用于將晶片分布至組件屜的方法、計(jì)算機(jī)程序、控制器和組裝裝置制造方法
【專利摘要】提供了一種用于將晶片傳送到大量的組件屜的方法。此用于將晶片傳送到大量組件屜的方法包含：取決于所述晶片的至少一個(gè)特征配置所述晶片的品質(zhì)等級(jí)；配置優(yōu)先級(jí)組，使所述優(yōu)先級(jí)組至少包含一高優(yōu)先級(jí)組和一低優(yōu)先級(jí)組；指派所述品質(zhì)等級(jí)中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者；指派大量組件屜中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者；提供晶片的檢查結(jié)果；根據(jù)所述晶片的檢查結(jié)果，將所述晶片中的每一者分類為所述品質(zhì)等級(jí)中的一者；以及根據(jù)指派給所述晶片的所述品質(zhì)等級(jí)的所述優(yōu)先級(jí)組，將所述晶片中的每一者傳送到所述大量組件屜中的一者。還提供了一種計(jì)算機(jī)程序、一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)、一種用于組裝裝置的控制器和一個(gè)組裝裝置（30）。
【專利說明】用于將晶片分布至組件屜的方法、計(jì)算機(jī)程序、控制器和組 裝裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本公開案的實(shí)施方式涉及一種組裝方法、一種制造太陽能電池的方法、一種改進(jìn) 組裝裝置的方法、一種計(jì)算機(jī)程序、一種包括所述計(jì)算機(jī)程序的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，以及一種 用于將晶片分布到組件屜的組裝裝置。本公開案的主題尤其涉及太陽能電池的制造工藝以 及一種太陽能電池的制造裝置。特別地，本公開案的主題涉及用于(尤其是太陽能電池的） 處理后晶片的組裝的一種方法和裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 太陽能電池是將陽光轉(zhuǎn)換成為電能的光生伏打設(shè)備。典型的太陽能電池(在本文 中還可以稱為"電池"）包含基板(在本文中還可以稱為"晶片")。所述晶片通常由硅制成。 所述晶片可能具有形成于晶片中的一或多個(gè)p-n結(jié)。每一p_n結(jié)具有一p型區(qū)域和一N型 區(qū)域。當(dāng)所述p-n結(jié)暴露于陽光時(shí)，所述陽光通過光生伏打效應(yīng)轉(zhuǎn)變?yōu)殡姟?br> [0003]大量太陽能電池裝配成的太陽能電池陣列通常還被稱為太陽能電池板或者太陽 能電池組件。太陽能電池板被出售給最終用戶（諸如私人家庭)，以安裝到屋頂上，用于發(fā)電 私用及/或發(fā)電供應(yīng)給公用電網(wǎng)。
[0004]具有最差性能的太陽能電池實(shí)質(zhì)上限定了整個(gè)太陽能電池板的性能。經(jīng)驗(yàn)也表明 客戶更喜歡各晶片具有同質(zhì)顏色外觀的太陽能電池板，而非各太陽能電池顏色不同的太陽 能電池板。此外,一些電池可能更適于(例如)直接的光入射，而其他的電池更適用于間接的 光入射。此對(duì)于其他情況可能也成立。
[0005]因此，在本領(lǐng)域中期望取決于太陽能電池的特征來區(qū)分所述太陽能電池，并收集 具有相同或者非常相似的特性的那些晶片，以與具有不同特征的其他晶片分離。而且期望 此種收集晶片的方式不會(huì)在每小時(shí)所制成晶片方面降低太陽能電池制造的總體性能。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]鑒于以上所述，本公開案是針對(duì)以下內(nèi)容。
[0007]根據(jù)一個(gè)方面，提供了一種將晶片傳送到大量組件屜（bin)的方法。此用于將晶 片傳送到大量組件屜的方法包含：取決于所述晶片的至少一個(gè)特征配置所述晶片的品質(zhì)等 級(jí)；配置優(yōu)先級(jí)組，使所述優(yōu)先級(jí)組至少包含一高優(yōu)先級(jí)組和一低優(yōu)先級(jí)組；指派所述品 質(zhì)等級(jí)中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者；指派所述大量組件屜中的每一者到所述優(yōu)先 級(jí)組中的一個(gè)優(yōu)先級(jí)組；提供所述晶片的檢查結(jié)果；根據(jù)所述晶片的檢查結(jié)果，將所述晶 片中的每一者分類為所述品質(zhì)等級(jí)中的一者；以及根據(jù)指派給所述晶片的所述品質(zhì)等級(jí)的 所述優(yōu)先級(jí)組，將所述晶片中的每一者傳送到所述大量組件屜中的一者。
