電容器的檢測篩選方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種電容器的檢測篩選方法，包括：在電容器上印加直流電壓進行預(yù)備充電，預(yù)備充電經(jīng)過所定時間Tb后結(jié)束，然后讓被檢測對象電容器開始進行自行充電，在電容器自行充電進行所定時間T后，在電容器上印加測定電壓，然后測定流過電容器的充電電流值，通過將所述充電電流值與經(jīng)過相同工序測定的電容器合格品的充電電流值進行比較來剔除電容器的不合格品。上述預(yù)備充電時間Tb為30ms時,設(shè)定上述自行充電時間T為1440ms。本發(fā)明可以通過采用合適的電容器自行充電時間，容易地對具有L位錯缺陷的電容器進行檢測篩選，填補了利用現(xiàn)有技術(shù)不能對具有L位錯缺陷的電容器進行檢測篩選的空白，對能制造可靠性高、壽命長的電容器具有積極有益的效果。
【專利說明】電容器的檢測篩選方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電容器的檢測篩選方法，具體地說，是涉及一種在電容器產(chǎn)品出廠前對其質(zhì)量進行檢測判定其是否合格的一種方法。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，作為電容器生產(chǎn)過程中質(zhì)量控制的一個環(huán)節(jié)，要對出廠前的電容器產(chǎn)品進行質(zhì)量檢測，其中一項檢測就是針對電容器的絕緣電阻值進行的，檢測時就看電容器的絕緣電阻值是否達到或者是否具有規(guī)定的電阻值特性。通常，進行這樣的檢測是通過對被檢測對象的電容器的外部電極印加額定電壓，利用電容器的充放特性，從測得的流過電容器的充電電流來獲得其絕緣電阻值的。在這種檢測方式中，由于需要測定對電容器進行了充分充電狀態(tài)下的電流值，測定時間往往需要幾十秒(比如按照日本標(biāo)準(zhǔn)JIS-C5102的方式需要60秒)的時間，因而造成檢測效率低導(dǎo)致電容器生產(chǎn)成本較高的問題。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)(日本專利文獻特開2000-81456)中，披露了可以縮短上述測定時間的一種電容器絕緣電阻的測定方法，該方法采用預(yù)先對電容器印加直流電壓，然后再印加測定電壓，通過流過電容器的充電電流來測定其絕緣電阻。具體地說，是在預(yù)備充電期間進行電容器容量的充電，在預(yù)備充電期間完成開始到印加測定電壓為止讓電容器自行放電，在該自行放電期間中，電容器的電介質(zhì)極化部分被自行充電。
[0004]圖1是表示采用這種方法測定陶瓷電容器的絕緣電阻時的電容器充電特性曲線圖。其中橫軸表示的是時間，縱軸表示的是電流。如圖1所示，其充電特性曲線由初期的非線性充電特性的領(lǐng)域①、后期的陶瓷電容器所特有的吸取極化電流部分的線性充電特性的領(lǐng)域③以及兩者之間的遷移充電特性的領(lǐng)域②組成。上述領(lǐng)域①和領(lǐng)域②構(gòu)成所述的預(yù)備充電期間。在線性充電特性領(lǐng)域③的中途一旦停止充電，放置一定時間后重開充電時，會出現(xiàn)電流值瞬間變高的脈沖，如果是合格的電容器，反映其電流值的充電特性曲線隨即便又回到線性充電特性的曲線上來，但如果電容器有質(zhì)量問題不合格的話，反映其電流值出現(xiàn)偏差使得其充電特性曲線偏離正常的線性充電特性曲線，因此，該現(xiàn)有技術(shù)就是利用這個方法，在預(yù)備充電期間完成后的線性充電特性領(lǐng)域的中途停止充電一段時間(該段時間即為電容器的自行充電時間)，然后再印加測定電壓，通過判定印加測定電壓后的充電特性曲線的走向，來判斷電容器是否合格。通常，如果預(yù)備充電期間的時長為Tb時，那么對于電容容量在0.1yF以下的陶瓷電容器來說，其電容器的自行充電時間設(shè)定在TbX3以內(nèi)。
