本申請涉及設備測試，尤其是涉及一種針對測試機的綜合測試系統(tǒng)。

背景技術：

1、隨著信息技術的飛速發(fā)展與廣泛應用，芯片作為電子設備的核心部件，其重要性不言而喻。隨著各行業(yè)對數據處理能力、運行速度及能效比要求的不斷提升，對芯片的需求不僅體現(xiàn)在數量上的激增，更在性能、穩(wěn)定性、安全性及定制化等方面提出了前所未有的高標準。這一趨勢驅動了芯片測試需求的迅猛增長，以確保每一枚芯片在出廠前都能達到嚴格的質量標準，滿足復雜多變的應用場景需求。

2、面對龐大的測試需求，芯片測試設備作為保障芯片質量的關鍵工具，其重要性愈發(fā)凸顯。為了滿足日益嚴苛的測試要求，測試設備不僅需要具備高精度的測量能力、高效率的數據處理能力，還必須擁有更長的使用壽命和更加穩(wěn)定可靠的性能。這就要求設備制造商在設計時充分考慮耐用性、易維護性及可擴展性，確保設備能在高強度、連續(xù)性的工作環(huán)境中穩(wěn)定運行。

3、為了保障測試設備始終處于最佳工作狀態(tài)，日常維護和校準工作成為了不可或缺的一環(huán)。這包括定期對設備進行清潔、檢查各部件磨損情況、更換老化或損壞的零部件、調整設備參數以確保測量精度等。此外，隨著技術的進步，還需不斷引入新的測試方法和標準，以適應芯片測試技術的快速發(fā)展。通過科學規(guī)范的維護流程和嚴格的測試標準，可以有效延長設備的使用壽命，提升測試效率和準確性，為芯片質量的穩(wěn)定提升提供有力支撐。因此，加強芯片測試設備的日常維護與校準工作，不僅是保障測試質量、提升生產效率的必要手段，更是推動整個芯片行業(yè)持續(xù)健康發(fā)展的關鍵所在。

4、目前針對測試設備的測試系統(tǒng)對設備輸出信號的校準需要使用示波器，通常會對每個通道進行單獨測試，記錄下測試參數，如內阻大小、信號通道的上升下降時間、通道間的連接性等，并將這些參數采集整理，與測試指標比較，自動判斷測試機每一個通道的性能參數是否合格。

5、然而，采用現(xiàn)有的測試系統(tǒng)需要花費大量的時間進行測試并收集整理數據，且需要根據收集整理的數據重新擬合并再次測試，加大了設備的維護成本，并且降低了測試效率。

技術實現(xiàn)思路

1、為了有助于解決現(xiàn)有的測試系統(tǒng)需要花費大量的時間進行測試并收集整理數據，且需要根據收集整理的數據重新擬合并再次測試，加大了設備的維護成本，并且降低了測試效率的問題，本申請?zhí)峁┮环N針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，采用如下的技術方案：所述系統(tǒng)包括：控制單元、信號測試單元、電源測試單元和可靠性測試單元；

2、所述控制單元用于向所述信號測試單元、所述電源測試單元和所述可靠性測試單元發(fā)出控制指令；

3、所述信號測試單元連接于所述控制單元，用于接收所述控制指令并測試待測試設備輸出的信號質量，所述待測試設備為用于測試芯片的待測試設備；

4、所述電源測試單元連接于所述控制單元，用于接收所述控制指令并測試待測試設備輸出的電源信號，所述待測試設備為用于測試芯片的待測試設備；

5、所述可靠性測試單元連接于所述控制單元和所述信號測試單元，用于對所述待測試設備的可靠性進行測試。

6、在一個具體的可實施方案中，所述控制單元為mcu控制芯片。

7、在一個具體的可實施方案中，所述mcu控制芯片的型號為zynq7000。

8、在一個具體的可實施方案中，所述信號測試單元包括若干并聯(lián)的繼電器，繼電器一端分別連接不同的信號測試通道，繼電器的另一端連接至示波器；所述示波器的另一端連接至上位機；