[0008]根據(jù)一方面，提供了一種制造太陽能電池的方法。所述方法包含：提供晶片；在所 述晶片上沉積導(dǎo)電通路；以及組裝（binning)所述晶片，如本文所描述的。
[0009]根據(jù)一方面，提供了用于組裝裝置的控制器。所述控制器配置用于執(zhí)行如本文所 描述的方法。
[0010] 根據(jù)一個(gè)方面，提供了一種將晶片傳送到大量組件屜的組裝裝置。所述組裝裝置 包含一或多個(gè)用于將晶片傳送到大量組件屜的輸送系統(tǒng)。所述組裝裝置更包含如本文所描 述的用于控制所述一或多個(gè)輸送系統(tǒng)的控制器。
[0011] 根據(jù)一方面，提供了一種太陽能電池制造裝置。所述太陽能電池制造裝置包含：一 或多個(gè)沉積裝置，用于在晶片上沉積導(dǎo)電通路；一或多個(gè)檢查裝置，用于檢查所述晶片；以 及如本文所描述的一或多個(gè)組裝裝置。
[0012] 根據(jù)一方面，提供了一種用于改進(jìn)組裝裝置的方法。所述組裝裝置包含控制器。所 述方法包括將如本文所描述的計(jì)算機(jī)程序加載到控制器。
[0013] 根據(jù)一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)程序。所述計(jì)算機(jī)程序包括計(jì)算機(jī)代碼，當(dāng)所述計(jì) 算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)所述計(jì)算機(jī)代碼適合于執(zhí)行如本文所描述的方法。
[0014] 根據(jù)一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。所述計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)存儲(chǔ)如本文所描 述的計(jì)算機(jī)程序。
[0015] 自從屬權(quán)利要求、所述描述以及所述附圖，進(jìn)一步實(shí)施方式、方面、細(xì)節(jié)以及優(yōu)點(diǎn) 將更顯而易見。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016] 因此，為了可詳細(xì)了解本公開案的以上詳述特征結(jié)構(gòu)，以上簡(jiǎn)略概述的本公開案 的更特定描述可參照實(shí)施方式。以下描述與本公開案的實(shí)施方式相關(guān)的附圖：
[0017] 圖1圖示根據(jù)如本文所描述的實(shí)施方式的太陽能電池制造裝置的示意圖，所述太 陽能電池制造裝置包括組裝裝置；
[0018] 圖2圖示根據(jù)如本文所描述的實(shí)施方式的太陽能電池制造裝置的示意圖，所述太 陽能電池制造裝置包括組裝裝置；
[0019] 圖3圖示根據(jù)如本文所描述的實(shí)施方式的示例性組裝裝置的示意性俯視圖；
[0020] 圖4圖示根據(jù)如本文所描述的實(shí)施方式的示例性組裝裝置的示意性俯視圖，其中 在組件屜的每一者中繪示示例性優(yōu)先級(jí)組編號(hào)；
[0021] 圖5圖示根據(jù)太陽能電池制造的示例性測(cè)試運(yùn)行分出的各種等級(jí)內(nèi)分布的晶片 的不意圖；
[0022] 圖6圖示根據(jù)本文描述的實(shí)施方式的組裝裝置的說明性側(cè)面透視圖；
[0023] 圖7圖示根據(jù)本文描述的實(shí)施方式的組件屜的說明性三維視圖；
[0024] 圖8圖示根據(jù)本領(lǐng)域已知的實(shí)施方式的組裝邏輯（binninglogics)的圖例；以及
[0025] 圖9圖示根據(jù)如本文所描述的實(shí)施方式的組裝邏輯的圖例。

【具體實(shí)施方式】
[0026] 現(xiàn)將詳細(xì)提及本發(fā)明的各種實(shí)施方式，其中所述實(shí)施方式的一或多個(gè)實(shí)例圖示于 諸圖中。在以下附圖的描述中，相同元件符號(hào)代表相同組件。在本公開案中，僅描述了各實(shí) 施方式的差異。各實(shí)例以解釋說明本發(fā)明的方式提供，而并非意欲限制本發(fā)明。此外，圖示 或者描述為一個(gè)實(shí)施方式的部分的特征結(jié)構(gòu)可用于更進(jìn)一步的實(shí)施方式，或者與其他實(shí)施 方式結(jié)合以用于產(chǎn)生更進(jìn)一步的實(shí)施方式。所述描述意欲包括此類修改和變更。
