本發(fā)明涉及一種抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型與方法,具體涉及基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型與方法,屬于建筑材料。
背景技術(shù):
1、砂漿由膠凝材料(水泥、石灰、石膏、黏土等)與砂按一定比例搭配并加水拌合而成,不含砂時(shí)也稱作灰漿。按膠凝材料種類不同,砂漿主要分為水泥砂漿、石灰砂漿、石膏砂漿、黏土砂漿和混合砂漿等,是建筑材料的重要組成,常用于砌筑、抹灰和勾縫等材料。以石灰、黃土等為膠凝材料的傳統(tǒng)灰漿在我國(guó)古建筑中的應(yīng)用非常廣泛,歷經(jīng)千百年的風(fēng)吹雨蝕仍然堅(jiān)硬完整。現(xiàn)代砂漿及傳統(tǒng)灰漿的強(qiáng)度及耐久性等性能,深刻影響著砂漿/灰漿在砌體結(jié)構(gòu)建造和古建修復(fù)等各種工程場(chǎng)景下的應(yīng)用效果。在施工及使用過程中,受施工工藝、環(huán)境作用及人為因素等影響,砂漿的抗壓強(qiáng)度往往會(huì)出現(xiàn)顯著差異。此外,在建筑的長(zhǎng)期服役過程中,砂漿逐漸與環(huán)境間發(fā)生物質(zhì)和能量的交換,自身的礦物組成和孔隙結(jié)構(gòu)等也會(huì)逐漸發(fā)生變化,抗壓強(qiáng)度和耐久性能也均隨時(shí)間演化甚至發(fā)生明顯降低,嚴(yán)重影響建筑結(jié)構(gòu)的安全性和使用壽命。
2、目前,砂漿抗壓強(qiáng)度的測(cè)試方法主要包括:利用特定尺寸的棱柱體或圓柱體試件(如邊長(zhǎng)70.7mm的立方體)進(jìn)行破壞性抗壓強(qiáng)度測(cè)試、微損的拔出法和針貫入法、無損的超聲回彈法等進(jìn)行檢測(cè)。在長(zhǎng)期服役的重要建/構(gòu)筑物以及重點(diǎn)保護(hù)的古建筑中,以上檢測(cè)評(píng)估方法尚存在很大技術(shù)難題,仍需進(jìn)行有針對(duì)性地研發(fā)與完善。例如,若采用砂漿試件進(jìn)行抗壓強(qiáng)度測(cè)試,需對(duì)現(xiàn)有結(jié)構(gòu)進(jìn)行鉆芯取樣制備試件進(jìn)行抗壓測(cè)試,對(duì)結(jié)構(gòu)整體性與安全性會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重負(fù)面影響,可行性較差;而對(duì)拔出法、貫入法和回彈法等其它檢測(cè)方法而言,測(cè)試點(diǎn)面需平整、光潔,測(cè)試結(jié)果依賴測(cè)強(qiáng)曲線,應(yīng)用范圍與結(jié)果準(zhǔn)確性均有提升空間。因此,研發(fā)適用于長(zhǎng)期服役的重要建/構(gòu)筑物以及重點(diǎn)保護(hù)的古建筑中砂漿抗壓強(qiáng)度的新型測(cè)試評(píng)估方法,既滿足實(shí)際的工程需求,又具有重要的應(yīng)用價(jià)值。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明為解決提升測(cè)試長(zhǎng)期服役的重要建/構(gòu)筑物以及重點(diǎn)保護(hù)的古建筑的砂漿抗壓強(qiáng)度的可行性與結(jié)果準(zhǔn)確性的問題,進(jìn)而提出一種基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型與方法。
2、本發(fā)明為解決上述問題采取的技術(shù)方案是:
3、基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,所述基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法是通過以下步驟實(shí)現(xiàn)的:
4、s1:標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件制備、養(yǎng)護(hù)和飽水處理,選用確定類型的膠結(jié)材料制備標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件,水膠比與膠砂比自定,待所有標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件脫模后,在應(yīng)用環(huán)境中養(yǎng)護(hù)28天以上,之后將所有標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件置于飽水設(shè)備中,飽水1天以上;
5、s2:標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析,包括測(cè)試準(zhǔn)備、設(shè)定參數(shù)、低場(chǎng)磁共振弛豫信號(hào)采集、標(biāo)定水測(cè)試和標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件孔徑分布確定;
6、s3:標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件抗壓強(qiáng)度測(cè)試,利用壓折試驗(yàn)機(jī),測(cè)試各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件的抗壓強(qiáng)度;
