光學(xué)裝置的測(cè)試的制作方法
【專利摘要】本公開(kāi)內(nèi)容描述用于測(cè)試光學(xué)裝置的技術(shù)，該技術(shù)在一些實(shí)施方式中用模擬在將光學(xué)裝置整合至最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中時(shí)這些裝置將被使用的環(huán)境的方式測(cè)試這些光學(xué)裝置。例如，一方面包含用模擬在將該光學(xué)裝置并入該最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中時(shí)的環(huán)境的至少一些方面的方式提供定位于該裝置附近的透明片。例如，能在生產(chǎn)這些光學(xué)裝置時(shí)或在將這些光學(xué)裝置整合至最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中之前的某一其他時(shí)間進(jìn)行該測(cè)試。
【專利說(shuō)明】光學(xué)裝置的測(cè)試
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及光學(xué)裝置的自動(dòng)測(cè)試。
【背景技術(shù)】
[0002]各種類型的光學(xué)裝置被并入至范圍廣泛的消費(fèi)及工業(yè)產(chǎn)品及系統(tǒng)中。一種這樣的裝置為光學(xué)接近傳感器(proximity sensor)，該光學(xué)接近傳感器能被整合(例如)至移動(dòng)手持式電話中。能使用接近傳感器感測(cè)電話是否被保持接近使用者的耳朵(例如，在打電話期間)且使電話的顯示器關(guān)閉以便減小電力消耗或防止非故意地啟動(dòng)屏幕上的圖標(biāo)。若將電話移動(dòng)遠(yuǎn)離使用者的耳朵，則接近傳感器能檢測(cè)該情境且使顯示器開(kāi)啟且容許啟動(dòng)圖標(biāo)。
[0003]此類光學(xué)裝置的測(cè)試對(duì)確保這些光學(xué)裝置正常地運(yùn)行及滿足任何所需規(guī)格是重要的。一般而言，在這些光學(xué)裝置被整合至最終產(chǎn)品中之后測(cè)試這些光學(xué)裝置可能是有利的，以便容許在將使用這些裝置的環(huán)境中測(cè)試這些裝置。但是另一方面，這樣做可能增加總成本且導(dǎo)致對(duì)移除沒(méi)有以令人滿意的方式滿足測(cè)試的裝置的需要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本公開(kāi)內(nèi)容描述用于測(cè)試光學(xué)裝置的技術(shù)，該技術(shù)在一些實(shí)施方式中用模擬在將光學(xué)裝置整合至最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中時(shí)這些裝置將被使用的環(huán)境的方式測(cè)試這些光學(xué)裝置。例如，一方面包含用模擬在將該光學(xué)裝置并入最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中時(shí)的環(huán)境的至少一些方面的方式提供定位于該光學(xué)裝置附近的透明片。例如，能在生產(chǎn)這些光學(xué)裝置時(shí)或在將這些光學(xué)裝置整合至最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中之前的某一其他時(shí)間進(jìn)行該測(cè)試。在一些實(shí)施方式中，測(cè)試單元的透明片及其他特征被設(shè)計(jì)以使得測(cè)試環(huán)境模仿該光學(xué)裝置被整合至電話中的情境的各方面(例如，該光學(xué)裝置位于電話的腔內(nèi)的地方，該腔由保護(hù)該裝置免遭污物、灰塵、濕氣及類似物所害的透明蓋覆蓋)。
[0005]能(例如)結(jié)合包含光電模塊、傳感器(舉例而言，諸如背景光傳感器、接近傳感器)、陣列相機(jī)、計(jì)算相機(jī)及其他多通道光學(xué)裝置及設(shè)備的各種類型的光學(xué)裝置一起使用此處描述的技術(shù)。這些光學(xué)裝置可為(例如)微光學(xué)裝置或模塊且能包含至少一個(gè)有源光學(xué)部件和/或至少一個(gè)無(wú)源光學(xué)部件。這些裝置及模塊亦可屬于其他類型。結(jié)合為電話或類似物設(shè)計(jì)的光學(xué)接近傳感器的測(cè)試，這些技術(shù)能尤其有用。