[0027] 用于太陽能電池制造工業(yè)的晶片是以一序列各種工藝步驟制造的。特別地，通常 將一塊(多晶或單晶的）錠料鋸成個(gè)體晶片。通常，所述晶片由硅制成。所述晶片可具有 150mm以下的厚度，或者甚至100mm以下的厚度。所述晶片的典型大小在10cmxlOcm和 20cmx20cm的范圍之內(nèi)。如本文所理解的，晶片可以是方形的，視情況可具有切角。
[0028] 所述晶片經(jīng)歷若干摻雜、鉆鑿、光刻和加熱步驟，以用于制造太陽能電池，所述太 陽能電池將裝配到一起以形成太陽能電池板。雖然產(chǎn)業(yè)探求一種能夠制造完全相同的和具 有優(yōu)化特性的太陽能晶片的制造工藝，但是實(shí)際上從相同的制造工藝獲得的連續(xù)晶片彼此 之間特性(諸如晶片暴露于陽光下時(shí)的性能、晶片的顏色、晶片的物理完整性、晶片對(duì)入射 光的適應(yīng)性等）不同。此是由于原材料的差異以及進(jìn)一步工藝步驟中的偏差和干擾。
[0029] 因此，可以對(duì)處理后的晶片進(jìn)行關(guān)于一組相關(guān)特性的分析，并且取決于所述分析 的結(jié)果，可將具有相關(guān)特性的晶片收集，以與其他具有不同特性的晶片分離。
[0030] 所述晶片的收集通常是在組件屜內(nèi)完成的，所述組件屜在此應(yīng)理解為單元，所述 單元配置用于單元中存儲(chǔ)若干晶片。如在本文中所理解的，組件屜可能是箱子，諸如由聚苯 乙烯制成，通常缺漏一個(gè)或兩個(gè)側(cè)壁。換句話說，組件屜可能是僅具有兩個(gè)或者三個(gè)側(cè)壁的 箱子。此類箱子的實(shí)例如圖7所示。如本文所描述的組裝裝置可配置為使得所述組件屜與 所述組件屜的底部(見圖7中的附圖標(biāo)記71)對(duì)齊，所述組件屜的底部可能與水平面呈角 度，例如，呈10°或更大之角度。
[0031] 術(shù)語"傳送晶片到組件屜"、"分布晶片到組件屜"、"對(duì)晶片進(jìn)行分類"以及"組裝" 應(yīng)理解為含義相同，并且應(yīng)理解為移動(dòng)所述晶片到不同的組件屜。所述處理后晶片的特性 必須在可選擇的區(qū)間內(nèi)，以便將晶片歸類入各個(gè)組件屜。因此每一組件屜內(nèi)的晶片包含大 量非常相似的晶片。在上下文中使用的"類似"必須被理解為進(jìn)行組裝工藝分析的晶片特 性相同或者具有邊際偏差。
[0032] 每個(gè)組件屜具有最大容量。一旦達(dá)到個(gè)別組件屜的最大容量，必須用空的組件屜 替換個(gè)別組件屜。此舉可以手動(dòng)或自動(dòng)地進(jìn)行。然而，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)已知的組裝方法會(huì)造成 整體生產(chǎn)的延遲。例如，當(dāng)組裝方法執(zhí)行為使若干組件屜中每個(gè)組件屜對(duì)應(yīng)于處理后晶片 取決于晶片特性的不同品質(zhì)等級(jí)時(shí)，若一個(gè)組件屜裝滿并從而需要以空的組件屜替換，則 可能發(fā)生整個(gè)制造必須中止的情況。如將從本描述顯而易見的是，根據(jù)本公開案的實(shí)施方 式，即使是組件屜的手工替換(可能需要花費(fèi)幾分鐘)，通常也不會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)過程的中止。
[0033] 圖1示意性地圖示根據(jù)本文描述的實(shí)施方式用于制造太陽能電池的太陽能電池 制造裝置1。所述晶片在一或多個(gè)處理裝置10中處理。例如，所述說明性圖示的裝置10 可能是以下裝置中一或多個(gè)裝置的組合：鋸切裝置、清洗裝置、摻雜裝置、沉積裝置、光刻裝 置、翻轉(zhuǎn)裝置、烤箱、檢查裝置、鉆鑿裝置等。特定言之，裝置10可包括若干個(gè)光刻裝置，所 述光刻裝置配置用于在所述晶片上光刻一或多個(gè)導(dǎo)電材料通路。顯著地，處理裝置10可包 括一或多個(gè)檢查裝置，所述檢查裝置用于所述工藝步驟的中間檢查及/或進(jìn)一步地處理步 驟的對(duì)準(zhǔn)。
[0034] 此外，如在圖1中示意性圖示的，在處理晶片之后，具體地說在完成太陽能電池之 后并且在組裝之前，在一或多個(gè)檢查裝置20中分析所述晶片。例如，有可能提供一個(gè)、兩 個(gè)、三個(gè)或更多個(gè)檢查裝置，其中每個(gè)檢查裝置配置用于檢查所述晶片的一個(gè)特定特性。待 分析的特性通常是由操作者依據(jù)所述生產(chǎn)過程的技術(shù)和經(jīng)濟(jì)需求進(jìn)行選擇。但是在下文 中，待分析特性的一些實(shí)例應(yīng)是示例性論述的。應(yīng)注意的是，術(shù)語"處理后晶片"尤其包括 完全制成的太陽能電池。
