專利名稱：脈沖調(diào)制型光檢測裝置及方法、電子設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及從發(fā)光元件發(fā)出經(jīng)脈沖調(diào)制后的光并檢測有無物體的脈沖調(diào)制型光檢測裝置和脈沖調(diào)制型光檢測方法，特別涉及一種適用于復印機、打印機等的FA(工廠自動化)及OA(辦公自動化)設備、以及適用于檢測硬幣及彈珠等的娛樂設備等的電子設備的脈沖調(diào)制型光檢測裝置和脈沖調(diào)制型光檢測方法。
背景技術：
在復印機、打印機等的FA及OA設備以及游戲機這樣的娛樂設備等的電子設備中，有時需要對物體(諸如記錄紙、硬幣、彈珠等)在預定通路中的通過情況進行檢測。用光對物體實施檢測的光檢測裝置，由于其不接觸物體，所以比較適于上述的檢測。
圖6表示現(xiàn)有技術的光檢測裝置的一個示例。圖7表示現(xiàn)有技術中的同步脈沖光入射時的時序圖。在上述光檢測裝置中，在振蕩電路21中生成的基準時鐘(CLK)信號(A2)由同步定時電路22調(diào)制成同步定時信號(B2)。根據(jù)同步定時信號(B2)，由發(fā)光元件驅動電路23驅動發(fā)光元件24，從發(fā)光元件24發(fā)出已脈沖調(diào)制過的脈沖光。
上述已脈沖調(diào)制過的脈沖光，在被從發(fā)光元件24和光接收元件25的前面通過的物體A反射后入射到光接收元件25，或者，在透射從發(fā)光元件24和光接收元件25之間通過的物體A后入射到光接收元件25。因而，如圖7所示，如果周圍不存在外部干擾光(C2)(在圖7中，外部干擾光(C2)為Lo電平)，向光接收元件25入射的脈沖光因橫穿上述脈沖光的物體A的通過而通/斷(ON/OFF)。
然后，由光接收元件25將這樣對光接收元件25的入射進行通/斷的脈沖光實施光電轉換，之后，由放大器26對光電轉換后的光接收信號(D2)進行放大，并由判定電路27進行波形整形，然后，作為來自判定電路27的輸出(E2)而輸出之。上述輸出(E2)被輸入信號處理電路28，在該信號處理電路28中進行信號處理后生成并輸出信號處理電路輸出信號(F2)。然后，在輸出電路29中，為適于向外部輸出而對該信號處理電路輸出信號(F2)進行調(diào)整并輸出之，從該輸出電路29將Hi或Lo的信號作為表示是否檢測出物體A的檢測信號而進行輸出(參照日本專利公開公報特公平4-53396號公報(
公開日1987年6月12日)、日本專利公開公報特公平4-53273號公報(
公開日1986年8月8日))。
但是，在上述現(xiàn)有技術的結構中存在下述缺陷，即，盡管不存在要進行檢測的物體A，但輸出由于外部干擾光的干擾而反復Hi、Lo，好象產(chǎn)生了震蕩，從而導致錯誤檢測上述物體A。
這里，作為典型的外部干擾光，可以列舉出來自反相器熒光燈的光。關于來自反相器熒光燈的光，如圖8(a)所示，其中混雜有各種強度的光，在如圖8(b)所示那樣進行放大時，可知其是由被表示在反相器(inverter)熒光燈的設備的驅動頻率及其高次諧波構成的。另外，一般所知的反相器熒光燈的驅動頻率為40kHz～60kHz。
圖9表示在圖6的框圖所示的現(xiàn)有技術的光檢測裝置中，當不存在要檢測的物體A時，如圖8(a)或圖8(b)所示的反相器熒光燈的光作為外部干擾光入射時的時序圖。
當反相器熒光燈入射時，判定輸出(E2)表示相對發(fā)光定時(B2)存在多個脈沖光。如果反相器熒光燈的光和發(fā)光定時一致，會被錯誤地檢測為同步光，如果反相器熒光燈的光與發(fā)光定時不一致，或者光接收強度減弱，則不再被檢測為同步光，所以存在如下問題如果長時間觀測的話，盡管不存在要進行檢測的物體A，但輸出會反復Hi、Lo，好象產(chǎn)生了震蕩而錯誤檢測上述物體A。