[0006]本公開(kāi)內(nèi)容亦描述一種用于實(shí)施所揭示的技術(shù)的測(cè)試單元。
[0007]在一方面中，例如本公開(kāi)內(nèi)容描述一種測(cè)試光學(xué)裝置的自動(dòng)方法。該方法能包含將該光學(xué)裝置放置在透明片上或放置成靠近透明片，使該光學(xué)裝置發(fā)射光透過(guò)該透明片；在該光學(xué)裝置發(fā)射光之后，分析該光學(xué)裝置的響應(yīng)；及在處理單元中至少部分基于分析該光學(xué)裝置的響應(yīng)而確定該光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試。
[0008]另一方面描述一種測(cè)試在透明片上或靠近透明片的光學(xué)裝置的自動(dòng)方法。該方法能包含:使該光學(xué)裝置發(fā)射光，該光透過(guò)該透明片而傳輸至具有后壁(該后壁具有第一反射率)的區(qū)域中；及分析該光學(xué)裝置的第一響應(yīng)。該方法亦包含使第二表面移動(dòng)至該區(qū)域中以使得該第二表面與該光學(xué)裝置的光學(xué)軸相交，其中該第二表面具有與該后壁不同的反射率。隨后，使該光學(xué)裝置發(fā)射光，該光透過(guò)該透明片而傳輸至該區(qū)域中，且分析該光學(xué)裝置的第二響應(yīng)。該方法進(jìn)一步包含使用處理系統(tǒng)至少部分基于分析該光學(xué)裝置的響應(yīng)而確定該光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試。
[0009]根據(jù)又一方面，描述一種用于測(cè)試光學(xué)裝置的測(cè)試單元。該測(cè)試單元能包含用以保持該光學(xué)裝置的裝置保持器、鄰近于該裝置保持器的測(cè)試電子模塊及鄰近于該裝置保持器的透明蓋。該測(cè)試電子模塊包含用于連接至該光學(xué)裝置的電接觸件的電接觸件且該測(cè)試電子模塊包含用于測(cè)量該光學(xué)裝置的響應(yīng)的電子器件。該測(cè)試單元進(jìn)一步包含位于該透明蓋的與該裝置保持器的一側(cè)相對(duì)的一側(cè)上且具有第一反射率的壁?？梢苿?dòng)間隔件能滑入或能滑出該區(qū)域且具有不同于該壁的反射率。處理單元被配置以:產(chǎn)生使該光學(xué)裝置發(fā)射光(該光透過(guò)該透明片朝向該壁傳輸)的控制信號(hào)；分析該光學(xué)裝置的第一響應(yīng)；產(chǎn)生使該可移動(dòng)間隔件在該壁與該透明蓋之間移動(dòng)的控制信號(hào)；產(chǎn)生使該光學(xué)裝置發(fā)射光(該光透過(guò)該透明蓋朝向該可移動(dòng)間隔件傳輸)的控制信號(hào)；分析該光學(xué)裝置的第二響應(yīng)；及至少部分基于分析該光學(xué)裝置的這些響應(yīng)而確定該光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試。
[0010]在一些實(shí)施方式中，壁由黑色參考卡組成且間隔件由灰色參考卡組成，兩者都能具有明確的反射比特性。黑色參考卡能用于例如，測(cè)量在光學(xué)裝置中的發(fā)光元件與光檢測(cè)元件之間的泄漏及校準(zhǔn)該測(cè)量?；疑珔⒖伎苡糜诶?，測(cè)量該光學(xué)裝置對(duì)具有明確的反射比特性的表面的光學(xué)響應(yīng)。
[0011]從下文詳細(xì)描述、所附附圖及權(quán)利要求書(shū)將容易明白其他方面、特征及優(yōu)點(diǎn)。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1是測(cè)試光學(xué)裝置的方法的流程圖。
[0013]圖2是示出間隔件在第一位置中的光學(xué)裝置測(cè)試單元的簡(jiǎn)圖。
[0014]圖3是示出該間隔件在第二位置中的該光學(xué)裝置測(cè)試單元的簡(jiǎn)圖。