[0005]對于電容器存在的一般缺陷，采用上述方法來檢測，是能比原來不采用讓電容器自行充電后印加測定電壓的方式節(jié)省檢測時間。但這種方法對陶瓷電容器存在的一些特殊缺陷來說，它就無能為力，即用這種方法不能有效地檢測出那些特殊缺陷。這里所說的特殊缺陷，比如說在積層陶瓷電容器中容易產(chǎn)生的“內(nèi)部電極錯位缺陷”。如圖2所示，積層陶瓷電容器I具有電容器主體5，其具有被積層的多個介電陶瓷層2和沿著介電陶瓷層2間的特點和界面形成的多個內(nèi)部電極3、4，在電容器主體5的外表面上的相互不同位置上，形成有第一外部電極6和第二外部電極7,而與第一外部電極6相連的內(nèi)部電極3稱為第一內(nèi)部電極，與第二外部電極7相連的內(nèi)部電極4稱為第二內(nèi)部電極,多個第一內(nèi)部電極3和多個第二內(nèi)部電極4順著層積方向交替配置。這種積層陶瓷電容器在制造過程中，有時會出現(xiàn)如圖3所示的缺陷，即與第一外部電極6不相連接的第二內(nèi)部電極4的端部異常接近第一外部電極6，或者與第二外部電極7不相連接的第一內(nèi)部電極3的端部異常接近第二外部電極7。造成這種缺陷的原因是因為對積層后的電容器主體5進行切割時，其實際切割線W2方向偏離了基準(zhǔn)切割線Wl方向，使得切割后的電容器主體5中的一些內(nèi)部電極3、4的端部較其他內(nèi)部電極3、4的端部更接近外部電極6、7，形成錯位。由于通常電容器的外部電極處于電容器的長度方向上，因此也把這種錯位叫做“長度方向內(nèi)部電極錯位”(以下簡稱為“L錯位”)，發(fā)生L錯位后的內(nèi)部電極3、4的端部與外部電極6、7之間的距離t為零時，即一些內(nèi)部電極3、4直接與外部電極6、7相接觸形成短路時，這種缺陷可以用上述的現(xiàn)有技術(shù)的方法檢測出來。發(fā)生L錯位后的內(nèi)部電極3、4的端部與外部電極6、7之間的距離t不為零，即使距離t較小時，由于其電氣特性與合格的正常產(chǎn)品之間沒有差別，因此具有這種L錯位缺陷的電容器就不能用上述的現(xiàn)有技術(shù)的方法檢測出來。而且不僅用上述這種現(xiàn)有技術(shù)的方法不能把這種缺陷檢測出來，即使不考慮檢測效率而采用傳統(tǒng)的檢測方法(比如用上述的日本標(biāo)準(zhǔn)JIS-C5102所示的方法印加電壓60秒或120秒)，也不能把這種缺陷檢測出來。而這種缺陷是隨著電容器的使用，才慢慢顯現(xiàn)出來的，會對電容器的可靠性以及壽命產(chǎn)生影響，但對于要求可靠性高以及壽命長的電容器來說，在出廠前就需要把具有這種L錯位缺陷的電容器檢測出來。因此，本【技術(shù)領(lǐng)域】急需這樣一種具有能把這種L錯位缺陷的電容器檢測出來的方法。
[0006]本發(fā)明的目的就在于提供一種能把存在L錯位缺陷的電容器檢測篩選出來的電容器的檢測篩選方法。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明提供的一種電容器的檢測篩選方法，包括:在被檢測對象的電容器上印加直流電壓進行預(yù)備充電的工序；預(yù)備充電結(jié)束后的該電容器進行自行充電的工序；在所述自行充電經(jīng)過規(guī)定時間T之后，在電容器上印加測定電壓，測定流過電容器的充電電流值的工序，通過將所述充電電流值與經(jīng)過相同工序測定的電容器合格品的充電電流值進行比較來判定剔除電容器的不合格品的工序；其特征在于，表示所述電容器自行充電的規(guī)定時間的自行充電時間T是通過以下工序確定的，即I)設(shè)定多個自行充電時間T，通過對多個電容器的合格品及不合格品的充電特性進行測定，確定該充電特性中對應(yīng)的所述充電電流值的偏差范圍的工序；2)選擇上述電容器合格品的充電特性中對應(yīng)的所述充電電流值的偏差范圍與電容器不合格品的充電特性中對應(yīng)的所述充電電流值的偏差范圍之間沒有重疊時的自行充電時間T的工序。