[0035] 例如，一或多個(gè)所述檢查裝置可配置用于檢查處理后晶片的物理完整性，具體來 說，檢查所述晶片是否包括損壞部分或者邊緣、裂縫、裂痕等等。還可檢查所述晶片是否有 光刻殘留物，也就是說，是否有光刻材料沉積在所述晶片上不應(yīng)沉積的位置。
[0036] 一或多個(gè)所述檢查裝置可以配置用于檢查所述太陽能電池的顏色。所述太陽能 電池的顏色主要因?yàn)閮蓚€(gè)原因從而是有關(guān)系的。其中一個(gè)原因是，使用若干個(gè)太陽能電池 裝配到一起制成的太陽能電池板的客戶更喜歡同質(zhì)外觀的太陽能電池板。換句話說，太陽 能電池板中的太陽能電池具有不同顏色的太陽能電池板在消費(fèi)市場(chǎng)上具有缺陷。另一原因 是，所述顏色，尤其是晶片中的黑色部分，是與晶片的性能和典型陽光環(huán)境下晶片的適應(yīng)性 相關(guān)的。明亮的太陽能晶片通常效率比黑色的太陽能電池低，這是因?yàn)槊髁恋奶柲茈姵?比黑色的太陽能電池反射更多的光(并因此吸收更少的光)。
[0037]所述檢查裝置中的一或多者可以配置用于檢查取決于入射光的反射特性。此檢查 可能與所述太陽能電池最適合安裝在世界上的哪個(gè)地區(qū)的決定相關(guān)。例如，靠近赤道的地 區(qū)中太陽能電池全年暴露于大量直射的以及幾乎直射的陽光，而世界上北半球或南半球的 太陽能電池全年暴露于多變的入射光。具體地說，大部分時(shí)間入射角都不是垂直的。
[0038] 所述檢查裝置中的一或多者可以配置用于檢查所述太陽能電池的性能。例如，所 述檢查裝置可包括太陽能模擬器，所述太陽能模擬器通常適用于根據(jù)類似于自然陽光的光 譜分布來產(chǎn)生一束光?？蓽y(cè)量所產(chǎn)生的能量。太陽能電池的性能當(dāng)然是太陽能電池的關(guān)鍵 因素之一。
[0039] 可根據(jù)本公開案提供各種其他的檢查裝置。此外應(yīng)注意的是，本文所描述的組裝 方法也適用于中間太陽能電池生產(chǎn)階段的晶片。例如，可以在鋸切之后檢查所述晶片的特 性，諸如晶片表面的均一性、晶片厚度的均一性、晶片邊緣的完整性等。隨后所述晶片可以 根據(jù)它們的特性區(qū)分，以進(jìn)行進(jìn)一步處理。另外或替代地，所述晶片可以在處理期間如本文 所描述的組裝，例如在晶片上光刻一或多個(gè)導(dǎo)電通路期間。
[0040] 太陽能電池具有前側(cè)和后側(cè)，兩側(cè)通常都經(jīng)處理。具體地說，通常在所述背側(cè)和前 側(cè)中的每一者上執(zhí)行至少一個(gè)光刻過程(可能是兩個(gè)或者甚至更多個(gè)光刻過程)。因此根據(jù) 實(shí)施方式，尤其可在一或多個(gè)檢查裝置20之前、之間或者之后提供翻轉(zhuǎn)裝置。翻轉(zhuǎn)裝置應(yīng) 理解為將晶片從一側(cè)翻轉(zhuǎn)到另一側(cè)的裝置。例如，所述晶片可以用背側(cè)支撐，以用于在一或 多個(gè)檢查裝置中進(jìn)行一些前側(cè)的檢查。隨即，可以用翻轉(zhuǎn)裝置翻轉(zhuǎn)晶片，使所述晶片以前側(cè) 支撐。因此，一或多個(gè)其他檢查裝置可以檢查背側(cè)。
[0041] 根據(jù)實(shí)施方式，將所述晶片從檢查裝置20轉(zhuǎn)送到組裝裝置30。不限于將所述晶片 從檢查裝置20傳送到組裝裝置的實(shí)施方式，晶片可以用一個(gè)傳送帶或者一序列連續(xù)的傳 送帶在本文描述的任何裝置之內(nèi)、之前或之后移動(dòng)晶片。
[0042]基于檢查結(jié)果，可以根據(jù)晶片的特性將晶片分類為不同的品質(zhì)等級(jí)(或者此處簡(jiǎn) 單地稱為"等級(jí)")。所述晶片可以分類為n個(gè)不同的等級(jí)，其中n代表通常大于24的整數(shù)。 例如，n可以是48。特別地，本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)所述數(shù)量的處理后晶片并非是均勻分布于所有的 品質(zhì)等級(jí)，更確切地說生產(chǎn)工藝通常導(dǎo)致較高數(shù)量的太陽能電池在一些等級(jí)中，而較低數(shù) 量的太陽能電池在其他等級(jí)中。此將在下文進(jìn)一步解釋。
