專利名稱：一種lcm測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于平面顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種LCM測試裝置。
背景技術(shù)：
隨著IXD以及其他液晶顯示屏的不斷普及，IXD顯示模組(LCDModule，LCM)也被 廣泛的應(yīng)用在各種顯示設(shè)備上。LCM在生產(chǎn)過程中需要進(jìn)行質(zhì)量的檢測，最重要的一個環(huán)節(jié)就是通過對LCM輸入 檢測信號進(jìn)行檢測。在實(shí)際應(yīng)用過程中，由于LCM終端設(shè)備的型號的差異，使得LCM的尺寸大小以及分 辨率等各有不同，顯示接口和中央處理器更是種類繁多，因此，要實(shí)現(xiàn)LCM的檢測，就需要 各種不同的信號?，F(xiàn)有技術(shù)中，通常都是通過更換測試裝置上存儲器的內(nèi)容或者更換不同的檢測裝 置來檢測相應(yīng)的LCM。這種檢測方式存在的問題就是當(dāng)流水線更換LCM型號時，需要更換測試裝置上存儲器的內(nèi)容或者更換不同的檢 測裝置，不僅浪費(fèi)資源，影響生產(chǎn)的效率，而且基于單片機(jī)技術(shù)的測試裝置速度慢，總線寬 度一般只有8位，不能滿足復(fù)雜模組的測試。如何提高LCM的測試效率，降低LCM的測試成本，是平面顯示技術(shù)領(lǐng)域研究的方向之一。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種LCM測試裝置，旨在提高LCM的測試效率，降低 LCM的測試成本。本實(shí)用新型實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種LCM測試裝置，包括中央處理器，所述裝置 還包括有LCM測試控制器，以及用于連接待測LCM的信號輸出端口，其中，所述LCM測試控制器和所述信號輸出端口分別連接所述中央處理器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述裝置還包括有存儲器，所述存 儲器連接所述中央處理器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述中央處理器通過所述JTAG接 口連接外部的仿真器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述中央處理器為ARM9芯片的中 央處理器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述裝置包括有多個按鍵，每個按 鍵一端接地，另一端通過電阻連接電源和中央處理器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述裝置包括有一復(fù)位按鍵，其一 端接地，另一端連接電阻，連接電阻端產(chǎn)生復(fù)位信號連接到中央處理器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述裝置還包括有用于控制所述中央處理器的復(fù)位電路，所述復(fù)位電路連接所述中央處理器。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，其中，所述LCM測試控制器包括有多個旋 轉(zhuǎn)開關(guān)，每個旋轉(zhuǎn)開關(guān)包括有一個中心腳以及設(shè)置在所述中心腳周圍的其他多個腳，每個 旋轉(zhuǎn)開關(guān)的中心腳接地，其他多個腳各自與所述中央處理器的通用輸入輸出口相連。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，用戶可以根據(jù)待測的LCM的型號的不同， 通過LCM測試控制器輸入控制信號，中央處理器根據(jù)接收到的信號通過信號輸出端口輸出 各種LCM測試信號，實(shí)現(xiàn)LCM測試信號的快速切換，不僅效率高，而且也極大的節(jié)省了測試 的成本。
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖；圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置中LCM測試控制器的內(nèi)部電路圖；圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試控制器上對應(yīng)的按鍵和復(fù)位電路連接的 示意圖；圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置中JTAG電路的示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實(shí)施 例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本 實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。圖1示出了本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。其中，所述LCM測試裝置包括中央處理器11，LCM測試控制器12，信號輸出端口 13、存儲器14以及JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動小組)接口 15。在具體實(shí)施過程中，所述LCM測試控制器12、信號輸出端口 13、存儲器14以及 JTAG接口 15分別連接所述中央處理器11。在具體實(shí)施過程中，信號輸出端口 13連接待測的LCM。優(yōu)選的，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的中央處理器11為ARM9芯片的中央處理器。優(yōu)選的，存儲器13包括有同步動態(tài)隨機(jī)訪問存儲(SynchronousDynamic Random Access Memory, SDRAM)、非易失半導(dǎo)體存儲器(Flash)，當(dāng)然也包括其他的存儲器，此處不 一一列舉。其中，SDRAM和Flash用以配合中央處理器11進(jìn)行高速運(yùn)算和處理。而且，F(xiàn)lash 內(nèi)存儲有LCM所需的初始化代碼和圖像數(shù)據(jù)。在具體實(shí)施過程中，所述中央處理器11通過所述JTAG接口 15連接仿真器(圖未 示出)。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置的工作原理為當(dāng)待測的LCM的型號改變時，操作人員通過調(diào)整LCM測試控制器12上的旋鈕，按 鍵等，將指令傳給中央處理器11，中央處理器11根據(jù)接收到的指令產(chǎn)生相應(yīng)的測試信號， 并將測試信號通過信號輸出端口 13輸出給待測的LCM。圖2示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中LCM測試控制器12的內(nèi)部電路圖。[0035]其中，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試控制器上12包括有四個旋轉(zhuǎn)開關(guān)SW410、 SW411、SW412和SW413。每個旋轉(zhuǎn)開關(guān)包括有一個中心腳4和周圍的四個腳1、2、3和5。