接著，對在上述錯誤檢測時的圖6所示的現(xiàn)有技術的框圖中的信號處理電路28進行說明。圖10表示信號處理電路28的一個例子。在信號處理電路28中設置有帶有兩個時間門(Timing Gate)的同步鎖存電路2D及非同步鎖存電路2F，用于分別以同步定時X2及非同步定時Z2取入來自判定電路27的輸出E2，并分別保持所取入的各輸出；狀態(tài)檢測電路2I，用于判斷分別來自上述同步鎖存電路2D、非同步鎖存電路2F的各輸出Q、Q-的取入信號的狀態(tài)；以及移位寄存器2J。
這里，圖11表示在圖9所示的外部干擾光入射時在信號處理電路28中的時序圖。判定輸出E2表示相對于同步定時X2，沒有信號的狀態(tài)和存在較多的脈沖光的狀態(tài)。當為存在數(shù)量較多的脈沖光的狀態(tài)時，如果存在與同步定時X2一致的信號，則同步鎖存電路2D保持輸出，直到鎖存復位定時(Latch Reset Timing)為止。同樣地，如果存在與非同步定時Z2一致的信號，則非同步鎖存電路2F保持輸出，直到鎖存復位定時為止。
即，同步鎖存電路2D在判定輸出E2的信號與同步定時X2一致的時刻起到鎖存復位定時為止，保持該同步鎖存電路2D的輸出信號。而非同步鎖存電路2F在判定輸出E2的信號與非同步定時Z2一致的時刻起到鎖存復位定時為止，保持該非同步鎖存電路2F的輸出信號。
上述同步鎖存電路2D的輸出信號和非同步鎖存電路2F的輸出信號被分別輸入到狀態(tài)檢測電路2I。狀態(tài)檢測電路2I按照其邏輯向移位寄存器2J的S、R或CLK輸出PRESET(預置)信號、CLR信號或CLK信號，并且移位寄存器2J進行計數(shù)。
通過輸入CLR信號來保持圖11的時序圖中沒有信號的狀態(tài)、即，沒有移位寄存器2J的輸出F2的狀態(tài)。但是，由于反相器熒光燈的噪聲的作用而被輸入判定輸出E2的信號，當計數(shù)3次CLK后，移位寄存器2J的輸出F2反轉為Lo。根據(jù)PRESET信號，移位寄存器2J的輸出F2被保持為Lo后，不再輸入判定輸出E2的信號，所以，由CLK開始計數(shù)。但是，即使在中途檢測出噪聲，通過向移位寄存器2J的CLR輸入清零信號而對計數(shù)進行清零，移位寄存器2J的輸出仍反轉為Hi。
當諸如圖8(a)及圖8(b)所示那樣的來自反相器熒光燈的作為噪聲的外部干擾光持續(xù)入射時，會產(chǎn)生如下問題圖11中所示的移位寄存器2J的輸出F2反復Hi、Lo，看上去好象產(chǎn)生了震蕩，從而進行誤動作。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述現(xiàn)有技術的問題而進行的，其目的是提供一種脈沖調(diào)制型光檢測裝置、脈沖調(diào)制型光檢測方法和采用了該脈沖調(diào)制型光檢測裝置及脈沖調(diào)制型光檢測方法的電子設備，即使存在外部干擾光也能抑制因上述外部干擾光所導致的誤動作。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的脈沖調(diào)制型光檢測裝置為，從發(fā)光元件發(fā)出與脈沖信號同步的脈沖光，利用來自光接收元件的光接收信號來檢測是否存在物體，其中，該光接收元件接受要借助于上述脈沖光進行檢測的物體的反射光或透射光，該脈沖調(diào)制型光檢測裝置具有脈沖生成電路，生成用于使得在一個周期中發(fā)出多次脈沖光的脈沖信號；以及光接收側檢測電路，檢測與上述多次脈沖光對應的光接收信號，從而輸出用于表示有無物體的檢測信號。在上述結構中，可以在按照由移位寄存器等預先設定的計數(shù)次數(shù)分別連續(xù)同步地檢測出與上述多次脈沖光對應的光接收信號時，將Hi或Lo電平的信號判斷為檢測信號并輸出。
