專利名稱：：路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及集成電路路徑延遲故障測(cè)試
技術(shù)領(lǐng)域：
，尤其涉及路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮方法及裝置。
背景技術(shù)：
：在集成電路芯片封裝以后，需要對(duì)芯片質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。由于芯片封裝以后對(duì)芯片的內(nèi)部電路無(wú)法直接訪問，因此，一般的對(duì)芯片的測(cè)試采用的方法為在芯片的輸入端置入測(cè)試向量，并在芯片輸出端收集測(cè)試響應(yīng)。將實(shí)際所得測(cè)試響應(yīng)與無(wú)故障電路所應(yīng)得的測(cè)試響應(yīng)進(jìn)行比較，從而判斷芯片電路有無(wú)故障。測(cè)試向量是指通過芯片輸入端置入內(nèi)部電i各的一組邏輯值。為研究問題的需要，通常需要將實(shí)際芯片中的物理缺陷抽象為邏輯故障模型。常用的故障模型有單固定型故障和路徑延遲故障。單固定型故障所描述的物理缺陷是電路中某一條信號(hào)線的輸出值固定為邏輯1或0，分別記為s-a-l和s-a-0。路徑延遲故障所描述的物理缺陷是電路輸入端信號(hào)值的跳變沿某條路徑進(jìn)行傳播，該路徑的延遲超過了給定限制。故障激活是指通過置入測(cè)試向量使得故障所在的信號(hào)線處產(chǎn)生與故障值相反的邏輯值。例如，如圖l所示，信號(hào)線d處有故障s-a-O,即d信號(hào)線處故障值為邏輯O,其相反的邏輯值為1，因此，需要在輸入端a和b置入測(cè)試向量"11"。如果置入的測(cè)試向量使得故障所在的信號(hào)線處產(chǎn)生與故障值相同的邏輯值，例如圖1中在輸入端a和b置入測(cè)試向量"00",則無(wú)法區(qū)分d信號(hào)線處的邏輯值0是由故障s-a-0產(chǎn)生還是由測(cè)試向量"00"產(chǎn)生，從而無(wú)法抬r測(cè)到d處是否存在故障s-a-0。故障傳播是指將激活后的故障效應(yīng)傳播到電路的輸出端。例如，圖l所示電路，信號(hào)線d處有故障s-a-O,如果輸入端c處置入測(cè)試向量"1",則或門OR2的輸出為邏輯l，無(wú)論d處的故障是否被激活，輸出端e處的邏輯值均為1,從而無(wú)法一僉測(cè)到d處是否存在故障s-a-0。因此故障傳播要求在輸入端c置入測(cè)試向量"0",這樣故障效應(yīng)才能傳播到輸出端e。在電路結(jié)構(gòu)中，門的輸出信號(hào)線的值與時(shí)鐘信號(hào)無(wú)關(guān)，這樣的門稱為組合門，組合門的類型包括非門、與門、或門、與非門、或非門、異或門、異或非門等。組合門的輸出信號(hào)線是該組合門的輸入信號(hào)線的組合后繼。組合后繼的關(guān)系可以迭代。例如，圖1中，d是a的組合后繼，e是d的組合后繼，而e也是a的組合后繼。e是a的組合后繼，e也是c的組合后繼，則a和c有共同組合后繼e。通常，測(cè)試向量中可以含有確定位和不確定位，例如，測(cè)試向量"10xxxx"中的"1"和"0"表示確定位，"x"表示不確定位。若兩個(gè)測(cè)試向量的確定位不發(fā)生沖突，則可將兩個(gè)測(cè)試向量壓縮為一個(gè)。例如，測(cè)試向量"10xxxx"和"lxxx0r可壓縮為一個(gè)測(cè)試向量"lOxxOl，,;而測(cè)試向量"10xxxx"和"0xxx01"由于第一位發(fā)生沖突，不能進(jìn)行壓縮。現(xiàn)有技術(shù)中的路徑延遲故障的測(cè)試向量壓縮方法，壓縮比例低，壓縮時(shí)間長(zhǎng)，因而無(wú)法滿足快速準(zhǔn)確進(jìn)行芯片質(zhì)量檢測(cè)的需要。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明實(shí)施例提供路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮方法及裝置，用以在較短的時(shí)間內(nèi)獲得很高的測(cè)試向量壓縮比，解決現(xiàn)有技術(shù)路徑延遲故障的測(cè)試向量壓縮過程中存在的壓縮比例低、壓縮時(shí)間長(zhǎng)的問題。一種路徑延遲故障測(cè)試向量的壓縮方法，該方法包括A、輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)所述測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入分別計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域；所述輸入相關(guān)區(qū)域?yàn)榕c所述原始輸入具有共同組合后繼的所有原始輸入；B、當(dāng)所述原始輸入的輸入相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸入相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第一壓縮測(cè)試向量集；對(duì)所述第一壓縮測(cè)試向量集中各測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；C、將所述故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第二壓縮測(cè)試向量集；D、將所述第一壓縮測(cè)試向量集和第二壓縮測(cè)試向量集合并為壓縮測(cè)試向量集。較佳地，所述步驟B包括Bl、對(duì)所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對(duì)應(yīng)的路徑的起始點(diǎn)是否相同分類，將具有同一起始點(diǎn)的所有路徑對(duì)應(yīng)的路徑延遲故障歸入對(duì)應(yīng)的子集；B2、置所述測(cè)試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；B3、對(duì)于每一個(gè)所述子集，當(dāng)子集非空且當(dāng)前輸入相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量存入所述第一壓縮測(cè)試向量集中，并#^居所述測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；B4、用所述測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。較佳地，所述步驟C包括Cl、從所述故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障的對(duì)應(yīng)路徑；C2、將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一條信號(hào)線的邏輯值相同，則執(zhí)行步驟C3;否則，執(zhí)行步驟C4;C3、根據(jù)信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到所述測(cè)試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結(jié)果作為測(cè)試向量保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集，并返回執(zhí)行步驟C1;否則，執(zhí)行步驟C4;C4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，并保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集；否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回所述故障集，并返回執(zhí)行步驟Cl。