專利名稱：一種獲取晶體衍射斑點的裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及X射線分析儀器領域，具體說是一種利用X射線成像板在X射線晶體分析儀上實現實時獲取晶體衍射斑點的裝置。
背景技術：
X射線單晶體衍射是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kd輻射)射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結構。物質的性能是與晶體的結構密切相關的，由于它們的晶體結構不同就有著截然不同的性質。1912年，德國物理學家M. von勞厄首先發(fā)現了晶體對X射線的衍射現象，他用連續(xù)譜X射線照射單晶體， 在晶體后放置感光片，發(fā)現感光片上出現許多分散的斑點，后人稱為勞厄斑。以往X射線晶體分析儀中獲取晶體衍射斑點(勞厄衍射斑點)的方法是采用X射線膠片感光法獲取的。用一束連續(xù)的X射線(銅靶或鎢靶)經過一個光闌對X射線進行準直束光，照射在所要分析的單晶體晶面上，產生該晶體晶面特有的衍射線，利用膠片感光， 獲得該晶體該晶面的衍射斑點，可對該晶體的內部微觀結構、生長情況、晶面指數等進行分析。缺點是每次拍片大約需要3 4個小時，拍片之后還需沖洗，沖洗必須在專用的暗室中進行，用顯影液、定影液等化學試劑才能完成?？梢?，用膠片法獲取勞厄衍射斑點存在著很多缺點。浪費時間、人、財、物力、能源，而且工序繁瑣，效率很低。為了尋找某個晶體的晶面取向衍射圖形，往往需要多次重復的工作。洗片后，觀察該晶面衍射圖形，通過測量和計算， 調整晶面位置，再一次拍片，再洗片，再拍片……直至找到想要找的晶面取向才算結束。整個過程漫長而繁瑣，同時在持續(xù)的拍片過程中，儀器的壽命也會受到影響。
發(fā)明內容針對上述膠片獲取晶體衍射斑點方法存在的問題，本實用新型提供了一種利用電子法取代膠片法，用X射線成像板代替衍射膠片，能夠實時、快速、方便地獲取晶體X射線衍射斑點的裝置。解決上述技術問題所采取的具體技術措施一種獲取晶體衍射斑點的裝置，其特征在于在臺面1上固定X射線源管套裝置 2，相機架15左端部的燕尾凹形軌道槽與燕尾凸形高度調整軌道4配合連接，燕尾凸形高度調整軌道4固定在X射線源管套裝置2上，相機架15上設有相機架軌道14，光闌支架6、樣品架9和成像板固定架12分別固定在相機架軌道14上，準直光闌5插入光闌支架6的孔內，相機架15的底部裝有可調整高度的升降螺母16和螺栓17，調整好高度的相機架15通過設置在相機架15的燕尾凹形軌道槽上的高度鎖緊頂絲3固定到X射線源管套裝置2上， X射線成像板11與成像板固定架12連接，X射線成像板11通過數據線與計算機連接。本實用新型的有益效果本實用新型利用電子法取代膠片法，用X射線成像板代替衍射膠片，利用X射線成像板具有高靈敏度成像的特點，能夠迅速獲取X射線晶體衍射信
3息。將獲得X射線衍射信息，通過數據線傳輸給計算機進行處理，在計算機顯示器上，實時顯示獲取晶體的衍射斑點，從而確定該晶體的晶向和內部結構等相關信息。本實用新型的特點是獲得衍射圖形快捷、方便、實時，圖片清楚可保存，節(jié)省時間、人、財、物力和能源，工序簡單，效率高。

圖1是本實用新型的結構示意圖；圖2是圖1的俯視圖；圖3是使用本實用新型獲得的X光垂直金剛石(100)面的晶體衍射斑點示意圖；圖4是使用本實用新型獲得的X光垂直金剛石(110)面的晶體衍射斑點示意圖；圖5是使用本實用新型獲得的X光垂直金剛石(111)面的晶體衍射斑點示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型做進一步說明。一種獲取晶體衍射斑點的裝置，是一種利用X射線成像板在X射線晶體分析儀上實現實時獲取勞厄衍射斑點的裝置。主要用于晶體材料內部微觀結構的研究，適用于大專院校、科研院所等相關單位的材料定向和材料分析。