7、s4:確定標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件與孔結(jié)構(gòu)關(guān)系模型,包括計(jì)算分級(jí)孔隙率、模型構(gòu)建和擬合參數(shù)確定。
8、進(jìn)一步的,s2中所述標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析具體包括:
9、s2.1:測(cè)試準(zhǔn)備:將標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件用保鮮膜嚴(yán)密包裹,再放入低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試設(shè)備的樣品倉中;
10、s2.2:設(shè)定參數(shù):利用cpmg脈沖序列進(jìn)行低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試,設(shè)置測(cè)試參數(shù);
11、s2.3:低場(chǎng)磁共振弛豫信號(hào)采集:利用cpmg脈沖序列對(duì)各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件進(jìn)行低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試,獲得脈沖回波信號(hào)m(τ),m(τ)表達(dá)式如下:
12、
13、式(1)中,砂漿內(nèi)部孔隙細(xì)分為j組,t2i是第i(i=1,2,...,j)組孔隙水的橫向弛豫時(shí)間,單位是s,fi是第i組孔隙水的體積分?jǐn)?shù),無量綱,vi是第i組孔隙水的體積,單位是m3,v0是所有孔隙水的總體積,單位是m3,m0是利用常用的低場(chǎng)磁共振弛豫信號(hào)多指數(shù)反演(multi-exponential?fitting)算法得到的孔隙水的總信號(hào)量,單位是μv.,fi(t2i)是利用多指數(shù)反演算法得到的各組孔隙水橫向弛豫時(shí)間譜;
14、s2.4:標(biāo)定水測(cè)試:采用相同的cpmg測(cè)試方法,對(duì)濃度為1%wt、含水量為mwb的硫酸銅溶液進(jìn)行低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試并分析,獲得其弛豫信號(hào)量mwb,因弛豫總信號(hào)量與水分質(zhì)量嚴(yán)格成正比,則標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件孔隙水含量mw的表達(dá)式如下:
15、
16、s2.5:標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件孔徑分布確定:另取一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件,在23%相對(duì)濕度下放置28天以上,利用hahn自旋回波序列的低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試獲得砂漿試件的表面弛豫強(qiáng)度ρ2,根據(jù)快速弛豫理論將標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件的橫向弛豫時(shí)間t2i轉(zhuǎn)換為圓柱形孔隙等效半徑ri。
17、進(jìn)一步的,所述快速弛豫理論為第i組孔隙的等效半徑ri與其內(nèi)部水分的橫向弛豫時(shí)間t2i成正比,表達(dá)式如下:
18、ri=2ρ2t2i?(3)
19、進(jìn)一步的,s4中所述確定標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件與孔結(jié)構(gòu)關(guān)系模型具體包括:
20、s4.1:計(jì)算分級(jí)孔隙率:根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件孔徑分布,分別計(jì)算r>10nm和r<10nm孔隙的分級(jí)孔隙率p>10與p<10;
21、s4.2:模型構(gòu)建:當(dāng)r>10nm時(shí),孔隙對(duì)砂漿抗壓強(qiáng)度σ的影響根據(jù)griffith斷裂理論表達(dá),并考慮僅有p>10對(duì)砂漿的彈性模量e0與斷裂表面能γ0產(chǎn)生影響,抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型的表達(dá)式如下:
22、
23、式(4)中,rb是砂漿破壞時(shí)的裂縫半寬度,單位是m,n是p>10對(duì)斷裂表面能γ0的影響參數(shù);
24、當(dāng)r<10nm時(shí),孔隙僅對(duì)砂漿基體強(qiáng)度產(chǎn)生影響,且與1-p<10的3次方有關(guān),抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型的表達(dá)式修正如下:
25、
