專利名稱：箱體槽位檢驗(yàn)裝置及箱體槽位檢驗(yàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種箱體槽位檢驗(yàn)裝置及方法，尤指一種以多個(gè)探針同時(shí)檢驗(yàn)箱體 的多個(gè)槽位的裝置及方法。
背景技術(shù)：
許多部件在組合成最終產(chǎn)品之前，均有保存與搬移的問題。對于易脆的部件，其保 存與搬移的要求更加嚴(yán)苛。例如在TFT、LCD面板的工藝中，玻璃基板的保存與搬移通常借 助包裝箱來完成。此種包裝箱于其內(nèi)部相對的兩側(cè)壁上形成多個(gè)對應(yīng)的溝槽，玻璃即可插 入對應(yīng)的溝槽，以達(dá)到固定的效果。在大多數(shù)的情況中，前述包裝箱均可多次利用。但在一再重復(fù)使用的情形下，包裝 箱中溝槽即有變形之虞。無論是包裝箱材質(zhì)的老化，或是實(shí)際使用所造成的變形，包裝箱中 溝槽的變形顯然難以避免。故于實(shí)作上，在包裝箱使用之前，需先對其溝槽的尺寸進(jìn)行確 認(rèn)，符合要求者始能重復(fù)使用，否則貿(mào)然將玻璃置入溝槽中，極可能造成玻璃碎裂，或使玻 璃承受較大的應(yīng)力而于搬移過程中造成碎裂。目前常用的作法是先將包裝箱放置于平臺上，再以一重物置于包裝箱的內(nèi)部底 部，以使包裝箱的外部底面能與平臺的基準(zhǔn)平面貼齊。然后，以直角規(guī)量測包裝箱整體的傾 斜情況，可得到包裝箱于鉛垂面的傾斜的程度及于水平面的平行變形的程度。另外，以光標(biāo) 卡尺對溝槽位置進(jìn)行量測，為便于量測，可先置一板狀治具于溝槽中，再以光標(biāo)卡尺對板狀 治具進(jìn)行量測，以間接得到所需檢驗(yàn)值。很明顯地，此種檢驗(yàn)方式，即使對單一包裝箱進(jìn)行檢驗(yàn)也必然需花費(fèi)不少時(shí)間。若 對一批包裝箱僅進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)，則必承擔(dān)較高的因未檢出而造成不必要的玻璃碎裂的風(fēng) 險(xiǎn)。此外，前述繁鎖的檢驗(yàn)方式難以自動化實(shí)施，多以人工進(jìn)行。除了量測、記錄手續(xù)的繁 復(fù)外，量測的操作及判讀亦將牽涉人為誤差，均使得整個(gè)檢驗(yàn)工作相當(dāng)不具效率。因此，改 變檢驗(yàn)方式以減少檢驗(yàn)花費(fèi)并提高檢驗(yàn)可靠度，實(shí)有其必要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的之一即在于提供一種箱體槽位檢驗(yàn)裝置，能同時(shí)檢驗(yàn)具有一開口的一 箱體內(nèi)的多個(gè)槽位，大幅降低檢驗(yàn)時(shí)間、排除人為檢驗(yàn)誤差并提升檢驗(yàn)可靠度。本發(fā)明的箱體槽位檢驗(yàn)裝置包含一底座、一探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及一升降機(jī)構(gòu)。該底座 用以承載該箱體。該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)包含一支架及多個(gè)探針，該支架上形成多個(gè)通孔，該多個(gè) 探針是對應(yīng)地設(shè)置于該多個(gè)通孔中，每一個(gè)探針能獨(dú)立地滑動于該對應(yīng)的通孔中。該升降 機(jī)構(gòu)連接該底座及該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)能相對于該底座上下移動。因此，本發(fā)明的箱體槽位檢驗(yàn)裝置提供整合的量測環(huán)境，使用者可藉由探針的升 降，輕松判讀每一個(gè)槽位的量測結(jié)果，一次性地完成所需的檢驗(yàn)工作，大幅縮短檢驗(yàn)時(shí)間并 提高檢驗(yàn)可靠度。本發(fā)明的另一目的在于提供一種箱體槽位檢驗(yàn)方法，其利用本發(fā)明的箱體槽位檢驗(yàn)裝置以對該箱體內(nèi)的槽位進(jìn)行檢驗(yàn)，量測結(jié)果可被迅速判讀，以大幅降低檢驗(yàn)時(shí)間、排除 人為檢驗(yàn)誤差并提升檢驗(yàn)可靠度。本發(fā)明的箱體槽位檢驗(yàn)方法包含將該箱體放置于該底座上，并使該開口朝上； 以及操作該升降機(jī)構(gòu)以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)朝下移動，以使該多個(gè)探針能對應(yīng)地伸入該多個(gè) 槽位中。當(dāng)該探針被該對應(yīng)的槽位的槽壁擋止時(shí)，該探針朝上突出于該支架，此即表示該槽 位有位移或變形的情形。因此，使用者可輕易地藉由該探針突出的程度判讀該槽位不符合 規(guī)格的程度。因此，本發(fā)明的箱體槽位檢驗(yàn)裝置及箱體槽位檢驗(yàn)方法提供檢驗(yàn)該箱體的完整解 決方案，使得該箱體可一次性地被檢驗(yàn)并迅速判讀，有效解決現(xiàn)有技術(shù)中記錄手續(xù)的繁復(fù)、 量測操作的繁鎖、量測操作及判讀的人為誤差等問題，進(jìn)而能減少檢驗(yàn)花費(fèi)且能提高檢驗(yàn)
