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一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝的制作方法

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一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝,包括支架、測(cè)試銅板、上蓋板、下底板;所述支架包括上蓋板固定支架及下底板固定支架,在支架上還安裝有屏蔽裝置;所述上蓋板上設(shè)置有彈簧測(cè)試針頭及螺絲孔測(cè)試針,所述上蓋板由安裝在上蓋板上端的驅(qū)動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)進(jìn)行上下移動(dòng);所述下底板的下端通過(guò)彈簧安裝在下底板固定支架上,在下底板的上端沿著下底板的長(zhǎng)軸方向安裝有測(cè)試銅板,所述測(cè)試銅板一共有兩個(gè),分別為塑封罐體測(cè)試銅板及引腳測(cè)試銅板,在塑封罐體測(cè)試銅板上均勻開(kāi)有若干與螺絲孔測(cè)試針相對(duì)應(yīng)的芯片定位孔。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:通過(guò)上蓋板下行,在彈簧測(cè)試針頭與待測(cè)試的橋堆的引腳接觸后,即可測(cè)試其絕緣性能、耐壓性能。
【專利說(shuō)明】一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試工裝,特別涉及一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝。

【背景技術(shù)】
[0002]橋堆是一種電子元件,內(nèi)部由多個(gè)二極管組成。主要作用是整流,調(diào)整電流方向。用橋堆整流是比較好的,首先是很方便,而且它內(nèi)部的四個(gè)管子一般是挑選配對(duì)的,所以其性能較接近,還有就是大功率的整流時(shí),橋堆上都可以裝散熱塊,使工作時(shí)性能更穩(wěn)定,當(dāng)然使用場(chǎng)合不同也要選擇不同的橋堆,不能只看耐壓是否夠,比如電流、頻率特性等。
[0003]目前,在橋堆使用的過(guò)程中,其塑封管體絕緣性能的好壞對(duì)橋堆安全性能的影響至關(guān)重要,因此在橋堆生產(chǎn)后就需要對(duì)橋堆的絕緣性能進(jìn)行測(cè)試。因此研究出一種能夠?qū)蚨阉芊夤荏w的絕緣性能進(jìn)行準(zhǔn)確、高效測(cè)試的裝置勢(shì)在必行。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種能夠?qū)蚨阉芊夤荏w的絕緣耐壓性同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝。
[0005]為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝,其創(chuàng)新點(diǎn)在于:包括支架、測(cè)試銅板、上蓋板、下底板;
所述支架包括上蓋板固定支架及下底板固定支架,在支架上還安裝有屏蔽裝置;
所述上蓋板上設(shè)置有彈簧測(cè)試針頭,所述彈簧測(cè)試針頭有若干個(gè),沿著上蓋板的長(zhǎng)軸方向呈一字型分布,并且分別與待測(cè)試的橋堆的引腳相互對(duì)應(yīng),在上蓋板的上端設(shè)置有螺絲孔測(cè)試針,所述螺絲孔測(cè)試針有若干,沿著上蓋板的長(zhǎng)軸方向呈一字型分布,且分別與待測(cè)試的橋堆的中心孔一一對(duì)應(yīng),所述螺絲孔測(cè)試針位于彈簧測(cè)試針頭的后側(cè),所述上蓋板由安裝在上蓋板上端的驅(qū)動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)進(jìn)行上下移動(dòng);
所述下底板的下端通過(guò)彈簧安裝在下底板固定支架上,在下底板的上端沿著下底板的長(zhǎng)軸方向安裝有測(cè)試銅板,所述測(cè)試銅板一共有兩個(gè),分別為塑封罐體測(cè)試銅板及引腳測(cè)試銅板,在塑封罐體測(cè)試銅板上均勻開(kāi)有若干與螺絲孔測(cè)試針相對(duì)應(yīng)的中心定位孔。
[0006]進(jìn)一步的,所述上蓋板的兩端分別具有一個(gè)導(dǎo)向軸,在上蓋板的兩端均具有容導(dǎo)向軸穿過(guò)的導(dǎo)向孔。
[0007]進(jìn)一步的,所述下底板的兩端分別具有一個(gè)定位軸,所述定位軸呈T字形狀,且在下底板上具有與定位軸相配的T形槽。
[0008]進(jìn)一步的,所述屏蔽裝置包括屏蔽罩及屏蔽線圈,所述屏蔽罩套在上蓋板及下底板的外端,屏蔽線圈安裝在下底板的旁側(cè)。
[0009]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:利用本裝置在對(duì)橋堆進(jìn)行測(cè)試時(shí),通過(guò)上蓋板下行,在螺絲孔測(cè)試針伸入管體的螺絲孔內(nèi)、彈簧測(cè)試針頭與待測(cè)試的橋堆的引腳接觸后,即可測(cè)試其絕緣耐壓性能,非常的方便,同時(shí)屏蔽裝置的使用可防止橋堆在測(cè)試的時(shí)候由于高頻而導(dǎo)致安全光幕失效的情況。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1為本發(fā)明的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝的示意圖。
[0011]圖2為本發(fā)明的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝的下底板的俯視圖。