9、其中，若干所述繼電器分別控制對應的信號測試通道，所述信號測試通道為所述待測試設備的信號輸出通道。

10、在一個具體的可實施方案中，所述信號測試通道包括256路信號測試通道。

11、在一個具體的可實施方案中，所述電源測試單元包括若干并聯(lián)的繼電器，繼電器一端分別連接不同的電源輸出通道，繼電器的另一端連接至電源測試設備；所述電源測試設備的另一端連接至上位機；

12、其中，若干所述繼電器分別控制對應的電源輸出通道，所述電源輸出通道為所述待測試設備的電源輸出通道。

13、在一個具體的可實施方案中，所述電源測試設備包括并聯(lián)連接的萬用表和電子負載。

14、在一個具體的可實施方案中，所述電源輸出通道包括16路電源輸出通道。

15、在一個具體的可實施方案中，所述可靠性測試單元包括若干并聯(lián)的繼電器，繼電器一端分別連接不同的信號測試通道，繼電器的另一端連接至反向電源；所述反向電源的另一端連接至所述控制單元；

16、其中，若干所述繼電器分別控制對應的信號測試通道，所述信號測試通道為所述待測試設備的信號輸出通道。

17、在一個具體的可實施方案中，所述待測試設備通過金手指板卡連接至所述針對測試機的綜合測試系統(tǒng)；

18、其中，所述金手指板卡包括256路信號接口。

19、綜上所述，本申請具有以下有益技術效果：

20、整合了測試機的電源測試和信號測試方案，可以在同一系統(tǒng)中同時進行電源測試和信號測試，以提高測試效率。其次，將多路信號輸出通道、電源輸出通道通過繼電器并聯(lián)后連接到對應的測試設備上，通過mcu芯片的控制信號來控制繼電器的通斷，在對設備進行維護時，就不需要人工頻繁修改儀器和設備的接線，在提升效率的同時，也可以盡可能避免人工出錯，提高測試結果的精準性。此外，增加對測試設備的可靠性測試，在測試前先通過可靠性測試通?？梢员苊庖恍┲貜托缘幕蚴菬o意義的測試，從而可以提高測試效率。

技術特征：

1.一種針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述系統(tǒng)包括：控制單元、信號測試單元、電源測試單元和可靠性測試單元；

2.根據權利要求1所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述控制單元為mcu控制芯片。

3.根據權利要求1所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述mcu控制芯片的型號為zynq7000。

4.根據權利要求1所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述信號測試單元包括若干并聯(lián)的繼電器，繼電器一端分別連接不同的信號測試通道，繼電器的另一端連接至示波器；所述示波器的另一端連接至上位機；

5.根據權利要求4所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述信號測試通道包括256路信號測試通道。

6.根據權利要求1所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述電源測試單元包括若干并聯(lián)的繼電器，繼電器一端分別連接不同的電源輸出通道，繼電器的另一端連接至電源測試設備；所述電源測試設備的另一端連接至上位機；

7.根據權利要求6所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述電源測試設備包括并聯(lián)連接的萬用表和電子負載。

8.根據權利要求6所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述電源輸出通道包括16路電源輸出通道。

9.根據權利要求1所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述可靠性測試單元包括若干并聯(lián)的繼電器，繼電器一端分別連接不同的信號測試通道，繼電器的另一端連接至反向電源；所述反向電源的另一端連接至所述控制單元；

10.根據權利要求1所述的針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，其特征在于：所述待測試設備通過金手指板卡連接至所述針對測試機的綜合測試系統(tǒng)；

技術總結
本申請涉及一種針對測試機的綜合測試系統(tǒng)，應用在設備測試技術領域，包括控制單元、信號測試單元、電源測試單元和可靠性測試單元；控制單元用于向信號測試單元、電源測試單元和可靠性測試單元發(fā)出控制指令；信號測試單元連接于控制單元，用于接收控制指令并測試待測試設備輸出的信號質量，待測試設備為用于測試芯片的待測試設備；電源測試單元連接于控制單元，用于接收控制指令并測試待測試設備輸出的電源信號，待測試設備為用于測試芯片的待測試設備；可靠性測試單元連接于控制單元和信號測試單元，用于對待測試設備的可靠性進行測試。本申請具有的技術效果是：提高測試結果的精準性，提高測試效率。

技術研發(fā)人員：李巖,謝斌,吳成磊,凌慢慢
受保護的技術使用者：長三角集成電路工業(yè)應用技術創(chuàng)新中心
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/6