一種^各徑延遲故障測(cè)試向量的壓縮方法，該方法包4舌a、輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)所述測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入分別計(jì)算輸出相關(guān)區(qū)域；所述輸出相關(guān)區(qū)域包括能夠到達(dá)對(duì)應(yīng)的原始輸出的所有原始輸入；b、當(dāng)所述原始輸出的輸出相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸出相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第一壓縮測(cè)試向量集；對(duì)所述第一壓縮測(cè)試向量集中各測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；c、將所述故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第二壓縮測(cè)試向量集；d、將所述第一壓縮測(cè)試向量集和第二壓縮測(cè)試向量集合并為壓縮測(cè)試向量集。較佳地，所述步驟b包括bl、對(duì)所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對(duì)應(yīng)的路徑的終止點(diǎn)是否相同分類，將具有同一終止點(diǎn)的所有路徑對(duì)應(yīng)的路徑延遲故障歸入對(duì)應(yīng)的子集；b2、置所述測(cè)試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；b3、對(duì)于每一個(gè)所述子集，當(dāng)子集非空且當(dāng)前輸出相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量存入所述第一壓縮測(cè)試向量集中，并根據(jù)所述測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；b4、用所述測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。較佳地，所述步驟c包括Cl、從所述故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障的對(duì)應(yīng)路徑；c2、將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一條信號(hào)線的邏輯值相同，則執(zhí)行步驟c3;否則，執(zhí)行步驟c4;c3、根據(jù)信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到所述測(cè)試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結(jié)果作為測(cè)試向量保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集，并返回執(zhí)行步驟cl;否則，執(zhí)行步驟c4;c4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，并保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集；否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回所述故障集，并返回執(zhí)行步驟cl。一種路徑延遲故障測(cè)試向量的壓縮裝置，該裝置包括故障輸入單元、第一壓縮單元、第二壓縮單元和測(cè)試向量存儲(chǔ)單元，其中，所述故障輸入單元，用于輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)所述測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入/原始輸出分別計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域；所述第一壓縮單元，用于當(dāng)所述原始輸入/原始輸出的輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸入/原始輸出相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，并發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)單元；根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；所述第二壓縮單元，用于將所述故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，并發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)單元；所述測(cè)試向量存儲(chǔ)單元，用于接收并存儲(chǔ)所迷第一壓縮單元和第二壓縮單元發(fā)送的測(cè)試向量。較佳地，所述第一壓縮單元包括分類子單元、初始化子單元、壓縮子單元和更新子單元，其中，所述分類子單元，用于對(duì)所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對(duì)應(yīng)的路徑起始點(diǎn)/終止點(diǎn)是否相同分類，將具有同一起始點(diǎn)/終止點(diǎn)的所有路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障歸入對(duì)應(yīng)的子集；所述初始化子單元，用于置所述測(cè)試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；所述壓縮子單元，用于對(duì)每一個(gè)所述子集，當(dāng)子集非空且當(dāng)前輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，記錄該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量并發(fā)送給所述更新子單元；根據(jù)所述測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；所述更新子單元，用于根據(jù)接收的測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。