然而，在現(xiàn)有技術中，在一個周期中存在一次同步定時，當在該同步定時中有信號時，判斷其為一個周期同步而進行信號處理，在該同步次數(shù)達到預先設定在移位寄存器中的次數(shù)時，就判斷檢測或非檢測。
在本發(fā)明中，在一個周期中有多個同步定時，能夠根據(jù)在進行下述信號處理后所得到的檢測信號來判斷是否檢測出物體，即，僅在以上述多個同步定時中的至少兩個同步定時在光接收信號中檢測出信號時，才判斷為一個周期同步。
其結果，在上述結構中，只在多次之中用至少兩個同步定時檢測出信號時才判斷為一個周期同步，所以即使存在作為隨機的噪聲光——例如來自反相器熒光燈的外部干擾光，即便因上述外部干擾光而產(chǎn)生的一個光接收信號與上述至少兩個同步定時中的一個一致，也能夠減少與另一個同步定時一致，所以能夠抑制因上述外部干擾光所導致的錯誤檢測。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的電子設備使用上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的脈沖調(diào)制型光檢測方法為，發(fā)出與脈沖信號同步的脈沖光，接受橫穿上述脈沖光的光路的要進行檢測的物體的反射光或透射光而得到光接收信號，并根據(jù)該光接收信號來檢測有無物體，該脈沖調(diào)制型光檢測方法包括對上述所發(fā)出的脈沖光進行設定使其具有兩個或兩個以上的脈沖間隔的步驟；以及根據(jù)因上述兩個或兩個以上的脈沖間隔的脈沖光而產(chǎn)生的光接收信號來檢測有無物體的步驟。
在上述方法中，根據(jù)因所設定的兩個或兩個以上的脈沖間隔的脈沖光而產(chǎn)生的光接收信號來檢測是否存在物體，因此，如上所述，能夠減少因隨機的外部干擾光所導致的對物體的錯誤檢測。
本發(fā)明的其他目的、特征和優(yōu)點通過以下所示的記載會變得十分清楚。此外，以下參照附圖來明確本發(fā)明的優(yōu)點。


圖1是表示本發(fā)明的脈沖調(diào)制型光檢測裝置的一個實施方式的電路框圖。
圖2是上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置的信號處理電路的電路框圖。
圖3是表示上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置的各結構中的信號的、不存在外部干擾光時的時序圖。
圖4是表示上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置的各結構中的信號的、在外部干擾光入射時的時序圖。
圖5是表示上述信號處理電路的各結構中的信號的、外部干擾光入射時的時序圖。
圖6是現(xiàn)有技術的脈沖調(diào)制型光檢測裝置的電路框圖。
圖7是現(xiàn)有技術中僅存在同步信號時的時序圖。
圖8(a)是反相器熒光燈波形的波形圖。
圖8(b)是上述波形圖的放大波形9是現(xiàn)有技術的外部干擾光入射時的時序圖。
圖10是現(xiàn)有技術的脈沖調(diào)制型光檢測裝置的信號處理電路的電路框圖。
