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用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法及裝置、非接觸式標簽及介質(zhì)

文檔序號:40634446發(fā)布日期:2025-01-10 18:40閱讀:1來源:國知局
用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法及裝置、非接觸式標簽及介質(zhì)

本發(fā)明涉及醫(yī)療設(shè)備,尤其涉及一種用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法及裝置、非接觸式標簽及介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、醫(yī)療設(shè)備是醫(yī)院中不可或缺的硬件條件,超聲診斷儀、呼吸機、內(nèi)窺鏡等醫(yī)療設(shè)備的使用率直接影響醫(yī)院的管理成本及采購決策。目前醫(yī)院中的很多醫(yī)療設(shè)備都是按照使用次數(shù)進行計費的,因此醫(yī)院需要有檢測醫(yī)療設(shè)備的使用狀態(tài)(關(guān)機/待機/運行)的要求。為了滿足該要求,市面上主要包括兩種標簽,一種是接入式標簽,另一種是非接入式標簽。其中接入式標簽需要改變醫(yī)療設(shè)備的供電環(huán)境,會對醫(yī)療設(shè)備運行造成一定的影響,嚴重的可能導致醫(yī)療設(shè)備斷電、短路等,造成經(jīng)濟損失和人員安全問題;而非接入式標簽粘貼到醫(yī)療設(shè)備表面即可,通過磁場變化判斷醫(yī)療設(shè)備使用狀態(tài),不會對設(shè)備本身產(chǎn)生影響,安全可靠。

2、非接入式標簽監(jiān)測原理:醫(yī)療設(shè)備運行時閉合電路中產(chǎn)生電流,通過的導體具有磁場,將非接入式標簽置于磁場中,同時施加相同方向的交變磁場。當非接入式標簽內(nèi)部產(chǎn)生感生渦流時,這些渦流在磁場的作用下會產(chǎn)生洛倫茲力,導致非接入式標簽內(nèi)部局部產(chǎn)生機械振動。機械振動會激發(fā)出與磁場相同頻率的聲波,這些聲波隨后被非接入式標簽內(nèi)部的超聲探頭等裝置拾取。通過對這些聲波信號的分析和處理,可以重建醫(yī)療設(shè)備的電導率分布,從而評估其使用狀態(tài)。

3、但是傳統(tǒng)非接入式標簽監(jiān)測數(shù)據(jù)的準確性易受醫(yī)療設(shè)備功耗、其它設(shè)備、接地不良、人為觸摸等因素干擾,影響磁場、電導率的準確性,進而影響醫(yī)療設(shè)備的能效監(jiān)測的準確性。

4、上述內(nèi)容僅用于輔助理解本發(fā)明的技術(shù)方案,并不代表承認上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的主要目的在于提供了一種用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法及裝置、非接觸式標簽及介質(zhì),旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中傳統(tǒng)非接入式標簽監(jiān)測數(shù)據(jù)的準確性易受醫(yī)療設(shè)備功耗、其它設(shè)備、接地不良、人為觸摸等因素干擾,影響磁場、電導率的準確性,進而影響醫(yī)療設(shè)備的能效監(jiān)測的準確性的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法,應用于非接觸式標簽,所述非接入式標簽內(nèi)設(shè)有多個安裝位置或角度不同的監(jiān)測傳感器,所述非接入式標簽附在待監(jiān)測用電設(shè)備的表面,所述監(jiān)測方法包括:

3、確定多個監(jiān)測傳感器中一個主處理單元和多個次處理單元;

4、接收所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù);

5、根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài)。

6、優(yōu)選地,在所述用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法中,所述根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài),包括:

7、判斷所述主處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)是否發(fā)生變化;

8、當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為否,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于正常狀態(tài);

9、當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為是,根據(jù)多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài)。

10、優(yōu)選地,在所述用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法中,所述當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為否,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于正常狀態(tài),包括:

11、當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為否,且所述多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)發(fā)生變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于正常狀態(tài)、以及所述多個次處理單元處于受干擾狀態(tài);

12、當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為否,且所述多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)未發(fā)生變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于正常狀態(tài)。