[0043] 不限于任何實(shí)施方式，如所解釋的，晶片的品質(zhì)等級(jí)是取決于所述晶片的至少一 個(gè)特性配置的。此外，根據(jù)本公開案的各方面，配置優(yōu)先級(jí)組。所述優(yōu)先級(jí)組至少包含一個(gè) 高優(yōu)先級(jí)組和一個(gè)低優(yōu)先級(jí)組。在本文中，"配置品質(zhì)等級(jí)"或者"配置優(yōu)先級(jí)組"可被理解 為"使品質(zhì)等級(jí)或優(yōu)先級(jí)組的定義適用于組裝過程。""配置"具體包括(例如）由操作者定 義。另外地或替代地，"配置"可以包括從數(shù)據(jù)庫或者其他存儲(chǔ)設(shè)備(諸如隨機(jī)存取設(shè)備）讀 取個(gè)別的定義。
[0044] 此外，不限于任何實(shí)施方式，根據(jù)本公開案的各方面，將品質(zhì)等級(jí)分別指派給所述 優(yōu)先級(jí)組中的一者，并且大量組件屜中的每一者被指派給所述優(yōu)先級(jí)組中的一者。如本文 中所理解的，指派應(yīng)理解為使關(guān)于指派的信息可用于組裝工藝。"指派"具體而言可包括讓 操作者輸入指派定義。另外地或替代地，"指派"可以包括從數(shù)據(jù)庫或者其他存儲(chǔ)設(shè)備(諸如 隨機(jī)存取設(shè)備）讀取指派定義。
[0045] 配置品質(zhì)等級(jí)及/或優(yōu)先級(jí)組通常是在組裝工藝之前完成的，但是在組裝工藝期 間也可以進(jìn)行或重復(fù)此配置。另外或替代地，指派所述品質(zhì)等級(jí)到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者 及/或指派大量組件屜中的每一者通常是在組裝工藝之前完成的，但是也可以在所述組裝 工藝期間進(jìn)行或重復(fù)此指派。
[0046] 圖2圖示太陽能電池制造裝置的另一實(shí)例。示例性圖示的供應(yīng)裝置90向處理裝 置110-119(諸如一或多個(gè)摻雜裝置、一或多個(gè)光刻裝置、一或多個(gè)鉆鑿裝置、一或多個(gè)干燥 烘箱等等）提供未處理的晶片或者預(yù)處理后的晶片。如先前所提及的，所述處理裝置可以 特別地包括翻轉(zhuǎn)裝置。處理裝置的數(shù)量不受限制。圖2中所述處理裝置111和119之間的 點(diǎn)，以及所述檢查裝置121和129之間的點(diǎn)應(yīng)說明，若有需要，可提供進(jìn)一步的處理/檢查 裝直。
[0047] 在處理之后，將晶片轉(zhuǎn)入檢查裝置120-129。檢查裝置的數(shù)量可以是三個(gè)或更多， 或者甚至五個(gè)或更多。
[0048] 例如，在圖2的圖例中，第一檢查裝置120檢查晶片的物理完整性。若晶片大部分 損壞，則通過其他檢查裝置轉(zhuǎn)送所述晶片，而不進(jìn)行進(jìn)一步的檢查。組裝裝置30隨后將損 壞的晶片放入垃圾箱。
[0049] 作為另一個(gè)實(shí)例，第二檢查裝置121可以檢查所述晶片的顏色。第三檢查裝置122 可以包括陽光模擬器和檢查晶片在某些光照條件下的性能。第四檢查裝置可用于檢查所述 晶片的其他特性。為說明性目的，在圖2中描述了一序列的各種檢查裝置120-129。明顯 地，此圖示不應(yīng)將檢查裝置的數(shù)量限制為十個(gè)，更確切地說，可以選擇適用于分類過程的任 何數(shù)量。
[0050] -般地，并且不限于圖2所圖示的實(shí)施方式，檢查裝置120-129中每一者所測(cè)量的 信息可以借助于輸入線125提供到控制器200。所述輸入信息也可以無線地傳輸?？刂破?因此收集關(guān)于所檢查的晶片特性的信息。此允許控制器將晶片指派到正確的品質(zhì)等級(jí)。品 質(zhì)等級(jí)通?？梢杂商柲茈姵刂圃煅b置的操作者預(yù)定義。
[0051] 根據(jù)所圖示的實(shí)施方式（不局限于圖2的圖例)，控制器200可控制組裝裝置30。 控制器200可借助于輸出線210控制組裝裝置30?？刂七€可以無線地進(jìn)行。未在附圖中 圖示的是，控制器200可以是組裝裝置的部分?；蛘?，組裝裝置具有附加的控制器也是可能 的，所述附加控制器從控制器200接收信息。隨后組裝裝置之控制器可以控制組裝工藝。
[0052] 圖3圖示組裝裝置的實(shí)施方式的詳細(xì)示意性俯視圖。如圖所示，組裝裝置具有 四十八個(gè)組件屜31，所述組件屜排列成6x8陣列，也就是說6行和8列。一般地，并且不限 于圖3的圖例，處理后的晶片例如可以借助于如箭頭29所指示的傳送帶進(jìn)入組裝裝置。晶 片可以在組裝裝置內(nèi)通過例如傳送帶50移動(dòng)，直到所述晶片被輸送系統(tǒng)(諸如機(jī)器人）夾 持。