較佳地，所述第二壓縮單元包括比較子單元、反向求值子單元、測(cè)試向量生成子單元和測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元，其中，所述比較子單元，用于從所述故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障的對(duì)應(yīng)路徑，將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一條信號(hào)線的邏輯值相同，則通知所述反向求值子單元；否則，通知所述測(cè)試向量生成子單元；所述反向求值子單元，用于將信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到所述測(cè)試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將當(dāng)前所得測(cè)試向量發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元；否則，通知所述測(cè)試向量生成子單元；所述測(cè)試向量生成子單元，用于判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，則將當(dāng)前所得測(cè)試向量發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元；否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回所述故障集；所述測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元，用于接收并存儲(chǔ)所述反向求值子單元和測(cè)試向量生成子單元發(fā)送的測(cè)試向量。本發(fā)明實(shí)施例采用路徑延遲故障測(cè)試向量生成等效電路，根據(jù)故障激活和傳播條件，將路徑延遲故障等效為無(wú)扇出電路中的單固定型故障。根據(jù)電路動(dòng)態(tài)壓縮，采用基于扇出數(shù)的多目標(biāo)路徑延遲故障測(cè)試向量生成技術(shù)，在路徑延遲故障測(cè)試向量生成過程中進(jìn)行測(cè)試向量集合的動(dòng)態(tài)壓縮，得到高壓縮比的路徑延遲故障壓縮測(cè)試向量集。本發(fā)明實(shí)施例提供的方法，在保證測(cè)試向量的故障覆蓋率為100%的基礎(chǔ)上，可以在較短時(shí)間內(nèi)獲得很高的測(cè)試向量壓縮比，為芯片測(cè)試提供了可靠的路徑延遲故障測(cè)試方法。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中電路結(jié)構(gòu)中的組合后繼示意圖；圖2(a)~圖2(b)為本發(fā)明實(shí)施例基于輸入相關(guān)區(qū)域動(dòng)態(tài)壓縮示意圖；圖3(a)~圖3(b)為本發(fā)明實(shí)施例基于輸出相關(guān)區(qū)域動(dòng)態(tài)壓縮示意圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的路徑延遲故障測(cè)試向量生成等效電路示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例1的主要實(shí)現(xiàn)原理流程圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例1中根據(jù)輸入相關(guān)區(qū)域進(jìn)行測(cè)試向量動(dòng)態(tài)壓縮的主要原理流程圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例1中基于扇出電路的多目標(biāo)測(cè)試向量生成的主要原理流程圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例2的主要原理流程圖；圖9為本發(fā)明實(shí)施例2中根據(jù)輸出相關(guān)區(qū)域進(jìn)行測(cè)試向量動(dòng)態(tài)壓縮的主要原理流程圖；圖10為本發(fā)明實(shí)施例3提供的路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖11為本發(fā)明實(shí)施例3中的第一壓縮單元結(jié)構(gòu)示意圖；圖12為本發(fā)明實(shí)施例3中的第二壓縮單元結(jié)構(gòu)示意圖。具體實(shí)施方式本發(fā)明采用路徑延遲故障測(cè)試向量生成等效電路，根據(jù)故障激活和傳播條件，將路徑延遲故障等效為無(wú)扇出電路中的單固定型故障。根據(jù)電路拓樸結(jié)構(gòu)，將電路劃分為輸入相關(guān)區(qū)域或輸出相關(guān)區(qū)域，采用基于扇出數(shù)的多目標(biāo)路徑延遲故障測(cè)試向量生成技術(shù)，在路徑延遲故障測(cè)試向量生成過程中進(jìn)行測(cè)試向量集合的動(dòng)態(tài)壓縮。本發(fā)明實(shí)施例中的輸入相關(guān)區(qū)域，是指與對(duì)應(yīng)的原始輸入具有共同組合后繼的所有原始輸入。設(shè)路徑p的起始點(diǎn)為原始輸入a,與a具有共同組合后繼的原始輸入構(gòu)成了路徑p的輸入相關(guān)區(qū)域。如圖2(a)與圖2(b)所示，兩條路徑的輸入相關(guān)區(qū)域不重疊，則兩條路徑對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量可進(jìn)行壓縮。本發(fā)明實(shí)施例所指的輸出相關(guān)區(qū)域，是指能夠到達(dá)相應(yīng)原始輸出的所有原始輸入。設(shè)路徑p的終止點(diǎn)為原始輸出b,能到達(dá)b的原始輸入構(gòu)成了路徑p的輸出相關(guān)區(qū)域。如圖3(a)與圖3(b)所示，兩條路徑的輸出相關(guān)區(qū)域不重疊，則兩條^各徑對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量可進(jìn)行壓縮。本發(fā)明實(shí)施例所指的路徑延遲故障通常發(fā)生在一個(gè)路徑之上，路徑是指電路中以原始輸入或觸發(fā)器為起始點(diǎn)，原始輸出或觸發(fā)器為終止點(diǎn)的一段電路，包括這段電路中的邏輯門器件以及相關(guān)A信號(hào)線等。如圖4所示，圖中實(shí)線框內(nèi)為原電路，虛線框內(nèi)為新引入的目標(biāo)路徑所構(gòu)成的無(wú)扇出電路，由于路徑a，e，與路徑ae故障激活與傳播的條件相同，并且無(wú)扇出電路中的路徑延遲故障與輸入端的單固定型故障等效，因此，路徑ae的延遲故障與a，處的單固定型故障等效。下面結(jié)合各個(gè)附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)方案的主要實(shí)現(xiàn)原理、具體實(shí)施方式及其對(duì)應(yīng)能夠達(dá)到的有益效果進(jìn)行詳細(xì)的闡述。如圖5所示，本發(fā)明實(shí)施例1的主要實(shí)現(xiàn)原理流程如下步驟ll，輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集F以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入PIi分別計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域1—CONE(PIi)。這里，對(duì)電路的3各徑延遲故障的測(cè)試可以通過計(jì)算機(jī)完成，因此，可以將所有可測(cè)的路徑延遲故障構(gòu)成的故障集F以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)輸入計(jì)算機(jī)。電路拓樸結(jié)構(gòu)可以是一個(gè)計(jì)算機(jī)可識(shí)別的電路結(jié)構(gòu)文件。對(duì)每個(gè)原始輸入PI;計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域I一CONE(PIi)的具體計(jì)算方法為I—CONE(PIj)=驅(qū)動(dòng)原始輸入PIi在電路中的所有后繼門的所有原始l^入；也就是說，原始輸入PIi的輸入相關(guān)區(qū)域I一CONE(PIj)是指與其具有共同組合后繼的所有原始輸入。