可靠度。關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以藉由以下的發(fā)明詳述及所附圖式得到進(jìn)一步的了解。


圖1為根據(jù)本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的箱體槽位檢驗(yàn)裝置的示意圖；圖2為一待檢驗(yàn)的箱體的示意圖；圖3為圖1中探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)的示意圖；圖4為圖3中探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)的局部剖面圖；圖5為根據(jù)本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的箱體槽位檢驗(yàn)方法的流程圖；圖6為根據(jù)圖5的箱體槽位檢驗(yàn)方法的細(xì)部流程圖；圖7為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)相對箱體移動的剖面示意圖；圖8為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)于其遮板被箱體擋止后持續(xù)移動的剖面示意圖；圖9為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)于停止移動后的剖面示意圖。主要組件符號說明1箱體槽位檢驗(yàn)裝置3箱體
12底座14探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)
16升降機(jī)構(gòu)32開口
34槽位122底板
124擋板126滾輪
142支架144探針
146探針保護(hù)器148滾珠軸承
162導(dǎo)軌164升降平臺
166驅(qū)動氣缸1422固定板
1424定位板1426通孔
1428通孔1430通孔
1442柱頭1444柱身
1446柱狀端部1448外徑
1462遮板1464導(dǎo)柱
1466 鏤空S100、S120、S102、S122、S124、S126 實(shí)施步驟
具體實(shí)施例方式請參閱圖1及圖2，圖1為根據(jù)本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的箱體槽位檢驗(yàn)裝置1的示 意圖，圖2為一待檢驗(yàn)的箱體3的示意圖。箱體3具有一開口 32及形成于相對內(nèi)壁上的多 個(gè)槽位34 (僅標(biāo)示其一)。箱體槽位檢驗(yàn)裝置1包含一底座12、一探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14及一升 降機(jī)構(gòu)16。底座12用以承載該箱體。升降機(jī)構(gòu)16連接底座12及探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14，以使 探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14能相對于底座12上下移動，以便進(jìn)行量測。進(jìn)一步來說，底座12包含一底板122及設(shè)置于底板122上的擋板124及滾輪126， 滾輪126及擋板124是分別相對設(shè)置。當(dāng)箱體3放置于底板122上時(shí)，箱體3的底部能被 滾輪126及擋板124夾持。于圖1中，箱體3以虛線繪示，以表示箱體3相對于箱體槽位檢 驗(yàn)裝置1的位置。升降機(jī)構(gòu)16包含二導(dǎo)軌162、一升降平臺164及一驅(qū)動氣缸166。導(dǎo)軌162相對 且垂直固定于底座12上，此二導(dǎo)軌162間另以一橫梁連接，其上固定設(shè)置驅(qū)動氣缸166。升 降平臺164呈一矩形框架，大致與箱體3的開口 32吻合。升降平臺164其兩側(cè)以可滑動的 方式銜接至導(dǎo)軌162。驅(qū)動氣缸166的氣缸桿連接升降平臺164，藉由控制驅(qū)動氣缸166的 作動以使升降平臺164能相對于底座12上下滑動于導(dǎo)軌162上。驅(qū)動氣缸166的控制可 由一般現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，且驅(qū)動氣缸166亦得以液壓缸取代，故不再贅述。探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14則設(shè)置于升降機(jī)構(gòu)16的升降平臺164上，藉由升降平臺164的升 降來達(dá)到能相對于底座12上下移動的目的。請參閱圖3及圖4，圖3為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14的 示意圖，圖4為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14的局部剖面圖。