[0053] 根據(jù)應(yīng)在圖3中說明的實(shí)施方式，輸送系統(tǒng)包括一或多個(gè)機(jī)器人。在圖3的示例 性附圖中，四個(gè)機(jī)器人35、36、37和38排列在組裝裝置內(nèi)或者組裝裝置上方，以夾持處理后 的晶片和將每個(gè)晶片分布到大量組件屜31中的一者。機(jī)器人可以排列在傳送帶50上方。 每個(gè)機(jī)器人可以具有一或多個(gè)手臂(見圖6)，并且每個(gè)機(jī)器人負(fù)責(zé)將晶片傳送到特定組的 組件屜。通常，每個(gè)機(jī)器人專門地負(fù)責(zé)將晶片傳送到特定組的組件屜。特定言之，以1代表 機(jī)器人的數(shù)量并且b代表組件屜的數(shù)量，每個(gè)機(jī)器人配置用于將進(jìn)入的晶片傳送指派到r 個(gè)不同的組件屜。
[0054] 輸送系統(tǒng)傳送晶片到各種組件屜所需的傳送時(shí)間不同。例如，將晶片傳送到更靠 近傳送帶的組件屜可能比將晶片傳送到遠(yuǎn)離傳送帶的組件屜需要更少的傳送時(shí)間。因此， 根據(jù)本公開案的各方面，每個(gè)組件屜具有限定的傳送時(shí)間，所述傳送時(shí)間是根據(jù)本主題的 實(shí)施方式的組裝工藝需要考慮的。
[0055] 根據(jù)本公開案的各方面，每個(gè)品質(zhì)等級(jí)被指派到一優(yōu)先級(jí)組。例如，優(yōu)先級(jí)組的數(shù) 量可以是三個(gè)、四個(gè)、五個(gè)或者六個(gè)。在下文中，示例性參照五個(gè)優(yōu)先級(jí)組(優(yōu)先級(jí)組1到優(yōu) 先級(jí)組5)，但是并不限制優(yōu)先級(jí)組的數(shù)量范圍。此外，在下文中，為說明性目的，而不應(yīng)被視 為限制，優(yōu)先級(jí)組1應(yīng)代表最高的優(yōu)先級(jí)("最高優(yōu)先級(jí)")，優(yōu)先級(jí)組2應(yīng)代表與優(yōu)先級(jí)組1 相比降低的優(yōu)先級(jí)("高優(yōu)先級(jí)")，等等。優(yōu)先級(jí)組5應(yīng)代表最低的優(yōu)先級(jí)("最低優(yōu)先級(jí)")。
[0056] 根據(jù)實(shí)施方式，只有那些指派給最高優(yōu)先級(jí)組(諸如優(yōu)先級(jí)組1)的品質(zhì)等級(jí)是非 常常見的（即，大量的晶片落入此等級(jí))。只有那些指派給高優(yōu)先級(jí)組(諸如優(yōu)先級(jí)組2)的 等級(jí)是仍然常見的，但是比優(yōu)先級(jí)組1的等級(jí)的常見程度低，并且比優(yōu)先級(jí)組3的等級(jí)的常 見程度高。因此，最低的優(yōu)先級(jí)組，例如優(yōu)先級(jí)組5將僅包括相當(dāng)少見的等級(jí)。用語"等級(jí) 少見/常見"應(yīng)代表生產(chǎn)工藝導(dǎo)致少量/大量的處理后晶片具有如相應(yīng)品質(zhì)等級(jí)所定義的 特性的情況。
[0057] 品質(zhì)等級(jí)指派到優(yōu)先級(jí)組通常是在太陽能電池制造裝置的測(cè)試運(yùn)行中完成的。如 本文所理解的測(cè)試運(yùn)行和太陽能電池的常規(guī)制造相同，唯一的區(qū)別是測(cè)試運(yùn)行保存和評(píng)估 晶片的分析結(jié)果。
[0058] 將以簡(jiǎn)短的實(shí)例說明如此的工藝。特別地，為說明起見，所述實(shí)例使用少量特性。
[0059] 在所述實(shí)例中，所述太陽能電池生產(chǎn)工藝的操作者定義了三個(gè)特性，S卩，物理完整 性，有兩個(gè)可能結(jié)果(是或否）；性能，有5個(gè)可能結(jié)果（S卩，在來自陽光模擬器的標(biāo)準(zhǔn)化閃光 照明情況的五個(gè)可能的性能結(jié)果區(qū)間）；以及太陽能電池的顏色亮度，有5個(gè)取決于太陽能 電池的亮度的可能結(jié)果（即，五個(gè)亮度區(qū)間）。因此，因?yàn)樵诰瑩p壞的情況下進(jìn)一步的區(qū)分 是不必要的，所以此情況對(duì)應(yīng)于1 (晶片損壞）+5x5 (晶片未損壞并且具有不同的亮度以及 性能）=26個(gè)等級(jí)?；蛘甙凑詹僮髡叩亩x，可以從存儲(chǔ)設(shè)備讀取信息。