這里需要分別為每個(gè)原始輸入PIj計(jì)算對(duì)應(yīng)的輸入相關(guān)區(qū)域I—CONE(PIi)。故障集F中包含了所有在被測(cè)電路中可能存在并可以被測(cè)試出來(lái)的路徑延遲故障。由于路徑延遲故障一定存在于某個(gè)路徑上，因而每個(gè)路徑延遲故障對(duì)應(yīng)一個(gè)相應(yīng)的路徑。根據(jù)故障激活與故障傳播的條件和原理，可以得到集合F中每個(gè)路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的原始輸入PIi的邏輯值，也就是可以得到該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量。步驟12，當(dāng)原始輸入PIi的輸入相關(guān)區(qū)域IJ30NE(PIi)互不重疊時(shí)，將與原始輸入PIj相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮；根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從故障集F中刪除。設(shè)路徑p的起始點(diǎn)為原始輸入a,與a具有共同組合后繼的原始輸入構(gòu)成了路徑p的輸入相關(guān)區(qū)域。對(duì)某個(gè)測(cè)試向量而言，若路徑p的輸入相關(guān)區(qū)域在此測(cè)試向量下的值全部為非確定值，則對(duì)路徑p作路徑延遲故障測(cè)試向量生成后，所得到的測(cè)試向量可與此測(cè)試向量進(jìn)行壓縮。在根據(jù)輸入相關(guān)區(qū)域?qū)y(cè)試向量進(jìn)行動(dòng)態(tài)壓縮后，保留壓縮后的測(cè)試向量，并根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，也就是根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量確定出可以被這些測(cè)試向量測(cè)試出的路徑延遲故障，并將這些路徑延遲故障從故障集F中刪除。步驟13,將故障集F中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮。本實(shí)施例中，將故障集F中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)^f亍壓縮的方法可以為將故障集F中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量——進(jìn)行比對(duì)，將可以壓縮的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，直到剩余的測(cè)試向量均不能壓縮為止；或者，根據(jù)故障激活和故障傳播條件，判斷故障對(duì)應(yīng)的路徑的信號(hào)線邏輯值和旁路輸入信號(hào)線邏輯值是否相同，如果是，反向求值到對(duì)應(yīng)的原始輸入PIj，從而得到相應(yīng)的路徑延遲故障共同的測(cè)試向量，達(dá)到壓縮測(cè)試向量的目的。特別的，由于多個(gè)測(cè)試向量可以測(cè)到同一個(gè)故障，設(shè)測(cè)試向量集T(t,，t2，...，tn)可以測(cè)到故障f,設(shè)測(cè)試向量集T，(t、，t，2,t，m)可以測(cè)到故障f。釆用單目標(biāo)路徑故障路徑延遲故障測(cè)試向量生成所得到的向量t,，t，,可能無(wú)法壓縮；而多目標(biāo)路徑故障的路徑延遲故障測(cè)試向量生成則可以嘗試T與T，中向量的所有組合情況，從而更好地進(jìn)行測(cè)試向量集合的壓縮。步驟14,將上述步驟12中得到測(cè)試向量和步驟13中得到的測(cè)試向量合并，得到壓縮測(cè)試向量集。較佳地，如圖6所示，上述實(shí)施例中的步驟12,具體包括步驟121，對(duì)路徑延遲故障集合F中的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑，按照起始點(diǎn)是否相同分類，將具有同一起始點(diǎn)原始輸入PIj的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑歸入對(duì)應(yīng)的子集合SUB(PIi);步驟122，置電路原始輸入的邏輯值為非確定值；步驟123，對(duì)于i從1到n_PI(原始輸入的個(gè)數(shù))，若該子集合SUB(PIi)非空且輸入相關(guān)區(qū)域I—CONE(PIi)中所有原始輸入PIi的邏輯值均為非確定值，則從該子集合SUB(PIi)中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，進(jìn)行路徑延遲故障測(cè)試向量生成，并據(jù)此更新電路原始輸入PIi的邏輯值；步驟124,用所得測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集F中刪除，更新路徑延遲故障集合F。較佳地，如圖7所示，上述實(shí)施例中的步驟13，具體包括步驟131，從路徑延遲故障集合F中選擇一定數(shù)量的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)路徑；這里，選取路徑延遲故障的數(shù)量可以預(yù)先設(shè)定，可以選取集合F中所有的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)路徑，也可以選取集合F中的部分路徑延遲故障對(duì)應(yīng)路徑。步驟132,將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集合C,根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集合C中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一個(gè)信號(hào)線的邏輯值相同，則執(zhí)行步驟133;否則，執(zhí)行步驟134;步驟133，將信號(hào)線的賦值要求反向求值(根據(jù)門的輸出值求其輸入值)到電路的原始輸入PI;,若反向求值成功，則保存當(dāng)前所得測(cè)試向量，并返回執(zhí)行步驟131;否則，執(zhí)行步驟134;步驟134,判斷故障集F是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，將所得測(cè)試向量與步驟133中所得測(cè)試向量合并存儲(chǔ)；否則，將選出的路徑放回路徑延遲故障集合F,并返回執(zhí)行步驟131。如此循環(huán)，直到路徑延遲故障集合F中所有故障對(duì)應(yīng)路徑均已經(jīng)無(wú)法進(jìn)行測(cè)試向量壓縮，此時(shí)，存儲(chǔ)的測(cè)試向量即為路徑延遲故障的壓縮后的測(cè)試向量。本實(shí)施例所提供的方法，通過計(jì)算每個(gè)原始輸入PIj的輸入相關(guān)區(qū)域I_CONE(PI0,并根據(jù)輸入相關(guān)區(qū)域I一CONE(PIi)將電路中可測(cè)試的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行動(dòng)態(tài)壓縮，而后，采用基于扇出數(shù)的多目標(biāo)路徑延遲故障測(cè)試向量生成技術(shù)完成對(duì)剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量生成與壓縮。