探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14包含一支架142、多個(gè)探 針144 (僅標(biāo)示其一)及一探針保護(hù)器146。支架142包含一固定板1422及一定位板1424。 固定板1422固定在升降機(jī)構(gòu)16的升降平臺164上，定位板1424以螺絲鎖固在固定板1422 上。支架142上形成多個(gè)通孔1426，此通孔1426由分別形成在固定板1422及定位板1424 的通孔1428、1430連通來實(shí)現(xiàn)。探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14尚包含多個(gè)滾珠軸承148，對應(yīng)地設(shè)置于通孔1430中。探針144 對應(yīng)地設(shè)置于通孔1426中，每一個(gè)探針144能獨(dú)立地滑動于對應(yīng)的通孔1426中。探針144 包含一柱頭1442、一柱身1444及一柱狀端部1446。柱頭1442容置于通孔1428中，當(dāng)探針 144向上滑動時(shí)，露出的柱頭1442有助于辨識探針144的升降狀況。若柱頭1442涂上顏 色，其辨識效果更佳。柱身1444滑動于滾珠軸承148中，主要用以支撐探針144的滑動。柱 狀端部1446是用以于檢驗(yàn)箱體3時(shí)，伸入槽位34中，柱狀端部1446具有一外徑1448，其小 于槽位34的寬度，外徑1448較佳是接近槽位34的寬度以模擬實(shí)際放置玻璃基板的狀況， 但不限于此。此外徑1448可依不同的槽位34寬度或不同要求的容許誤差而設(shè)定，例如外 徑1448與槽位34的寬度之差即為容許槽位34變形的量，通常與產(chǎn)品容許的變形量有關(guān)。 另外，于圖4中，以虛線繪示探針144相對于支架142向上滑動的情形。補(bǔ)充說明的是，于本實(shí)施例中，支架142由固定板1422及定位板1424組成，其通 孔1426由連接的通孔1428、1430來實(shí)現(xiàn)，但本發(fā)明不以此為限。于實(shí)作上，支架142可由 單一板件制成，通孔1426直接于該板件上鉆孔形成，滾珠軸承148置入通孔1426的下部，
6通孔1426的上部即可作為容置柱頭1442之用。此時(shí)，滾珠軸承148亦有擋止探針144脫 落的功能?；蚴窃谠摪寮现苯有纬梢簧蝾^孔，孔身部分設(shè)置滾珠軸承148，沉頭部分用以 容置柱頭1442。另外，本發(fā)明亦不以柱頭1442埋入支架142表面為必要，且探針144不以 圓形截面為必要。探針保護(hù)器146是以一可滑動的方式連接至支架142。探針保護(hù)器146包含一遮 板1462及多個(gè)導(dǎo)柱1464 (僅標(biāo)示其一)。導(dǎo)柱1464的一端部固定于遮板1462，導(dǎo)柱1464 的另一端以該可滑動的方式連接至固定板1422，例如導(dǎo)柱1464的柱身滑動于形成固定板 1422的通孔中，并且固定板1422利用控制前述通孔孔徑大小來擋止導(dǎo)柱1464的柱頭，以防 止導(dǎo)柱1464脫落，例如，導(dǎo)柱1464的頂端即柱頭部分的直徑可設(shè)計(jì)成大于通孔的孔徑。藉 此，遮板1462連同導(dǎo)柱1464能相對于固定板1422上下滑動。遮板1462具有一鏤空1466， 探針144是正對于鏤空1466且設(shè)置于支架142及遮板1462之間。因此，當(dāng)遮板1462朝向 固定板1422移動時(shí)，探針144的柱狀端部1446不會被遮板1462遮蔽而能露出。于本實(shí)施 例中，遮板1462大致呈L形，且遮板1462的其中一側(cè)壁設(shè)置于探針133外側(cè)，如圖1 圖 3所示，遮板1462的其中一側(cè)壁設(shè)置于探針133遠(yuǎn)離槽位34的一側(cè)，此彎折設(shè)計(jì)可防止外 物從側(cè)面方向?qū)μ结?44的不當(dāng)觸碰，達(dá)到保護(hù)探針144的目的。請參閱圖5，其為根據(jù)本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的箱體槽位檢驗(yàn)方法的流程圖。根據(jù) 該較佳實(shí)施例的箱體槽位檢驗(yàn)方法是直接利用前述箱體槽位檢驗(yàn)裝置1以同時(shí)檢驗(yàn)箱體3 的槽位34。原則上，該箱體槽位檢驗(yàn)方法是首先將箱體3放置于底座12上，并使開口 32朝 上，如步驟SlOO所示；接著，操作升降機(jī)構(gòu)16以使探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14朝下移動，以使探針144 能對應(yīng)地伸入槽位34中，如步驟S120所示。于本實(shí)施例中，該箱體槽位檢驗(yàn)方法的細(xì)部流程圖如圖6，其為根據(jù)圖5的箱體槽 位檢驗(yàn)方法的細(xì)部流程圖。該箱體槽位檢驗(yàn)方法是先將箱體3置于底板122上，以使箱體 3的底部夾持在擋板124及滾輪126之間，并使開口 32朝上，如步驟S102所示；請并參閱 圖1，放置后的箱體3以虛線繪示。請并參閱圖7，其為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14相對箱體3移動的剖面示意圖。接著，該箱體 槽位檢驗(yàn)方法是操作升降機(jī)構(gòu)16以使探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14朝下底座12移動，如步驟S122及 圖7所示；探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14的初始位置以虛線繪示。此操作為控制驅(qū)動氣缸166的作動來 達(dá)成(請徑參酌圖1)，但本發(fā)明不以此為限；例如單純以徒手拉持升降機(jī)構(gòu)16的升降平臺 164亦可達(dá)到前述操作要求，或是改用電機(jī)構(gòu)件以取代前述驅(qū)動氣缸166的驅(qū)動方式。請并參閱圖8，其為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14于其遮板1462被箱體3擋止后持續(xù)移動的剖 面示意圖。當(dāng)探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14持續(xù)朝下移動時(shí)，遮板1462將被箱體3擋止，即遮板1462 被擋止于箱體3的開口 32處，但支架142仍持續(xù)朝向遮板1462移動，以使探針144穿過鏤 空1466而能對應(yīng)地伸入槽位34中，如步驟S124及圖8所示。此時(shí)，當(dāng)探針144被對應(yīng)的 槽位34的槽壁擋止時(shí)，探針144朝上突出于支架142，如步驟S126所示。請參閱圖9，其為探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)14于停止移動后的剖面示意圖；此時(shí)，固定板1422 已被箱體3擋止，故探針144已無法再向下移動。如圖9所示，若槽位34有變形、偏移等情 形時(shí)，將造成探針144的柱狀端部1446被槽壁擋止，使得探針144的柱頭1442突出于支架 142的定位板1424之上，而易于被操作人員觀察到。補(bǔ)充說明的是，由于每個(gè)槽位34變形 程度不一，故對應(yīng)的探針144之柱頭1442突出的程度亦有所差異。于實(shí)際應(yīng)用上，此程度上的差異亦得作為判定箱體3是否可再重復(fù)利用的標(biāo)準(zhǔn)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的箱體槽位檢驗(yàn)裝置及箱體槽位檢驗(yàn)方法提供檢驗(yàn)該箱 體的完整解決方案，檢驗(yàn)人員能輕易地操作以使探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)向下移動，并藉由觀察探針 突出的狀況，即可一次性迅速地判讀出箱體的槽位偏離規(guī)格的程度，有效解決先前技術(shù)中 記錄手續(xù)的繁復(fù)、量測操作的繁鎖、量測操作及判讀的人為誤差等問題，進(jìn)而能減少檢驗(yàn)花 費(fèi)且能提高檢驗(yàn)可靠度。雖然本發(fā)明已以一較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，在不背離本 發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變 和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種箱體槽位檢驗(yàn)裝置，用于同時(shí)檢驗(yàn)具有一開口的一箱體內(nèi)的多個(gè)槽位，其特征在于，該箱體槽位檢驗(yàn)裝置包含有一底座，用以承載該箱體；一探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，其包含一支架及多個(gè)探針，該支架上形成多個(gè)通孔，該多個(gè)探針是對應(yīng)地設(shè)置于該多個(gè)通孔中，每一個(gè)探針能獨(dú)立地滑動于該對應(yīng)的通孔中；以及一升降機(jī)構(gòu)，其連接該底座及該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)能相對于該底座上下移動。
2.如權(quán)利要求1所述的箱體槽位檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)更包含一探 針保護(hù)器，其是以一可滑動的方式連接至該支架，該探針保護(hù)器包含一遮板，該遮板具有一 鏤空，該多個(gè)探針正對于該鏤空且設(shè)置于該支架及該遮板之間。
3.如權(quán)利要求2所述的箱體槽位檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該探針保護(hù)器包含多個(gè)導(dǎo)柱， 該導(dǎo)柱的一端部固定于該遮板，該導(dǎo)柱的另一端以該可滑動的方式連接至該支架。