[0060] 操作所述太陽能電池制造裝置以生產(chǎn)太陽能電池。因?yàn)樵谶@個(gè)階段可能仍不清 楚晶片將在各等級(jí)上的分布，所以用傳統(tǒng)方式執(zhí)行組裝，即，可將每個(gè)等級(jí)指派給一個(gè)組件 屜。在關(guān)于每個(gè)等級(jí)中分布的晶片的信息已經(jīng)可例如從先前的測(cè)試運(yùn)行得知的情況中，也 可以如本文公開的執(zhí)行組裝?？傊?，控制組裝裝置的機(jī)器人來相應(yīng)地操作。
[0061] 在各實(shí)施方式中，存儲(chǔ)檢查結(jié)果。在其它實(shí)施方式中，卸除分析的詳細(xì)結(jié)果，但是 存儲(chǔ)和收集檢查后晶片往相應(yīng)等級(jí)的分類。此允許建立關(guān)于處理后晶片在相應(yīng)等級(jí)內(nèi)分布 的統(tǒng)計(jì)資料。根據(jù)本主題的各方面，此統(tǒng)計(jì)資料是常規(guī)操作期間進(jìn)行組裝的基礎(chǔ)。
[0062] 以下將說明如此的統(tǒng)計(jì)資料。請(qǐng)注意以下統(tǒng)計(jì)資料僅用于說明的目的。因此，統(tǒng) 計(jì)資料還可以被理解為對(duì)每個(gè)品質(zhì)等級(jí)的晶片數(shù)量進(jìn)行計(jì)算。
[0063]

【權(quán)利要求】
1. 一種傳送晶片到大量組件屜的方法，包括： 取決于晶片的至少一個(gè)特性配置所述晶片的品質(zhì)等級(jí)； 配置優(yōu)先級(jí)組，使所述優(yōu)先級(jí)組至少包含一高優(yōu)先級(jí)組和一低優(yōu)先級(jí)組； 指派所述品質(zhì)等級(jí)中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者； 指派所述大量組件屜中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者； 提供所述晶片的檢查結(jié)果； 根據(jù)所述晶片的檢查結(jié)果，將所述晶片中的每一者分類為所述品質(zhì)等級(jí)中的一者；以 及 根據(jù)指派給所述晶片的所述品質(zhì)等級(jí)的所述優(yōu)先級(jí)組，將所述晶片中的每一者傳送到 所述大量組件屜中的一者。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，指派給高優(yōu)先級(jí)組的組件屜數(shù)量大于指派 給所述高優(yōu)先級(jí)組的品質(zhì)等級(jí)數(shù)量。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，指派給高優(yōu)先級(jí)組的組件屜數(shù)量至少是指 派給所述高優(yōu)先級(jí)組的品質(zhì)等級(jí)數(shù)量的兩倍。
4. 如先前各權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，指派給低優(yōu)先級(jí)組的組件屜 數(shù)量小于指派給所述低優(yōu)先級(jí)組的品質(zhì)等級(jí)數(shù)量。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，指派給所述低優(yōu)先級(jí)組的品質(zhì)等級(jí)數(shù)量至 少是指派給所述低優(yōu)先級(jí)組的組件屜數(shù)量的兩倍。
6. 如先前各權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述優(yōu)先級(jí)組還包括至少一 個(gè)中間優(yōu)先級(jí)組。
7. 如先前各權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，還包括： 提供至少100個(gè)晶片的檢查結(jié)果；以及 計(jì)算每個(gè)品質(zhì)等級(jí)的晶片數(shù)量； 其中基于所述計(jì)算結(jié)果指派所述品質(zhì)等級(jí)中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者。
8. 如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，與具有較低數(shù)量晶片的品質(zhì)等級(jí)相比，具有 較高數(shù)量晶片的品質(zhì)等級(jí)被指派到更高優(yōu)先級(jí)或相同優(yōu)先級(jí)的優(yōu)先級(jí)組。