相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例2提供一種路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮方法，如圖8所示，具體如下步驟21，輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集F以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)測(cè)試電路的每個(gè)原始輸出POi分別計(jì)算輸出相關(guān)區(qū)域O一CONE(POO。這里，對(duì)電路的路徑延遲故障的測(cè)試可以通過計(jì)算機(jī)完成，因此，可以將所有可測(cè)的路徑延遲故障構(gòu)成的故障集F以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)輸入計(jì)算機(jī)。電路拓樸結(jié)構(gòu)可以是一個(gè)計(jì)算機(jī)可識(shí)別的電路結(jié)構(gòu)文件。對(duì)每個(gè)原始輸出POi計(jì)算輸出相關(guān)區(qū)域0_CONE(POi)的具體計(jì)算方法為O—CONE(POi)=原始輸出POi在電路中所有前繼門可達(dá)所有原始輸出；也就是說，原始輸出POi的輸出相關(guān)區(qū)域O一CONE(POj)是指與其具有共同組合后繼的所有原始輸入。這里需要分別為每個(gè)原始輸出PO,計(jì)算對(duì)應(yīng)的輸出相關(guān)區(qū)域0_CONE(POi)。故障集F中包含了所有在被測(cè)電路中可能存在并可以被測(cè)試出來(lái)的路徑延遲故障。由于路徑延遲故障一定存在于某個(gè)路徑上，因而每個(gè)路徑延遲故障對(duì)應(yīng)一個(gè)相應(yīng)的路徑。根據(jù)故障激活與故障傳播的條件和原理，可以得到集合F中每個(gè)路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的原始輸入PIi的邏輯值，也就是可以得到該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量。步驟22,當(dāng)原始輸出POi的輸出相關(guān)區(qū)域Oj:ONE(POi)互不重疊時(shí)，將與該原始輸出POi相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮；根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試的路徑延遲故障從故障集F中刪除。設(shè)路徑p的終止點(diǎn)為原始輸出b，能到達(dá)b的原始輸入構(gòu)成了路徑p的輸出相關(guān)區(qū)域。對(duì)某個(gè)測(cè)試向量而言，若路徑p的輸出相關(guān)區(qū)域在此測(cè)試向量下的值全部為非確定值，則對(duì)路徑p作路徑延遲故障測(cè)試向量生成后，所得到的測(cè)試向量可與此測(cè)試向量進(jìn)行壓縮。在根據(jù)輸出相關(guān)區(qū)域?qū)y(cè)試向量進(jìn)行動(dòng)態(tài)壓縮后，保留壓縮后的測(cè)試向量，并根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，也就是根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量確定出可以被這些測(cè)試向量測(cè)試出的路徑延遲故障，并將這些路徑延遲故障從故障集F中刪除。步驟23，將故障集F中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮。本實(shí)施例中，將故障集F中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮的方法可以為將故障集F中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量——進(jìn)行比對(duì)，將可以壓縮的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，直到剩余的測(cè)試向量均不能壓縮為止；或者，根據(jù)故障激活和故障傳播條件，判斷故障對(duì)應(yīng)的路徑的信號(hào)線邏輯值和旁路輸入信號(hào)線邏輯值是否相同，如果是，反向求值到對(duì)應(yīng)的原始輸入PI"從而得到相應(yīng)的路徑延遲故障共同的測(cè)試向量，達(dá)到壓縮測(cè)試向量的目的。特別的，由于多個(gè)測(cè)試向量可以測(cè)到同一個(gè)故障，-沒測(cè)試向量集T(tbt2，U可以測(cè)到故障f,設(shè)測(cè)試向量集T，(t，i，t，2,t，m)可以測(cè)到故障f。采用單目標(biāo)路徑故障路徑延遲故障測(cè)試向量生成所得到的向量ti,t、可能無(wú)法壓縮；而多目標(biāo)路徑故障的路徑延遲故障測(cè)試向量生成則可以嘗試T與T，中向量的所有組合情況，從而更好地進(jìn)行測(cè)試向量集合的壓縮。步驟24，將上述步驟22中得到測(cè)試向量和步驟23中得到的測(cè)試向量合并，得到壓縮測(cè)試向量集。較佳地，如圖9所示，上述實(shí)施例2中的步驟22,具體包括步驟221，對(duì)路徑延遲故障集合F中的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑，按照終止點(diǎn)是否相同分類，將具有同一終止點(diǎn)原始輸出POi的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑歸入對(duì)應(yīng)的子集合SUB(PO0;步驟222,置電路原始輸入的邏輯值為非確定值；步驟223,對(duì)于i從1到n_PO(原始輸入的個(gè)數(shù))，若該子集合SUB(POi)非空且輸出相關(guān)區(qū)域O—CONE(POi)中所有原始輸出POj的邏輯值均為非確定值，則從該子集合SUB(POi)中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，進(jìn)行路徑延遲故障測(cè)試向量生成，并據(jù)此更新電路原始輸入PI;的邏輯值；步驟224,用所得測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集F中刪除，更新路徑延遲故障集合F。特別的，上述實(shí)施例2中步驟23的具體實(shí)現(xiàn)方式與本發(fā)明實(shí)施例1中步驟13的具體實(shí)施方式相同，此處不再贅述。本實(shí)施例所提供的方法，通過計(jì)算每個(gè)原始輸出POi的輸出相關(guān)區(qū)域O—CONE(POi)，并根據(jù)輸出相關(guān)區(qū)域O—CONE(POi)將電路中可測(cè)試的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行動(dòng)態(tài)壓縮，而后，采用基于扇出數(shù)的多目標(biāo)^各徑延遲故障測(cè)試向量生成技術(shù)完成對(duì)剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量生成與壓縮。