本裝置的具體結構如圖1和圖2所示，在臺面1上固定X射線源管套裝置2，相機架15左端有燕尾凹形軌道槽插入燕尾凸形高度調整軌道4內與之配合連接，燕尾凸形高度調整軌道4固定在X射線源管套裝置2上，相機架15上設有相機架軌道14，光闌支架6、樣品架9和成像板固定架12分別固定在相機架軌道14上，光闌支架6是通過光闌緊固螺釘 7固定在相機架軌道14上的，準直光闌5插入光闌支架6的孔內，調整好位置，使得光闌孔軸線與X射線主光路同軸。相機架15的底部裝有可調整高度的升降螺母16和螺栓17，調整升降螺母16和螺栓17，使得相機架軌道14上的準直光闌5、樣品架9、晶體樣品8的樣品面中心及成像板11的中心與X射線源管套裝置2中的X射線主光路高度相同且同軸，用高度鎖緊頂絲3鎖定相機架15，高度鎖緊頂絲3設置在相機架15的燕尾凹形軌道槽上，調整合適高度后的相機架15由高度鎖緊頂絲3固定。樣品架9是通過樣品架緊固螺釘10固定在相機架軌道14上的，樣品8安裝在樣品架9上。X射線成像板11與成像板固定架12連接，通過成像板緊固螺釘13固定在相機架軌道14上，X射線成像板11通過數據線與計算機連接。X射線成像板是一個矩型矩陣面探測器，調整樣品架9，改變晶體被垂直照射的晶面，X射線成像板11將采集的X射線晶體衍射信號，通過數據線實時輸入給計算機，經過計算機圖像信息數據采集處理后，在顯示器上實時獲得該晶體該晶面的衍射圖形，完成獲取晶體衍射斑點的工作。X射線晶體分析儀的射線源通常使用功率在30kV、30mA，即IkW左右，采用銅靶點焦點輻射，使得晶體產生衍射。圖3、圖4、圖5分別是使用本實用新型檢測金剛石晶體樣品獲得的衍射斑點的示意圖。其中圖3為X光束垂直金剛石(100)面獲得的晶體衍射斑點示意圖；圖4為X光束垂直金剛石(110)面獲得的晶體衍射斑點示意圖；圖5為X光束垂直金剛石(111)面獲得的晶體衍射斑點示意圖。使用本實用新型獲得的衍射圖形與采用X射線膠片感光法獲取的衍射圖形完全一致，但相比X射線膠片感光法方便得多、快捷得多。本裝置采用X射線成像
4板獲得X射線晶體衍射信息，并迅速將獲取的X射線衍射信息通過數據線傳輸給計算機，經過計算機圖像信息數據采集處理后，在計算機顯示器上顯示該晶體的衍射斑點，從而確定該晶體的晶向和內部微觀結構等相關信息。
權利要求1. 一種獲取晶體衍射斑點的裝置，其特征在于在臺面(1)上固定X射線源管套裝置 (2)，相機架(15)左端部的燕尾凹形軌道槽與燕尾凸形高度調整軌道(4)配合連接，燕尾凸形高度調整軌道(4)固定在X射線源管套裝置(2)上，相機架(15)上設有相機架軌道(14)， 光闌支架(6)、樣品架(9)和成像板固定架(12)分別固定在相機架軌道(14)上，準直光闌 (5)插入光闌支架(6)的孔內，相機架(15)的底部設有可調整高度的升降螺母(16)和螺栓 (17)，調整好高度的相機架(15)通過設置在相機架(15)的燕尾凹形軌道槽上的高度鎖緊頂絲(3)固定到X射線源管套裝置(2)上，X射線成像板(11)與成像板固定架(12)連接，X 射線成像板(11)通過數據線與計算機連接。
專利摘要一種獲取晶體衍射斑點的裝置，在臺面上固定X射線源管套裝置，高度調整軌道與相機架凸槽連接并固定到X射線源管套裝置上，相機架上設有相機架軌道，光闌支架、樣品架和成像板固定架分別固定在相機架軌道上，準直光闌插入光闌支架的孔內，相機架的底部設有可調整高度的升降螺栓，調整好高度的相機架通過設置在其上的高度鎖緊頂絲固定到X射線源管套裝置上，X射線成像板與成像板固定架連接，X射線成像板通過數據線與計算機連接。本實用新型用X射線成像板代替衍射膠片，能夠迅速獲取X射線晶體衍射信息，在計算機上實時顯示獲取晶體的衍射斑點。本實用新型獲得衍射圖形快捷、方便、實時，圖片清楚可保存，節(jié)省人財物力、時間和能源，工序簡單，效率高。
文檔編號G01N23/205GK202256202SQ20112039666
公開日2012年5月30日 申請日期2011年10月18日 優(yōu)先權日2011年10月18日
發(fā)明者李國興, 管春璞, 隋鳳麗 申請人:丹東奧龍射線儀器有限公司