9. 如先前各權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述晶片的檢查結(jié)果中的至 少部分被存儲(chǔ)和用于匹配所述品質(zhì)等級(jí)的優(yōu)先級(jí)等級(jí)指派。
10. -種包含計(jì)算機(jī)程序代碼的計(jì)算機(jī)程序，其中當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行 時(shí)所述計(jì)算機(jī)程序代碼適合于執(zhí)行如下方法： 取決于晶片的至少一個(gè)特性配置所述晶片的品質(zhì)等級(jí)； 配置優(yōu)先級(jí)組，使所述優(yōu)先級(jí)組至少包含一高優(yōu)先級(jí)組和一低優(yōu)先級(jí)組； 指派所述品質(zhì)等級(jí)中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者； 指派所述大量組件屜中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者； 接收所述晶片的檢查結(jié)果； 根據(jù)所述晶片的檢查結(jié)果，將所述晶片中的每一者分類為所述品質(zhì)等級(jí)中的一者；以 及 根據(jù)指派給所述晶片的所述品質(zhì)等級(jí)的所述優(yōu)先級(jí)組，控制所述晶片中的每一者到所 述大量組件屜中的一者的傳送。
11. 一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)存儲(chǔ)如權(quán)利要求10所述的計(jì)算機(jī)程 序。
12. -種用于組裝裝置（30)的控制器（200)，所述組裝裝置（30)用于傳送晶片到大量 的組件屜（31)，所述控制器配置用于執(zhí)行以下方法： 取決于晶片的至少一個(gè)特性配置所述晶片的品質(zhì)等級(jí)； 配置優(yōu)先級(jí)組，使所述優(yōu)先級(jí)組至少包含一高優(yōu)先級(jí)組和一低優(yōu)先級(jí)組； 指派所述品質(zhì)等級(jí)中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者； 指派所述大量組件屜中的每一者到所述優(yōu)先級(jí)組中的一者； 接收所述晶片的檢查結(jié)果； 根據(jù)所述晶片的檢查結(jié)果，將所述晶片中的每一者分類為所述品質(zhì)等級(jí)中的一者；以 及 根據(jù)指派給所述晶片的所述品質(zhì)等級(jí)的所述優(yōu)先級(jí)組，控制所述晶片中的每一者到所 述大量組件屜中的一者的傳送。
13. -種用于傳送晶片到大量組件屜的組裝裝置（30)，包括： 至少一個(gè)輸送系統(tǒng)，用于傳送晶片到大量組件屜；以及 如權(quán)利要求12所述的控制器，其中所述控制器配置用于控制至少一個(gè)輸送系統(tǒng)。
14. 如權(quán)利要求13所述的組裝裝置，其特征在于，所述輸送系統(tǒng)是機(jī)器人。
15. 如權(quán)利要求14所述的組裝裝置，其特征在于，所述組裝裝置包含至少四個(gè)用于傳 送晶片到大量組件屜的機(jī)器人。
16. 如權(quán)利要求13-15中任意一項(xiàng)所述的組裝裝置，其特征在于，包括用于輸送晶片的 傳送帶。
17. 如權(quán)利要求16所述的組裝裝置，其特征在于，至少一個(gè)輸送系統(tǒng)排列在傳送帶上 方。
18. 如權(quán)利要求13-17中任意一項(xiàng)所述的組裝裝置，其特征在于，僅將直接鄰近于傳送 帶的組件屜指派給高優(yōu)先級(jí)組。
19. 如權(quán)利要求13-18中任意一項(xiàng)所述的組裝裝置，其特征在于，所述組裝裝置配置用 于容納至少24個(gè)組件屜和至少48個(gè)組件屜中的一者。
20. -種太陽能電池制造裝置（1)，包括： 至少一個(gè)沉積裝置（10)，用于在晶片上沉積導(dǎo)電通路； 至少一個(gè)檢查裝置（20)，用于檢查晶片；以及 至少一個(gè)組裝裝置（30)，如權(quán)利要求13-19中任意一項(xiàng)所述。
【文檔編號(hào)】B65G47/50GK104276398SQ201310359557
【公開日】2015年1月14日 申請(qǐng)日期:2013年8月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月11日
【發(fā)明者】T·沃爾克斯, L·德桑蒂 申請(qǐng)人:應(yīng)用材料意大利有限公司