【具體實(shí)施方式】
[0012]如圖1所示的示意圖可知,本發(fā)明的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝包括支架、測(cè)試銅板、上蓋板5、下底板2。
[0013]支架包括上蓋板固定支架及下底板固定支架11,在支架上還安裝有屏蔽裝置。
[0014]屏蔽裝置包括屏蔽罩及屏蔽線圈,屏蔽罩套在上蓋板及下底板的外端,屏蔽線圈安裝在下底板的旁側(cè)。
[0015]在上蓋板5上設(shè)置有彈簧測(cè)試針頭6,彈簧測(cè)試針頭6有若干個(gè),沿著上蓋板5的長(zhǎng)軸方向呈一字型分布,并且彈簧測(cè)試針頭6的數(shù)量分別與待測(cè)試的橋堆的引腳相互對(duì)應(yīng),在上蓋板5的上端還設(shè)置有螺絲孔測(cè)試針7,螺絲孔測(cè)試針7有若干,沿著上蓋板5的長(zhǎng)軸方向呈一字型分布,且螺絲孔測(cè)試針7的數(shù)量分別與待測(cè)試的橋堆的中心孔一一對(duì)應(yīng),螺絲孔測(cè)試針7位于彈簧測(cè)試針頭6的后側(cè),所述上蓋板5由安裝在上蓋板5上端的驅(qū)動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)進(jìn)行上下移動(dòng)。
[0016]在上蓋板5的兩端分別具有一個(gè)導(dǎo)向軸8,在上蓋板5的兩端均具有容導(dǎo)向軸8穿過(guò)的導(dǎo)向孔。
[0017]由圖2所示的示意圖可知,下底板2的下端通過(guò)彈簧10安裝在下底板固定支架11上,在下底板2的上端沿著下底板2的長(zhǎng)軸方向安裝有測(cè)試銅板,測(cè)試銅板一共有兩個(gè),分別為塑封罐體測(cè)試銅板I及引腳測(cè)試銅板4,在塑封罐體測(cè)試銅板I上均勻開(kāi)有若干與螺絲孔測(cè)試針7相對(duì)應(yīng)的芯片定位孔3。
[0018]在下底板2的兩端分別具有一個(gè)定位軸9,定位軸9呈T字形狀,且在下底板2上具有與定位軸相配的T形槽。
[0019]在對(duì)橋堆進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,首先,將需要測(cè)試的橋堆一一放置在塑封罐體測(cè)試銅板I上,且芯片上孔需要與塑封罐體測(cè)試銅板I上的芯片定位孔3相對(duì)應(yīng),同時(shí)橋堆的引腳均位于引腳測(cè)試銅板4的上方,在放置好后,通過(guò)驅(qū)動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)上蓋板5下行,直至螺絲孔測(cè)試針7伸入芯片的孔內(nèi),彈簧測(cè)試針頭6將引腳抵在引腳測(cè)試銅板4上,然后即可通過(guò)螺絲孔測(cè)試針7、彈簧測(cè)試針頭6對(duì)橋堆的耐壓性能及絕緣性能進(jìn)行測(cè)試。
[0020]以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理和主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解,本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制,上述實(shí)施例和說(shuō)明書(shū)中描述的只是說(shuō)明本發(fā)明的原理,在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下,本發(fā)明還會(huì)有各種變化和改進(jìn),這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書(shū)及其等效物界定。
【權(quán)利要求】
1.一種橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝,其特征在于:包括支架、測(cè)試銅板、上蓋板、下底板; 所述支架包括上蓋板固定支架及下底板固定支架,在支架上還安裝有屏蔽裝置; 所述上蓋板上設(shè)置有彈簧測(cè)試針頭,所述彈簧測(cè)試針頭有若干個(gè),沿著上蓋板的長(zhǎng)軸方向呈一字型分布,并且分別與待測(cè)試的橋堆的引腳相互對(duì)應(yīng),在上蓋板的上端設(shè)置有螺絲孔測(cè)試針,所述螺絲孔測(cè)試針有若干,沿著上蓋板的長(zhǎng)軸方向呈一字型分布,且分別與待測(cè)試的橋堆的中心孔一一對(duì)應(yīng),所述螺絲孔測(cè)試針位于彈簧測(cè)試針頭的后側(cè),所述上蓋板由安裝在上蓋板上端的驅(qū)動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)進(jìn)行上下移動(dòng); 所述下底板的下端通過(guò)彈簧安裝在下底板固定支架上,在下底板的上端沿著下底板的長(zhǎng)軸方向安裝有測(cè)試銅板,所述測(cè)試銅板一共有兩個(gè),分別為塑封管體測(cè)試銅板及引腳測(cè)試銅板,在塑封管體測(cè)試銅板上均勻開(kāi)有若干與螺絲孔測(cè)試針相對(duì)應(yīng)的芯片定位孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝,其特征在于:所述上蓋板的兩端分別具有一個(gè)導(dǎo)向軸,在上蓋板的兩端均具有容導(dǎo)向軸穿過(guò)的導(dǎo)向孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝,其特征在于:所述下底板的兩端分別具有一個(gè)定位軸,所述定位軸呈T字形狀,且在下底板上具有與定位軸相配的T形槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的橋堆絕緣耐壓測(cè)試工裝,其特征在于:所述屏蔽裝置包括屏蔽罩及屏蔽線圈,所述屏蔽罩套在上蓋板及下底板的外端,屏蔽線圈安裝在下底板的旁側(cè)。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK104237755SQ201410519336
【公開(kāi)日】2014年12月24日 申請(qǐng)日期:2014年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月30日
【發(fā)明者】黃麗鳳, 王志敏, 張龍 申請(qǐng)人:如皋市大昌電子有限公司
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