相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例3還提供一種路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮裝置，如圖IO所示，該裝置包括故障輸入單元31、第一壓縮單元32、第二壓縮單元33和測(cè)試向量存儲(chǔ)單元34，具體如下故障輸入單元31，用于輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入/原始輸出分別計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域；特別的，這里只需要分別為測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入計(jì)算對(duì)應(yīng)的輸入相關(guān)區(qū)域，或分別為測(cè)試電路的每個(gè)原始輸出計(jì)算對(duì)應(yīng)的輸出相關(guān)區(qū)域，不需要同時(shí)計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域和輸出相關(guān)區(qū)域。第一壓縮單元32,用于當(dāng)所述原始輸入/原始輸出的輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸入/原始輸出相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，并發(fā)送給測(cè)試向量存儲(chǔ)單元34;根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集中刪除；第二壓縮單元33,用于將故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，并發(fā)送給測(cè)試向量存儲(chǔ)單元34;測(cè)試向量存儲(chǔ)單元34，用于接收并所述第一壓縮單元32和第二壓縮單元33發(fā)送的測(cè)試向量。這里得到的測(cè)試向量即為壓縮后的測(cè)試向量，可以在保證故障覆蓋率為100%的基礎(chǔ)上，可以在較短時(shí)間內(nèi)獲得很高的測(cè)試向量壓縮比。較佳地，如圖ll所示，上述實(shí)施例3中的第一壓縮單元32具體包括分類子單元321、初始化子單元322、壓縮子單元323和更新子單元324，具體如下分類子單元321，用于對(duì)故障集中的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑按照起始點(diǎn)/終止點(diǎn)是否相同分類，將具有同一起始點(diǎn)/終止點(diǎn)的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)^各徑歸入對(duì)應(yīng)的子集；特別的，這里可以分別對(duì)故障集中的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑按照起始點(diǎn)是否相同分類，或者對(duì)故障集中的所有路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑按照終止點(diǎn)是否相同分類。初始化子單元322，用于置電路原始輸入的邏輯^i為非確定值；壓縮子單元323，用于對(duì)每一個(gè)具有同一起始點(diǎn)/終止點(diǎn)的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的路徑，如果對(duì)應(yīng)的子集非空且輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，記錄該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量并發(fā)送給更新子單元324,根據(jù)測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；更新子單元324,用于根據(jù)接收的測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集中刪除。較佳地，如圖12所示，上述實(shí)施例3中的第二壓縮單元33具體包括比較子單元331、反向求值子單元332、測(cè)試向量生成子單元333和測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元334，具體如下比較子單元331,用于從故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)路徑，將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一個(gè)信號(hào)線的邏輯值相同，則通知反向求值子單元332;否則，通知測(cè)試向量生成子單元333;反向求值子單元332,用于將信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到電路的原始輸入，若反向求值成功，則將當(dāng)前所得測(cè)試向量發(fā)送給測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元334;否則，通知測(cè)試向量生成子單元333;測(cè)試向量生成子單元333,用于判斷故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，則將當(dāng)前所得測(cè)試向量發(fā)送給測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元334;否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回故障集；測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元334，用于接收并存儲(chǔ)反向求值子單元332和測(cè)試向量生成子單元333發(fā)送的測(cè)試向量。本發(fā)明實(shí)施例提供的裝置，在保證測(cè)試向量的故障覆蓋率為100%的基礎(chǔ)上，可以在較短時(shí)間內(nèi)獲得很高的測(cè)試向量壓縮比，為芯片測(cè)試提供了可靠的路徑延遲故障測(cè)試方法。表1是將本發(fā)明應(yīng)用到標(biāo)準(zhǔn)的ISCAS89電路進(jìn)行測(cè)試向量壓縮的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表，實(shí)驗(yàn)平臺(tái)為SUNBLADE2000工作站。表1中，circuit為電路名稱，#path為路徑延遲故障數(shù)，F(xiàn)C表示故障覆蓋率，弁vec表示測(cè)試向量數(shù)，ratio表示測(cè)試向量壓縮比，ratio是故障數(shù)與向量數(shù)的比值，Time表示路徑延遲故障測(cè)試向量生成所用時(shí)間。表l<table>tableseeoriginaldocumentpage22</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage23</column></row><table>為了進(jìn)一步說明本發(fā)明可以達(dá)到的有益效果，如表2所示，為本發(fā)明所提供的測(cè)試向量壓縮方法與兩種現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試向量壓縮方法壓縮測(cè)試效果的對(duì)比結(jié)果，其中，circuit為電路名稱，path為路徑延遲故障數(shù)，vec表示測(cè)試向量數(shù)，comp為壓縮比，ENRICH與NEAT為現(xiàn)有4支術(shù)中的兩種測(cè)試向量壓縮方法。