圖11是表示現(xiàn)有技術的信號處理電路的各結構中的信號的、在外部干擾光入射時的時序圖。
具體實施例方式
下面，參照圖1至圖5，來說明本發(fā)明的脈沖調(diào)制型光檢測裝置及脈沖調(diào)制型光檢測方法的一個實施方式。也就是說，在本實施方式的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，如圖1所示，設置有振蕩電路11，借助于水晶振子等來生成并輸出預定波長的基準時鐘(以下，簡稱為“CLK”)信號(A1)；以及同步定時電路(脈沖生成電路)12，生成基于上述基準CLK信號的脈沖信號(B1)。
另外，在脈沖調(diào)制型光檢測裝置中，設置有發(fā)光元件驅動電路13，生成與上述脈沖信號對應的發(fā)光元件用驅動信號；以及發(fā)光元件14，根據(jù)發(fā)光元件用驅動信號，從上述發(fā)光元件朝預定方向(即，要檢測的物體A的通過位置方向)發(fā)出與上述脈沖信號同步的光。
進而，在脈沖調(diào)制型光檢測裝置，設置有光接收元件15，用于接受要檢測的物體A的反射光或透射光，將其轉換成作為對應的檢測電信號的光接收信號(D1)并輸出；放大器16，對從光接收元件15得到的光接收信號(D1)進行放大，并將其作為放大光接收信號來輸出；以及判定電路17，用于從上述放大光接收信號檢測出上述脈沖信號并將其作為判定輸出信號(E1)來輸出。
另外，在脈沖調(diào)制型光檢測裝置中，還設置有信號處理電路(光接收側檢測電路)18，通過對判定輸出信號(E1)與上述脈沖信號(B1)進行比較，以及對上述判定輸出信號(E1)進行計數(shù)，來輸出表示是否檢測出上述物體A的判定處理信號(F1)；以及輸出電路19，為了適于向外部輸出(例如，低阻抗化或適當?shù)妮敵鲭娖?而對判定處理信號(F1)進行調(diào)整并輸出之。在脈沖調(diào)制型光檢測裝置，優(yōu)選的是，通過對作為上述光接收信號的上述判定信號(E1)中的多個(例如3個)判定信號(E1)進行計數(shù)來檢測有無物體。
上述同步定時電路12，如圖3所示，生成用于使脈沖光在一個周期中發(fā)生多次的發(fā)光定時脈沖信號(即，被設定了多個脈沖間隔的發(fā)光定時脈沖信號)。另外，上述信號處理電路18，能夠在作為光接收信號的上述判定信號(E1)中，檢測與上述多次發(fā)光定時脈沖信號對應的各信號。
因此，在上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置中，上述判定信號(E1)在一個周期中有多次例如兩次同步定時，在移位寄存器1J中例如三個周期連續(xù)同步的情況下，將Hi或Lo信號作為檢測信號輸出。另外，圖3表示在本發(fā)明的實施方式，在沒有外部干擾光的狀態(tài)下，同步脈沖光入射時的時序圖(本實施方式的脈沖調(diào)制型光檢測方法)。
下面，對上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置的動作進行說明。在振蕩電路11中生成基準時鐘信號(A1)。在同步定時電路12中，根據(jù)上述基準CLK信號，調(diào)制并生成在一個周期中具有兩個同步定時的各發(fā)光定時脈沖信號(B1)。發(fā)光元件驅動電路13根據(jù)各發(fā)光定時脈沖信號(B1)來驅動發(fā)光元件14，從發(fā)光元件14朝物體A的通過位置發(fā)出被脈沖調(diào)制后的脈沖光。