[0008]根據(jù)本發(fā)明的方法，由于利用電容器不合格品的充電特性確定出能將該類電容器不合格品檢測篩選出來的相關(guān)檢測條件(即電容器自行充電時間)，因此，可以利用該相關(guān)檢測條件(即電容器自行充電時間)容易地對該類電容器不合格品進行檢測篩選，填補了利用現(xiàn)有技術(shù)不能對具有L位錯缺陷的電容器進行檢測篩選的空白，對能制造可靠性高、壽命長的電容器具有積極有益的效果。
[0009]作為本發(fā)明的另一種電容器的檢測篩選方法，進行預(yù)備充電的時間設(shè)為Tb時，預(yù)備充電時間Tb為電容器容量的充電期間的時間與遷移期間的時間之和。
[0010]作為本發(fā)明的電容器的檢測篩選方法的優(yōu)選方案，該檢測篩選方法被用來對在內(nèi)部電極的長度方向上存在電極位錯缺陷的不合格品進行檢測判定。
[0011]作為本發(fā)明的另一種電容器的檢測篩選方法，自行充電時間T相對于預(yù)備充電時間Tb，設(shè)定其在滿足TbXm〈T〈Tb Xη關(guān)系的時間范圍內(nèi)，其中I彡m〈n。
[0012]作為本發(fā)明的電容器的檢測篩選方法的優(yōu)選方案，電容器容量在0.1 μ F以下時，設(shè)定上述m為35,設(shè)定上述η為50。
[0013]作為本發(fā)明的電容器的檢測篩選方法的優(yōu)選方案，上述預(yù)備充電時間Tb為30ms時，設(shè)定上述m為35,設(shè)定上述η為50。
[0014]作為本發(fā)明的電容器的檢測篩選方法的最佳優(yōu)選方案，預(yù)備充電時間Tb為30ms時，設(shè)定上述自行充電時間T為1440ms。
[0015]根據(jù)本發(fā)明的方法及其優(yōu)選方案，更能準(zhǔn)確地利用相關(guān)檢測條件(即電容器自行充電時間)檢測篩選出電容器不合格品。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是表示現(xiàn)有技術(shù)的電容器充電特性曲線圖。
[0017]圖2是表示積層陶瓷電容器結(jié)構(gòu)的剖面示意圖。
[0018]圖3是表示積層陶瓷電容器具有的L位錯缺陷的剖面示意圖。
[0019]圖4是表示本發(fā)明實施例采用的檢測裝置的正面示意圖。
[0020]圖5是表示本發(fā)明實施例的被檢測對象的充電特性的曲線圖。
[0021]圖6是表示本發(fā)明實施例中用于確定相關(guān)檢測條件的被檢測對象的充電特性的曲線圖。

【具體實施方式】
[0022]以下，就本發(fā)明應(yīng)用于對電容器進行檢測篩選的實施例作詳細說明。
[0023]本實施例采用的檢測裝置10如圖4所示，包括圓形的旋轉(zhuǎn)檢測臺20以及與旋轉(zhuǎn)檢測臺20相配套的檢測設(shè)備30。所述旋轉(zhuǎn)檢測臺20上，設(shè)置有多個(共27個)檢測工位，另外還具有裝入被檢測對象的裝載工位以及取出被檢測對象的卸載工位(未圖示)。在檢測設(shè)備30上設(shè)有電壓印加裝置以及檢測端子等(未圖示)。利用該檢測裝置10進行檢測時，對裝載被檢測對象、實施檢測、實施篩選、卸載被檢測對象等一系列動作，都是在一定的節(jié)奏下連續(xù)自動進行的。
[0024]作為本實施例的被檢測對象，采用了電容器容量為0.1 μ F的積層陶瓷電容器Cl。在檢測積層陶瓷電容器Cl之前，首先用上述檢測裝置對作為被檢測對象的積層陶瓷電容器Cl的充電特性進行測定，如圖5所示，測得的該充電特性的預(yù)備充電時間Tb為30ms。另夕卜，預(yù)備充電時間Tb為電容器的容量(此時為0.1yF)的充電期間(上述圖1中的領(lǐng)域①)的時間與遷移期間(上述圖1中的領(lǐng)域②)的時間之和。這樣一來，電容器的容量可獲得完全充電，使得其自行充電更容易進行。
[0025]接下來，用上述檢測裝置再針對作為被檢測對象的600個沒有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品以及600個具有L位錯缺陷的不合格電容器產(chǎn)品，對其充電特性進行測定。具體測定方法如下:
[0026]第一步驟是對電容器印加直流電壓進行預(yù)備充電，預(yù)備充電經(jīng)過所定時間Tb (此時Tb = 30ms)后結(jié)束，然后進行第二步驟，讓電容器開始進行自行充電，在電容器自行充電進行所定時間T后，進行第三步驟，在電容器上印加測定電壓，同時測定流過電容器的充電電流值，此時，印加測定電壓時測得的電容器的充電特性曲線，表示于圖6中。
[0027]本實施例中，對上述電容器自行充電時間T，分別選用了 Tl( = 240ms,即Tl =TbX8)，T2( = 1440ms,即 T2 = TbX48)和 Τ3 ( = 1500ms,即 T3 = TbX 50)等 3 種。
[0028]在上述電容器自行充電時間T，選用Tl ( = 240ms，即Tl = TbX8)時，對600個沒有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值Kl進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值Kl的范圍；另外，也對多個(600個)具有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值K2進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值K2的范圍。上述充電電流值Kl的范圍以及充電電流值K2的范圍均被稱為充電電流值偏差范圍。上述充電電流值Kl的范圍以及充電電流值K2的范圍被表示在圖6中。另外，充電電流值Kl的范圍以及充電電流值K2的范圍分別采用標(biāo)準(zhǔn)偏差±3σ加以確定。
[0029]同樣，在上述電容器自行充電時間Τ，選用T2( = 1440ms，即Τ2 = Tb X 48)時，對多個￠00個)沒有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值K3進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值K3的范圍；另外，也對多個￠00個)具有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值K4進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值K4的范圍。上述充電電流值K3的范圍以及充電電流值K4的范圍也被表示在圖6中。另外，充電電流值K3的范圍以及充電電流值K4的范圍分別采用標(biāo)準(zhǔn)偏差±3 σ加以確定。
[0030]同樣，在上述電容器自行充電時間T，選用T3( = 1500ms，即T3 = Tb X 50)時，對多個￠00個)沒有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值K5進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值K5的范圍；另外，也對600個具有L位錯缺陷的合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值K6進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值K6的范圍。上述充電電流值K5的范圍以及充電電流值K6的范圍也被表示在圖6中。另外，充電電流值K5的范圍以及充電電流值K6的范圍分別采用標(biāo)準(zhǔn)偏差±3 σ加以確定。
[0031]接下來，對采用上述檢測裝置實際對被檢測對象的電容器進行檢測篩選的方法進行說明。