表2<table>tableseeoriginaldocumentpage23</column></row><table>如表3所示，為本發(fā)明提供的測(cè)試向量壓縮方法與現(xiàn)有技術(shù)中另外一種測(cè)試向量壓縮方法對(duì)比結(jié)果，其中，circuit為電路名稱，path為路徑延遲故障數(shù)，selected表示可以測(cè)試到的路徑延遲故障，F(xiàn)C表示故障覆蓋率，vec表示測(cè)試向量數(shù)，comp為壓縮比，kaji.為現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試向量壓縮方法。表3<table>tableseeoriginaldocumentpage24</column></row><table>由上述的表格中可以看出，采用本發(fā)明中的方法，可以在較短時(shí)間內(nèi)獲得很高的測(cè)試向量壓縮比，并保證測(cè)試向量的故障覆蓋率為100%。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。權(quán)利要求1、一種路徑延遲故障測(cè)試向量的壓縮方法，其特征在于，該方法包括A、輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，對(duì)所述測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入分別計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域；所述輸入相關(guān)區(qū)域?yàn)榕c所述原始輸入具有共同組合后繼的所有原始輸入；B、當(dāng)所述原始輸入的輸入相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸入相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第一壓縮測(cè)試向量集；對(duì)所述第一壓縮測(cè)試向量集中各測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；C、將所述故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第二壓縮測(cè)試向量集；D、將所述第一壓縮測(cè)試向量集和第二壓縮測(cè)試向量集合并為壓縮測(cè)試向量集。2、如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述步驟B包括Bl、對(duì)所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對(duì)應(yīng)的路徑的起始點(diǎn)是否相同分類，將具有同一起始點(diǎn)的所有路徑對(duì)應(yīng)的路徑延遲故障歸入對(duì)應(yīng)的子集；B2、置所述測(cè)試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；B3、對(duì)于每一個(gè)所述子集，當(dāng)子集非空且當(dāng)前輸入相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量存入所述第一壓縮測(cè)試向量集中，并根據(jù)所述測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；B4、用所述測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。3、如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述步驟C包括-.Cl、從所述故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障的對(duì)應(yīng)路徑；C2、將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一條信號(hào)線的邏輯值相同，則執(zhí)行步驟C3;否則，執(zhí)行步驟C4;C3、根據(jù)信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到所述測(cè)試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結(jié)果作為測(cè)試向量保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集，并返回執(zhí)行步驟C1;否則，執(zhí)行步驟C4;C4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，并保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集；否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回所述故障集，并返回執(zhí)行步驟Cl。4、一種路徑延遲故障測(cè)試向量的壓縮方法，其特征在于，該方法包括a、輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)所述測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入分別計(jì)算輸出相關(guān)區(qū)域；所述輸出相關(guān)區(qū)域包括能夠到達(dá)對(duì)應(yīng)的原始輸出的所有原始輸入；b、當(dāng)所述原始輸出的輸出相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸出相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第一壓縮測(cè)試向量集；對(duì)所述第一壓縮測(cè)試向量集中各測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；c、將所述故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，得到第二壓縮測(cè)試向量集；d、將所述第一壓縮測(cè)試向量集和第二壓縮測(cè)試向量集合并為壓縮測(cè)試向量集。5、如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述步驟b包括bl、對(duì)所述故障集中的所有路徑延遲故障:接其對(duì)應(yīng)的路徑的終止點(diǎn)是否相同分類，將具有同一終止點(diǎn)的所有路徑對(duì)應(yīng)的路徑延遲故障歸入對(duì)應(yīng)的子集；b2、置所述測(cè)試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；b3、對(duì)于每一個(gè)所述子集，當(dāng)子集非空且當(dāng)前輸出相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量存入所述第一壓縮測(cè)試向量集中，并#4居所述測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；b4、用所述測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。