這種已脈沖調(diào)制過的脈沖光，在被從發(fā)光元件14和光接收元件15的前面通過的物體A反射后入射到光接收元件15，或者，在透射從發(fā)光元件14和光接收元件15之間通過的物體A后入射到光接收元件15。因而，如果周圍不存在外部干擾光(C1)，向光接收元件15入射的脈沖光則因物體A的通過而通/斷(ON/OFF)。
然后，由光接收元件15進行了光電轉換后的光接收信號(D1)被放大器16放大，在信號處理電路18中對波形整形后的判定電路17的上述判定信號(E1)進行處理(F1)，輸出電路19將Hi或Lo的信號作為檢測信號來輸出。
圖2表示上述信號處理電路18的一個示例。在信號處理電路18中，設置有用于分別以同步定時X1、Y1和非同步定時Z1取入判定電路17的輸出E1的“與”電路1A、1B、1C。同步定時X1、Y1分別與用于使得在一個周期中發(fā)生多次(在本實施方式中為2次)脈沖光的各發(fā)光定時脈沖信號同步。非同步定時Z1被設定為與上述各發(fā)光定時脈沖信號非同步，即不一致。
另外，還設置有用于分別保持各“與”電路1A、1B、1C的、帶有三個時間門的同步鎖存電路1D、1E和非同步鎖存電路1F。還設置有被分別輸入上述同步鎖存電路1D及1E的輸出Q的“與非”電路1G、被分別輸入上述同步鎖存電路1D及1E的輸出Q-的“與非”電路1H。
此外，還設置有狀態(tài)檢測電路1I，分別取入“與非”電路1G的輸出、“與非”電路1H的輸出、非同步鎖存電路Z1的輸出Q及Q-，對來自判定電路17的信號狀態(tài)進行判斷；以及移位寄存器1J。
上述狀態(tài)檢測電路1I，并不特別限定其電路結構，而只要是能夠借助于可判斷上述信號的狀態(tài)的邏輯來檢測出上述狀態(tài)的邏輯電路即可。作為這樣的邏輯，舉出以下兩個例子，但也可使用其他邏輯。
作為上述邏輯的一個示例，在沒有外部干擾光的狀態(tài)(非同步鎖存1F的Q＝0)下，如果在非檢測時(移位寄存器1J的Q＝1)時同步光入射，則“與非”電路1G的輸出為0，狀態(tài)檢測電路1I對CLK輸出“1”。進而，根據(jù)上述邏輯，即便是在檢測狀態(tài)(移位寄存器1J的Q＝0)下，當同步光入射時，“與非”電路1G的輸出也為0，所以，狀態(tài)檢測電路1I對移位寄存器1J的“PRESET”(在圖2中，為SET(S))輸出“1”。另外，在上述邏輯中，如果在檢測狀態(tài)(移位寄存器1J的Q＝0)下不存在同步光，則“與非”電路1G的輸出為1，狀態(tài)檢測電路1I對移位寄存器1J的CLK輸出“1”。此外，根據(jù)上述邏輯，如果在非檢測時(移位寄存器1J的Q＝1)不存在同步光，則“與非”電路1G的輸出為“1”，對移位寄存器1J的CLR(在圖2中，為RESET(R))輸出“1”而使移位寄存器1J復位。
上述邏輯的另一個示例為，在沒有外部干擾光的狀態(tài)(非同步鎖存1F的Q＝0)下，如果在非檢測時(移位寄存器1J的Q＝0)不存在同步光，則“與非”電路1G的輸出為1，狀態(tài)檢測電路1I對移位寄存器1J的CLK輸出“1”。在檢測狀態(tài)時(移位寄存器1J的Q＝1)，如果不存在同步光，則“與非”電路1G的輸出為1，所以，狀態(tài)檢測電路1I對移位寄存器1J的CLR(在圖2中，為RESET(R))輸出“1”。在檢測狀態(tài)時(移位寄存器1J的Q＝1)，當同步光入射時，“與非”電路1G的輸出為0，所以，狀態(tài)檢測電路1I對移位寄存器1J的CLK輸出“1”。在非檢測時(移位寄存器1J的Q＝0)，當同步光入射時，“與非”電路1G的輸出為0，所以，狀態(tài)檢測電路1I對移位寄存器1J的“PRESET”(在圖2中，為SET(S))輸出“1”。