13、優(yōu)選地,在所述用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法中,所述當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為是,根據(jù)多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài),包括:

14、當?shù)谝慌袛嘟Y(jié)果為是,判斷多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化幅度是否均為零;

15、當?shù)诙袛嘟Y(jié)果為是,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于正常狀態(tài)、以及所述主處理單元處于受干擾狀態(tài);

16、當?shù)诙袛嘟Y(jié)果為否,判斷所述多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化是否為同比同幅增長或降低;

17、當?shù)谌袛嘟Y(jié)果為否,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于異常狀態(tài);

18、當?shù)谌袛嘟Y(jié)果為是,則確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于正常狀態(tài)、以及所述主處理單元處于受干擾狀態(tài)。

19、優(yōu)選地,在所述用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法中,所述確定多個監(jiān)測傳感器中一個主處理單元和多個次處理單元,包括:

20、響應于所述非接入式標簽的安裝位置或安裝角度發(fā)生變化,重新確定多個監(jiān)測傳感器中一個主處理單元和多個次處理單元。

21、優(yōu)選地,在所述用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法中,所述響應于所述非接入式標簽的安裝位置或安裝角度發(fā)生變化,重新確定多個監(jiān)測傳感器中一個主處理單元和多個次處理單元的步驟之后,所述接收所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的步驟之前,所述監(jiān)測方法還包括:

22、在對所述非接入式標簽安裝并啟用后,初始化所述主處理單元和多個次處理單元恒定的磁通量電壓值作為基準值;

23、相應地,所述根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài),包括:

24、根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的基準值以及監(jiān)測數(shù)據(jù),確定所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化信息;

25、根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化信息,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài)。

26、優(yōu)選地,在所述用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法中,所述根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài)的步驟之后,所述監(jiān)測方法還包括:

27、當所述待監(jiān)測用電設(shè)備處于異常狀態(tài)時,發(fā)出干擾排查提示信息。

28、為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供一種用電設(shè)備能效的監(jiān)測裝置,應用于非接觸式標簽,所述非接入式標簽內(nèi)設(shè)有多個安裝位置或角度不同的監(jiān)測傳感器,所述非接入式標簽附在待監(jiān)測用電設(shè)備的表面,所述監(jiān)測裝置包括:

29、確定單元,用于確定多個監(jiān)測傳感器中一個主處理單元和多個次處理單元;

30、接收單元,用于接收所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù);

31、判斷單元,用于根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài)。

32、為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供一種非接觸式標簽,所述非接觸式標簽包括:

33、至少一個處理器;以及,

34、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器;其中,

35、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令,所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行,以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行上述的用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法。

36、為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供一種計算機可讀存儲介質(zhì),存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述的用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法。

37、本發(fā)明至少具有如下有益效果:

38、本發(fā)明提供的用電設(shè)備能效的監(jiān)測方法,所述非接入式標簽內(nèi)設(shè)有多個安裝位置或角度不同的監(jiān)測傳感器,所述非接入式標簽附在待監(jiān)測用電設(shè)備的表面,通過先確定多個監(jiān)測傳感器中一個主處理單元和多個次處理單元;接收所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù);根據(jù)所述主處理單元和多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化,確定所述待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài),如此通過主處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化與多個次處理單元的監(jiān)測數(shù)據(jù)的變化進行關(guān)聯(lián)效驗,最終確定待監(jiān)測用電設(shè)備的當前使用狀態(tài)為正常狀態(tài)或異常狀態(tài),解決了現(xiàn)有技術(shù)中傳統(tǒng)非接入式標簽監(jiān)測數(shù)據(jù)的準確性易受醫(yī)療設(shè)備功耗、其它設(shè)備、接地不良、人為觸摸等因素干擾,影響磁場、電導率的準確性,進而影響醫(yī)療設(shè)備的能效監(jiān)測的準確性的問題。

39、進一步地,相較僅使用一個振動傳感器進行能效監(jiān)測,本發(fā)明采用多個監(jiān)測傳感器相互效驗,可以有效規(guī)避外界干擾導致的數(shù)據(jù)監(jiān)測不準的情況發(fā)生。

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