每 個旋轉(zhuǎn)開關(guān)的中心腳4接地，另四個腳分別通過1個IOK歐姆的電阻與3. 3V的電源相連， 且與中央處理器11的對應(yīng)通用輸入輸出口(General Purpose I/O port，GPI0)相連，以旋 轉(zhuǎn)開關(guān)SW410標(biāo)號為1的腳為例，其通過電阻R404與3. 3V的電源相連且與中央處理器11 的通用輸入輸出口 GPI044相連。其中，旋轉(zhuǎn)開關(guān)為波動旋轉(zhuǎn)開關(guān)，每個旋轉(zhuǎn)開關(guān)可以控制中心腳4與周圍四個腳 1、2、3和5的通斷，產(chǎn)生指令傳遞給中央處理器11，中央處理器11可以根據(jù)不同的輸入指 令，輸出不同的LCM測試信號。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置還包括有用于控制所述中央處理器11的 復(fù)位電路，所述復(fù)位電路連接所述中央處理器11。圖3示出了本實(shí)用新型實(shí)施例中LCM測 試控制器12上對應(yīng)的按鍵和復(fù)位電路連接的示意圖。其中，本實(shí)用新型實(shí)施例提供有9個按鍵SW401至SW409，每個按鍵一端接地，另一 端通過IOK歐姆的電阻接3. 3V電源，以按鍵SW401為例，其通過電阻R417接3. 3V電源。其中，SW401 SW408按鍵接電阻一端依次分別與中央處理器11的接口 EINTO EINT7相連，當(dāng)按下其中某一個按鍵時，產(chǎn)生中斷信號給中央處理器11，中央處理器11相應(yīng) 控制測試畫面，實(shí)現(xiàn)測試畫面的暫停、上翻、下翻、以及旋轉(zhuǎn)等功能；SW409為復(fù)位按鍵，其 連接電阻一端產(chǎn)生復(fù)位信號，連接到中央處理器11的NRESET接口，以便中央處理器11進(jìn) 行硬復(fù)位。圖4示出了本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置中JTAG電路的示意圖。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的JTAG接口為一個具有20個引腳的輸出口，依次標(biāo)注為 1、2. . . 20，其中第1、2引腳的輸出口連接3. 3V電源；第3引腳的輸出口接中央處理器11 的NTRST接口 ；第5引腳的輸出口接中央處理器11的TDI接口 ；第7弓丨腳的輸出口接中央 處理器11的TMS接口；第9引腳的輸出口接中央處理器11的TCK接口 ；第13引腳的輸出 口接中央處理器11的TDO接口 ；第15引腳的輸出口接中央處理器11的NRESET接口。11 腳的輸出口通過一個330歐姆電阻接地。其中，NTRST，TDI，TMS, TCK, TDO接口分別通過一 個IOK電阻接3. 3V電源，JTAG接口的17和19腳懸空；其余腳接地。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置可以測試8080、6800 ；還可以測試各種串 行外圍設(shè)備接口 Gerial Peripheral interface，SPI)，RGB 接口等，數(shù)據(jù)位滿足 8bit、 16bitU8bit,24bit0每幅測試畫面更新速度由1.2秒提高到小于0. 1秒，而且，當(dāng)更換待 測的LCM時，只需要調(diào)整LCM測試控制器，可以快速切換各種信號，不用重新更新存儲器 (Flash)的內(nèi)容，操作方便。而且，由于本實(shí)用新型實(shí)施例采用的是基于ARM9芯片的中央處 理器，其測試運(yùn)行速度快，總線寬度增加到32位，測試效果更接近手機(jī)的效果。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的LCM測試裝置，用戶可以根據(jù)待測的LCM的型號的不同， 通過LCM測試控制器輸入控制信號，中央處理器根據(jù)接收到的信號通過信號輸出端口輸出 各種LCM測試信號，實(shí)現(xiàn)LCM測試信號的快速切換，不僅效率高，而且也極大的節(jié)省了測試 的成本。應(yīng)當(dāng)理解的是，對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換， 而這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本實(shí)用新型所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種LCM測試裝置，其特征在于，包括中央處理器；所述裝置還包括有LCM測試控制器，以及用于連接待測LCM的信號輸出端口 ；其中，所述LCM測試控制器和所述信號輸出端口分別連接所述中央處理器。
2.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述裝置還包括有存儲器，所述存 儲器連接所述中央處理器。
3.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述裝置還包括有JTAG接口，所述 中央處理器通過所述JTAG接口連接外部的仿真器。
4.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述中央處理器為ARM9芯片的中 央處理器。
5.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述裝置包括有多個按鍵，每個按 鍵一端接地，另一端通過電阻連接電源和中央處理器。
6.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述裝置包括有一復(fù)位按鍵，其一 端接地，另一端連接電阻，連接電阻端產(chǎn)生復(fù)位信號連接到中央處理器。
7.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述裝置還包括有用于控制所述中 央處理器的復(fù)位電路，所述復(fù)位電路連接所述中央處理器。
8.如權(quán)利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述LCM測試控制器包括有多個旋 轉(zhuǎn)開關(guān)，每個旋轉(zhuǎn)開關(guān)包括有一個中心腳以及設(shè)置在所述中心腳周圍的其他多個腳，每個 旋轉(zhuǎn)開關(guān)的中心腳接地，其他多個腳各自與所述中央處理器的通用輸入輸出口相連。
專利摘要本實(shí)用新型屬于平面顯示技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種LCM測試裝置，包括中央處理器，所述裝置還包括有LCM測試控制器，以及用于連接待測LCM的信號輸出端口，其中，所述LCM測試控制器和所述信號輸出端口分別連接所述中央處理器。本實(shí)用新型提供的LCM測試裝置，用戶可以根據(jù)待測的LCM的型號的不同，通過LCM測試控制器輸入控制信號，中央處理器根據(jù)接收到的信號通過信號輸出端口輸出各種LCM測試信號，實(shí)現(xiàn)LCM測試信號的快速切換，不僅效率高，而且也極大的節(jié)省了測試的成本。
文檔編號G02F1/13GK201837802SQ20102022696
公開日2011年5月18日 申請日期2010年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月8日
發(fā)明者余青 申請人:Tcl集團(tuán)股份有限公司, 惠州泰科立集團(tuán)股份有限公司