關于上述移位寄存器1J，只要是能夠保持輸入值(數(shù)據(jù))并根據(jù)需要清零(RESET)上述所保持的輸入值的邏輯電路即可。D觸發(fā)電路(Flip-flop)、JK觸發(fā)電路及其他觸發(fā)電路都可以使用而不存在什么問題。在本實施方式中，由三級D觸發(fā)電路構成。
圖4表示在圖1的電路框圖所示的脈沖調(diào)制型光檢測裝置中，當不存在同步脈沖光入射時，如圖8(a)及圖8(b)所示的反相器熒光燈的光作為外部干擾光入射時的時序圖。
當反相器熒光燈入射時，判定輸出(E1)表示相對于發(fā)光定時(B1)存在較多的脈沖光。在本實施方式中，如果在一個周期中不與兩次同步定時都一致，則不被判斷為一個周期同步。在反相器熒光燈的周期中，能夠避免連續(xù)兩次一致的情形，所以不會被判斷為同步，輸出能夠保持非檢測狀態(tài)而不會發(fā)生誤動作。
這里，圖5表示在如圖4所示的外部干擾光入射時的信號處理電路18的時序圖。判定輸出E1表示相對于發(fā)光定時X1不存在信號的狀態(tài)和存在表示有較多脈沖光的各信號的狀態(tài)。發(fā)光脈沖定時B1由同步定時X1和同步定時Y1構成，如果存在與同步定時X1一致的信號，同步鎖存電路1D則保持輸出，直到鎖存復位定時為止。
同樣地，如果存在與同步定時Y1一致的信號，同步鎖存電路1E則保持輸出直到鎖存復位定時為止。另外，如果存在與非同步定時Z1一致的信號，非同步鎖存電路1F則保持輸出直至鎖存復位定時為止。雖然，反相器熒光燈噪聲有時會與同步定時X1或同步定時Y1一致，但是，能夠防止同步定時X1和同步定時Y1在一個周期中同時相互一致的情形，即，反相器熒光燈噪聲不會與同步定時X1及同步定時Y1的雙方同步地產(chǎn)生，所以，“與非”電路1G就總是輸出作為Hi電平的“1”的信號，其中，該“與非”電路1G被輸入上述同步鎖存電路1D、1E的各輸出Q。因此，狀態(tài)檢測電路1I按照邏輯向作為移位寄存器1J的CLR的R輸出“1”并使上述移位寄存器復位，即便有上述外部干擾光也能夠保持非檢測而不會發(fā)生誤動作。
優(yōu)選一個周期中的同步定時間隔比反相器熒光燈的周期40kHz～60kHz(λ＝25μm～16.7μm)快(短)。如果反相器熒光燈的光較強地入射，周期的兩次高次諧波有可能在來自判定電路17的輸出中出現(xiàn)，基于此，優(yōu)選一個周期中的同步定時間隔比反相器熒光燈的周期40kHz～60kHz(λ＝25μm～16.7μm)的兩倍快(比1/2短)。另外，一個周期中的同步定時間隔的上限并沒有被特別限定，但優(yōu)選反相器熒光燈的周期的十倍為止，更優(yōu)選八倍為止，進一步優(yōu)選五倍為止。
另外，如果外部干擾光是反相器熒光燈以外的光，則將一個周期中的同步定時間隔配置為比該外部干擾光的頻率快的定時即可。
在本實施方式，說明了將一個周期中的同步定時設置為兩個，但只要是在構成一個周期的基時鐘(Base Clock)次數(shù)所允許的范圍內(nèi)，即使將同步定時設定為上述更多的多次，也是不存在問題的。當次數(shù)較多時，很難產(chǎn)生誤動作。不過，由于發(fā)光元件14的驅動次數(shù)和同步定時次數(shù)是相同的，所以同步定時次數(shù)越多，消耗電流就越大。
如上所述，在脈沖調(diào)制型光檢測裝置中，能夠防止在反相器熒光燈等的外部干擾光入射時的誤動作。
另外，本實施方式的脈沖調(diào)制型光檢測裝置的光接收側檢測電路，優(yōu)選具有多個分別與多次脈沖光對應的同步檢測鎖存電路，當在一個周期中各同步檢測鎖存電路均檢測出同步的信號時，輸出上述檢測信號。