[0032]首先，第一步驟是對電容器印加直流電壓進行預(yù)備充電；預(yù)備充電經(jīng)過所定時間Tb后結(jié)束，然后進行第二步驟，讓電容器開始進行自行充電；在電容器自行充電進行所定時間T后，進行第三步驟，在電容器上印加測定電壓，同時測定流過電容器的充電電流值；接下來進行第四步驟，將上述印加測定電壓時測得的電容器的充電電流值，與上述電容器合格品的充電特性中對應(yīng)的電流值作比較，根據(jù)比較結(jié)果對被檢測對象的電容器進行篩選。其具體判定篩選方法是:上述印加測定電壓時測得的電容器的充電電流值，如果沒有偏離上述電容器合格品的充電特性中對應(yīng)的電流值，則判定該電容器產(chǎn)品屬于沒有L位錯缺陷的合格產(chǎn)品；相反，上述印加測定電壓時測得的電容器的充電電流值，如果偏離了電容器合格品的充電特性中對應(yīng)的電流值，則判定該電容器產(chǎn)品屬于具有L位錯缺陷的不合格產(chǎn)品應(yīng)予以剔除。
[0033]但是，在實際檢測判定過程中，由于上述電容器的合格品及不合格品的充電特性中對應(yīng)的電流值分別存在一定的偏差范圍，當(dāng)兩者的偏差范圍重疊時，就難以判斷電容器產(chǎn)品是否屬于具有L位錯缺陷的不合格產(chǎn)品。本 申請人:通過事先設(shè)定多個不同的自行充電時間T反復(fù)實驗發(fā)現(xiàn)，當(dāng)自行充電時間T較短時，上述兩者的偏差范圍出現(xiàn)重疊，難以判斷電容器產(chǎn)品是否屬于具有L位錯缺陷的不合格產(chǎn)品?，F(xiàn)有技術(shù)的檢測方法中就是因為自行充電時間T較短，而無法用來檢測判定具有L位錯缺陷的不合格產(chǎn)品。本 申請人:在延長自行充電時間T的情況下進行反復(fù)實驗的結(jié)果，找到了對應(yīng)于上述兩者的偏差范圍不重疊的自行充電時間T。同時，本 申請人:通過反復(fù)實驗自行充電時間T的延長超過一定范圍時，上述兩者的偏差范圍又出現(xiàn)重疊。也就是說，自行充電時間T的延長在一定時間范圍內(nèi)時，兩者的偏差范圍才不出現(xiàn)重疊，而該延長的時間范圍又與電容器的容量有關(guān)。本 申請人:也正是在電容器的檢測判定過程中通過將自行充電時間T加以延長，才找到利用電容器的充電特性對具有L位錯缺陷的不合格產(chǎn)品進行檢測判定的本發(fā)明的方法的。
[0034]從上面采用不同電容器自行充電時間測定出的合格品與不合格品的充電特性以及合格品與不合格品的充電電流值偏差范圍來看，可知當(dāng)電容器自行充電時間為Tl( =240ms，即Tl = TbX8)時，如圖6所示，由于合格品的充電電流值Kl的范圍與不合格品的充電電流值K2的范圍有一定范圍的重疊，因此，這種情況下，無法進行上述第四步驟的判定和篩選。另外，當(dāng)電容器自行充電時間為T3( = 1500ms，即T3 = TbX50))時，如圖6所示，雖然合格品的充電電流值K5的范圍與不合格品的充電電流值K6的范圍之間沒有出現(xiàn)重疊，但已經(jīng)很接近，因此，這種情況下，勉強可進行上述第四步驟的判定和篩選。而當(dāng)電容器自行充電時間為T2( = 1440ms，即T2 = TbX48)時，如圖6所示，合格品的充電電流值K3的范圍與不合格品的充電電流值K4的范圍之間沒有出現(xiàn)重疊而且離開得較遠，因此，這種情況下，非常適合進行上述第四步驟的判定和篩選。
[0035]由此，可利用本發(fā)明的檢測方法來判定篩選具有L位錯缺陷的電容器的條件，是將電容器自行充電時間T設(shè)定為滿足以下關(guān)系，即TbXm〈T〈TbXn。其中Tb為預(yù)備充電時間，m和η都是正整數(shù)且m〈n。對于本實施例而言，上述預(yù)備充電時間Tb為30ms，設(shè)定上述m為35，設(shè)定上述η為50。作為本實施例的優(yōu)選方案，上述電容器自行充電時間T設(shè)定為1440ms。
[0036]根據(jù)本發(fā)明的實施例，由于可以利用具有L位錯缺陷的電容器的充電特性確定出能將具有L位錯缺陷的電容器檢測篩選出來的相關(guān)檢測條件(即電容器自行充電時間)，因此，可以利用該相關(guān)檢測條件(即電容器自行充電時間)容易地對具有L位錯缺陷的電容器進行檢測篩選，填補了利用現(xiàn)有技術(shù)不能對具有L位錯缺陷的電容器進行檢測篩選的空白，對能制造可靠性高、壽命長的電容器具有積極有益的效果。
