子出現(xiàn)零值故障。
29、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第二方面,提供了一種零值絕緣子檢測(cè)方法。
30、在一個(gè)實(shí)施例中,所述零值絕緣子檢測(cè)方法,包括:
31、實(shí)時(shí)采集絕緣子兩端電壓,得到電壓數(shù)據(jù);
32、將所述電壓數(shù)據(jù)與預(yù)定電壓擋位閾值進(jìn)行比較;
33、在比較結(jié)果為所述電壓數(shù)據(jù)大于預(yù)定電壓擋位閾值的情況下,將所述絕緣子電壓傳輸至電致發(fā)光模塊,促使電致發(fā)光模塊進(jìn)行發(fā)光;在比較結(jié)果為所述電壓數(shù)據(jù)小于或等于預(yù)定電壓擋位閾值的情況下,切斷絕緣子與電致發(fā)光模塊之間的電路回路;
34、根據(jù)所述電致發(fā)光模塊的發(fā)光情況,確定絕緣子是否存在零值故障。
35、在一個(gè)實(shí)施例中,所述預(yù)定電壓擋位閾值基于絕緣子所處電路的電壓等級(jí)以及絕緣子所處電路位置設(shè)定。
36、在一個(gè)實(shí)施例中,所述電致發(fā)光模塊包括:發(fā)光單元、電極以及導(dǎo)線,其中,所述電極位于所述發(fā)光單元內(nèi),且所述電極上連接有所述導(dǎo)線,且所述導(dǎo)線的另一端延伸至所述發(fā)光單元外部;所述發(fā)光單元由硫化鋅銅電致發(fā)光材料和常溫硫化硅橡膠制成。
37、在一個(gè)實(shí)施例中,根據(jù)所述電致發(fā)光模塊的發(fā)光情況,確定絕緣子是否存在零值故障包括:
38、在所述電致發(fā)光模塊發(fā)出熒光的情況下,判斷絕緣子未出現(xiàn)零值故障;
39、在所述電致發(fā)光模塊不發(fā)光的情況下,判定絕緣子出現(xiàn)零值故障。
40、本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果:
41、本發(fā)明能夠?qū)^緣子開展快速零值檢測(cè),當(dāng)對(duì)輸電線路絕緣子零值檢測(cè)時(shí),電致發(fā)光材料在電場(chǎng)作用下發(fā)出熒光,則判斷輸電線路絕緣子正常;電致發(fā)光材料不再發(fā)光時(shí),則判斷輸電線路絕緣子出現(xiàn)零值現(xiàn)象,工作人員可以快速鎖定零值絕緣子的位置;為輸電線路絕緣子零值檢測(cè)工作提供了技術(shù)支撐。
42、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的,并不能限制本發(fā)明。
1.一種零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電致發(fā)光模塊包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述發(fā)光單元的形狀為平板形狀。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述發(fā)光單元由硫化鋅銅電致發(fā)光材料和常溫硫化硅橡膠制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述硫化鋅銅電致發(fā)光材料與所述常溫硫化硅橡膠的質(zhì)量比為4:10。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述發(fā)光單元的制備方法包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電極包括兩個(gè)平行電極,兩個(gè)平行電極分別位于所述發(fā)光單元的兩側(cè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,兩個(gè)平行電極之間具有間距,且該間距的計(jì)算公式為:
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電壓導(dǎo)通模塊為電壓比較器。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電壓導(dǎo)通模塊在對(duì)絕緣子電壓進(jìn)行判斷,根據(jù)判斷結(jié)果對(duì)所述電致發(fā)光模塊進(jìn)行供電時(shí),利用所述電壓比較器根據(jù)預(yù)定電壓擋位閾值對(duì)實(shí)時(shí)采集的絕緣子兩端電壓進(jìn)行判斷,在判斷結(jié)果為所述絕緣子兩端電壓大于所述預(yù)定電壓擋位閾值的情況下,導(dǎo)通導(dǎo)線電路,對(duì)所述電極進(jìn)行導(dǎo)電。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,所述預(yù)定電壓擋位閾值基于絕緣子所處電路的電壓等級(jí)以及絕緣子所處電路位置設(shè)定。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的零值絕緣子檢測(cè)裝置,其特征在于,根據(jù)發(fā)光情況,判斷絕緣子是否存在零值故障包括:
13.一種零值絕緣子檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的零值絕緣子檢測(cè)方法,其特征在于,所述預(yù)定電壓擋位閾值基于絕緣子所處電路的電壓等級(jí)以及絕緣子所處電路位置設(shè)定。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的零值絕緣子檢測(cè)方法,其特征在于,所述電致發(fā)光模塊包括:發(fā)光單元、電極以及導(dǎo)線,其中,所述電極位于所述發(fā)光單元內(nèi),且所述電極上連接有所述導(dǎo)線,且所述導(dǎo)線的另一端延伸至所述發(fā)光單元外部;所述發(fā)光單元由硫化鋅銅電致發(fā)光材料和常溫硫化硅橡膠制成。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的零值絕緣子檢測(cè)方法,其特征在于,根據(jù)所述電致發(fā)光模塊的發(fā)光情況,確定絕緣子是否存在零值故障包括: