后輥的清洗方法和玻璃板制造裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種后輥的清洗方法，其中，在使熔融玻璃流到熔融錫浴的熔融錫表面上并將上述熔融玻璃從上述熔融錫浴拉引到非氧化性氣氛下的提升區(qū)域而得到玻璃帶、利用提升輥將上述玻璃帶從上述提升區(qū)域向氧化性氣氛下的后區(qū)域輸送、利用設于上述后區(qū)域的后輥對上述玻璃帶進行輸送、從而制造玻璃板時，對上述玻璃板表面進行缺陷檢查，在檢出缺陷時，使后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。
【專利說明】后輥的清洗方法和玻璃板制造裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及利用浮法制造玻璃板時的后輥的清洗方法和玻璃板制造裝置。
【背景技術】
[0002]建筑用、汽車用、液晶顯示器用的玻璃板大多利用浮法制造。浮法為這樣的方法:使熔融玻璃流到熔融錫浴(浮法槽)的熔融錫表面上，成型為平滑且連續(xù)的片狀的玻璃，之后，將該玻璃拉引至提升區(qū)域而得到玻璃帶，玻璃帶在后區(qū)域退火并被輸送直到成為能夠切斷的溫度，將玻璃帶切斷為與使用目的相應的大小，來制造玻璃板。
[0003]在利用浮法的玻璃板的制造中，在從熔融錫表面上被拉引到提升區(qū)域的玻璃帶的表面上，容易附著熔融錫、錫化合物、從輥表面剝離的剝離物、玻璃屑等異物(以下，簡稱作“異物”)。在用于向下游輸送玻璃帶的提升輥的表面與附著有異物的玻璃帶的表面相接觸而在提升輥表面附著有異物的情況下，附著于提升輥表面的異物與提升區(qū)域下游的向后區(qū)域輸送的玻璃帶表面相接觸而再次附著于玻璃帶表面、或者在玻璃帶表面形成缺陷。
[0004]在專利文獻I中提出了一種利用碳制的板狀的去除構件將附著于提升輥表面的異物去除的技術。但是，在該技術中，存在如下問題:提升輥與去除構件之間產生間隙，無法完全去除提升輥表面上的熔融錫，熔融錫再次附著于玻璃帶。另外，若為了消除間隙而將板狀的去除構件按壓于提升輥，則存在提升輥產生振動而使玻璃帶表面出現(xiàn)傷痕的問題。
[0005]為了解決上述問題，在專利文獻2中提出了一種使用耐熱纖維片作為去除附著于提升輥表面的異物的去除構件的玻璃板制造裝置(圖6)。
[0006]圖6所示的玻璃板制造裝置100劃分為浮法槽區(qū)域S、提升區(qū)域T以及后區(qū)域U。并且，玻璃板制造裝置100在浮法槽區(qū)域S的上游設有省略圖示的玻璃熔融部。
[0007]在浮法槽區(qū)域S設有熔融錫浴7。在浮法槽區(qū)域S，從省略圖示的氣體供給源供給氮等吹掃用氣體，被保持為非氧化性氣氛(還原性氣氛或者非活性氣氛)。在熔融錫浴7中充滿了用于供熔融玻璃G流入的熔融錫SN。
[0008]提升區(qū)域T在與浮法槽區(qū)域S同樣的非氧化性氣氛下被保持為錫熔融的高溫狀態(tài)(錫的熔點大約為230°C )。在提升區(qū)域T設有用于將浮法槽區(qū)域S的熔融錫SN表面上的熔融玻璃G拉出、并將玻璃帶GR向下游(圖6中的A方向)輸送的提升輥22。針對各提升輥22，設有提升輥用去除裝置25。提升輥用去除裝置25包括用于將附著于提升輥22表面的異物去除的提升輥用去除構件24和與該提升輥用去除構件24配合的支承構件26。提升輥用去除裝置25設有提升輥用去除構件24，提升輥用去除構件24彈性抵接于提升輥22下部。并且，提升輥用去除構件24由耐熱纖維片構成，例如使用碳纖維、二氧化硅纖維、氧化鋁纖維、碳化硅纖維、金屬纖維等無機纖維。
[0009]后區(qū)域U被保持為氧化性氣氛。在后區(qū)域U設有用于將玻璃帶向下游輸送的后輥42。
[0010]采用玻璃板制造裝置100，利用與提升輥22抵接的提升輥用去除構件24去除附著于提升輥22的異物。并且，提升輥用去除構件24不會使提升輥振動地與提升輥貼緊。由此，能夠防止玻璃帶GR表面和玻璃板GP形成缺陷。
[0011 ] 但是，在使用玻璃板制造裝置100制造玻璃板時，有時異物在提升區(qū)域T沒有被完全去除，直至處于后區(qū)域U時玻璃帶GR表面上仍然殘留有異物。雖然直至處于后區(qū)域U時仍然殘留的異物為少量，但是在所制造的玻璃板被要求極高的品質的情況下，即使是由微量的異物導致形成的玻璃板的缺陷也不被容許。
[0012]在專利文獻2中，給出了如下啟示:提升輥用去除裝置25不僅可以設于提升區(qū)域T的任意位置，還可以設于后區(qū)域U的來自提升區(qū)域T的吹掃用氣體能流到的上游部。但是，后區(qū)域U與提升區(qū)域T相比較，被保持為氧化性氣氛，慢慢地去除構件發(fā)生氧化。作為該問題的對策，向耐熱纖維片內吹入非氧化性氣體，用非氧化性氣氛保護該耐熱纖維片，或者為了在提升區(qū)域T將附著于提升輥的異物完全去除，使提升區(qū)域的在A方向上的距離變長也可以。但是，無論哪種方式都是將大范圍的空間保持為非氧化性氣氛，因此存在這樣的問題:向耐熱纖維或者提升區(qū)域供給大量的吹掃用氣體，玻璃板的制造成本升高。
[0013]現(xiàn)有技術文獻
[0014]專利文獻
[0015]專利文獻1:日本特開平11-335127號公報
[0016]專利文獻2:日本特開2009-46366號公報

【發(fā)明內容】

[0017]發(fā)明要解決的問題
[0018]本發(fā)明是鑒于上述情況而做成的，其提供一種在利用浮法制造玻璃板時能夠低成本且高效地將在提升區(qū)域沒有被去除而殘留在玻璃帶下表面并從玻璃帶表面轉而附著于后輥表面的異物去除的、后輥的清洗方法和玻璃板制造裝置。
[0019]用于解決問題的方案
[0020]為了達到上述目的，本發(fā)明采用以下技術方案。
[0021]即，本發(fā)明的后輥的清洗方法為，在使熔融玻璃流到熔融錫浴的熔融錫表面上并將上述熔融玻璃從上述熔融錫浴拉引到非氧化性氣氛下的提升區(qū)域而得到玻璃帶、利用提升輥將上述玻璃帶從上述提升區(qū)域向氧化性氣氛下的后區(qū)域輸送、利用設于上述后區(qū)域的后輥對上述玻璃帶進行輸送、從而制造玻璃板時，對上述玻璃板表面進行缺陷檢查，
[0022]在檢出缺陷時，使后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。
[0023]另外，本發(fā)明的后輥的清洗方法優(yōu)選為，上述后輥用去除構件設有裝卸裝置以及驅動裝置，該裝卸裝置具有驅動部，并且，在上述后區(qū)域設有檢查部和控制部，上述檢查部用于檢測上述玻璃板的表面有無缺陷，上述控制部用于對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并向上述驅動部發(fā)送安裝信號，在由上述檢查部檢出上述缺陷時，從上述檢查部向上述控制部發(fā)送缺陷檢出信號，從而由上述控制部對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并向該后輥的上述驅動部發(fā)送上述后輥用去除構件的安裝信號，由收到上述安裝信號的上述驅動部驅動裝卸裝置，使上述后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。
[0024]并且，本發(fā)明 的后輥的清洗方法優(yōu)選為，上述后輥用去除構件采用碳的成型體或者微粒。
[0025]另外，本發(fā)明的后輥的清洗方法優(yōu)選為，上述后輥用去除構件采用從碳、氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒以及氧化鋁微粒中選出的至少一種材料的成型體或者微粒。
[0026]本發(fā)明的玻璃板制造裝置包括:熔融錫浴，其充滿熔融錫；提升輥，其用于將流到上述熔融錫上的熔融玻璃拉引出而得到玻璃帶，并將上述玻璃帶從非氧化性氣氛下的提升區(qū)域向氧化性氣氛下的后區(qū)域輸送；以及后輥，其用于在上述后區(qū)域輸送上述玻璃帶，該玻璃板制造裝置構成為:對上述玻璃帶或者上述玻璃板的表面進行缺陷檢查，在檢出缺陷時，使設有裝卸裝置的后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥。
[0027]另外，本發(fā)明的玻璃板制造裝置優(yōu)選為，上述后輥用去除構件設有裝卸裝置，該裝卸裝置具有驅動部，并且，在上述后區(qū)域設有檢查部和控制部，上述檢查部用于檢測上述玻璃板的表面有無缺陷，上述控制部用于對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判另O，并向上述驅動部發(fā)送安裝信號，上述檢查部的信號輸出端與上述控制部的信號輸入端相連接，且上述控制部的信號輸出端與上述驅動部的信號輸入端相連接，在由上述檢查部檢出上述缺陷時，從上述檢查部向上述控制部發(fā)送缺陷檢出信號，從而由上述控制部對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并從上述控制部向該后輥的上述驅動部發(fā)送上述后輥用去除構件的安裝信號，由收到上述安裝信號的上述驅動部驅動裝卸裝置，使上述后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。[0028]并且，本發(fā)明的玻璃板制造裝置優(yōu)選為，上述后輥用去除構件采用碳的成型體或者微粒。
[0029]另外，本發(fā)明的玻璃板制造裝置優(yōu)選為，上述后輥用去除構件采用從碳、氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒以及氧化鋁微粒中選出的至少一種材料的成型體或者微粒。
[0030]采用上述方法，能夠僅在檢出在后區(qū)域被輸送的玻璃帶的缺陷的期間，向附著有導致形成該缺陷的異物的后輥安裝后輥用去除構件。由此，能夠極力抑制后輥用去除構件的磨耗。并且，能夠使后輥用去除構件曝露在氧化性氣氛的時間為最小限度，防止后輥用去除構件的氧化。因而，后輥用去除構件的更換頻度低，能夠高效且低成本地進行后輥的清洗。
[0031]并且，采用上述方法，在檢查部檢出缺陷之后，能夠立即通過控制部對附著有導致形成缺陷的異物的后輥進行判別，向被判別的后輥安裝后輥用去除構件。若檢查部不再檢出缺陷，則立即從被判別的后輥卸下后輥用去除構件。即，能夠根據(jù)玻璃帶表面的缺陷的有無，相對于該后輥裝卸后輥用去除構件。
[0032]此外，采用上述方法，在后輥用去除構件以抵接于后輥的方式安裝時，能在后輥的表面形成碳或者氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒、氧化鋁微粒的薄膜。由此，能夠防止附著于玻璃帶表面的異物粘著于后輥表面本身。
[0033]采用上述結構，能夠可靠地將導致形成在后區(qū)域被輸送的玻璃帶和被切斷而成的玻璃板的缺陷的異物去除，能夠制造高品質的玻璃板。并且，能夠極力抑制后輥用去除構件的磨耗。并且，能夠使后輥用去除構件曝露在氧化性氣氛的時間為最小限度，防止后輥用去除構件的氧化。因而，能夠降低玻璃板制造裝置的后輥用去除構件的更換頻度。
[0034]并且，采用上述結構，檢查部在玻璃帶表面以及玻璃板表面檢出缺陷之后，能夠立即通過控制部對附著有導致形成缺陷的異物的后輥進行判別，向該后輥安裝后輥用去除構件。若檢查部不再檢出缺陷，則立即從該后輥卸下后輥用去除構件。即，能夠根據(jù)玻璃帶表面的缺陷的有無，相對于該后輥裝卸后輥用去除構件。
[0035]此外，采用上述結構，在后輥用去除構件以抵接于后輥的方式安裝時，能在后輥的表面形成碳或者氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒、氧化鋁微粒的薄膜。對于附著于玻璃帶的表面的異物，能夠利用該薄膜防止附著于玻璃帶表面的異物粘著于后輥表面。
[0036]發(fā)明的效果
[0037]采用本發(fā)明能夠提供一種低成本且高效地將在提升區(qū)域沒有被去除而殘留在玻璃帶表面并從該玻璃帶表面轉而附著于后輥表面的異物去除的、后輥的清洗方法。并且，能夠提供一種制造表面不存在缺陷的玻璃板的玻璃板制造裝置。此外，采用本發(fā)明還能夠提供一種極高品質的玻璃板。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0038]圖1是本發(fā)明的第I實施方式的玻璃板制造裝置的剖視圖。
[0039]圖2的(a)~圖2的(d)是本發(fā)明的第I實施方式的主要部分的放大圖。圖2的(a)是去除構件的一例的立體圖，圖2的(b)是用于表示去除構件的一例的各構成的立體圖，圖2的(C)是去除構件的另一例的側視圖，圖2的(d)是去除構件的另一例的立體圖。
[0040]圖3的(a)和圖3的(b)是本發(fā)明的第I實施方式的主要部分的俯視圖。圖3的(a)是表示后輥用去除裝置45的結構的俯視圖，圖3的(b)是表示后輥用去除裝置45的另一結構的俯視圖。
[0041]圖4是本發(fā)明的第2實施方式的玻璃板制造裝置的剖視圖。
[0042]圖5是本發(fā)明的第2實施方式的主要部分的俯視圖。
[0043]圖6是以往的玻璃板制造裝置的剖視圖。
【具體實施方式】
[0044]以下，參照附圖對應用了本發(fā)明的實施方式進行說明。
[0045](第I實施方式)
[0046]如圖1所示，本實施方式的玻璃板制造裝置I劃分為浮法槽區(qū)域S、提升區(qū)域T以及后區(qū)域U。并且，在浮法槽區(qū)域S的上游設有省略圖示的玻璃熔融部。在以下的說明中，下游是指與圖1中的玻璃帶GR的輸送方向(圖1中的A方向)相同的方向，并將其反方向側稱作上游。浮法槽區(qū)域S和提升區(qū)域T之間、提升區(qū)域T和后區(qū)域U之間分別利用設有能夠輸送玻璃帶的間隙的分隔件劃分開。
[0047]在浮法槽區(qū)域S設有充滿熔融錫SN的熔融錫浴7。
[0048]另外，在浮法槽區(qū)域S設有省略圖示的氣體供給源，始終朝向浮法槽區(qū)域S內供給用于去除氧氣的吹掃用氣 體。由此，防止熔融錫SN的氧化，將浮法槽區(qū)域S內保持為非氧化性氣氛。吹掃用氣體優(yōu)選氮氣、氬氣、含氫的氮氣。被供給到浮法槽區(qū)域S內的吹掃用氣體的一部分沿圖1中的Pi方向流動，也被供給到提升區(qū)域T。
[0049]在提升區(qū)域T設有省略圖示的氣體供給源，與浮法槽區(qū)域S —樣始終供給吹掃用氣體，將提升區(qū)域T保持為非氧化性氣氛。被供給到提升區(qū)域T內的吹掃用氣體的一部沿圖1中的P2方向流動，也被供給到后區(qū)域U上游部。
[0050]在提升區(qū)域T，為了抬起玻璃帶GR并進行輸送，設有多個提升輥22，多個提升輥22與下游的設備相應地設在較高的位置。提升輥22的設置數(shù)量可以根據(jù)提升輥22的直徑RT和提升區(qū)域T的在A方向上的距離來決定。若提升區(qū)域T的在A方向上的距離LT過短，則玻璃帶有可能在玻璃帶表面還附著有較多的異物的狀態(tài)下就被輸送至后區(qū)域U。相反，若提升區(qū)域T的在A方向上的距離過長，則吹掃用氣體的供給量變大，有可能導致玻璃板的制造成本變得極高。優(yōu)選在考慮到這些因素的基礎上，決定提升輥22的設置數(shù)量。
[0051]針對各提升輥22，沿提升輥22的長度方向(圖1中的與紙面垂直的方向)設有提升輥用去除裝置25。如圖2的(a)和圖2的(b)所示，提升輥用去除裝置25由提升輥用提升輥用去除構件24和用于支承提升輥用去除構件24的支承構件26構成。優(yōu)選以提升輥用去除構件24抵接于提升輥22下部的方式?jīng)Q定提升輥用去除構件24和支承構件26的高度和長度。提升輥用去除裝置25也可以由多個提升輥用去除構件24和支承構件26間的組合構成。
[0052]提升輥用去除構件24能夠使用適合將熔融錫SN從提升輥22表面去除的耐熱纖維片。耐熱纖維優(yōu)選具有能夠耐得住玻璃帶的在提升區(qū)域T的溫度的性質的材料的纖維。具體而言，能夠列舉出碳纖維、二氧化硅纖維、氧化鋁纖維、碳化硅纖維，金屬纖維等無機纖維。特別進一步優(yōu)選為硬度低、不易給玻璃帶留下傷痕、抗熔融錫SN的碳纖維。
[0053]如圖2的(a)所示，支承構件26是用于支承提升輥用去除構件24的長方體形狀。如圖2的(b)所示，在支承構件26的上表面設有供提升輥用去除構件24嵌入的切除部27。在切除部27的中央設有用于固定提升輥用去除構件24的位置的凹部27'。切除部27和凹部27'的長度及深度優(yōu)選根據(jù)提升輥用去除構件24的大小來決定。另外，更優(yōu)選的是，如圖2的(c)所示那樣在支承構件26設有氣體通路29，從省略圖示的氣體供給源經(jīng)由氣體通路29從提升輥用去除構件24的內表面供給非氧化性氣體。
[0054]后區(qū)域U處于氧化性氣氛下，但是在其非常接近提升區(qū)域T的上游部，來自提升區(qū)域T的吹掃用氣體從P2方向流入而氧化性變弱。
[0055]在后區(qū)域U設有多個后輥42，多個后輥42進行水平長距離輸送從而使玻璃帶GR退火。后區(qū)域U的在A方向上的距離遠遠長于提升區(qū)域T的在A方向上的距離，在考慮能夠使處于后區(qū)域U上游部時為高溫狀態(tài)的玻璃帶GR充分退火的距離的基礎上決定后區(qū)域U的在A方向上的距離較好。并且，后輥42的設置數(shù)量根據(jù)后輥42的直徑RU和后區(qū)域U的在A方向上的距離LU來決定。
[0056]對于上游側的后輥42，沿后輥42的長度方向(圖1中的與紙面垂直的方向)設有后輥用去除裝置45。對于設有后輥用去除裝置45的后輥42的數(shù)量，優(yōu)選在考慮后輥42的能夠將附著于被輸送至后區(qū)域U的玻璃帶GR的表面的異物完全去除的必要數(shù)量和來自提升區(qū)域T的吹掃用氣體流入的范圍的基礎上來決定。
[0057]如圖2的(a)和圖2的(b)所示，后輥用去除裝置45由后輥用去除構件44和用于支承后輥用去除構件44的支承構件46構成。優(yōu)選以后輥用去除構件44抵接于后輥42下部的方式?jīng)Q定后輥用去除構件44和支承構件46的高度。后輥用去除裝置45也可以由多個后輥用去除構件44和支承構件46間的組合構成。
[0058]后輥用去除構件44能夠采用適合在后輥42表面形成薄膜并利用該薄膜去除附著于玻璃帶GR表面的包括氧化錫在內的異物、并且對玻璃的擦傷力較弱的物質的成型體或者微粒。具體而言，能夠列舉出從碳、氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒以及氧化鋁微粒中選出的至少一種材料的成型體或者微粒。作為碳的成型體，具體而言，優(yōu)選肖氏硬度為20HS~70HS程度的碳的成型體，為了適合去除包括粘著力較強的氧化錫在內的異物，在該范圍內還進一步優(yōu)選硬度較高的碳的成型體。另外，對于氮化硼的成型體，優(yōu)選純度30%以上。
[0059]支承構件46為如圖2的(a)所示那樣支承后輥用去除構件44的長方體形狀。如圖2的(b)所示，在支承構件46的上表面設有供后輥用去除構件44嵌入的切除部47。在切除部47的中央設有用于將后輥用去除構件44以不會自支承構件46脫落的方式固定的凹部47'。切除部47和凹部47'的長度和深度優(yōu)選在考慮后輥用去除構件44的大小的基礎上決定。并且，更優(yōu)選的是，如圖2的(c)所示那樣在支承構件46設有氣體通路49，自省略圖示的非氧化性氣體供給源經(jīng)由氣體通路49向后輥用去除構件44的表面供給非氧化性氣體。此外，進一步優(yōu)選如圖2的(d)所示那樣在支承構件46設有容易將后輥用去除裝置45向后輥42裝卸的移動機構48。
[0060]另外，優(yōu)選在后輥用去除裝置45如圖3的(a)所示那樣設有裝卸裝置50。裝卸裝置50的頂端部50x與支承構件46的端面46c接合。裝卸裝置50既可以通過手動來驅動，也可以通過未圖示的移動機構等來驅動。
[0061]如圖3的(a)所示，優(yōu)選后輥用去除構件44的長度w44比后輥42的長度w42大，但是從成本方面考慮，進一步優(yōu)選w44與《42相同。若后輥用去除構件44在后輥42的兩端面42a、42c的范圍內，則抵接于后輥42 (成為安裝狀態(tài))。后輥用去除構件44向圖3的(a)中的B方向或者C方向移動，后輥用去除構件44的兩端面44a、44c相對于后輥42的兩端面42c、42a位于后輥42的外側時，后輥用去除構件44成為自后輥42卸下的狀態(tài)(卸下狀態(tài))。優(yōu)選構成為:在后輥用去除構件44自后輥42卸下時，后輥用去除構件44被保管在非氧化性氣氛下。
[0062]后輥用去除裝置45的支承構件46也可以如圖3的(b)所示那樣從后輥42的兩端面42a、42c延伸出。在該情況下，后棍用去除裝置45為僅后棍用去除構件44能夠移動的結構即可，支承構件46固定較好。在后輥用去除裝置45設有裝卸裝置50的情況下，裝卸裝置50的頂端部50x與后輥用去除構件44的端面44c接合。
[0063]接著，參照圖1說明玻璃板制造裝置I的后輥的清洗方法及玻璃板的制造方法。
[0064]在玻璃熔融部生成的熔融玻璃G流入浮法槽區(qū)域S的熔融錫浴7的熔融錫SN。錫是比重比玻璃的比重大的金屬，因此熔融玻璃G浮在熔融錫SN液面上并流向下游。
[0065] 在熔融錫浴7的下游，成型為板狀的熔融玻璃G被拉引到提升區(qū)域T的提升輥22上。被拉引起的熔融玻璃G成為玻璃帶GR。在玻璃帶GR表面大量附著有熔融錫SN。提升輥用去除構件24與提升輥22的表面相抵接，從而形成構成提升輥用去除構件24的物質的薄膜。在利用提升輥22向下游輸送玻璃帶GR的期間，利用形成于提升輥22表面上的該薄膜來防止附著于玻璃帶GR的熔融錫SN粘著于提升輥表面。并且，由于提升輥22的旋轉，附著于該薄膜的熔融錫SN又轉而附著于提升輥用去除構件24。這樣，附著于玻璃帶GR表面的熔融錫SN被去除。
[0066]玻璃帶GR從提升區(qū)域T向后區(qū)域U輸送。玻璃帶GR在后區(qū)域U被后輥42輸送的期間退火，被在后區(qū)域U下游側設置的省略圖示的切割設備切斷為目標大小。
[0067]在后區(qū)域U的下游側，對玻璃帶GR或者玻璃板GP的表面是否存在缺陷進行檢查。缺陷檢查在玻璃帶GR的切斷前進行或切斷后進行都可以。
[0068]在提升區(qū)域T，玻璃帶GR表面的熔融錫SN被完全去除的情況下，在玻璃板GP不會形成缺陷。于是，被切斷的玻璃板GP被輸送向設于后區(qū)域U的更下游側的用于進行玻璃板GP的精加工等處理的裝置。缺陷檢查的缺陷容許范圍根據(jù)玻璃板的使用目的、規(guī)格來設定。
[0069]在提升區(qū)域T，在玻璃帶GR表面殘留有熔融錫SN、將玻璃帶GR輸送至氧化性氣氛下的后區(qū)域U時，熔融錫SN會被氧化而成為氧化錫。包括氧化錫的異物會在玻璃帶GR表面上形成傷痕、缺陷。
[0070]在缺陷檢查中在玻璃帶GR表面檢出缺陷的情況下，能夠根據(jù)缺陷檢查位置、缺陷檢出時間、各后輥42之間的距離等條件識別表面附著有異物的后輥42。被識別的后輥42的后輥用去除構件44在裝卸裝置50的作用下向該后輥42移動，以成為安裝狀態(tài)。
[0071]在后輥42 表面形成構成后輥用去除構件44的物質的薄膜。對于附著于后輥42表面的異物，能夠利用該薄膜防止附著于后輥42表面的異物的氧化、異物粘著于后輥42表面。在利用后輥用去除構件44將從玻璃帶GR表面附著于被識別的后輥42的表面上的異物去除時，在輸送至后區(qū)域U下游的玻璃帶GR的表面不會形成缺陷。在缺陷檢查中，在沒有從玻璃帶GR或者玻璃板GP的表面檢出缺陷時，以被識別的后輥42的后輥用去除裝置45成為卸下狀態(tài)的方式利用裝卸裝置50使該后輥用去除裝置45移動。
[0072]采用玻璃板制造裝置1，既可以在通常的運轉中使用后輥用去除裝置45，也可以僅在玻璃帶GR表面的異物附著于后輥42表面上時將后輥用去除裝置45安裝于該后輥42。結果，后輥用去除構件44的磨耗或者在氧化性氣氛中的氧化被抑制為最小限度，能夠降低后輥用去除構件44的更換頻度。因此，能夠高效且低成本地可靠地去除玻璃帶GR表面或者玻璃板GP表面的異物，制造高品質的玻璃板。
[0073](第2實施方式)
[0074]以下，參照圖4說明應用了本發(fā)明的第2實施方式的玻璃板制造裝置2。在圖4所示的構成要素中，對與圖1所示的構成要素相同的構成要素標注與圖1相同的附圖標記，并省略其說明。
[0075]在圖4的玻璃板制造裝置2中，除了圖1的玻璃板制造裝置I的構成要素之外，還具有檢查部60和控制部61，檢查部60用于在后區(qū)域U的下游檢查玻璃帶GR或者玻璃板GP的表面是否存在缺陷，控制部61用于進行與形成缺陷相關的后輥42的判別和向裝卸裝置50發(fā)送信號。并且，各后輥用去除裝置45的裝卸裝置50設有驅動部62。檢查部60的信號輸出端與控制部61的信號輸入端相連接，控制部61的信號輸出端與各后輥用去除裝置45的裝卸裝置50的驅動部62相連接。
[0076]如圖5所示，后輥用去除裝置45在圖3的后輥用去除裝置45的結構的基礎上，還在裝卸裝置50的設有頂端部50x的端部之外的另一端部設有驅動部62。驅動部62具有這樣的功能:根據(jù)來自控制部61的信號，使裝卸裝置50工作，以使后輥用去除裝置45向圖5中的B方向或者C方向移動。對于玻璃板制造裝置2的后輥用去除裝置45，也同圖3的(b)的后棍用去除裝置45 —樣,也可以為支承構件46從后棍42的兩端面42a、42c延伸出。
[0077]接著，說明玻璃板制造裝置2的后輥的清洗方法和玻璃板的制造方法。對于同上述的玻璃板制造裝置I的后輥的清洗方法和玻璃板的制造方法一樣的內容，省略說明。
[0078]檢查部60在玻璃帶GR或者玻璃板GP的表面上檢出缺陷時，從檢查部60向控制部61發(fā)送缺陷檢出信號。接收到缺陷檢出信號的控制部61基于預先存儲的各后輥42的直徑RU、后區(qū)域U的在A方向上的距離LU、各后輥42和檢查部60之間的距離、缺陷檢出時間等數(shù)據(jù)，識別附著有導致形成了缺陷的異物的后輥42?？刂撇?1向被識別的后輥42的驅動部62發(fā)送后輥用去除構件44的安裝信號。接收到安裝信號的驅動部62使裝卸裝置50動作，使被識別的后輥42的后輥用去除構件44成為安裝狀態(tài)。利用安裝的后輥用去除構件44將附著于被識別的后輥42的表面的異物去除。
[0079]檢查部60在玻璃帶GR或者玻璃板GP的表面沒有檢出缺陷時，從檢查部60向控制部61發(fā)送缺陷去除信號。接收到缺陷去除信號的控制部61向被識別的后輥42的驅動部62發(fā)送卸下信號。接收到卸下信號的驅動部62使裝卸裝置50動作，使被識別的后輥42的后棍用去除構件44成為卸下狀態(tài)。
[0080]根據(jù)使用了玻璃板制造裝置2的、后輥的清洗方法和玻璃板制造方法，能夠僅在檢查部60檢出玻璃帶GR的缺陷的期間向附著有成為形成該缺陷的主要原因的異物的后輥安裝后輥用去除構件。
[0081 ] 參照特定的實施方式詳細地說明了本發(fā)明，在不脫離本發(fā)明的范圍和思想的前提下，能夠進行各種各樣的修正、變更，這對本領域技術人員來說是不言而喻的。
[0082]本申請基于2011年10月28日提出申請的日本特許出愿2011-237646，其內容作為參照引入本說明書。
[0083]附圖標記說明
[0084]1、2、100、玻璃板制造裝置；7、熔融錫??；22、提升輥；24、提升輥用去除構件；25、
提升棍用去除裝置； 26、46、支承構件；42、后棍；45、后棍用去除裝置；44、后棍用去除構件；G、熔融玻璃；GR、玻璃帶；GP、玻璃板；S、浮法槽區(qū)域；SN、熔融錫；T、提升區(qū)域；U、后區(qū)域。
【權利要求】
1.一種后輥的清洗方法，其特征在于， 在使熔融玻璃流到熔融錫浴的熔融錫表面上并將上述熔融玻璃從上述熔融錫浴拉引到非氧化性氣氛下的提升區(qū)域而得到玻璃帶、利用提升輥將上述玻璃帶從上述提升區(qū)域向氧化性氣氛下的后區(qū)域輸送、利用設于上述后區(qū)域的后輥對上述玻璃帶進行輸送、從而制造玻璃板時，對上述玻璃板表面進行缺陷檢查， 在檢出缺陷時，使后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。
2.根據(jù)權利要求1所述的后輥的清洗方法，其特征在于， 上述后輥用去除構件設有裝卸裝置，該裝卸裝置具有驅動部， 并且，在上述后區(qū)域設有檢查部和控制部， 上述檢查部用于檢測上述玻璃板的表面有無缺陷， 上述控制部用于對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并向上述驅動部發(fā)送安裝信號， 在由上述檢查部檢出上述缺陷時，從上述檢查部向上述控制部發(fā)送缺陷檢出信號，從而由上述控制部對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并向該后輥的上述驅動部發(fā)送上述后輥用去除構件的安裝信號， 由收到上述安裝信號的上述驅動部驅動裝卸裝置，使上述后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的后輥的清洗方法，其特征在于， 上述后輥用去除構件采用碳的成型體或者微粒。
4.根據(jù)權利要求1或2所述的后輥的清洗方法，其特征在于， 上述后輥用去除構件采用從碳、氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒以及氧化鋁微粒中選出的至少一種材料的成型體或者微粒。
5.一種玻璃板制造裝置，其特征在于，包括: 熔融錫浴，其充滿熔融錫； 提升輥，其用于將流到上述熔融錫上的熔融玻璃拉引出而得到玻璃帶，并將上述玻璃帶從非氧化性氣氛下的提升區(qū)域向氧化性氣氛下的后區(qū)域輸送；以及后輥，其用于在上述后區(qū)域輸送上述玻璃帶， 該玻璃板制造裝置構成為:對上述玻璃帶或者上述玻璃板的表面進行缺陷檢查，在檢出缺陷時，使設有裝卸裝置的后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥。
6.根據(jù)權利要求5所述的玻璃板制造裝置，其特征在于， 上述后輥用去除構件設有裝卸裝置，該裝卸裝置具有驅動部， 并且，在上述后區(qū)域設有檢查部和控制部， 上述檢查部用于檢測上述玻璃板的表面有無缺陷， 上述控制部用于對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并向上述驅動部發(fā)送安裝信號， 上述檢查部的信號輸出端與上述控制部的信號輸入端相連接，且上述控制部的信號輸出端與上述驅動部的信號輸入端相連接， 在由上述檢查部檢出上述缺陷時，從上述檢查部向上述控制部發(fā)送缺陷檢出信號，從而由上述控制部對附著有導致形成上述缺陷的異物的后輥進行判別，并從上述控制部向該后輥的上述驅動部發(fā)送上述后輥用去除構件的安裝信號， 由收到上述安裝信號的上述驅動部驅動裝卸裝置，使上述后輥用去除構件抵接于附著有導致形成上述缺陷的異物的上述后輥。
7.根據(jù)權利要求5或6所述的玻璃板制造裝置，其特征在于， 上述后輥用去除構件采用碳的成型體或者微粒。
8.根據(jù)權利要求5或6所述的玻璃板制造裝置，其特征在于， 上述后輥用去除構件采用從碳、氮化硼、堿金屬硫酸鹽和/或堿土金屬硫酸鹽、堿金屬碳酸鹽和/或堿土金屬碳酸鹽、二氧化硅系微粒以及氧化鋁微粒中選出的至少一種材料的成型體或者微粒。
【文檔編號】C03B35/16GK103906715SQ201280053169
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2012年10月11日 優(yōu)先權日:2011年10月28日
【發(fā)明者】中野勝之 申請人:旭硝子株式會社