[0015]圖4是測(cè)試光學(xué)裝置的方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]如圖1所示，一些實(shí)施方式包含測(cè)試光學(xué)裝置的自動(dòng)方法。該方法能包含將一個(gè)或更多個(gè)裝置放置于裝置保持器中以根據(jù)特定規(guī)格在指定條件下測(cè)試每個(gè)裝置的功能性(方塊20)。例如，能使用自動(dòng)取置(pick-and-place)機(jī)器以將這些裝置放置于該裝置保持器中。該方法能包含將這些裝置每次一個(gè)地移動(dòng)至透明片上或鄰近于透明片以便模擬在將該裝置并入至最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中時(shí)的環(huán)境的特定特征(方塊22)。當(dāng)該裝置在該透明片上或鄰近于該透明片時(shí)，進(jìn)行一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試(方塊24)。這些測(cè)試能包含(例如)引導(dǎo)來(lái)自該光學(xué)裝置的透過(guò)該透明片的光學(xué)信號(hào)，和/或檢測(cè)在該光學(xué)裝置中的透過(guò)該透明片傳遞回的光學(xué)信號(hào)。接著，能分析測(cè)試結(jié)果，且能基于個(gè)別裝置的完整性提供通過(guò)/失敗指示(方塊26)。
[0017]在圖2中示出測(cè)試單元30的示例。測(cè)試單元30包含在一些實(shí)施方式中能保持多個(gè)光學(xué)裝置的裝置保持器34。例如，在所示出的實(shí)施方式中，裝置保持器34能保持多達(dá)十六個(gè)光學(xué)裝置。在其他實(shí)施方式中，裝置保持器34可能夠保持更大或更小數(shù)目的光學(xué)裝置。使用保持器34來(lái)將該裝置保持在精確位置中能有利于確保為測(cè)試提供良好的電接觸件。此外，由于能同時(shí)測(cè)試多個(gè)裝置，故此處描述的技術(shù)可有利于快速測(cè)試這些裝置。
[0018]如圖2所示，光學(xué)裝置36能被定位于裝置保持器34中。光學(xué)裝置36能包含(例如)一個(gè)或更多個(gè)有源和/或無(wú)源光學(xué)部件。有源光學(xué)部件的示例包含光感測(cè)部件或發(fā)光部件，該有源光學(xué)部件為比如光電二極管(photodiode)、影像傳感器、LED、0LED、激光芯片、包含例如發(fā)光二極管的光學(xué)傳輸器小晶片(該發(fā)光二極管發(fā)射(例如)紅外光或近紅外光)或包含例如光電二極管的光學(xué)接收器小晶片(該光電二極管用于檢測(cè)(例如)紅外光或近紅外光)。無(wú)源光學(xué)部件的示例包含通過(guò)折射和/或衍射和/或反射重定向光的光學(xué)部件，該光學(xué)部件比如為透鏡、棱鏡、鏡或光學(xué)系統(tǒng)(例如，可包含諸如孔徑光闌、影像屏幕或保持器之類的機(jī)械元件的無(wú)源光學(xué)部件的集合)?？蓪⒏鞣N光學(xué)部件安裝在基板上或基板之上。
[0019]在所示出的示例中，光學(xué)裝置36為接近傳感器，包含安裝在共同基板上且通過(guò)不透明間隔件彼此分開(kāi)的發(fā)光部件及光感測(cè)部件兩者。將透鏡及其他光學(xué)器件對(duì)準(zhǔn)于發(fā)光部件及光感測(cè)部件的每個(gè)部件上方以幫助將光聚焦至光學(xué)裝置36及聚焦來(lái)自光學(xué)裝置36的光。在使用期間，能通過(guò)光學(xué)裝置外部的表面反射來(lái)自光學(xué)裝置36的由發(fā)光部件發(fā)射的光，且能通過(guò)光感測(cè)部件檢測(cè)反射光的一部分。在將接近傳感器安裝在(例如)移動(dòng)電話中時(shí)，能以已知方式使用反射光的量檢測(cè)移動(dòng)電話貼近使用者的耳朵或面部以使得在未使用電話的顯示器時(shí)能自動(dòng)地調(diào)暗或撤銷(xiāo)啟動(dòng)電話的顯示器，因此延長(zhǎng)電話的電池壽命且防止非故意地啟動(dòng)所顯示的圖標(biāo)。光學(xué)裝置36亦能包含基板底側(cè)上的外部電接觸件(該外部電接觸件比如為焊料球(solder ball)或SMT接觸件)，這些外部電接觸件為至及來(lái)自發(fā)光部件及光感測(cè)部件的信號(hào)提供電路徑。
[0020]當(dāng)將光學(xué)裝置36定位于裝置保持器34中時(shí)，光學(xué)裝置的外部電接觸件(例如，SMT襯墊或焊料球)應(yīng)接觸測(cè)試電子模塊38，該測(cè)試電子模塊38包含用于連接至光學(xué)裝置36的外部電接觸件的電接觸件。因此，將光學(xué)裝置以高精確度定位于裝置保持器34中是重要的。在一些實(shí)施方式中，光學(xué)裝置會(huì)需要以幾百微米(例如，ΙΟΟμπι至300μπι)內(nèi)的精確度放置于裝置保持器34中。