[0037]在上述的說明中，作為本實施例的優(yōu)選方案，上述電容器自行充電時間T設(shè)定為1440ms。其實只要電容器自行充電時間T滿足上述TbXmCKTbXn這一關(guān)系，同時合格品的充電電流值的范圍與不合格品的充電電流值的范圍之間沒有重疊的范圍，就上述本實施例而言，還可將電容器自行充電時間T設(shè)定為，T = 1050ms (即TbX35)、或T = 1200ms ( BPTb X 40)、或 T = 1350ms (即 Tb X 45)等。
[0038]另外，也可采用上述實施例以外的檢測設(shè)備進行檢測，此時，上述TbXmCKTbXn這一關(guān)系中的m和η也可以不是整數(shù)。但m為大于等于I。
[0039]另外，在上述實施例中，對600個合格電容器產(chǎn)品以及不合格電容器產(chǎn)品檢測后，通過對所有在印加測定電壓結(jié)束時測得的電容器的充電電流值進行加權(quán)平均后確定出一個充電電流值的偏差范圍。但也可以不限定為600個，可以為500個，或800個，或1200個。
[0040]另外，上述實施例僅僅針對電容器容量為0.1 μ F的積層陶瓷電容器提供了獲得進行檢測篩選具有L位錯缺陷的電容器的條件以及進行檢測篩選的本發(fā)明的方法。對于具有其他電容器容量的積層陶瓷電容器也可以采用本發(fā)明的方法獲得進行檢測篩選具有L位錯缺陷的電容器的條件以及進行檢測篩選，其有益效果一樣。
【權(quán)利要求】
1.一種電容器的檢測篩選方法，包括:在被檢測對象的電容器上印加直流電壓進行預(yù)備充電的工序；預(yù)備充電結(jié)束后的該電容器進行自行充電的工序；在所述自行充電經(jīng)過規(guī)定時間T之后，在電容器上印加測定電壓，測定流過電容器的充電電流值的工序，通過將所述充電電流值與經(jīng)過相同工序測定的電容器合格品的充電電流值進行比較來判定剔除電容器的不合格品的工序；其特征在于，表示所述電容器自行充電的規(guī)定時間的自行充電時間T是通過以下工序確定的，即 1)設(shè)定多個自行充電時間T，通過對多個電容器的合格品及不合格品的充電特性進行測定，確定該充電特性中對應(yīng)的所述充電電流值的偏差范圍的工序； 2)選擇上述電容器合格品的充電特性中對應(yīng)的所述充電電流值的偏差范圍與電容器不合格品的充電特性中對應(yīng)的所述充電電流值的偏差范圍之間沒有重疊時的自行充電時間T的工序。
2.如權(quán)利要求1所述的電容器的檢測篩選方法，其特征在于，上述進行預(yù)備充電的時間設(shè)為Tb時，預(yù)備充電時間Tb為電容器容量的充電期間的時間與遷移期間的時間之和。
3.如權(quán)利要求1或2所述的電容器的檢測篩選方法，其特征在于，上述電容器是由陶瓷層和內(nèi)部電極積層而成的積層陶瓷電容器，該檢測篩選方法被用來對在內(nèi)部電極的長度方向上存在電極位錯缺陷的不合格品進行檢測判定。
4.如權(quán)利要求1或2所述的電容器的檢測篩選方法，其特征在于，上述自行充電時間T相對于上述預(yù)備充電時間Tb，設(shè)定其在滿足TbXmCKTbXn關(guān)系的時間范圍內(nèi)，其中I ^ m〈n。
5.如權(quán)利要求4所述的電容器的檢測篩選方法，其特征在于，電容器容量在0.1 μ F以下時，設(shè)定上述m為35,設(shè)定上述η為50。
6.如權(quán)利要求4所述的電容器的檢測篩選方法，其特征在于，上述預(yù)備充電時間Tb為30ms時，設(shè)定上述m為35,設(shè)定上述η為50。
7.如權(quán)利要求4所述的電容器的檢測篩選方法，其特征在于，上述預(yù)備充電時間Tb為30ms時，設(shè)定上述自行充電時間T為1440ms。
【文檔編號】G01R31/00GK104515916SQ201410519173
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2014年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】張亮, 王正翔 申請人:無錫村田電子有限公司