26、式(5)中,含p>10與p<10共2個(gè)變量,以及n、e0、γ0、rb共4個(gè)擬合參數(shù)。但對(duì)不同砂漿試件,這4個(gè)擬合參數(shù)中的后3個(gè)可視為1個(gè)擬合參數(shù),即e0γ0/rb。將擬合參數(shù)e0γ0/rb組合為擬合參數(shù)x,擬合參數(shù)n以擬合參數(shù)y代替;
27、s4.3:擬合參數(shù)確定:根據(jù)實(shí)測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件抗壓強(qiáng)度與分級(jí)孔隙率p>10、p<10,擬合得到模型中的x與y值,保證相關(guān)系數(shù)的平方r2>0.99。
28、進(jìn)一步的,s4.2中當(dāng)r<10nm時(shí)所述抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型可優(yōu)化為:
29、
30、進(jìn)一步的,s2.2中所述測(cè)試參數(shù)包括:回波間隔、回波個(gè)數(shù)、等待時(shí)間、掃描次數(shù)、采樣時(shí)間間隔、采集點(diǎn)數(shù)。
31、進(jìn)一步的,s1中所述標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件的尺寸為20mm×20mm×50mm。
32、進(jìn)一步的,s1中所述應(yīng)用環(huán)境為干燥環(huán)境、高濕環(huán)境或水中環(huán)境。
33、基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)方法,先對(duì)待測(cè)砂漿試件進(jìn)行低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析,再通過基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法獲得的抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)砂漿試件抗壓強(qiáng)度進(jìn)行預(yù)測(cè)。
34、進(jìn)一步的,所述待測(cè)砂漿試件低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析是通過以下步驟實(shí)現(xiàn)的:
35、s1a:待測(cè)砂漿試件鉆?。簭拇龣z測(cè)建筑物、構(gòu)筑物的各部位,鉆取尺寸小于等于標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件尺寸的待測(cè)砂漿試件;
36、s2a:待測(cè)砂漿試件飽水處理:將待測(cè)砂漿試件置于飽水設(shè)備中,飽水1天以上;
37、s3a:待測(cè)砂漿試件低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試:將待測(cè)砂漿試件用保鮮膜嚴(yán)密包裹,再放入低場(chǎng)核磁共振弛豫測(cè)試設(shè)備的樣品倉中測(cè)試,測(cè)試參數(shù)與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件時(shí)保持一致;
38、s4a:低場(chǎng)磁共振弛豫信號(hào)采集:利用cpmg脈沖序列對(duì)各個(gè)待測(cè)砂漿試件進(jìn)行低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試,可獲得其脈沖回波信號(hào)m(τ)測(cè);
39、s5a:待測(cè)砂漿試件孔徑分布確定:利用快速弛豫理論將各個(gè)待測(cè)砂漿試件的弛豫時(shí)間譜fi(t2i)測(cè)轉(zhuǎn)換為孔徑分布fi(ri)測(cè),表面弛豫強(qiáng)度ρ2與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件時(shí)保持一致;
40、s6a:計(jì)算待測(cè)砂漿試件分級(jí)孔隙率:根據(jù)待測(cè)砂漿試件孔徑分布,計(jì)算r>10nm和r<10nm孔隙的分級(jí)孔隙率p>10測(cè)與p<10測(cè)。
41、本發(fā)明的有益效果是:
42、本發(fā)明針對(duì)長(zhǎng)期服役的重要建/構(gòu)筑物以及重點(diǎn)保護(hù)的古建筑中,不同砂漿抗壓強(qiáng)度測(cè)試方法存在的不同問題,提出一種低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)快速測(cè)試表征砂漿孔結(jié)構(gòu)特征并精準(zhǔn)預(yù)測(cè)其抗壓強(qiáng)度的模型與方法,基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型適用性強(qiáng),穩(wěn)定性好,擬合精度極高;基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)方法在精準(zhǔn)預(yù)測(cè)砂漿抗壓強(qiáng)度的同時(shí),最小化對(duì)建筑物的損害,滿足快速、簡(jiǎn)單、大量、準(zhǔn)確的檢測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)降本增效的技術(shù)目標(biāo)。既滿足實(shí)際的工程需求,又具有重要的應(yīng)用價(jià)值。