[0021]測(cè)試電子模塊38亦能包含(例如)信號(hào)放大器或其他電子器件以在由光學(xué)裝置發(fā)射的光通過(guò)不同表面反射回至光學(xué)裝置中時(shí)測(cè)量光學(xué)裝置36的響應(yīng)(例如，光學(xué)串?dāng)_)。例如，測(cè)試電子模塊38能提供使光學(xué)裝置36中的發(fā)光部件發(fā)射光的信號(hào)，且能從光學(xué)裝置36接收指示由光感測(cè)部件檢測(cè)的光量的信號(hào)。能將測(cè)試電子模塊38耦接至處理單元42 (該處理單元42比如為個(gè)人計(jì)算機(jī)或筆記本電腦)，該處理單元42將控制信號(hào)提供給測(cè)試電子模塊且接收指示由測(cè)試電子模塊作出的測(cè)量的輸出信號(hào)。
[0022]測(cè)試單元30還包含布置于裝置保持器34頂部之上的透明片40。透明片40能由(例如)任何合適的透明材料(例如，玻璃、聚合物或其他結(jié)晶透明材料)組成。透明片40的材料及厚度能被選擇成類似于形成該裝置所要并入的最終產(chǎn)品(例如，移動(dòng)電話)的外殼的部分的透明蓋的材料及尺寸。當(dāng)將光學(xué)裝置36放置于裝置保持器34中且定位于測(cè)試電子模塊38之上時(shí)，該光學(xué)裝置的頂部將接觸或鄰近于透明片40的一側(cè)?？臻g44在透明片40的另一側(cè)上與光學(xué)裝置36直接相對(duì)。空間44的內(nèi)部后壁46 (即，面對(duì)透明片40的壁)能由具有明確的反射比及吸收特性的黑色材料組成或覆蓋。后壁46最好應(yīng)吸收照射至后壁46上的實(shí)質(zhì)上全部光且應(yīng)反射很少的(若存在)光。在一些實(shí)施方式中，能使用市售黑色參考卡(比如在數(shù)字?jǐn)z影中使用的類型)以覆蓋內(nèi)部壁46。這樣的黑色參考卡的示例(例如)可從Opteka?購(gòu)得。能使用在后壁46處的黑色參考卡來(lái)測(cè)量光學(xué)裝置36中的在發(fā)光元件與光檢測(cè)元件之間的泄漏且校準(zhǔn)該測(cè)量?？臻g44的內(nèi)部側(cè)壁45 (即，實(shí)質(zhì)上垂直于透明片40的壁)亦能由吸收來(lái)自光學(xué)裝置36中的發(fā)光部件的實(shí)質(zhì)上全部輻射的材料組成或覆蓋。然而，側(cè)壁45無(wú)需如后壁46 —樣具有明確的反射比及吸收特性。例如，側(cè)壁45能由黑色玻璃環(huán)氧樹(shù)脂(epoxy)片(例如,FR4型材料)或黑色聚甲醒(polyoxymethylene)制成。
[0023]鄰近空間44具有水平開(kāi)口 48，在開(kāi)口 48中儲(chǔ)存著可移動(dòng)的(例如，可滑動(dòng)的)間隔件50。間隔件50能響應(yīng)來(lái)自測(cè)試單元30中的控制器32的控制信號(hào)而被移動(dòng)，該控制器32繼而從處理單元42接收控制信號(hào)。特定而言，如圖3所示，能將間隔件50從開(kāi)口 48水平移動(dòng)至空間44中。間隔件50的寬度能為(例如)與空間44的寬度大約相同以使得在將間隔件移動(dòng)至空間44中時(shí)，間隔件實(shí)質(zhì)上從開(kāi)口 48延伸至相對(duì)內(nèi)部壁46 (參見(jiàn)圖3)。隨后能將間隔件50移動(dòng)回至開(kāi)口 48中。在一些實(shí)施方式中，能將市售灰色參考卡(比如在數(shù)字?jǐn)z影中使用的類型)用作為間隔件50。這樣的灰色參考卡的示例可從美國(guó)Mennon公司購(gòu)得且不管光照的波長(zhǎng)、顏色或強(qiáng)度，這樣的灰色參考卡都能提供實(shí)質(zhì)上均勻的光譜反射比。能使用灰色參考卡測(cè)量模塊對(duì)具有明確的反射比特性的表面的光學(xué)響應(yīng)。
[0024]通過(guò)控制間隔件50的位置，能在光學(xué)裝置36的測(cè)試期間使用不同表面。因此，能在將間隔件50儲(chǔ)存于開(kāi)口 48中時(shí)進(jìn)行光學(xué)裝置36的一些測(cè)試，使得在朝向空間44的實(shí)質(zhì)上非反射的內(nèi)部壁46發(fā)射光時(shí)測(cè)試光學(xué)裝置，而能在間隔件50位于空間44內(nèi)時(shí)進(jìn)行其他測(cè)試，因此為測(cè)試提供部分反射表面。