進而，上述脈沖調(diào)制型光檢測裝置的脈沖生成電路，優(yōu)選是將在一個周期中多次發(fā)出的脈沖光的頻率設定為大于假定的噪聲信號的頻率。
根據(jù)上述結構，在一個周期中多次發(fā)出的脈沖光的頻率被設定為大于假定的噪聲信號的頻率，所以即使基于上述外部干擾光所產(chǎn)生的一個光接收信號與上述至少兩個同步定時中的一個一致，但由于能夠切實地減少與另一同步定時一致，因而也能可靠地抑制因上述外部干擾光所導致的錯誤檢測。
上述光接收側檢測電路也可以具有在多個周期中連續(xù)同步的情況下判定為檢測出物體的判定部。
根據(jù)上述結構，當在多個周期中連續(xù)同步時，就判定為檢測出物體，因此，諸如外部干擾光那樣的隨機的噪聲即使在一個周期中同步，但是，由于在多個周期中連續(xù)同步的幾率小于上述在一個周期中同步的幾率，所以能夠更穩(wěn)定地減少上述噪聲光導致的錯誤檢測。
另外，在本實施方式的脈沖調(diào)制型光檢測方法中，優(yōu)選將上述被發(fā)出的脈沖光的兩個或兩個以上的脈沖間隔中的至少一個設定得比對上述脈沖光的外部干擾光的假定的間隔長。
根據(jù)上述方法，能夠將上述被發(fā)出的脈沖光的兩個或兩個以上的脈沖間隔中的至少一個設定得比外部干擾光的假定的間隔要長，另一方面，能夠將其他脈沖間隔的任一者設定得比外部干擾光的假定的間隔要短。所以，即使上述一個脈沖間隔的脈沖光的一個與上述外部干擾光中的一個同步、即一致，由于能夠減少上述另一個脈沖間隔的脈沖光的另一個與上述外部干擾光的另一個同步、即一致的情況，因此能可靠地抑制因外部干擾光所導致的對物體的錯誤檢測。另外，上述兩個或兩個以上的脈沖間隔中的一個是指圖3所示的、從任一個發(fā)光定時脈沖B1的同步定時Y1的上升沿至下一個發(fā)光定時脈沖B1的同步定時X1的上升沿為止的脈沖間隔d1，而上述其他脈沖間隔的任一者是指圖3所示的、從任一個發(fā)光定時脈沖B1的同步定時X1的上升沿至該發(fā)光定時脈沖B1的同步定時Y1的上升沿為止的脈沖間隔d2。
另外，在上述脈沖調(diào)制型光檢測方法中，也可利用因上述兩個或兩個以上的脈沖間隔中、和脈沖間隔最長的脈沖間隔不同的脈沖間隔的脈沖光而產(chǎn)生的光接收信號，對有無物體進行檢測。
根據(jù)上述方法，利用兩個或兩個以上的脈沖間隔中、和脈沖間隔最長的脈沖間隔不同的脈沖間隔的脈沖光，從而能夠將上述兩個或兩個以上的脈沖間隔中、至少一個脈沖間隔設定得比外部干擾光的假定的間隔短，所以能夠可靠地抑制因外部干擾光所導致的對物體的錯誤檢測。
本發(fā)明的上述具體實施方式
或實施例只是用于闡述本發(fā)明的技術內(nèi)容的示例，并不限于上述具體實施方式
或實施例，不應對其進行狹義的解釋。在本發(fā)明的精神和權利要求的范圍內(nèi)，可進行各種變更來實施。
權利要求
1.一種脈沖調(diào)制型光檢測裝置，從發(fā)光元件發(fā)出與脈沖信號同步的脈沖光，通過來自光接收元件的光接收信號來檢測是否存在物體，其中，該光接收元件接受要借助于上述脈沖光進行檢測的物體的反射光或透射光，其特征在于，該脈沖調(diào)制型光檢測裝置具有脈沖生成電路，生成用于在一個周期中使各脈沖光發(fā)光多次的上述脈沖信號；以及光接收側檢測電路，檢測與上述多次脈沖光對應的光接收信號，從而輸出用于表示是否存在物體的檢測信號。
2.根據(jù)權利要求1所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述光接收側檢測電路具有多個分別與多次脈沖光對應的同步檢測鎖存電路，在一個周期中各同步檢測鎖存電路均檢測出同步的信號時，輸出上述檢測信號。