6、如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟c包括c1、從所述故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障的對(duì)應(yīng)路徑；c2、將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一條信號(hào)線的邏輯值相同，則執(zhí)行步驟c3;否則，執(zhí)行步驟c4;c3、根據(jù)信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到所述測(cè)試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結(jié)果作為測(cè)試向量保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集，并返回執(zhí)行步驟cl;否則，執(zhí)行步驟c4;c4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，并保存到所述第二壓縮測(cè)試向量集；否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回所述故障集，并返回執(zhí)行步驟cl。7、一種路徑延遲故障測(cè)試向量的壓縮裝置，其特征在于，該裝置包括故障輸入單元、第一壓縮單元、第二壓縮單元和測(cè)試向量存儲(chǔ)單元，其中，所述故障輸入單元，用于輸入測(cè)試電路中各路徑的可測(cè)路徑延遲故障構(gòu)成的故障集以及測(cè)試電路的電路拓樸結(jié)構(gòu)，對(duì)所述測(cè)試電路的每個(gè)原始輸入/原始輸出分別計(jì)算輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域；所述第一壓縮單元，用于當(dāng)所述原始輸入/原始輸出的輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域互不重疊時(shí)，將與所述原始輸入源始輸出相關(guān)路徑的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，并發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)單元；根據(jù)壓縮后的測(cè)試向量分別進(jìn)行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；所述第二壓縮單元，用于將所述故障集中剩余的路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量進(jìn)行壓縮，并發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)單元；所述測(cè)試向量存儲(chǔ)單元，用于接收并存儲(chǔ)所述第一壓縮單元和第二壓縮單元發(fā)送的測(cè)試向量。8、如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第一壓縮單元包括分類子單元、初始化子單元、壓縮子單元和更新子單元，其中，所述分類子單元，用于對(duì)所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對(duì)應(yīng)的路徑起始點(diǎn)/終止點(diǎn)是否相同分類，將具有同一起始點(diǎn)/終止點(diǎn)的所有路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障歸入對(duì)應(yīng)的子集；所述初始化子單元，用于置所述測(cè)試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；所述壓縮子單元，用于對(duì)每一個(gè)所述子集，當(dāng)子集非空且當(dāng)前輸入相關(guān)區(qū)域/輸出相關(guān)區(qū)域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機(jī)選出某個(gè)路徑延遲故障，記錄該路徑延遲故障對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量并發(fā)送給所述更新子單元；根據(jù)所述測(cè)試向量更新原始輸入的邏輯值；所述更新子單元，用于根據(jù)接收的測(cè)試向量進(jìn)行故障模擬，將故障模擬過程中測(cè)試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。9、如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第二壓縮單元包括比較子單元、反向求值子單元、測(cè)試向量生成子單元和測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元，其中，所述比較子單元，用于從所述故障集中選擇設(shè)定數(shù)量的路徑延遲故障的對(duì)應(yīng)路徑，將選擇出的路徑放入當(dāng)前目標(biāo)集，根據(jù)故障激活和傳播條件設(shè)置當(dāng)前目標(biāo)集中所有路徑的信號(hào)線邏輯值及旁路輸入信號(hào)線邏輯值，若同一條信號(hào)線的邏輯值相同，則通知所述反向求值子單元；否則，通知所述測(cè)試向量生成子單元；所述反向求值子單元，用于將信號(hào)線的賦值要求逐步反向求值到所述測(cè)試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將當(dāng)前所得測(cè)試向量發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元；否則，通知所述測(cè)試向量生成子單元；所述測(cè)試向量生成子單元，用于判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障分別進(jìn)行測(cè)試向量生成，則將當(dāng)前所得測(cè)試向量發(fā)送給所述測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元；否則，將選出的路徑對(duì)應(yīng)路徑延遲故障放回所述故障集；所述測(cè)試向量存儲(chǔ)子單元，用于接收并存儲(chǔ)所述反向求值子單元和測(cè)試向量生成子單元發(fā)送的測(cè)試向量。全文摘要本發(fā)明實(shí)施例公開了一種路徑延遲故障測(cè)試向量壓縮方法及裝置，采用路徑延遲故障測(cè)試向量生成等效電路，根據(jù)故障激活和傳播條件，將路徑延遲故障等效為無(wú)扇出電路中的單固定型故障。根據(jù)電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，將電路劃分為輸入相關(guān)區(qū)域和輸出相關(guān)區(qū)域并分別進(jìn)行測(cè)試向量的動(dòng)態(tài)壓縮，采用基于扇出數(shù)的多目標(biāo)路徑延遲故障測(cè)試向量生成技術(shù)，在路徑延遲故障測(cè)試向量生成過程中進(jìn)行測(cè)試向量集合的動(dòng)態(tài)壓縮，得到高壓縮比的路徑延遲故障壓縮測(cè)試向量集。本發(fā)明實(shí)施例提供的方法，在保證故障覆蓋率為100％的基礎(chǔ)上，可以在較短時(shí)間內(nèi)獲得很高的測(cè)試向量壓縮比，為芯片測(cè)試提供了可靠的路徑延遲故障測(cè)試方法。文檔編號(hào)G01R31/3183GK101221216SQ20081005667公開日2008年7月16日申請(qǐng)日期2008年1月23日優(yōu)先權(quán)日2008年1月23日發(fā)明者東向,李開偉申請(qǐng)人:清華大學(xué)