[0025]間隔件50的定位(S卩，在開(kāi)口 48內(nèi)或空間44內(nèi))應(yīng)與將由測(cè)試電子模塊38進(jìn)行的測(cè)量協(xié)調(diào)。此協(xié)調(diào)能通過(guò)將控制信號(hào)提供給控制器32及測(cè)試電子模塊38的處理單元42來(lái)完成。在一些實(shí)施方式中，處理單元42為以下操作提供控制信號(hào)。在第一操作中，在間隔件50處于回縮位置(參見(jiàn)圖2)的情況下，當(dāng)發(fā)射光至空間44中時(shí)，處理單元42使測(cè)試電子模塊38測(cè)量光學(xué)裝置36的響應(yīng)(圖4，方塊100)。在從測(cè)試電子模塊38接收測(cè)試結(jié)果之后(方塊102)，處理單元42使間隔件50移動(dòng)至空間44內(nèi)的位置(參見(jiàn)圖3及圖4，方塊104)。接著，在發(fā)射光至空間44中時(shí)，處理單元44使測(cè)試電子模塊38測(cè)量光學(xué)裝置36的響應(yīng)(方塊106)。在從測(cè)試電子模塊38接收測(cè)試結(jié)果之后(方塊108)，處理單元42使間隔件50移動(dòng)回至間隔件50的回縮位置(方塊110)。接著，能為下一個(gè)光學(xué)裝置重復(fù)該過(guò)程。
[0026]能至少部分基于前述測(cè)試的結(jié)果對(duì)光學(xué)裝置分類。能將未通過(guò)測(cè)試或未滿足指定使用者限定的要求的光學(xué)裝置與滿足測(cè)試的裝置分開(kāi)。(例如)在光學(xué)裝置的生產(chǎn)期間進(jìn)行這樣的測(cè)試且在將這些裝置放置于最后的最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中之前對(duì)這些裝置進(jìn)行分類能幫助避免將有缺陷的裝置放置于最后的最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中。這樣能幫助減少原本將可能需要的與修理最終產(chǎn)品或系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的成本。
[0027]在一些實(shí)施方式中，能將前述技術(shù)與(例如)使用光學(xué)機(jī)器視覺(jué)的光學(xué)裝置36的視覺(jué)檢驗(yàn)結(jié)合。例如，能在使用測(cè)試單元30進(jìn)行上述測(cè)試之前使用自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)以檢驗(yàn)裝置是否有刮痕及缺陷。
[0028]盡管圖2中的測(cè)試單元30僅顯示一個(gè)可移動(dòng)間隔件50，然而其他實(shí)施方式能包含多個(gè)可移動(dòng)間隔件，這些間隔件的每個(gè)間隔件都具有不同于其他間隔件的光學(xué)特性且都能獨(dú)立于其他間隔件移動(dòng)。例如，處理單元42能使控制器32將這些間隔件的每個(gè)間隔件都順序地移進(jìn)或移出所測(cè)試的光學(xué)裝置的(若干)光學(xué)路徑，以便模擬各種條件(例如，不同反射表面)。能使用這些不同間隔件獲得且分析指示裝置的響應(yīng)(例如，光學(xué)串?dāng)_)的測(cè)試結(jié)果，且能基于測(cè)試結(jié)果確定關(guān)于特定光學(xué)裝置是否可接受的決定。
[0029]盡管圖2及圖3示出光學(xué)裝置36的示例的特定細(xì)節(jié)，然而能使用所描述的技術(shù)測(cè)試其他類型的光學(xué)裝置。此類其他光學(xué)裝置可在一個(gè)或更多個(gè)方面不同于所示出的光學(xué)裝置36的特征。
[0030]其他實(shí)施方式在權(quán)利要求書(shū)的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試光學(xué)裝置的自動(dòng)方法，所述方法包括: 將所述光學(xué)裝置放置在透明片上或放置成靠近透明片； 使所述光學(xué)裝置發(fā)射光透過(guò)所述透明片； 在所述光學(xué)裝置發(fā)射所述光之后在處理單元中分析所述光學(xué)裝置的響應(yīng)；及在所述處理單元中至少部分基于分析所述光學(xué)裝置的所述響應(yīng)而確定所述光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中確定所述光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試包含:確定所述光學(xué)裝置是否滿足特定一個(gè)或多個(gè)規(guī)格，以指示所述光學(xué)裝置在被整合至最終產(chǎn)品或系統(tǒng)中時(shí)是否將滿意地進(jìn)行。