3.根據(jù)權利要求1所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述脈沖生成電路將一個周期中多次發(fā)出的脈沖光的頻率設定得比假定的噪聲信號的頻率大。
4.根據(jù)權利要求2所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述脈沖生成電路將一個周期中多次發(fā)出的脈沖光的頻率設定得比假定的噪聲信號的頻率大。
5.根據(jù)權利要求1所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述光接收側檢測電路具有判定部，該判定部在檢測出多個周期中連續(xù)同步所得到的多個檢測信號時，判定為檢測出物體。
6.根據(jù)權利要求2所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述光接收側檢測電路具有判定部，該判定部在檢測出多個周期中連續(xù)同步所得到的多個檢測信號時，判定為檢測出物體。
7.根據(jù)權利要求3所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述光接收側檢測電路具有判定部，該判定部在檢測出多個周期中連續(xù)同步所得到的多個檢測信號時，判定為檢測出物體。
8.根據(jù)權利要求4所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置，其特征在于上述光接收側檢測電路具有判定部，該判定部在檢測出多個周期中連續(xù)同步所得到的多個檢測信號時，判定為檢測出物體。
9.一種電子設備，其特征在于使用權利要求1至8中的任一項所述的脈沖調(diào)制型光檢測裝置。
10.一種脈沖調(diào)制型光檢測方法，發(fā)出與脈沖信號同步的脈沖光，接受橫穿上述脈沖光的光路的要進行檢測的物體的反射光或透射光而得到光接收信號，并根據(jù)該光接收信號來檢測是否存在物體，其特征在于，該方法包括下述步驟對上述所發(fā)出的脈沖光進行設定，使其具有兩個或兩個以上的脈沖間隔的步驟；以及通過由上述具有兩個或兩個以上的脈沖間隔的脈沖光所得到的光接收信號來檢測有無物體的步驟。
11.根據(jù)權利要求10所述的脈沖調(diào)制型光檢測方法，其特征在于將上述被發(fā)出的脈沖光的兩個或兩個以上的脈沖間隔中的至少一個設定得比對上述脈沖光的外部干擾光的假定的間隔長。
12.根據(jù)權利要求10或11所述的脈沖調(diào)制型光檢測方法，其特征在于通過由上述兩個或兩個以上的脈沖間隔中、與脈沖間隔最長的脈沖間隔不同的脈沖間隔的脈沖光所得到的光接收信號來檢測有無物體。
全文摘要
本發(fā)明提供一種脈沖調(diào)制型光檢測裝置。該脈沖調(diào)制型光檢測裝置具有發(fā)光元件，發(fā)出與脈沖信號同步的脈沖光；光接收元件，接受要借助于上述脈沖光進行檢測的物體的反射光或透射光；信號處理電路，根據(jù)來自上述光接收元件的光接收信號來檢測是否存在物體；以及同步定時電路，生成用于使得在一個周期中發(fā)出多次脈沖光的脈沖信號。上述信號處理電路檢測上述多次脈沖，并輸出表示是否存在上述物體的檢測信號。
文檔編號G01V8/10GK1779489SQ20051012683
公開日2006年5月31日 申請日期2005年11月24日 優(yōu)先權日2004年11月24日
發(fā)明者丸山康弘 申請人:夏普株式會社