4.如權(quán)利要求2所述的箱體槽位檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該遮板大致呈L形，且該遮板 的其中一側(cè)壁設(shè)置于該探針遠(yuǎn)離槽位的一側(cè)。
5.如權(quán)利要求1所述的箱體槽位檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該探針包含一柱狀端部，用以 伸入該槽位中，該柱狀端部具有一外徑，其小于該槽位的寬度。
6.如權(quán)利要求1所述的箱體槽位檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)包含多個(gè)滾 珠軸承，其對應(yīng)地設(shè)置于該多個(gè)通孔中。
7.如權(quán)利要求1所述的箱體槽位檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該底座包含一底板及設(shè)置于 該底板上的一擋板及一滾輪，該滾輪及該擋板是相對設(shè)置，該箱體能被該滾輪及該擋板夾 持。
8.一種箱體槽位檢驗(yàn)方法，利用一箱體槽位檢驗(yàn)裝置以同時(shí)檢驗(yàn)具有一開口的一箱體 內(nèi)的多個(gè)槽位，該箱體槽位檢驗(yàn)裝置包含一底座、一探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及一升降機(jī)構(gòu)，該探針檢 驗(yàn)機(jī)構(gòu)包含一支架及多個(gè)探針，該支架上形成多個(gè)通孔，該多個(gè)探針是對應(yīng)地設(shè)置于該多 個(gè)通孔中，每一個(gè)探針能獨(dú)立地滑動于該對應(yīng)的通孔中，該升降機(jī)構(gòu)連接該底座及該探針 檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)能相對于該底座上下移動，該箱體槽位檢驗(yàn)方法包含下列 步驟(a)將該箱體放置于該底座上，并使該開口朝上；以及(b)操作該升降機(jī)構(gòu)以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)朝下移動，以使該多個(gè)探針能對應(yīng)地伸入該 多個(gè)槽位中。
9.如權(quán)利要求8所述的箱體槽位檢驗(yàn)方法，其特征在于，該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)更包含一探 針保護(hù)器，其是以一可滑動的方式連接至該支架，該探針保護(hù)器包含一遮板，該遮板具有一 鏤空，步驟(b)由下列步驟實(shí)施操作該升降機(jī)構(gòu)以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)朝下移動；以及該遮板被該箱體擋止，該支架持續(xù)朝向該遮板移動，以使該多個(gè)探針穿過該鏤空以能 對應(yīng)地伸入該多個(gè)槽位中。
10.如權(quán)利要求8所述的箱體槽位檢驗(yàn)方法，其特征在于，更包含下列步驟當(dāng)該探針被該對應(yīng)的槽位的槽壁擋止時(shí)，該探針朝上突出于該支架。
11.如權(quán)利要求8所述的箱體槽位檢驗(yàn)方法，其特征在于，該底座包含一底板及設(shè)置于該底板上的一擋板及一滾輪，該滾輪及該擋板相對設(shè)置，步驟(a)由下列步驟實(shí)施 將該箱體的底部夾持在該擋板及該滾輪之間，并使該開口朝上。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種箱體槽位檢驗(yàn)裝置及利用該箱體槽位檢驗(yàn)裝置的箱體槽位檢驗(yàn)方法。該箱體槽位檢驗(yàn)裝置包含一底座、一探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及一升降機(jī)構(gòu)。該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)包含一支架及多個(gè)探針，該支架上形成多個(gè)通孔，該多個(gè)探針是以能獨(dú)立地上下滑動的方式對應(yīng)地設(shè)置于該多個(gè)通孔中。該升降機(jī)構(gòu)連接該底座及該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。于操作時(shí)，將一箱體放置于該底座上，并使該箱體的開口朝上；接著操作該升降機(jī)構(gòu)以使該探針檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)朝下移動，以使該多個(gè)探針能對應(yīng)地伸入該箱體的多個(gè)槽位中。藉此，該數(shù)個(gè)槽位可同時(shí)被檢驗(yàn)，大幅減少檢驗(yàn)時(shí)間。
文檔編號G01B5/02GK101949674SQ20101025410
公開日2011年1月19日 申請日期2010年8月12日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月12日
發(fā)明者羅文彬, 賴建宇, 陳清福 申請人:友達(dá)光電股份有限公司