3.如前面的權(quán)利要求的任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法，所述方法包含:在第一表面與所述光學(xué)裝置的光學(xué)軸相交時(shí)分析由所述光學(xué)裝置檢測(cè)的第一光量；及在第二表面與所述光學(xué)裝置的所述光學(xué)軸相交時(shí)分析由所述光學(xué)裝置檢測(cè)的第二光量， 其中所述第一表面及所述第二表面具有彼此不同的反射率且位于與所述光學(xué)裝置的一側(cè)相對(duì)的所述透明片的一側(cè)上。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，所述方法包含將所述第一表面或所述第二表面從其未與所述光學(xué)裝置的所述光學(xué)軸相交的位置移動(dòng)至其與所述光學(xué)裝置的所述光學(xué)軸相交的位置。
5.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述第一表面吸收照射于其上的實(shí)質(zhì)上全部光，且其中所述第二表面是至少部分反射性的。
6.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述第一表面由黑色參考卡組成。
7.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述第二表面由灰色參考卡組成。
8.如權(quán)利要求3所述的方法，所述方法包含:使用所述第一表面以測(cè)量在所述光學(xué)裝置中的發(fā)光元件與光檢測(cè)元件之間的泄漏；及使用所述第二表面以測(cè)量所述光學(xué)裝置對(duì)具有明確的反射比特性的表面的光學(xué)響應(yīng)。
9.如前面的權(quán)利要求的任何一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法，所述方法包含在所述第一表面與所述光學(xué)裝置的光學(xué)軸相交時(shí)或在所述第二表面與所述光學(xué)裝置的所述光學(xué)軸相交時(shí)檢測(cè)所述光學(xué)裝置中的光學(xué)串?dāng)_量。
10.如權(quán)利要求3所述的方法，所述方法包含在定位所述第一表面或所述第二表面的情況下使用處理單元來(lái)協(xié)調(diào)由耦接至所述光學(xué)裝置的測(cè)試電子模塊所要進(jìn)行的測(cè)量的時(shí)序。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其中在所述第二表面處于第一位置中的情況下，在朝向所述第一表面發(fā)射光時(shí)，所述處理單元使所述測(cè)試電子模塊測(cè)量所述光學(xué)裝置的響應(yīng)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中在所述處理單元從所述測(cè)試電子模塊接收測(cè)試結(jié)果之后，所述處理單元使所述第二表面移動(dòng)至一個(gè)位置以使得所述第二表面與所述光學(xué)裝置的所述光學(xué)軸相交，且其中在朝向所述第二表面發(fā)射光時(shí)，所述處理單元接著使所述測(cè)試電子模塊測(cè)量所述光學(xué)裝置的響應(yīng)。
13.—種測(cè)試在透明片上或靠近透明片的光學(xué)裝置的自動(dòng)方法，所述方法包括: 使所述光學(xué)裝置發(fā)射光，該光透過(guò)所述透明片傳輸至具有后壁的區(qū)域中，所述后壁具有第一反射率，且分析所述光學(xué)裝置的第一響應(yīng)； 使第二表面移動(dòng)至所述區(qū)域中使得所述第二表面與所述光學(xué)裝置的光學(xué)軸相交，其中所述第二表面具有不同于所述后壁的反射率； 隨后使所述光學(xué)裝置發(fā)射光，該光透過(guò)所述透明片傳輸至所述區(qū)域中，且分析所述光學(xué)裝置的第二響應(yīng) '及 至少部分基于分析所述光學(xué)裝置的這些響應(yīng)而使用處理系統(tǒng)確定所述光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述透明片模擬將整合有所述光學(xué)裝置的最終產(chǎn)品或系統(tǒng)的蓋。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，其中所述光學(xué)裝置為接近傳感器，且其中所述透明蓋具有模擬將整合有所述光學(xué)裝置的移動(dòng)電話的透明蓋的光學(xué)特征的光學(xué)特征。
16.一種用于測(cè)試光學(xué)裝置的測(cè)試單元，所述測(cè)試單元包括: 裝置保持器，所述裝置保持器用來(lái)保持所述光學(xué)裝置； 測(cè)試電子模塊，所述測(cè)試電子模塊鄰近于所述裝置保持器，所述測(cè)試電子模塊包含用于連接至所述光學(xué)裝置的電接觸件的電接觸件且所述測(cè)試電子模塊包含用來(lái)測(cè)量所述光學(xué)裝置的響應(yīng)的電子器件； 透明蓋，所述透明 蓋鄰近于所述裝置保持器； 壁，所述壁位于所述透明蓋的與所述裝置保持器的一側(cè)相對(duì)的一側(cè)上，所述壁具有第一反射率； 可移動(dòng)間隔件，所述間隔件能滑入或能滑出區(qū)域，其中所述間隔件具有不同于所述壁的反射率；及 處理單元，所述處理單元被配置以: 產(chǎn)生使所述光學(xué)裝置發(fā)射透過(guò)所述透明蓋朝向所述壁傳輸?shù)墓獾目刂菩盘?hào)； 分析所述光學(xué)裝置的第一響應(yīng)； 產(chǎn)生使所述可移動(dòng)間隔件在所述壁與所述透明蓋之間移動(dòng)的控制信號(hào)； 產(chǎn)生使所述光學(xué)裝置發(fā)射透過(guò)所述透明蓋朝向所述可移動(dòng)間隔件傳輸?shù)墓獾目刂菩盘?hào); 分析所述光學(xué)裝置的第二響應(yīng)；及 至少部分基于分析所述光學(xué)裝置的這些響應(yīng)而確定所述光學(xué)裝置是否通過(guò)測(cè)試。
17.如權(quán)利要求16所述的測(cè)試單元，其中所述壁實(shí)質(zhì)上垂直于所述透明蓋且由吸收照射于所述壁上的來(lái)自所述光學(xué)裝置的實(shí)質(zhì)上全部光的材料組成。
18.如權(quán)利要求16或17中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的測(cè)試單元，其中所述間隔件是至少部分反射性的。
19.如權(quán)利要求16、17或18中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的測(cè)試單元，其中所述壁由黑色參考卡組成。
20.如權(quán)利要求16、17、18或19中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的測(cè)試單元，其中所述間隔件由灰色參考卡組成。
21.如權(quán)利要求16至20中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的測(cè)試單元，其中所述透明蓋由玻璃組成。
22.如權(quán)利要求16至20中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的測(cè)試單元，其中所述透明蓋由聚合物材料組成。
23.如權(quán)利要求16至22中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的測(cè)試單元，所述測(cè)試單元包含多個(gè)可移動(dòng)間隔件，所述多個(gè)可移動(dòng)間隔件的每個(gè)可移動(dòng)間隔件獨(dú)立于其他間隔件能滑入和能滑出所述區(qū)域，且其中所述多個(gè)間隔件具有彼此不同的反射率。
24.如權(quán)利要求16所述的測(cè)試單元，其中所述壁由黑色參考卡組成且所述間隔件由灰色參考卡組成，其中所述處理單元被配置以提供控制信號(hào)使得使用所述黑色參考卡測(cè)量在所述光學(xué)裝置中的發(fā)光元件與光檢測(cè)元件之間的泄漏，且使用所述灰色參考卡測(cè)量所述光學(xué)裝置對(duì)具有明確的 反射比特性的表面的光學(xué)響應(yīng)。
【文檔編號(hào)】G01D18/00GK103842790SQ201380001506
【公開(kāi)日】2014年6月4日 申請(qǐng)日期:2013年8月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月12日
【發(fā)明者】哈特穆特·拉德曼, 馬蒂亞斯·葛魯爾 申請(qǐng)人:赫普塔岡微光有限公司